本申请属于装配检测技术领域，公开了一种电感元件装配质量检测方法、装置、电子设备及存储介质，通过获取待检测的电感元件的图像；根据图像提取电感元件的盖体部分的外轮廓点坐标数据集和主体部分的外轮廓点坐标数据集；分别从盖体部分的外轮廓点坐标数据集和主体部分的外轮廓点坐标数据集提取对应的一个特征点的坐标数据；根据盖体部分的特征点的坐标数据和主体部分的特征点的坐标数据计算盖体部分的顶部与主体部分的顶部之间的高度偏差；根据该高度偏差判断电感元件的装配质量；从而实现电感元件装配质量的自动检测，无需依靠人眼和卡尺来检测盖体部分和主体部分的高度偏差，可提高检测效率，降低检测出错率。降低检测出错率。降低检测出错率。
【技术实现步骤摘要】
电感元件装配质量检测方法、装置、电子设备及存储介质
[0001]本申请涉及装配检测
，具体而言，涉及一种电感元件装配质量检测方法、装置、电子设备及存储介质。
技术介绍
[0002]现有的一种电感元件的结构如图4所示，包括主体部分90、盖体部分91和连接件92（该连接件92为螺丝），其中，盖体部分91嵌入在主体部分90的上端一侧，连接件92设置在盖体部分91下侧与主体部分90之间，该盖体部分91的顶部以及该主体部分90顶部均为平面，理想情况下，装配后的盖体部分91的顶部以及该主体部分90顶部是齐平的（即根据设计尺寸，装配后的盖体部分91的顶部以及该主体部分90顶部是齐平的）。这种电感元件在装配完成后，需要检测其装配精度，主要是检测盖体部分91的顶部与主体部分90顶部之间的高度偏差是否合格，目前，一般是依靠人眼和卡尺来检测该高度偏差，检测效率低，且容易引起人眼疲劳而导致检测出错率高。
技术实现思路
[0003]本申请的目的在于提供一种电感元件装配质量检测方法、装置、电子设备及存储介质，可提高检测效率，降低检测出错率。
[0004]第一方面，本申请提供了一种电感元件装配质量检测方法，用于对包括主体部分、盖体部分和连接件的电感元件的装配质量进行检测，所述盖体部分嵌入在所述主体部分的上端一侧，所述连接件设置在所述盖体部分下侧与所述主体部分之间，所述盖体部分的顶部以及所述主体部分顶部均为平面；包括以下步骤：A1.获取待检测的电感元件的图像；A2.根据所述图像提取所述电感元件的盖体部分的外轮廓点坐标数据集和主体部分的外轮廓点坐标数据集；A3.分别从所述盖体部分的外轮廓点坐标数据集和所述主体部分的外轮廓点坐标数据集提取对应的一个特征点的坐标数据；A4.根据所述盖体部分的特征点的坐标数据和所述主体部分的特征点的坐标数据计算所述盖体部分的顶部与所述主体部分的顶部之间的高度偏差；A5.根据所述高度偏差判断所述电感元件的装配质量。
[0005]该电感元件装配质量检测方法，通过图像识别得到盖体部分的特征点和主体部分的特征点的坐标数据，然后根据两个特征点之间的高度偏差判断电感元件的装配质量，可实现电感元件装配质量的自动检测，无需依靠人眼和卡尺来检测盖体部分和主体部分的高度偏差，可提高检测效率，降低检测出错率。
[0006]优选地，步骤A2包括：对所述图像进行灰度化处理；对灰度化处理后的所述图像进行二值化处理；
基于Canny边缘检测算法从二值化处理后的所述图像获取第一外轮廓点坐标数据集；从所述第一外轮廓点坐标数据集中提取所述电感元件的盖体部分的外轮廓点坐标数据集和主体部分的外轮廓点坐标数据集。
