本发明专利技术的接触端子具备沿与接触端子的中心轴平行的轴向延伸的筒状体、以及具有导电性的棒状的导体，上述导体具有从上述筒状体向上述轴向一方侧突出的突出部、以及配置在比上述筒状体的外周更靠内部的插入部，上述筒状体具有：端部侧切口，其沿上述轴向设于上述筒状体的上述轴向一方侧端部的周面；以及第一周向切口，其与上述端部侧切口的上述轴向另一方侧连接，从上述端部侧切口的周向第一端部沿远离上述端部侧切口的周向设置，上述插入部具有第一倾斜部和配置于上述第一倾斜部的上述轴向一方侧的第一壁面部，上述第一倾斜部具有在与上述轴向垂直的方向上观察时随着朝向上述轴向一方侧而远离上述中心轴的倾斜面，上述第一壁面部能够与上述筒状体接触。面部能够与上述筒状体接触。面部能够与上述筒状体接触。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】接触端子、检查夹具以及检查装置
[0001]本专利技术涉及用于检查对象的检查的接触端子。
技术介绍
[0002]现今，已知有与检查对象接触的接触端子。在专利文献1中公开了这样的接触端子的一例。
[0003]上述专利文献1的接触端子具备筒状体、第一中心导体及第二中心导体。筒状体由具有导电性的原材料形成为筒状。在筒状体形成有在筒状体的轴向上伸缩的第一弹簧部及第二弹簧部。在筒状体的轴向中央部设有将第一弹簧部及第二弹簧部连结的连结部。
[0004]第一中心导体及第二中心导体由具有导电性的原材料形成为棒状。在第一中心导体的前端设有第一鼓出部。在第一中心导体固定于筒状体的一端部的状态下，第一鼓出部配置在连结部内。在第二中心导体的前端设有第二鼓出部。在第二中心导体固定于筒状体的另一端部的状态下，第二鼓出部配置在连结部内。
[0005]若将基板安装于支撑上述结构的接触端子的支撑部件，则第一中心导体的一端部根据第一弹簧部及第二弹簧部的作用力而压接于基板的电极，从而第一中心导体的一端部与电极保持为导电接触状态。
[0006]在使用了接触端子的检查对象的检查时，第二中心导体的另一端部根据第一弹簧部及第二弹簧部的作用力而压接于检查对象的被检查点，从而第二中心导体的另一端部与被检查点保持为导电接触状态。
[0007]由此，通过检查对象与第二中心导体的另一端部的接触、第二鼓出部与连结部的接触、连结部与第一鼓出部的接触、以及第一中心导体的一端部与电极的接触，分别形成触点，形成电流路径。
[0008]现有技术文献
[0009]专利文献
[0010]专利文献1：日本特开2019
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15542号公报
技术实现思路
[0011]专利技术所要解决的课题
[0012]然而，在上述专利文献1的接触端子中，第一中心导体及第二中心导体的固定于筒状体的固定方法存在改善的余地。
[0013]鉴于上述状况，本专利技术的目的在于提供能够通过容易的组装来实现抑制导体从筒状体脱落的结构的接触端子、以及使用该接触端子的检查夹具、检查装置。
[0014]用于解决课题的方案
[0015]本专利技术的例示性的接触端子构成为，具备：筒状体，其沿与接触端子的中心轴平行的轴向延伸；以及棒状的导体，其具有导电性，上述导体具有从上述筒状体向上述轴向一方侧突出的突出部、以及配置在比上述筒状体的外周更靠内部的插入部，上述筒状体具有：第
一端部侧切口，其沿上述轴向设于上述筒状体的上述轴向一方侧端部的周面；以及第一周向切口，其与上述第一端部侧切口的上述轴向另一方侧连接，从上述第一端部侧切口的周向第一端部沿远离上述第一端部侧切口的周向设置，上述插入部具有第一倾斜部和配置于上述第一倾斜部的上述轴向一方侧的第一壁面部，上述第一倾斜部具有在与上述轴向垂直的方向上观察时随着朝向上述轴向一方侧而远离上述中心轴的倾斜面，上述第一壁面部能够与上述筒状体接触。
[0016]专利技术的效果如下。
[0017]根据本专利技术的例示性的接触端子以及使用该接触端子的检查夹具、检查装置，能够通过容易的组装来实现抑制导体从筒状体脱落的结构。
附图说明
[0018]图1是示出本专利技术的例示性的实施方式的检查装置的整体结构的简图。
[0019]图2是分解地示出接触端子的侧视图。
[0020]图3是分解地示出接触端子的俯视图。
[0021]图4是第一导体的立体图。
[0022]图5A是接触端子的侧视图。
[0023]图5B是仅示出图5A的状态下的第一导体及第二导体的侧视图。
[0024]图6是接触端子的俯视图。
[0025]图7是示出由支撑部件支撑接触端子的状态的图。
[0026]图8是接触端子的简要侧视剖视图。
[0027]图9是图8中的A
‑
A剖视图。
[0028]图10是与卡扣构造相关的主要部分放大图。
[0029]图11是与比较例的压入构造相关的主要部分放大图。
[0030]图12A是示出第一壁面部的第一结构例的简图。
[0031]图12B是示出第一壁面部的第二结构例的简图。
