一种实时显示产品偏差的跟踪扫描方法及系统技术方案

本发明专利技术提供一种实时显示产品偏差的跟踪扫描方法及系统，该方法包括：获取产品的基准扫描数据，将产品基准部分与产品三维设计图对齐后，计算基准扫描数据偏差，通过不同颜色显示基准扫描数据偏差；获取产品的剩余扫描数据，基于产品基准部分对齐后的剩余部分扫描数据，计算剩余部分扫描数据与产品三维设计图的偏差，并通过不同颜色显示剩余部分扫描数据偏差；导出产品偏差色图。从而可以实时显示产品偏差，在生产过程中及时发现产品问题，便于指导生产工艺的改进和对产品的修复。导生产工艺的改进和对产品的修复。导生产工艺的改进和对产品的修复。

【技术实现步骤摘要】
一种实时显示产品偏差的跟踪扫描方法及系统


[0001]本专利技术属于三维扫描
，尤其涉及一种实时显示产品偏差的跟踪扫描方法及系统。

技术介绍

[0002]高端制造业对产品质量有更高的要求，其对工业产品的测量和检测也有更高的要求，轻巧便携、可实时智能处理是现代高端制造的发展方向之一。，如果在扫描过程中就能直接显示所测物件的各偏差有助于提升测量过程中的智能实时性。
[0003]当前，在工业产品测量、检测中，都是先对产品进行完整的扫描获取三维数据后，再利用检测软件与设计模型获得对齐后三维数据的偏差色差图，根据色差图判定产品的合格与否以及指导不合格产品的修复，而这种方式是在产品生产完成后才能发现问题，对于产品生产而言具有较大的滞后性。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本专利技术实施例提供了一种实时显示产品偏差的跟踪扫描方法及系统，用于解决产品检测存在滞后性的问题。
[0005]在本专利技术实施例的第一方面，提供了一种实时显示产品偏差的跟踪扫描方法，包括：
[0006]获取产品的基准扫描数据，将产品基准部分与产品三维设计图对齐后，计算基准扫描数据偏差，通过不同颜色显示基准扫描数据偏差；
[0007]获取产品的剩余扫描数据，基于产品基准部分对齐后的剩余部分扫描数据，计算剩余部分扫描数据与产品三维设计图的偏差，并通过不同颜色显示剩余部分扫描数据偏差导出产品偏差色图。
[0008]在本专利技术实施例的第二方面，提供了一种实时显示产品偏差的跟踪扫描系统，包括：
[0009]第一偏差计算模块，用于获取产品的基准扫描数据，将产品基准部分与产品三维设计图对齐后，计算基准扫描数据偏差，通过不同颜色显示基准扫描数据偏差；
[0010]第二偏差计算模块，用于获取产品的剩余扫描数据，基于产品基准部分对齐后的剩余部分扫描数据，计算剩余部分扫描数据与产品三维设计图的偏差，并通过不同颜色显示剩余部分扫描数据偏差
[0011]导出模块，用于导出产品偏差色图。
[0012]在本专利技术实施例的第三方面，提供了一种装置，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如本专利技术实施例第一方面所述方法的步骤。
[0013]在本专利技术实施例的第四方面，提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现本专利技术实施例第一方面
提供的所述方法的步骤。
[0014]本专利技术实施例中，通过实时扫描产品，分别计算产品基准部分颜色和其余部分颜色偏差，显示颜色偏差并导出偏差色图，从而能够实时显示产品偏差，可在扫描过程中及时发现问题，便于指导生产的改进和产品的修复，解决了产品检测滞后的问题。同时，无需借助检测软件就能自动生成报告，检测效率高。
附图说明
[0015]为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单介绍，显而易见地，下面描述的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获取其他附图。
[0016]图1为本专利技术一个实施例提供的一种实时显示产品偏差的跟踪扫描方法的流程示意图；
[0017]图2为本专利技术一个实施例提供的一种跟踪器和球形扫描仪的示意图；
[0018]图3为本专利技术的实施例提供的一种实时显示产品偏差的跟踪扫描系统的结构示意图；
[0019]图4为本专利技术的一个实施例提供的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
[0020]为使得本专利技术的专利技术目的、特征、优点能够更加的明显和易懂，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，下面所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而非全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0021]应当理解，本专利技术的说明书或权利要求书及上述附图中的术语“包括”以及其他相近意思表述，意指覆盖不排他的包含，如包含一系列步骤或单元的过程、方法或系统、设备没有限定于已列出的步骤或单元。此外，“第一”“第二”用于区分不同对象，并非用于描述特定顺序。