[0007]优选地，从所述第一外轮廓点坐标数据集中提取所述电感元件的盖体部分的外轮廓点坐标数据集和主体部分的外轮廓点坐标数据集的步骤包括：按所述第一外轮廓点坐标数据集中各外轮廓的外轮廓点集合的排序，依次对各外轮廓包围的连通区域填充对应的颜色，且不同连通区域的颜色不同；根据各外轮廓的颜色从所述第一外轮廓点坐标数据集中提取所述电感元件的盖体部分的外轮廓点坐标数据集和主体部分的外轮廓点坐标数据集。
[0008]由于检测程序是固定的，对同样的电感元件进行边缘检测得到的第一外轮廓点坐标数据集中的各外轮廓的外轮廓点坐标数据的排序是固定的，进行颜色填充时可按固定的颜色排序依次对各连通区域进行填充，可在调试阶段由人工确定哪种颜色与哪个部件对应，从而在实际应用时可通过填充后的各轮廓的颜色确定哪些外轮廓点属于盖体部分、哪些外轮廓点属于主体部分，从而提取得到所述电感元件的盖体部分的外轮廓点坐标数据集和主体部分的外轮廓点坐标数据集，处理过程方便快捷。
[0009]优选地，步骤A3包括：分别从所述盖体部分的外轮廓点坐标数据集和所述主体部分的外轮廓点坐标数据集提取对应的斜率突变点坐标数据集；分别从所述盖体部分的斜率突变点坐标数据集和所述主体部分的斜率突变点坐标数据集提取对应的一个特征点的坐标数据。
[0010]优选地，所述分别从所述盖体部分的外轮廓点坐标数据集和所述主体部分的外轮廓点坐标数据集提取对应的斜率突变点坐标数据集的步骤包括：分别针对所述盖体部分的外轮廓点坐标数据集和所述主体部分的外轮廓点坐标数据集执行以下步骤:S1.根据以下公式计算各外轮廓点的斜率值：；其中，为第i个外轮廓点的斜率值，、分别为第i个外轮廓点的横坐标值和纵坐标值，、分别为第i+1个外轮廓点的横坐标值和纵坐标值，、分别为第1个外轮廓点的横坐标值和纵坐标值，n为外轮廓点的总数；S2.根据以下公式计算各外轮廓点的斜率变化值：
；其中，为第i个外轮廓点的斜率变化值，为第i个外轮廓点的斜率值，为第i+1个外轮廓点的斜率值，为第1个外轮廓点的斜率值，n为外轮廓点的总数；S3.提取斜率变化值大于预设阈值的外轮廓点的坐标数据得到所述盖体部分或所述主体部分的斜率突变点坐标数据集。
[0011]优选地，所述分别从所述盖体部分的斜率突变点坐标数据集和所述主体部分的斜率突变点坐标数据集提取对应的一个特征点的坐标数据的步骤包括：从所述盖体部分的斜率突变点坐标数据集中筛选出纵坐标值最大的点作为第一特征点，并提取所述第一特征点的坐标数据；从所述主体部分的斜率突变点坐标数据集中筛选出纵坐标值最大的点作为第二特征点，并提取所述第二特征点的坐标数据。
[0012]由于理想情况下盖体部分的顶部与主体部分的顶部是齐平的，两个部件之间的纵坐标值最大的点可表征该两个部件顶部的高度，从而用纵坐标值最大的点作为特征点，通过该特征点的坐标数据可比较准确地计算得到盖体部分的顶部与主体部分的顶部之间的高度偏差。
[0013]优选地，步骤A4包括：根据以下公式计算所述盖体部分的顶部与所述主体部分的顶部之间的高度偏差：；其中，为所述高度偏差，为所述第一特征点的纵坐标值，为所述第二特征点的纵坐标值。
[0014]第二方面，本申请提供了一种电感元件装配质量检测装置，用于对包括主体部分、盖体部分和连接件的电感元件的装配质量进行检测，所述盖体部分嵌入在所述主体部分的上端一侧，所述连接件设置在所述盖体部分下侧与所述主体部分之间，所述盖体部分的顶部以及所述主体部分顶部均为平面；电感元件装配质量检测装置包括：第一获取模块，用于获取待检测的电感元件的图像；第一提取模块，用于根据所述图像提取所述电感元件的盖体部分的外轮廓点坐标数据集和主体部分的外轮廓点坐标数据集；第二提取模块，用于分别从所述盖体部分的外轮廓点坐标数据集和所述主体部分的外轮廓点坐标数据集提取对应的一个特征点的坐标数据；第一计算模块，用于根据所述盖体部分的特征点的坐标数据和所述主体部分的特征点的坐标数据计算所述盖体部分的顶部与所述主体部分的顶部之间的高度偏差；判断模块，用于根据所述高度偏差判断所述电感元件的装配质量。