[0032]图12C是示出第一壁面部的第三结构例的简图。
[0033]图12D是示出图12A所示的结构的变形例的简图。
[0034]图13是与卡扣构造的一个变形例相关的主要部分放大图。
[0035]图14是主要示出第一变形例的接触端子中的第一导体和第二导体的图。
[0036]图15是示出第一变形例的接触端子中的卡扣构造的主要部分放大图。
[0037]图16A是示出在第一变形例的接触端子的组装中圆弧部与筒状体的内周面接触的状态的在沿轴向观察时的剖视图。
[0038]图16B是示出在第一变形例的接触端子的组装中圆弧部收纳在筒状体的周向切口内的状态的在沿轴向观察时的剖视图。
[0039]图17是示出第二变形例的接触端子中的卡扣构造的主要部分放大图。
[0040]图18A是示出在第二变形例的接触端子的组装中圆弧部与筒状体的内周面接触的状态的在沿轴向观察时的剖视图。
[0041]图18B是示出在第二变形例的接触端子的组装中圆弧部收纳在筒状体的周向切口内的状态的在沿轴向观察时的剖视图。
[0042]图19是第三变形例的第一导体的立体图。
[0043]图20是第三变形例的接触端子的简要侧视剖视图。
[0044]图21是示出第三变形例的卡扣构造的主要部分放大图。
[0045]图22是示出第四变形例的卡扣构造的主要部分放大图。
[0046]图23是沿轴向观察到的第四变形例的筒状体的图。
[0047]图24是从轴垂直方向一方侧观察到的第四变形例的接触端子的一部分的图。
[0048]图25是从轴垂直方向另一方侧观察到的第四变形例的接触端子的一部分的图。
[0049]图26是示出第五变形例的卡扣构造的主要部分放大图。
[0050]图27是示出在第五变形例的接触端子的组装中圆弧部收纳在筒状体的周向切口内的状态的在沿轴向观察时的剖视图。
[0051]图28是示出与第一接触部和第二接触部的接触相关的一个变形例的在沿轴向观察时的剖视图。
具体实施方式
[0052]以下，参照附图对本专利技术的例示性的实施方式进行说明。此外，以下，将与接触端子的中心轴J(参照图5A、图6)平行的方向称为“轴向”，将图中轴向一方侧示为X1，将轴向另一方侧示为X2。并且，将绕中心轴J的方向称为“周向”。
[0053]＜1.检查装置的整体结构＞
[0054]图1是示出本专利技术的例示性的实施方式的检查装置的整体结构的简图。此外，图1中，轴向一方X1侧相当于下方，轴向另一方X2侧相当于上方。
[0055]图1所示的检查装置25进行检查对象30的电气检查。检查装置25具备检查夹具10和检查处理部15本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种接触端子，其特征在于，具备：筒状体，其沿与接触端子的中心轴平行的轴向延伸；以及棒状的导体，其具有导电性，上述导体具有从上述筒状体向上述轴向一方侧突出的突出部、以及配置在比上述筒状体的外周更靠内部的插入部，上述筒状体具有：第一端部侧切口，其沿上述轴向设于上述筒状体的上述轴向一方侧端部的周面；以及第一周向切口，其与上述第一端部侧切口的上述轴向另一方侧连接，从上述第一端部侧切口的周向第一端部沿远离上述第一端部侧切口的周向设置，上述插入部具有第一倾斜部和配置于上述第一倾斜部的上述轴向一方侧的第一壁面部，上述第一倾斜部具有在与上述轴向垂直的方向上观察时随着朝向上述轴向一方侧而远离上述中心轴的倾斜面，上述第一壁面部能够与上述筒状体接触。2.根据权利要求1所述的接触端子，其特征在于，在沿轴向观察时，上述插入部的宽度变得最大的上述轴向位置处的上述插入部的截面具有与上述筒状体重叠的部分。3.根据权利要求1或2所述的接触端子，其特征在于，在从与上述轴向垂直的方向观察时，上述第一壁面部相对于上述轴向垂直地延伸。4.根据权利要求1或2所述的接触端子，其特征在于，在从与上述轴向垂直的方向观察时，上述第一壁面部随着朝向上述轴向一方侧而接近上述中心轴。5.根据权利要求1或2所述的接触端子，其特征在于，在从与上述轴向垂直的方向观察时，上述第一壁面部随着朝向上述轴向一方侧而远离上述中心轴。6.根据权利要求1至5任一项中所述的接触端子，其特征在于，上述突出部具有凸边部，该凸边部与上述筒状体的上述轴向一方侧端面在上述轴向上对置。7.根据权利要求1至6任一项中所述的接触端子，其特征在于，上述插入部具有配置于上述第一端部侧切口的周向端面之间的端部侧肋。8.根据权利要求1至7任一项中所述的接触端子，其特征在于，上述插入部具有配置于上述第一倾斜部的上述轴向另一方侧的中心侧肋，上述中心侧肋具有导向部，该导向部具有与上述第一端部侧切口的周向端面之间的宽度大致相同的宽度。9.根据权利要求8所述的接触端子，其特征在于，上述中心侧肋具有第二倾斜部，该第二倾斜部与上述导向部...
【专利技术属性】
技术研发人员：太田宪宏，
申请(专利权)人：日本电产理德株式会社，
类型：发明
国别省市：
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