一种多工位测试设备制造技术

本发明专利技术公开了一种多工位测试设备，旨在提供一种结构紧凑及能够降低成本的多工位测试设备。本发明专利技术包括机台及设置在机台中的黑箱，所述机台上设有与所述黑箱的上端相连通的测试工位，所述机台中还设置有若干个黑卡X轴移动模组，若干个所述黑卡X轴移动模组的活动端均相应设置有黑卡，若干个所述黑卡自上而下依次设置在所述黑箱中，测试时，相应的黑卡X轴移动模组驱动黑卡移动到所述测试工位的下方。本发明专利技术应用于芯片光学测试设备的技术领域。发明专利技术应用于芯片光学测试设备的技术领域。发明专利技术应用于芯片光学测试设备的技术领域。

【技术实现步骤摘要】
一种多工位测试设备


[0001]本专利技术涉及一种多工位测试设备。

技术介绍

[0002]在芯片的光学测试中，需要通过黑卡对芯片进行测试，而在不同测试卡距下，芯片所表现出来的性能并不相同，而传统的测试设备采用转盘式或者并排式的设计，这使得每个测试距离工位需要设置一个单独的黑箱，从而存在存在结构不够紧凑的情况，或者做个一个大黑箱结构，但又会存在成本高的情况；此外，在芯片的测试过程中还需要模拟不同的环境光，例如红外光以及客户所需的的其它环境光，从而测试芯片在不同模拟光下所表现出来的性能，而环境光的设置也会进一步使得设备的整体体积较大，因此目前需要研发出一种结构紧凑及能够降低成本的多工位测试设备。

