一种荧光光纤温度解调模块物理结构的检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及光路结构检测技术领域，尤其为一种荧光光纤温度解调模块物理结构的检测装置，包括荧光光纤温度解调模块、检测装置，荧光光纤温度解调模块上设有检测装置，检测装置包括激光器固定座、十字光标激光器，激光器固定座安装在模块固定座上，激光器固定座上设有至少一个十字光标激光器，本实用新型专利技术通过设置的十字光标激光器，使用十字光标激光器发出“+”字形激光，模拟光路对接原理(此目的是验证出光孔是否有偏差)，在结构件内部贴好反射镜片和半透镜片，十字光标激光器通电即可检测光路。此种检测方式简单直接，可以高效率精确检查光路结合好坏，并且对光结构件不造成损坏，使用完成后直接取下固定座即可。使用完成后直接取下固定座即可。使用完成后直接取下固定座即可。

【技术实现步骤摘要】
一种荧光光纤温度解调模块物理结构的检测装置


[0001]本技术涉及光路结构检测
，具体为一种荧光光纤温度解调模块物理结构的检测装置。

技术介绍

[0002]荧光光纤温度传感技术是基于光信号的温度感知技术，由于光信号的诸多优势，其应用范围越来越广，但温度解调模块对光路结构的要求很高，荧光光纤温度传感器是实现荧光光纤温度传感技术的设备，荧光光纤温度传感器由模块固定座、PCB板、光电耦合器、光源、反射镜片、半反半透镜、光纤、荧光物质组成。光路结构的精确性至关重要，直接影响整个测温系统。在与光器件对接技术成熟且状态可控的情况下，其本身结构件中光路机械加工的精确性，成了产品品质控制和一致性的关键因素。但在光结构器件的实际批量生产中，总会存在各种误差，很容易造成批量性的不合格品，耗费资源，而现有的光路结构检测方式有两种，一是做成成品后检测成品测温性能来反向排除光路结构是否合格，但做成成品后，若光路结构不合格，零部件不易拆卸，浪费资源，另一种便是用卡尺测量或机械工装检测，但此检测方式不够精确，测量误差大，涉及要检测的尺寸多，而且有些内部贴合镜片的平行面，以及内部的孔径现有技术无法检测以上两种检测方式都不直接，本专利技术采用激光检测的方式，根据光路通光原理来进行检测，检测方式直接。
[0003]因此需要一种荧光光纤温度解调模块物理结构的检测装置对上述问题做出改善。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种荧光光纤温度解调模块物理结构的检测装置，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：
[0006]一种荧光光纤温度解调模块物理结构的检测装置，包括荧光光纤温度解调模块、检测装置，所述荧光光纤温度解调模块为荧光光纤温度传感器的荧光解调模块，所述荧光光纤温度解调模块上设有可拆卸式的检测装置，所述荧光光纤温度解调模块包括模块固定座、半反半透镜、反射镜片，所述模块固定座为内部镂空结构，所述模块固定座的顶部为安装荧光光纤温度传感器的PCB板的无顶盖结构，所述模块固定座内部分别设有45
°
斜面一、45
°
斜面二、光源孔、光电耦合器孔，所述45
°
斜面一与45
°
斜面二为平行结构，所述45
°
斜面一上贴合有半反半透镜，所述45
°
斜面二上贴合有反射镜片，所述半反半透镜与反射镜片为平行结构，所述45
°
斜面一中部设有光源孔，所述光源孔为荧光光纤温度传感器的光源安装及通行光源光线的通孔结构，所述光源孔位于45
°
斜面一的半反半透镜反射荧光光纤温度传感器光源光线的部位，所述45
°
斜面一与45
°
斜面二之间的侧壁上设有光电耦合器孔，所述光电耦合器孔为荧光光纤温度传感器的光电耦合器安装及通行光电耦合器接收光线的通孔结构，所述光源孔与光电耦合器孔为平行结构，所述模块固定座的外侧壁上设有光纤安装孔，所述光纤安装孔为荧光光纤温度传感器的光纤部件安装结构，所述光纤安装孔与
光源孔连通，所述检测装置包括激光器固定座、十字光标激光器，所述激光器固定座安装在荧光光纤温度解调模块上，所述激光器固定座设有至少一个朝向光源孔及/或光电耦合器孔的十字光标激光器固定通孔，所述十字光标激光器固定通孔内设有十字光标激光器，所述十字光标激光器的发射端朝向荧光光纤温度解调模块，所述十字光标激光器的发射端正对光源孔及/或光电耦合器孔。
[0007]进一步地，所述十字光标激光器数量为一个或两个，不同的十字光标激光器为激光颜色不同激光器。