[0015]该电感元件装配质量检测装置，通过图像识别得到盖体部分的特征点和主体部分的特征点的坐标数据，然后根据两个特征点之间的高度偏差判断电感元件的装配质量，可
实现电感元件装配质量的自动检测，无本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种电感元件装配质量检测方法，用于对包括主体部分、盖体部分和连接件的电感元件的装配质量进行检测，所述盖体部分嵌入在所述主体部分的上端一侧，所述连接件设置在所述盖体部分下侧与所述主体部分之间，所述盖体部分的顶部以及所述主体部分顶部均为平面；其特征在于，包括以下步骤：A1.获取待检测的电感元件的图像；A2.根据所述图像提取所述电感元件的盖体部分的外轮廓点坐标数据集和主体部分的外轮廓点坐标数据集；A3.分别从所述盖体部分的外轮廓点坐标数据集和所述主体部分的外轮廓点坐标数据集提取对应的一个特征点的坐标数据；A4.根据所述盖体部分的特征点的坐标数据和所述主体部分的特征点的坐标数据计算所述盖体部分的顶部与所述主体部分的顶部之间的高度偏差；A5.根据所述高度偏差判断所述电感元件的装配质量。2.根据权利要求1所述的电感元件装配质量检测方法，其特征在于，步骤A2包括：对所述图像进行灰度化处理；对灰度化处理后的所述图像进行二值化处理；基于Canny边缘检测算法从二值化处理后的所述图像获取第一外轮廓点坐标数据集；从所述第一外轮廓点坐标数据集中提取所述电感元件的盖体部分的外轮廓点坐标数据集和主体部分的外轮廓点坐标数据集。3.根据权利要求2所述的电感元件装配质量检测方法，其特征在于，从所述第一外轮廓点坐标数据集中提取所述电感元件的盖体部分的外轮廓点坐标数据集和主体部分的外轮廓点坐标数据集的步骤包括：按所述第一外轮廓点坐标数据集中各外轮廓的外轮廓点集合的排序，依次对各外轮廓包围的连通区域填充对应的颜色，且不同连通区域的颜色不同；根据各外轮廓的颜色从所述第一外轮廓点坐标数据集中提取所述电感元件的盖体部分的外轮廓点坐标数据集和主体部分的外轮廓点坐标数据集。4.根据权利要求1所述的电感元件装配质量检测方法，其特征在于，步骤A3包括：分别从所述盖体部分的外轮廓点坐标数据集和所述主体部分的外轮廓点坐标数据集提取对应的斜率突变点坐标数据集；分别从所述盖体部分的斜率突变点坐标数据集和所述主体部分的斜率突变点坐标数据集提取对应的一个特征点的坐标数据。5.根据权利要求4所述的电感元件装配质量检测方法，其特征在于，所述分别从所述盖体部分的外轮廓点坐标数据集和所述主体部分的外轮廓点坐标数据集提取对应的斜率突变点坐标数据集的步骤包括：分别针对所述盖体部分的外轮廓点坐标数据集和所述主体部分的外轮廓点坐标数据集执行以下步骤:S1.根据以下公式计算各外轮廓点的斜率值：
；其中，为第i个外轮廓点的斜率值，、分别为第i个外轮廓点的横坐标值和纵坐标值，、分别为第i+1个外轮廓点的横坐标值...
【专利技术属性】
技术研发人员：范朝龙，康信勇，袁悦，范黎，
申请(专利权)人：季华实验室，
类型：发明
国别省市：
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