信号记录方法和设备及其所用测量法和仪器技术

借助于辐射电子束（１５）在记录载体（１）上记录信号的一种设备（图３）和一种方法。所述信号以用光学方法可检测到的条纹（３０，３１）方式记录在轨迹间距（ｑ）大致上不变的平行轨迹（４）中。辐射电子束（１５）的写入强度以这样一种方式加以调节，即使光学条纹的宽度（Ｐ）相当于轨迹间距（ｑ）。此外，本发明专利技术还包括一种方法和装置，用该方法和装置可确定辐射电子束（１５）的最佳写入强度。（*该技术在2010年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种在可重写的记录载体上记录信号的方法，用光学方法可检测出的条纹所组成的信息模式系以具特定轨迹间距基本上平行的轨迹在记录载体上形成的，这些轨迹则经由辐射电子束进行扫描而形成条纹。本专利技术还涉及一种在可重写的记录载体上以具特定轨迹间距的平行轨迹的形式记录信号所使用的记录设备，该记录设备包括扫描装置，该装置用光束扫描轨迹以便在轨迹中形成用光学方法可检测出的条纹组成的信息模式，该模式对应于所述信号。本专利技术还涉及上述记录方法和记录设备所采用的测量方法和测量仪。最后，本专利技术还涉及一种配备有轨迹间距实质上不变并基本上平行的毗邻轨迹的记录载体，该轨迹表示用光学方法可检测出的条纹所组成的信息模式。特别是，从《菲利普斯技术评论》第42卷，第2斯，第28-47页中可以了解到这类记录方法、记录设备和记录载体。该杂志介绍了一种磁光记录设备。磁光记录有这样一个问题，即读取已录制信号时其可靠程度易受记录条件变化的影响，例如记录速度和扫描束的强度等。本专利技术的目的即提供改善了读取已录制信号可靠性的本说明书开端所述那种记录方法和记录设备。在方法方面，上述目的是通过具有这样技术特点的方法实现的，即已录制的条纹在垂直于某一轨迹方向的方向上的尺寸大致与轨迹间距相当。在设备方面，上述目的是通过具有如此特点的记录设备实现的，即该设备适宜记录其在垂直于轨迹方向的方向上的尺寸大致上与轨迹间距相当的条纹。本专利技术是基于对下述事实的认识，即读出可靠性基本上取决于已录制条纹的尺寸，当条纹在垂直于轨迹方向的方向上的尺寸大致上与轨迹间距相等时读出的可靠性便达到最佳。条纹的尺寸最好是通过调节写入强度来调节，因为这些尺寸主要取决于记录时使用的写入强度，因此用写入强度来调节这些尺寸是极其合适的。本专利技术方法的一个实施例，其写入强度可以简单地使其达到最佳，其特点在于该方法包括一种测量方法，该测量方法是以辐射电子束的最大写入强度将第一测试信号记录在一特定的轨迹部分内，在所述特定轨迹部分相对侧的轨迹部分内则以最大与最小写入强度之间的各种不同写入强度记录可与第一测试信号加以区别的第二测试信号，记录好第二测试信号之后再从所述特定轨迹部分读取第二测试信号，以检验所读取的第二测试信号是否含有对应于第一测试信号的信号分量，然后根据该检验结果在下述范围选取最佳写入强度，该范围位于其对应于第一测试信号的信号分量存在于读取中的第二测试信号中的强度范围与其所述信号分量基本上不在读取中的测试信号中的强度范围之间的边界区中，写入强度是在已实现该测量方法之后被调节到最佳写入强度值的。本专利技术设备的一个实施例，其写入强度被自动最佳化，其特点是，该设备包括一测量装置，测量装置则包括一读出装置，用以借助于读出辐射电子束读取已录制的信号;测试信号发生装置，用以产生第一测试信号和可与第一测试信号加以区别的第二测试信号;控制装置用以在写入强度达最大值时使第一测试信号能被记录在一特定轨迹部分，继而又使第二测试信号能以位于最小强度与最大强度之间的一系列不同的写入强度值记录在该特定轨迹部分中和位于所述特定轨迹部分相对侧的轨迹部分中，并用以使以不同写入强度值所记录的第二测试信号能从该特定轨迹部分读取;检测装置，用以检测相应于读取中的第二测试信号中的第一测试信号的信号分量;选择装置，用以从所检测出的信号分量获取最佳写入强度，该最佳写入强度大致位于其对应于第一测试信号的信号分量出现在读取中的第二测试信号中的强度范围与其所述信号分量基本上不存在于读取中的第二测试信号中的强度范围之间的边界上;记录设备还包括写入强度调节装置，用以在已确定最佳写入强度之后将写入强度调节到所述最佳值。本专利技术的方法和设备的上述实施例有利地利用了这样一个事实，即条纹的尺寸相当于轨迹间距时，第一测试信号的信号分量从读出信号中消失。能自动调节写入强度的那些实施例特别适用于其条纹的尺寸主要取决于写入强度的记录设备，例如磁光记录设备。但本专利技术并不局限于磁光记录设备，它也可应用于其它记录原理，例如采用其结构在用光束扫描时可从非晶质改变到晶质或从晶质改变到非晶质的记录载体，(当然这视乎照射的方法而定)。在“相变”式可重写的记录载体上进行记录。现在参看附图说明图1至11更详细地说明本专利技术其它实施例及其优点。附图中，图1示出了一种记录载体;图2示出了一个磁光设备;图3示出了写入信号及其相应的信息模式;图4示出了在毗邻轨迹部分中的一系列信息模式;图5示出了读出可靠性随写入强度而变化的函数关系;图6示出了在磁光记录情况下磁畴宽度随写入强度变化的函数关系;图7示出了用以举例说明本专利技术的若干信息模式;图8示出了用以举例说明本专利技术的若干测量结果;图9示出了用于本专利技术的记录设备中的一个控制电路的例子;图10是组成该电路一部分的微计算机的程序流程图;图11则是为举例说明本专利技术而示出的记录载体上适宜记录测试信号的部位。图1示出了可重写式记录载体1的一个实施例，图1a为平面图，图1b示出了沿b-b线截取的小部分剖面图。记录载体具有形成一定图形的轨迹，界定着为记录以光学方法可检测出来的条纹组成的信息模式下的大致同心的信息区。轨迹图形可以包括(例如)确定了信息区中心的连续螺旋形伺服轨迹4。但，这些同心信息区也可以按(例如)荷兰专利申请NL-A8702905(PHN12.339)中所述的伺服图形的结构来确定。为记录起见，记录载体1包括设在透明衬底5上并覆盖有保护层7的记录层6。记录层6由适宜进行磁光记录的材料构成。但应该指出的是，记录层6也可以由其它材料组成，例如“相变”材料，这种材料的结构通过适当的照射方法可从非晶质改变成晶质或反之亦然。图2示出了一种用以在记录载体1上记录信息的磁光记录设备10。记录设备10包括转盘11和驱动电动机12，用以使记录载体1绕轴线13旋转。转动着的记录载体1的反面配置有普通那种适宜作磁光记录和读出的光写/读头14将辐射电子束15射向记录层6。记录设备10包括普通的跟踪装置(图中未示出)，用以使光束15保持对准伺服轨迹4;聚焦装置，用以保持辐射电子束15在记录层6上聚焦;和普通的编址装置，用以确定特定地址的位置，例如如欧洲专利申请EP-A0265904和荷兰专利申请NL-A8800151(PHN12.063和PHN12.398)中所述的那一种。与读/写头14相对，在记录载体1的另一侧，配置有磁场调制器16，用以产生磁场H，其取向大致垂直于暴露在辐射电子束15下的范围内的记录层6。磁场调制器16通过构件17刚性地连接到读/写头14。读/写头14和磁场调制器16可借助于传动系统18相对于记录载体作径向运动，构件17确保磁场调制器16始终保持处在直接与读/写头相对的位置。磁场调制器16是那一种可将所产生的磁场的方向调制得使其与双值(bivalent)写入信号Vm一致的调制器。这类磁场调制器，特别是在荷兰专利申请8702451(PHN12，294)中有较全面的介绍，本说明书也将该荷兰申请包括进来，仅供参考。设备10还包括一控制电路19，用以控制读/写头14和传动系统18，并用以控制所述写入信号Vm的产生。记录信息时，用辐射电子束15扫描伺服轨迹4，辐射电子束15的强度系调定到足以将该辐射电子束所扫描的记录层6的部位加热到接近记录层16的材本文档来自技高网...