[0008]进一步地，所述激光器固定座依据荧光光纤温度解调模块的安装PCB板无顶盖结构形状设计制作。
[0009]进一步地，所述半反半透镜和反射镜片均为与对应十字光标激光器的激光射线呈45度角的结构。
[0010]与现有技术相比，本技术的有益效果是：
[0011]本技术中，通过设置的两种颜色的十字光标激光器，使用两个分别发出不同颜色的“+”字形激光，固定在特定固定座中，固定座安装在光路结构件上，且固定座与结构件两者的通光孔的孔完全重合，在光路结构件的出光孔装上小孔金属件，模拟光路对接原理(此目的是验证出光孔是否有偏差)，在结构件内部贴好反射镜片和半透镜片，两个激光器通电即可检测光路。此种检测方式简单直接，可以高效率的精确检查光路结合好坏，并且对光结构件不造成损坏，使用完成后直接取下固定座即可。
附图说明
[0012]图1为本技术结构示意图；
[0013]图2为本技术的检测装置结构示意图；
[0014]图3为本技术图的模块固定座结构示意图一；
[0015]图4为本技术图的模块固定座结构示意图二；
[0016]图5为本技术的检测装置自检示意图；
[0017]图6为本技术的检测装置对荧光光纤温度解调模块检测示意图。
[0018]图中：1、荧光光纤温度解调模块；11、模块固定座；111、45
°
斜面一；112、45
°
斜面二；113、光源孔；114、光电耦合器孔；115、光纤安装孔；12、半反半透镜；13、反射镜片；2、检测装置；21、激光器固定座；211、十字光标激光器固定通孔；22、十字光标激光器；3、白纸。
具体实施方式
[0019]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚；完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例,基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0020]请参阅图1
‑
6，本技术提供一种技术方案：
[0021]一种荧光光纤温度解调模块物理结构的检测装置，包括荧光光纤温度解调模块1、检测装置2，所述荧光光纤温度解调模块1为荧光光纤温度传感器的荧光解调模块，所述荧光光纤温度解调模块1上设有可拆卸式的检测装置2，所述荧光光纤温度解调模块1包括模
块固定座11、半反半透镜12、反射镜片13，所述模块固定座11为内部镂空结构，所述模块固定座11的顶部为安装荧光光纤温度传感器的PCB板的无顶盖结构，所述模块固定座11内部分别设有45
°
斜面一111、45
°
斜面二112、光源孔113、光电耦合器孔114，所述45
°
斜面一111与45
°
斜面二112为平行结构，所述45
°
斜面一111上贴合有半反半透镜12，所述45
°
斜面二112上贴合有反射镜片13，所述半反半透镜12与反射镜片13为平行结构，所述45
°
斜面一111中部设有光源孔113，所述光源孔113为荧光光纤温度传感器的光源安装及本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种荧光光纤温度解调模块物理结构的检测装置，包括荧光光纤温度解调模块、检测装置，所述荧光光纤温度解调模块为荧光光纤温度传感器的荧光解调模块，所述荧光光纤温度解调模块上设有可拆卸式的检测装置，所述荧光光纤温度解调模块包括模块固定座、半反半透镜、反射镜片，所述模块固定座为内部镂空结构，所述模块固定座的顶部为安装荧光光纤温度传感器的PCB板的无顶盖结构，所述模块固定座内部分别设有45
°
斜面一、45
°
斜面二、光源孔、光电耦合器孔，所述45
°
斜面一与45
°
斜面二为平行结构，所述45
°
斜面一上贴合有半反半透镜，所述45
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斜面二上贴合有反射镜片，所述半反半透镜与反射镜片为平行结构，所述45
°
斜面一中部设有光源孔，所述光源孔为荧光光纤温度传感器的光源安装及通行光源光线的通孔结构，所述光源孔位于45
°
斜面一的半反半透镜反射荧光光纤温度传感器光源光线的部位，所述45
°
斜面一与45
°
斜面二之间的侧壁上设有光电...

【专利技术属性】
技术研发人员：董永成，师利锋，
申请(专利权)人：深圳阿珂法先进科技有限公司，
类型：新型
国别省市：