光盘装置和光盘的聚焦层辨别方法制造方法及图纸

提供能够以简易的结构迅速辨别双层光盘中的聚焦层的光盘装置和光盘的聚焦层辨别方法。根据在反射光束的焦点的前后且距该焦点的距离相等的位置上设置的第１受光单元（２６Ａ）和第２受光单元（２６Ｂ）的输出信号的信号电平比，判断双层光盘（２０）中的光束聚焦于其上的聚焦记录层以及该光束没有聚焦于其上的非聚焦记录层的位置关系，根据该判断结果辨别聚焦记录层，由此可以在光束聚焦到记录层上的时刻辨别聚焦记录层，这样可以比以往更迅速地辨别聚焦层。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术适合应用于与具有2个记录层的双层光盘对应的光盘装置。
技术介绍
目前，以扩大记录容量为目的，正在实际应用层叠了2个记录层的光盘(下面称为双层光盘)，与该双层光盘对应的光盘装置也已实现产品化。在这种对应双层光盘的光盘装置中，需要辨别从光拾取器射出的光束聚焦在2个记录层中的哪一个上。提出了采用如下方法作为辨别这种聚焦层的方法的光盘装置通过光束读出记录在记录层上的数据的地址信息、层信息，并根据该读出的地址信息、层信息进行聚焦层辨别(例如，参照专利文献1)。专利文献1日本特开平8-185637号公报
技术实现思路
专利技术要解决的问题但是在上述结构的光盘装置中，如果不是在引入循迹伺服之后，则无法读出地址信息、层信息，因此存在这样的问题，即，在循迹伺服因光盘装置受到冲击等原因而失败的情况下，在完成再次引入伺服之前无法进行聚焦层的辨别，聚焦层辨别需要较长时间。本专利技术是考虑到以上的问题点而提出的，提出一种可以用简易的结构迅速辨别出双层光盘中的聚焦层的。用于解决问题的手段为了解决本课题，在本专利技术中，在光盘装置中设置了物镜，将光束聚光到光盘的记录层上，并且将该光束在该记录层上反射而形成的反射光束进行受光；聚光透镜，对由该物镜受光的反射光束进行聚光；第1受光部和第2受光部，分别设置在由该聚光透镜聚光后的反射光束的焦点的前后且距该焦点的距离相等的位置上；以及聚焦记录层辨别单元，根据所述第1受光部的输出信号和所述第2受光部的输出信号，判断双层光盘中的光束聚焦于其上的聚焦记录层和该光束没有聚焦于其上的非聚焦记录层的位置关系，根据该判断结果辨别聚焦记录层。而且，聚焦记录层辨别单元通过使用成为基准的单层光盘算出的第1受光部的输出信号及第2受光部的输出信号的信号电平比、与使用聚焦层辨别对象的双层光盘算出的第1受光部的输出信号及第2受光部的输出信号的信号电平比之间的比较，识别所述光束在所述非聚焦记录层上反射形成的漫射光入射到第1和第2受光部的光量的大小关系，根据该识别的光量的大小关系来辨别聚焦记录层。另外，本专利技术提供一种光盘装置，其特征在于，具有物镜，将光束聚光到光盘的记录层上；聚光透镜，对在所述记录层上反射形成的反射光束进行聚光；第1受光部和第2受光部，分别设置在由所述聚光透镜聚光后的所述反射光束的焦点的前后且距该焦点的距离相等的位置上；以及聚焦记录层辨别部，根据所述第1受光部的输出信号和所述第2受光部的输出信号，判断双层光盘中的所述光束聚焦于其上的聚焦记录层和该光束没有聚焦于其上的非聚焦记录层的位置关系，根据该判断结果辨别所述聚焦记录层。另外，本专利技术提供一种光盘的聚焦层辨别方法，其特征在于，具有信号电平比算出步骤，算出第1和第2受光部的输出信号的信号电平比，所述第1和第2受光部设置在聚光的光束在光盘记录层上反射形成的反射光束的焦点的前后且距该焦点的距离相等的位置上；以及聚焦记录层辨别步骤，根据所述算出的输出信号电平比，判断双层光盘中的所述光束聚焦于其上的聚焦记录层和该光束没有聚焦于其上的非聚焦记录层的位置关系，根据该判断结果来辨别所述聚焦记录层。由此，在该光盘装置中，可以在光束聚焦到记录层上的时刻辨别聚焦记录层，可以比以往更迅速地辨别聚焦层。专利技术的效果根据本专利技术，基于在反射光束的焦点的前后且距该焦点的距离相等的位置上设置的第1受光部和第2受光部的输出信号来判断双层光盘中的光束聚焦于其上的聚焦记录层和该光束没有聚焦于其上的非聚焦记录层的位置关系，并根据该判断结果辨别聚焦记录层，由此可以在光束聚焦到记录层上的时刻辨别聚焦记录层，这样可以实现比以往更迅速地辨别聚焦层的。附图说明图1是表示光盘装置的整体结构的框图。图2是表示光拾取器的结构的示意图。图3是用于说明光集成元件中的层间漫射光的示意图。图4是表示光拾取器的光学系统原理的示意图。图5是表示各种光斑形状的示意图。图6是表示信号光电平和漫射光电平的图。图7是基准和信号比设定处理过程的流程图。图8是聚焦跳跃(フオ一カスジヤンプ)处理过程的流程图。图9是伺服恢复处理过程的流程图。