[0022]请参阅图1，本专利技术实施例提供的一种实时显示产品偏差的跟踪扫描方法的流程示意图，包括：
[0023]S101、获取产品的基准扫描数据，将产品基准部分与产品三维设计图对齐后，计算基准扫描数据偏差，通过不同颜色显示基准扫描数据偏差；
[0024]产品的扫描数据可通过扫描仪扫描对应的工业产品得到，产品扫描数据一般指的是产品表面的扫描数据，通过光学相机扫描产品可以得到相应的产品三维模型。
[0025]在一个实施例中，通过跟踪器和球形扫描仪实时跟踪扫描待检测产品。如图2所示，图2(a)为跟踪器，图2(b)为球形扫描枪，所述跟踪器和所述球形扫描仪均由双目相机构成，所述跟踪器用于定位产品，所述球形扫描仪用于扫描产品，并基于扫描数据建立对应的空间三维模型。
[0026]所述基准扫描数据指的是产品建模的参照特性，用于辅助三维特性的构建，一般
包括基准平面、基准轴、基准点、基准曲线等。通过扫描产品的表面，得到产品三维建模时的基准特征数据，根据产品基准特征，将扫描得到的三维模型与产品三维设计图(如CAD图)对准。
[0027]根据基准扫描数据与产品三维设计图基准数据的差异，通过不同颜色绘制基准数据偏差图。其中，基准数据的不同偏差值，对应于不同RGB颜色值。
[0028]其中，通过将产品基准部分与产品三维设计图对齐，获取产品扫描坐标系与产品三维设计图坐标系的转换矩阵。根据产品的基准要求，扫描开始阶段首先进行基准部分的扫描，基于基准扫描数据进行基准特征的提取，利用基准数据与三维设计图数据进行对齐，从而得到扫描坐标系与三维设计图坐标系的转换矩阵。
[0029]在一个实施例中，色差计算显示过程中，预设最大偏差对应的颜色值，实时获取产品扫描数据转换至产品三维设计图坐标系下。
[0030]进一步的，对实时的新增产品扫描数据反向抽取三维设计图数据进行偏差计算；根据偏差值选定不同的颜色RGB值进行绘制，得到实时新增数据的偏差色图。
[0031]S102、获取产品的剩余扫描数据，基于产品基准部分对齐后的剩余部分扫描数据，计算剩余部分扫描数据与产品三维设计图的偏差，并通过不同颜色显示剩余部分扫描数据偏差；
[0032]所述剩余扫描数据指的是扫描数据中除基准扫描数据以外的产品扫描数据，基准扫描数据对齐，在此基础上，计算产品剩余扫描数据的偏差。
[0033]同样的，对于剩余部分扫描数据，对实时的新增扫描数据反向抽取三维设计图数据进行偏差计算，根据偏差值选定不同的颜色RGB值进行绘制，得到实时新增数据的偏差色图。
[0034]可以理解的是，一般基准扫描数据的偏差本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种实时显示产品偏差的跟踪扫描方法，其特征在于，包括：获取产品的基准扫描数据，将产品基准部分与产品三维设计图对齐后，计算基准扫描数据偏差，通过不同颜色显示基准扫描数据偏差；获取产品的剩余扫描数据，基于产品基准部分对齐后的剩余部分扫描数据，计算剩余部分扫描数据与产品三维设计图的偏差，并通过不同颜色显示剩余部分扫描数据偏差；导出产品偏差色图。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取产品的基准扫描数据之前包括：通过跟踪器和球形扫描仪实时跟踪扫描待检测产品。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将产品基准部分与产品三维设计图对齐包括：通过将产品基准部分与产品三维设计图对齐，获取产品扫描坐标系与产品三维设计图坐标系的转换矩阵。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将产品基准部分与产品三维设计图对齐后，计算基准扫描数据偏差，通过不同颜色显示基准扫描数据偏差包括：预设最大偏差对应的颜色值，实时获取产品扫描数据转换至产品三维设计图坐标系下。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述实时获取产品扫描数据转换至产品三维设计图坐标系下还包括：对实时的新增产品扫描数据反向抽取三维设计图数据进行偏差计算；根据偏差值选定不同的颜色RGB值进行绘制，得到实时新增数据的偏差色图。6.一种实时显示产品偏差的跟踪扫描系统，其特征在于，包括：第...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘庆龙，成剑华，
申请(专利权)人：武汉中观自动化科技有限公司，
类型：发明
国别省市：