一种X射线检查装置及X射线检查方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种X射线检查装置及X射线检查方法，运用于照射检查科技领域；识别检查种类，匹配需检查物品的条件与基准，输入检查物品；进行高速拍摄生成第一检查图像信息，对第一检查图像信息执行图像重建处理，生成第二检查图像信息；自动检查与校准所述第二检查图像信息，将检查物品特征与第二检查图像信息特征做比对，生成比对数据；若检查物品特征与第二检查图像信息比对后数据相匹配，则撤出检查物品，进而保留检查物品于合格品架内，若检查物品特征与第二检查图像信息比对后数据不相匹配，将该物品列为不合格检查物品，则重新对不合格检查物品进行处理。不合格检查物品进行处理。不合格检查物品进行处理。

【技术实现步骤摘要】
一种X射线检查装置及X射线检查方法


[0001]本专利技术涉及照射检查科技领域，特别涉及为一种X射线检查装置及X射线检查方法。

技术介绍

[0002]历来，在食品等商品的生产线中，在商品中混入了异物及商品有缺陷的情况下，为了防止不合格商品的出厂，使用X射线检测装置进行不合格商品的检查，在该X射线检查装置中，对由传送装置连续传送来的被检查物照射X射线，在线阵传感器等X射线接收部中检测该X射线的透过状态，判别被检查物中是否混入了异物，或被检查物中是否有缺陷，或被检查物内的单位内容物的数量是否不够，一般而言，在这种X射线检查装置中，为了得到线阵传感器的输出的初始和范围而进行校准，由此，通过校准而校正每个线阵传感器的X射线检测的灵敏度，由此，能够准确地检测出透过作为检测对象的物品的X射线，能够高精度地实施异物混入等检查，但是，在上述公报所公开的X射线检查装置中，虽然能够通过从测定数据除去背景图像而取得不依赖于测定对象的背景数据，但是，在传送作为检测对象的商品的传送装置劣化或受到损伤的情况下，或者在使用例如由指状接头连接的传送装置的情况下，由于该劣化的部分、损伤的部分、以及接头部分吸收X射线，所以线阵传感器的输出与没有劣化等的部分相比变小；因此，在以包括该劣化部分等的位置为基准进行校准之后检查被检查物时，没有劣化等的部分的检测量增大到需要以上，根据检测数据制作的X射线图像变得过于明亮，存在不能得到适当的X射线图像、从而不能够正确地实施被检查物的检查的问题。
[0003]鉴于此，本专利技术提出一种X射线检查装置及X射线检查方法，以此解决现有的X射线检查装置可以在不依赖外部设备的帮助下，实现高精度的校准与被检查物的检查。