技术实现思路

[0003]本专利技术所要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供了一种结构紧凑及能够降低成本的多工位测试设备。
[0004]本专利技术所采用的技术方案是：本专利技术包括机台及设置在机台中的黑箱，所述机台上设有与所述黑箱的上端相连通的测试工位，所述机台中还设置有若干个黑卡X轴移动模组，若干个所述黑卡X轴移动模组的活动端均相应设置有黑卡，若干个所述黑卡自上而下依次设置在所述黑箱中，测试时，相应的黑卡X轴移动模组驱动黑卡移动到所述测试工位的下方。
[0005]进一步，所述黑箱中还设置有位于所述测试工位下方的环境光模组，所述环境光模组设置在所述黑箱的底部，所述环境光模组能够对所述测试工位发出至少两种环境光。
[0006]进一步，所述环境光模组包括至少两个灯板。
[0007]进一步，若干个所述黑卡X轴移动模组的一端位于所述机台中，若干个所述黑卡X轴移动模组的另一端穿过所述黑箱的一侧，且位于所述黑箱中。
[0008]进一步，所述黑卡X轴移动模组及所述黑卡的数量均为四个。
[0009]进一步，四个所述黑卡X轴移动模组自上而下分别为第一黑卡X轴移动模组、第二黑卡X轴移动模组、第三黑卡X轴移动模组及第四黑卡X轴移动模组，四个所述黑卡自上而下分别为第一黑卡、第二黑卡、第三黑卡及第四黑卡，所述第一黑卡与所述测试工位之间的高度差为12mm，所述第二黑卡与所述测试工位之间的高度差为50mm，所述第三黑卡与所述测试工位之间的高度差为100mm，所述第四黑卡与所述测试工位之间的高度差为150mm。
[0010]进一步，所述第一黑卡X轴移动模组包括第一底板，所述第一底板的上端面设置有第一气缸及第一滑板，所述第一滑板通过第一滑轨组件滑动配合在所述第一底板上，所述第一气缸驱动所述第一滑板滑动，所述第一黑卡设置在所述第一滑板上。
[0011]进一步，所述第二黑卡X轴移动模组包括第二底板，所述第二底板的上端面设置有第二滑板，所述第二滑板通过第二滑轨组件滑动配合在所述第二底板上，所述第二底板的
下端面设置有第二气缸，所述第二气缸驱动所述第二滑板移动，所述第二黑卡设置在所述第二滑板上。
[0012]进一步，所述第四黑卡X轴移动模组包括第四气缸、第四滑轨组件及第四滑板，所述第四气缸驱动所述第四滑板滑动配合在所述第四滑轨组件上，所述第四黑卡设置在所述第四滑板上。
[0013]本专利技术的有益效果是：相对于传统技术的不足，在本专利技术中，通过将用于测试的若干个所述黑卡自上而下的层叠设置在所述黑箱中，这种层叠的设计使得所述黑箱能够结构紧凑，且测试时，相应的黑卡X轴移动模组驱动黑卡移动到所述测试工位的下方，从而使得芯片能够在不同测试卡距下进行测试，而所述黑卡的设置数量根据实际所需的测试距离而定，使得本专利技术具有结构紧凑及能够降低成本的优点。
附图说明
[0014]图1是本专利技术的立体结构示意图；图2是本专利技术内部结构的立体结构示意图；图3是本专利技术内部结构的平面结构示意图；图4是第一黑卡X轴移动模组的立体结构示意图；图5是第二黑卡X轴移动模组的立体结构示意图；图6是第二黑卡X轴移动模组另一视角的立体结构示意图；图7是第四黑卡X轴移动模组的立体结构示意图。
具体实施方式
[0015]如图1至图3所示，在本实施例中，本专利技术包括机台1及设置在机台1中的黑箱2，所述机台1上设有与所述黑箱2的上端相连通的测试工位3，所述机台1中还设置有若干个黑卡X轴移动模组4，若干个所述黑卡X轴移动模组4的活动端均相应设置有黑卡5，若干个所述黑卡5自上而下依次设置在所述黑箱2中，测试时，相应的黑卡X轴移动模组4驱动黑卡5移动到所述测试工位3的下方。相对于传统技术的不足，在本专利技术中，通过将用于测试的若干个所述黑卡5自上而下的层叠设置在所述黑箱2中，这种层叠的设计使得所述黑箱2能够结构紧凑，且测试时，相应的黑卡X轴移动模组4驱动黑卡5移动到所述测试工位3的下方，从而使得芯片能够在不同测试卡距下进行测试，而所述黑卡5的设置数量根据实际所需的测试距离而定，使得本专利技术具有结构紧凑及能够降低成本的优点。
[0016]在本实施例中，所述黑箱2中还设置有位于所述测试工位3下方的环境光模组6，所述环境光模组6设置在所述黑箱2的底部，所述环境光模组6能够对所述测试工位3发出至少两种环境光。本专利技术通过所述环境光模组6位于所述测试工位3的下方的设置，在测试过程中直接对芯片进行照射，从而实现直射式发光而能够保证模拟环境光的强度，而且所述环境光模组6的位置设置也能够与若干个所述黑卡5进行兼容，从而使得设备整体能够紧凑。
[0017]在本实施例中，所述环境光模组6包括至少两个灯板7。所述灯板7包括一组灯组，灯组包括模拟环境灯A及模拟环境灯B，模拟环境光灯A和模拟环境光灯B可以是相同的也可以是不同的，或都增加其它环境灯光也可以。
[0018]在本实施例中，若干个所述黑卡X轴移动模组4的一端位于所述机台1中，若干个所
述黑卡X轴移动模组4的另一端穿过所述黑箱2的一侧，且位于所述黑箱2中。相比于若干个所述黑卡X轴移动模组4均位于所述黑箱2中的设置，本专利技术通过将若干个所述黑卡X轴移动模组4的部分结构放置于所述黑箱2的外部，从而能够减少所述黑箱2的整体体积。
[0019]在本实施例中，所述黑卡X轴移动模组4及所述黑卡5的数量均为四个。
[0020]如图4至图7所示，在本实施例中，四个所述黑卡X轴移动模组4自上而下分别为第一黑卡X轴移动模组401、第二黑卡X轴移动模组402、第三黑卡X轴移动模组（图中未示出）及第四黑卡X轴移动模组404，四个所述黑卡5自上而下分别为第一黑卡501、第二黑卡502、第三黑卡（图中未示出）及第四黑卡504，所述第一黑卡501与所述测试工位3之间的高度差为12mm，所述第二黑卡502与所述测试工位3之间的高度差为50mm，所述第三黑卡与所述测试工位3之间的高度差为100mm，所述第四黑卡504与所述测试工位3之间的高度差为150mm。根据上述方案可知，通过所述第一黑卡501、所述第二黑卡502、第三黑卡及第四黑卡504的设置能够满足对芯片的12mm、50mm、100mm及150mm的测试卡距。
[0021]如图4所示，在本实施例中，所述第一黑卡X轴移动模组401包括第一底板11，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多工位测试设备，其特征在于：其包括机台（1）及设置在机台（1）中的黑箱（2），所述机台（1）上设有与所述黑箱（2）的上端相连通的测试工位（3），所述机台（1）中还设置有若干个黑卡X轴移动模组（4），若干个所述黑卡X轴移动模组（4）的活动端均相应设置有黑卡（5），若干个所述黑卡（5）自上而下依次设置在所述黑箱（2）中，测试时，相应的黑卡X轴移动模组（4）驱动黑卡（5）移动到所述测试工位（3）的下方。2.根据权利要求1所述的一种多工位测试设备，其特征在于：所述黑箱（2）中还设置有位于所述测试工位（3）下方的环境光模组（6），所述环境光模组（6）设置在所述黑箱（2）的底部，所述环境光模组（6）能够对所述测试工位（3）发出至少两种环境光。3.根据权利要求2所述的一种多工位测试设备，其特征在于：所述环境光模组（6）包括至少两个灯板（7）。4.根据权利要求1
‑
3任一项所述的一种多工位测试设备，其特征在于：若干个所述黑卡X轴移动模组（4）的一端位于所述机台（1）中，若干个所述黑卡X轴移动模组（4）的另一端穿过所述黑箱（2）的一侧，且位于所述黑箱（2）中。5.根据权利要求1所述的一种多工位测试设备，其特征在于：所述黑卡X轴移动模组（4）及所述黑卡（5）的数量均为四个。6.根据权利要求5所述的一种多工位测试设备，其特征在于：四个所述黑卡X轴移动模组（4）自上而下分别为第一黑卡X轴移动模组（401）、第二黑卡X轴移动模组（402）、第三黑卡X轴移动模组及第四黑卡X轴移动模组（404），四个所述黑卡（5）自上而下分别为第一黑卡（501...

【专利技术属性】
技术研发人员：庞凯尹，宋斌杰，罗昌凌，翁巨贤，梁祖荣，
申请(专利权)人：珠海市运泰利自动化设备有限公司，
类型：发明
国别省市：