【技术保护点】
在可重写式记录载体上记录信号的一种方法，该方法是在所述记录载体上以具特定轨迹间距大致平行的轨迹形式形成用光学方法可检测出的条纹所组成的信息图形，再以辐射电子束扫描该轨迹以形成条纹，其特征在于，已录制的条纹在垂直于轨迹方向上的尺寸大致上与轨迹间距相当。

【技术特征摘要】
NL 1989-5-29 89013451.在可重写式记录载体上记录信号的一种方法，该方法是在所述记录载体上以具特定轨迹间距大致平行的轨迹形式形成用光学方法可检测出的条纹所组成的信息图形，再以辐射电子束扫描该轨迹以形成条纹，其特征在于，已录制的条纹在垂直于轨迹方向上的尺寸大致上与轨迹间距相当。2.如权利要求1所述的信号记录方法，其特征在于，该用光学方法可检测出的条纹是借助于辐射电子束局部加热所述记录载体的记录层所获得的磁畴，所述记录层适宜进行磁光记录，即记录层经加热的部分则暴露在大致垂直作用于记录层的磁场下。3.如权利要求2所述的信号记录方法，其特征在于，所述磁场是根据待记录信号而被调制的。4.如权利要求2或3所述的信号记录方法，其特征在于，通过调节辐射电子束强度来调节用光学方法可检测的条纹尺寸，使其与轨迹间距相当。5.如权利要求4所述的信号记录方法，其特征在于，它包括一种测量方法，该测量方法是在一特定的轨迹部分以辐射电子束的最大写入强度记录第一测试信号;在所述特定轨迹部分相对侧轨迹部分以最大与最小写入强度之间的不同写入强度记录可与第一测试信号加以区别的第二测试信号，记录好第二测试信号之后，就从所述特定轨迹部分读取第二测试信号，以检验所读取的第二测试信号是否含有对应于第一测试信号的信号分量，然后根据该检验结果选取最佳写入强度，最佳写入强度位于其对应于第一测试信号的信号分量存在于读取中的第二测试信号的强度范围与其所述信号分量基本上不存在于读取中的测试信号中的强度范围之间的边界区中，写入强度是在实现该测量方法之后被调节到最佳写入强度值的。6.如权利要求5所述的信号记录方法，其特征在于，第一和第二测试信号是周期信号。7.如权利要求4、5或6所述的信号记录方法中所使用的测量方法。8.在可重写式记录载体上以具有特定轨迹间距的平行轨迹中记录信号的一种记录设备，该记录设备包括一扫描装置，用以用辐射电子束装置扫描各轨迹以便在轨迹中形成用光学方法可检测出的条纹的信息模式，该模...

【专利技术属性】
技术研发人员：约翰内斯利奥波达斯巴克斯，杰罗恩简坎伯特斯霍里克斯，
申请(专利权)人：皇家菲利浦电子有限公司，
类型：发明
国别省市：NL[荷兰]