一种对射光幕的测试方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种对射光幕的测试方法及系统，其测试方法应用于测试系统中，该系统至少包括数控单元和与所述数控单元相连的待测模块和运动模块；其中测试方法包括所述数控单元响应于设置参数向所述运动模块发送控制指令，控制所述运动模块中的目标物对所述待测模块中的待测对射光幕所产生的探测光束进行往复遮挡；所述数控单元采集所述目标物运动过程中待测对射光幕的实时输出状态，并结合所述目标物的实时位置对待测对射光幕的通光/挡光性能进行测试以获得待测对射光幕的测试结果。本发明专利技术通过控制目标物对待测对射光幕所产生的光进行往复遮挡，从而获知对射光幕是否出现故障，实现自动测试的目的，提高测试效率和准确性。性。性。

【技术实现步骤摘要】
一种对射光幕的测试方法及系统


[0001]本专利技术涉及对射光幕质量检测领域，尤其涉及一种对射光幕的测试方法及系统。

技术介绍

[0002]目前，对射光幕也称为安全光栅，通过对射光幕一侧的发光器发出光信号，由另一侧的接收器接收光信号，形成光幕；当人或物体进入光幕屏障区内会遮挡探测光束，使得接收器无法接收到光信号，此时，对射光幕即可发出报警提示或直接触发其他设备的报警装置实现机器急停或安全报警的效果。
[0003]但是，现有的对射光幕在完成制造过程后由于缺乏可靠的测试系统，一般只是将对射光幕进行一段时间的通电老化，不时查看电路是会出现异常，期间测试人员会用手或其它遮挡物遮挡一下对射光幕的探测光束，通过人工观察的方式判断对射光幕的输出反应是否正常，有些制造商甚至不执行老化测试，仅通电后就直接对外销售。这些简单的测试方式都无法准确地判断对射光幕的检测性能，更无法获知对射光幕的完整质量情况。