附图标记说明1光盘装置；2微型计算机；3DSP；4伺服控制电路；7光拾取器；9RF放大器；21光集成元件；22准直透镜；23物镜；24激光二极管；25微棱镜；26PDIC；26A第1光电二极管；26B第2光电二极管。具体实施例方式下面关于附图，详细说明本专利技术的一个实施方式。实施例(1)光盘装置的整体结构在图1中，1表示作为整体应用本专利技术的光盘装置，微型计算机2依照保存在非易失性存储器(未图示)中的基本程序、应用程序，对该光盘装置1的各部分进行控制。也就是说，微型计算机2通过DSP(Digital Signal Processor数字信号处理器)3的伺服控制电路4使主轴马达5转动，转动驱动放在转盘(未图示)上的光盘20。此外，微型计算机2通过伺服控制电路4使滑动马达6转动，使光拾取器7在光盘20的半径方向上移动。图2的(A)表示光拾取器7的结构，具有光集成元件21、准直透镜22和物镜23。该光集成元件21由激光二极管24、微棱镜25和PDIC(Photo Detector IC光检测IC)26构成。光集成元件21的激光二极管24响应于微型计算机2(图1)的控制射出激光光束，入射到微棱镜25的第1反射面25A。该第1反射面25A由半透射半反射镜(half mirror)构成，使来自激光二极管24的光束向上方以90度反射，入射到准直透镜22。准直透镜22将光束从发散光转换成平行光，入射到物镜23。物镜23由双轴致动器23A可自由活动地支撑着。DSP3的伺服控制电路4(图1)响应于来自微型计算机2的指示和来自RF放大器9的各种信号，生成循迹伺服信号和聚焦伺服信号，提供给致动器驱动电路8。然后，致动器驱动电路8响应于循迹伺服信号和聚焦伺服信号，生成循迹伺服驱动电流和聚焦驱动电流，提供给双轴致动器23A，由此在聚焦方向和循迹方向上驱动物镜23，使物镜23的焦点与光盘20的记录面上的轨道吻合。并且，物镜23将来自准直透镜22的光束进行聚光而使其聚焦到光盘的记录层上，并且，对在该记录层上反射的反射光束进行受光，入射到准直透镜22。准直透镜22将反射光束从平行光转换成会聚光，入射到微棱镜25的第1反射面25A。第1反射面25A使反射光束透过并折射，入射到设置在微棱镜25下表面的第2反射面25B。该第2反射面25B由透过50％/反射50％的半透射半反射镜构成，使反射光束的50％透过，照射到在PDIC26的上表面的与该第2反射面25B相对位置上设置的第1光电二极管26A(图2的(B))上，并且使反射光束的剩余50％反射，入射到设置在微棱镜25的上表面上的第3反射面25C上。第3反射面25C由全反射镜构成，使入射的反射光束进行全反射，照射到在PDIC26的上表面上设置的第2光电二极管26B(图2的(B))上。第1光电二极管26A和第2光电二极管26B分别设置在光束聚焦到记录层的状态下的从反射光束的焦点面在前后离开等距离的位置上，由此，入射到第1光电二极管26A和第2光电二极管26B的反射光束的光斑具有与该第1光电二极管26A和第2光电二极管26B的设置距离相应的光斑直径。如图3的(A)所示，第1光电二极管26A和第2光电二本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光盘装置，其特征在于，具有：物镜，将光束聚光到光盘的记录层上；聚光透镜，对在所述记录层上反射形成的反射光束进行聚光；第１受光部和第２受光部，分别设置在由所述聚光透镜聚光后的所述反射光束的焦点的前后且距该焦点的距离 相等的位置上；以及聚焦记录层辨别部，根据所述第１受光部的输出信号和所述第２受光部的输出信号，判断双层光盘中的所述光束聚焦于其上的聚焦记录层和该光束没有聚焦于其上的非聚焦记录层的位置关系，根据该判断结果辨别所述聚焦记录层。

【技术特征摘要】
JP 2006-2-15 2006-0383041.一种光盘装置，其特征在于，具有物镜，将光束聚光到光盘的记录层上；聚光透镜，对在所述记录层上反射形成的反射光束进行聚光；第1受光部和第2受光部，分别设置在由所述聚光透镜聚光后的所述反射光束的焦点的前后且距该焦点的距离相等的位置上；以及聚焦记录层辨别部，根据所述第1受光部的输出信号和所述第2受光部的输出信号，判断双层光盘中的所述光束聚焦于其上的聚焦记录层和该光束没有聚焦于其上的非聚焦记录层的位置关系，根据该判断结果辨别所述聚焦记录层。2.根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于，所述聚焦记录层辨别部根据使用成为基准的单层光盘算出的所述第1受光部的输出信号和所述第2受光部的...

【专利技术属性】
技术研发人员：冈松和彦，
申请(专利权)人：索尼株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]