技术实现思路

[0004]本专利技术旨在解决X射线的检查效果精准不足的问题，提供一种X射线检查装置及X射线检查方法。
[0005]本专利技术提供一种X射线检查方法，包括：识别检查种类，匹配需检查物品的条件与基准，输入检查物品；进行高速拍摄生成第一检查图像信息，对第一检查图像信息执行图像重建处理，生成第二检查图像信息；自动检查与校准所述第二检查图像信息，将检查物品特征与第二检查图像信息特征做比对，生成比对数据；若检查物品特征与第二检查图像信息比对后数据相匹配，则撤出检查物品，进而保留检查物品于合格品架内；若检查物品特征与第二检查图像信息比对后数据不相匹配，则撤出检查物品，将不合格的检查物品重新进行高速拍摄，执行不合格解析的图像重建处理，并生成第三检查
图像信息；对第三检查图像信息进行自动检查与校准，继而保留检查物品于观察架内；进一步地，选择检查种类，匹配需检查物品的条件与基准，输入检查物品的步骤还包括：读取检查物品种类信息，检索检查物品相关数据信息，对检查物品做出判断，所述检查物品是否为不良类别，所述检查物品是否能进行正常的检查。
[0006]进一步地，进行高速拍摄生成第一检查图像信息，对第一检查图像信息执行图像重建处理，生成第二检查图像信息的步骤还包括：X射线焦点位置照射至检查物品的位面处，通过对X射线的光束偏移，进而对检查物品的各个位面进行拍摄取材，以生成基础的图像信息为第一检查图像信息；基于对第一检查图像信息的数据，对所述第一检查图像信息进行CT重建算法，进而得到重建数据；基于重建数据，重新进行第二遍检查，生成第二检查图像信息。
[0007]进一步地，自动检查与校准所述第二检查图像信息，将检查物品特征与第二检查图像信息特征做比对，生成比对数据的步骤中还包括：根据所述第二检查图像信息，计算第二检查图像信息投影数据，所述第二检查图像信息投影数据包括但不限于是吸收系数图像，对第二检查图像信息投影数据进行反投影操作，计算生成CT图像，所述CT图像为第二检查图像信息特征；将检查物品相关数据信息特征与所述第二检查图像信息特征做比对，生成检查物品相关数据信息特征与所述第二检查图像信息特征可否匹配的比对数据。
[0008]进一步地，生成检查物品相关数据信息特征与所述第二检查图像信息特征可否匹配的比对数据的步骤中包括：分别将检查物品原始数据集和第二检查图像信息原始数据集的匹配值进行累加，得到所述检查物品原始数据集和第二检查图像信息原始数据集的累加数据值为第一累加数据值和第二累加数据值；存在情况第一累加数据值大于或小于第二累加数据值，当第一累加数据值大于第二累加数据值时，获取数据差值为第一数据差；当第一累加数据值小于第二累加数据值时，获取数据差值为第二数据差；根据所述第一数据差和第二数据差判断检查物品相关数据信息特征与所述第二检查图像信息特征可否匹配，若第一数据差大于第二数据差，则所述检查物品相关数据信息特征与所述第二检查图像信息特征比对数据相匹配，若第一数据差小于第二数据差，则所述检查物品相关数据信息特征与所述第二检查图像信息特征比对数据不相匹配。
[0009]进一步地，将不合格的检查物品重新进行高速拍摄，执行不合格解析的图像重建处理，并生成第三检查图像信息的步骤中还包括：当所述检查物品相关数据信息特征与所述第二检查图像信息特征比对数据不相匹配时，得到不合格的检查物品；对不合格检查物品进行高速拍摄，进而执行不合格解析的图像重建处理操作，解析不合格检查物品数据的断层图像和分辨率，基于断层图像和分辨率的基础上再次进行CT重建算法，进而得到重建数据；
对不合格检查物品数据进行二次检查，生成第三检查图像信息；本专利技术还提供一种X射线检查装置，包括：检录单元，用于选择检查种类，匹配需检查物品的条件与基准，输入检查物品；生成单元，用于进行高速拍摄生成第一检查图像信息，对第一检查图像信息执行图像重建处理，生成第二检查图像信息；自动检查与校准所述第二检查图像信息，将检查物品特征与第二检查图像信息特征做比对，生成比对数据。
[0010]判断单元，用于判断若检查物品特征与第二检查图像信息比对后数据相匹配，则撤出检查物品，进而保留检查物品于合格品架内；若检查物品特征与第二检查图像信息比对后数据不相匹配，则撤出检查物品，将不合格的检查物品重新进行高速拍摄，执行不合格解析的图像重建处理，并生成第三检查图像信息；对第三检查图像信息进行自动检查与校准，生成第三检查图像信息的比对数据，继而保留检查物品于观察架内。
[0011]进一步地，检录单元包括：检查子单元，用于选用排除后的可进行检查的物品种类；录取子单元，用于将检查物品的条件和基准相匹配，并输入于装置中。
[0012]进一步地，生成单元包括：图像子单元，用于高速拍摄生成第一检查图像信息，对第一检查图像信息执行图像重建处理，生成第二检查图像信息；校准子单元，用于自动检查与校准所述第二检查图像信息，将检查物品特征与第二检查图像信息特征做比对，生成比对数据。
[0013]进一步地，判断单元包括：适用子单元，用于若检查物品特征与第二检查图像信息比对后数据相匹配，则撤出检查物品，进而保留检查物品于合格品架内；重建子单元，用于若检查物品特征与第二检查图像信息比对后数据不相匹配，则撤出检查物品，将不合格的检查物品重新进行高速拍摄，执行不合格解析的图像重建处本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种X射线检查方法，其特征在于，步骤包括：识别检查种类，匹配需检查物品的条件与基准，输入检查物品；进行高速拍摄生成第一检查图像信息，对第一检查图像信息执行图像重建处理，生成第二检查图像信息；自动检查与校准所述第二检查图像信息，将检查物品特征与第二检查图像信息特征做比对，生成比对数据；若检查物品特征与第二检查图像信息比对后数据相匹配，则撤出检查物品，进而保留检查物品于合格品架内；若检查物品特征与第二检查图像信息比对后数据不相匹配，则撤出检查物品，将不合格的检查物品重新进行高速拍摄，执行不合格解析的图像重建处理，并生成第三检查图像信息；对第三检查图像信息进行自动检查与校准，继而保留检查物品于观察架内。2.根据权利要求1所述的一种X射线检查方法，其特征在于，选择检查种类，匹配需检查物品的条件与基准，输入检查物品的步骤还包括：读取检查物品种类信息，检索检查物品相关数据信息，对检查物品做出判断，所述检查物品是否为不良类别，所述检查物品是否能进行正常的检查。3.根据权利要求1所述的一种X射线检查方法，其特征在于，进行高速拍摄生成第一检查图像信息，对第一检查图像信息执行图像重建处理，生成第二检查图像信息的步骤还包括：X射线焦点位置照射至检查物品的位面处，通过对X射线的光束偏移，进而对检查物品的各个位面进行拍摄取材，以生成基础的图像信息为第一检查图像信息；基于对第一检查图像信息的数据，对所述第一检查图像信息进行CT重建算法，进而得到重建数据；基于重建数据，重新进行第二遍检查，生成第二检查图像信息。4.根据权利要求1所述的一种X射线检查方法，其特征在于，自动检查与校准所述第二检查图像信息，将检查物品特征与第二检查图像信息特征做比对，生成比对数据的步骤中还包括：根据所述第二检查图像信息，计算第二检查图像信息投影数据，所述第二检查图像信息投影数据包括但不限于是吸收系数图像，对第二检查图像信息投影数据进行反投影操作，计算生成CT图像，所述CT图像为第二检查图像信息特征；将检查物品相关数据信息特征与所述第二检查图像信息特征做比对，生成检查物品相关数据信息特征与所述第二检查图像信息特征可否匹配的比对数据。5.根据权利要求4所述的一种X射线检查方法，其特征在于，生成检查物品相关数据信息特征与所述第二检查图像信息特征可否匹配的比对数据的步骤中包括：分别将检查物品原始数据集和第二检查图像信息原始数据集的匹配值进行累加，得到所述检查物品原始数据集和第二检查图像信息原始数据集的累加数据值为第一累加数据值和第二累加数据值；存在情况第一累加数据值大于或小于第二累加数据值，当第一累加数据值大于第二累加数据值时，获取数据差值为第一数据差；当第一累加数据值小于第二累加数据值时，获取
数据差值为第二数据差；根据所述第一数据差和第二数据差判断检查物品相关数据信息特征与所述第二检查图像信息特征可否匹配，若第一数据差大于第二数...

【专利技术属性】
技术研发人员：喻兵，
申请(专利权)人：武汉市晴川焊接无损检测有限公司，
类型：发明
国别省市：