技术实现思路

[0004]为了克服现有技术的不足，本专利技术的目的之一在于提供一种对射光幕的测试方法，自动检测对射光幕的质量情况，提高测试的准确性以及测试效率。
[0005]本专利技术的目的之二在于提供一种对射光幕的测试系统，执行上述测试方法。
[0006]本专利技术的目的之一采用如下技术方案实现：
[0007]一种对射光幕的测试方法，应用于测试系统中，该系统至少包括数控单元和与所述数控单元相连的待测模块和运动模块；其中测试方法包括：
[0008]所述数控单元响应于设置参数向所述运动模块发送控制指令，控制所述运动模块中的目标物对所述待测模块中的待测对射光幕所产生的探测光束进行往复遮挡；
[0009]所述数控单元采集所述目标物运动过程中待测对射光幕的实时输出状态，并结合所述目标物的实时位置对待测对射光幕的通光/挡光判断性能进行测试以获得待测对射光幕的检测性能结果。
[0010]进一步地，所述设置参数包括光幕供电电压范围、光幕功率范围、光幕老化时间、光幕输出方式、目标物前进距离和光幕长度。
[0011]进一步地，控制所述目标物对探测光束进行往复遮挡的方法为：
[0012]根据输入的设置参数确定所述目标物的单次运行距离；
[0013]根据单次运行距离生成对应若干个驱动脉冲信号，并将其发送至所述运动模块的驱动组件中控制所述驱动组件带动所述目标物从预设的初始位置出发，以垂直于待测对射光幕所产生的探测光束的运动方向移动至终点位置，在所述目标物移动过程中对待测对射光幕所产生的探测光束进行单次遮挡；
[0014]根据输入的设置参数确定预设的老化持续时间，向所述运动模块的驱动组件发送连续的脉冲信号以控制所述目标物在老化持续时间内执行连续地往返遮挡操作。
[0015]进一步地，对待测对射光幕的通光/挡光性能进行测试的方法为：
[0016]所述目标物在老化持续时间内执行往返遮挡操作过程中，所述数控单元采集待测对射光幕实时输出的遮光/挡光状态，结合所述目标物的实时位置以及光幕长度不断判断光幕的输出状态是否与探测光束会被目标物遮挡的状态相符，若始终相符，则通过老化测试；若出现不相符的情况，则按照预设的报警方式生成告警提示。
[0017]进一步地，所述测试系统中还包括对待测对射光幕进行供电的程控电源，所述程控电源在预设电压范围内按设定规律或随机变换供电电压。
[0018]进一步地，所述数控单元实时调整所述程控电源的输出电压，并判断供电电压改变的情况下待测对射光幕输出的通光/挡光状态是否出现异常，若存在异常情况，则按照预设的报警方式生成告警提示。
[0019]进一步地，所述数控单元不断采集待测对射光幕的实时功耗，判断耗电功率是否在预设的光幕功率范围内，若超出，则向工位控制单元发送断电指令以停止向待测对射光幕继续供电。
[0020]进一步地，所述数控单元按照时间顺序将采集所得的所述目标物的实时位置、每组待测对射光幕输出的实时通光/挡光状态、程控电源的实时供电电压生成对应的曲线图像进行显示。
[0021]进一步地，所述数控单元根据同一时刻下的所述目标物的实时位置、每组待测对射光幕输出的通光/挡光状态对每组待测对射光幕的反应速度进行测试。
[0022]本专利技术的目的之二采用如下技术方案实现：
[0023]一种对射光幕的测试系统，包括：
[0024]多组工位控制单元，每组工位控制单元均连接有待测对射光幕；
[0025]总线采集单元，与所有工位控制单元相连，用于通过所述工位控制单元采集每组待测对射光幕的输出状态，并通过所述工位控制单元向每组待测对射光幕发送控制指令；
[0026]驱动单元，包括驱动组件和与所述驱动组件相连的目标物，用于控制所述目标物对待测对射光幕所产生的探测光束进行往复遮挡；
[0027]数控单元，与所述总线采集单元和所述驱动单元相连，用于采集所述目标物的运动数据获知所述目标物的实时位置，在所述目标物运动过程中采集每组待测对射光幕输出的遮光/挡光情况，对待测对射光幕的通光/挡光性能进行测试以获得待测对射光幕的测试结果。
[0028]相比现有技术，本专利技术的有益效果在于：
[0029]通过控制目标物对待测对射光幕所产生的光进行往复遮挡，根据目标物的实时位置以及光幕输出的通光/挡光状态即可获知对射光幕是否出现故障，同时可通过用户输入的设置参数对测试系统的各个参数进行自定义设置，模拟对射光幕的实际应用环境，检测对射光幕在不同使用环境下其性能是否达标，实现自动测试的目的，提高测试效率和准确性。
附图说明
[0030]图1为本专利技术老化柜的结构示意图；
[0031]图2为本专利技术对射光幕的测试系统的结构示意图；
[0032]图3为本专利技术对射光幕的测试方法的流程示意图；
[0033]图4为本专利技术对射光幕的测试系统中参数设置界面图；
[0034]图5为本专利技术对射光幕的测试系统中测试结果显示界面图。
[0035]图中：1、老化柜；2、通道；3、驱动器；4、皮带；5、挡板；6、分隔板；7、待测光幕放置槽。
具体实施方式
[0036]下面，结合附图以及具体实施方式，对本专利技术做进一步描述，需要说明的是，在不相冲突的前提下，以下描述的各实施例之间或各技术特征之间可以任意组合形成新的实施例。
[0037]实施例一
[0038]本实施例提供一种对射光幕的测试系统，利用该系统可自动对批量的待测对射光幕同时进行老化测试，大幅度提高测试效率。
[0039]如图1所示，本实施例的测试系统可集成在老化柜1中，利用老化柜1可对若干组待测对射光幕同时进行测试，提高测试效率。所述老化柜1的柜体设置有若干层，在柜体的每层结构中均可设置至少一组待测对射光幕，并在柜台的中部设置有通道2，使得老化柜1内因通道2的存在划分为L区和R区，将一组待测对射光幕的发射端和接收端分别设置在同一层的L区和R区的待测光幕放置槽7中，使得位于柜体一侧的待测对射光幕的发射本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种对射光幕的测试方法，其特征在于，应用于测试系统中，该系统至少包括数控单元和与所述数控单元相连的待测模块和运动模块；其中测试方法包括：所述数控单元响应于设置参数向所述运动模块发送控制指令，控制所述运动模块中的目标物对所述待测模块中的待测对射光幕所产生的探测光束进行往复遮挡；所述数控单元采集所述目标物运动过程中待测对射光幕的实时输出状态，并结合所述目标物的实时位置对待测对射光幕的通光/挡光判断性能进行测试以获得待测对射光幕的检测性能结果。2.根据权利要求1所述的对射光幕的测试方法，其特征在于，所述设置参数包括光幕供电电压范围、光幕功率范围、光幕老化时间、光幕输出方式、目标物前进距离和光幕长度。3.根据权利要求1所述的对射光幕的测试方法，其特征在于，控制所述目标物对探测光束进行往复遮挡的方法为：根据输入的设置参数确定所述目标物的单次运行距离；根据单次运行距离生成对应若干个驱动脉冲信号，并将其发送至所述运动模块的驱动组件中控制所述驱动组件带动所述目标物从预设的初始位置出发，以垂直于待测对射光幕所产生的探测光束的运动方向移动至终点位置，在所述目标物移动过程中对待测对射光幕所产生的探测光束进行单次遮挡；根据输入的设置参数确定预设的老化持续时间，向所述运动模块的驱动组件发送连续的脉冲信号以控制所述目标物在老化持续时间内执行连续地往返遮挡操作。4.根据权利要求3所述的对射光幕的测试方法，其特征在于，对待测对射光幕的通光/挡光性能进行测试的方法为：所述目标物在老化持续时间内执行往返遮挡操作过程中，所述数控单元采集待测对射光幕实时输出的遮光/挡光状态，结合所述目标物的实时位置以及光幕长度不断判断光幕的输出状态是否与探测光束会被目标物遮挡的状态相符，若始终相符，则通过老化测试；若出现不相符的情况，则按照预设的报警方式生成告警提示。5.根据权利要求1所述的对射光幕的...

【专利技术属性】
技术研发人员：蒋丽，
申请(专利权)人：广州安协科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：