一种新型的雷达产品测试装置制造方法及图纸

技术编号:30730316 阅读:18 留言:0更新日期:2021-11-10 11:32
本实用新型专利技术公开了一种新型的雷达产品测试装置,用于检测雷达产品,包括金属球、半封闭暗箱、目标控制台、测试工控机、第一数据线和第二数据线,所述半封闭暗箱设有封闭端口和开放端口,所述封闭端口固定安装被检测雷达产品。本实用新型专利技术公开的一种新型的雷达产品测试装置,其通过金属球作为雷达检测目标,不仅可以使得设备以及检测环境的成本降低,而且使得检测环境稳定,其还设有位置调节结构,对被检测雷达产品和金属球进行状态调节,从而满足各种测试的要求。测试的要求。测试的要求。

【技术实现步骤摘要】
一种新型的雷达产品测试装置


[0001]本技术属于雷达产品测试
,具体涉及一种新型的雷达产品测试装置。

技术介绍

[0002]雷达相关产品或解决方案常见的或通用的测试方法,主要是针对军事或工业市场而开发,而民用雷达产品的测试学习了这些方法,比较常见的测试方法有:
[0003]1)场景模拟法
[0004]场景模拟法的测试环境,模拟了真实了雷达使用环境,并用雷达使用时的实际探测目标作为雷达目标。测试过程中,通常需要用测试主机或其他工具对雷达工作状态进行设置,并通过目标状态的切换,让雷达处于不同的响应状态,获取雷达参数测量结果,以检测雷达的功能和性能,最终得到测试结果。
[0005]2)目标模拟法
[0006]目标模拟法采用了雷达模拟器、角反射器和反射平面板等作为雷达目标,用实验环境模拟对应雷达真实的使用环境。测试过程中,对雷达工作状态进行设置,并通过对雷达模拟器、角反射器等雷达目标状态的改变,让雷达处于不同的响应状态,获取雷达参数测量结果,以检测雷达的功能和性能,最终得到测试结果。
[0007]现有技术存在的主要问题,是因为测试环境限制而导致雷达产品的测试成本高:
[0008]1)对于场景模拟法
[0009]采用实际目标进行测试,测试自动化难以实现,测试效率低、成本高。另外,实际场景中雷达目标参数的影响因素众多,因测试环境稳定性差而导致误测和重复测试,也增加了测试成本。
[0010]2)对于目标模拟法
[0011]i.采用雷达模拟器组建测试环境,用于测速或测距雷达产品的测试。
[0012]雷达模拟器环境,主要问题设备价格昂贵,成本高。
[0013]ii.采用角反射器组建测试环境,主要用于测速雷达产品的测试。
[0014]角反射器环境,设备成本比采用雷达模拟器低。但采用角反射器模拟目标,带来的问题是:在角反射器的几何尺寸满足测试电大尺寸目标的要求后,此时,角反射器的雷达散射截面相比测试环境需求,往往过大,特别是对于民用雷达模块这种大多数为小目标探测的雷达产品,雷达散射截面过大表现的更为明显。
[0015]为此,测试环境中需要对雷达反射波特别是后向反射波进行衰减,3个常见的解决方案是:
[0016]a.研究并定制特殊的角反射器,如增加涂敷层或采用龙伯球反射器,成本高。
[0017]b.为加大自由空间的衰减而扩大测试场地,这增大了雷达波路径上不可控风险,并使测试成本增加。
[0018]c.在雷达波路径上加入吸波材料,这带来的问题是:
[0019]当前市面上的吸波材料不同几何点上电磁参数的差异,影响雷达波路径上不同位置的衰减效果;同时对吸波材料在测试环境中的固定,也会对不同位置的衰减效果产生影响。
[0020]为了让上述衰减效果达到测试环境要求需要做相应的研究和定制,这增加了测试成本。
[0021]iii.采用反射平面板组建测试环境,用于测速或测距雷达产品的测试。
[0022]反射平面板环境,设备成本低,反射平面板是非标准件,目标的雷达散射截面可以通过面板几何尺寸或材质的更换而更改。
[0023]但采用反射平面模拟目标,带来的问题是:在雷达观察角度,反射平面板的安装方位对雷达散射截面影响大,特别是在雷达波来波方向外的另两个方向,安装方位的微小变化,就会引起测试条件的严重改变。这对反射平面板的安装、调试和更换提出了很高要求,导致测试成本增加。
[0024]另外,测试环境稳定性差而导致误测和重复测试,也增加了测试成本。
[0025]因此,针对上述问题,予以进一步改进。

技术实现思路

[0026]本技术的主要目的在于提供一种新型的雷达产品测试装置,其通过金属球作为雷达检测目标,不仅可以使得设备以及检测环境的成本降低,而且使得检测环境稳定,其还设有位置调节结构,对被检测雷达产品和金属球进行状态调节,从而满足各种测试的要求。
[0027]为达到以上目的,本技术提供一种新型的雷达产品测试装置,用于检测雷达产品,包括金属球(在测试环境中模拟雷达目标)、半封闭暗箱、目标控制台、测试工控机、第一数据线和第二数据线,其中:
[0028]所述半封闭暗箱设有封闭端口和开放端口,所述封闭端口固定安装被检测雷达产品,所述开放端口朝向所述金属球(半封闭暗箱结构内部是稳定、可信的电磁环境,并为被检测雷达产品提供电源接口、信号输入输出接口以及固定(限位)结构);
[0029]所述第一数据线的一端与所述测试工控机电性连接并且所述第一数据线远离所述测试工控机的一端穿过所述半封闭暗箱的封闭端口与被检测雷达产品电性连接(所述测试工控机实现对被检测雷达参数设置、测试结果获取以及通过第二数据线和目标控制台实现对金属球的状态控制);
[0030]所述第二数据线的一端与所述测试工控机电性连接并且所述第二数据线远离所述测试工控机的一端与所述目标控制台电性连接;
[0031]所述金属球安装于所述目标控制台,所述目标控制台用于调节所述金属球的运动状态。
[0032]作为上述技术方案的进一步优选的技术方案,所述封闭端口设有第一位置调节结构,所述第一位置调节结构包括第一导轨、第一移动支架和第一固定件,所述第一导轨固定于所述封闭端口靠近被测件雷达产品的一侧,被检测雷达安装于所述第一移动支架并且所述第一移动支架安装于所述第一导轨(被检测雷达产品可以根据目标进行调节位置,从而达到最佳的检测位置),所述第一固定件的一端与所述第一移动支架固定连接并且所述第
一固定件远离所述第一移动支架的一端插入第一导轨的侧边的连接孔(通过固定件将移动支架固定于导轨)。
[0033]作为上述技术方案的进一步优选的技术方案,所述目标控制台设有第二位置调节结构,所述第二位置调节结构包括第二导轨、第二移动支架和第二固定件,所述第二导轨固定于所述目标控制台的上端,所述金属球安装于所述第二移动支架并且所述第二移动支架安装于所述第二导轨(实现金属球沿第二导轨移动的测试条件需求),所述第二固定件的一端与所述第二移动支架固定连接并且所述第二固定件远离所述第二移动支架的一端插入第二导轨的侧边的连接孔(通过固定件将移动支架固定于导轨)。所述第二位置调节结构还设有驱动电机,所述驱动电机安装于所述第二导轨,所述驱动电机用于驱动所述第二移动支架(通过驱动电机自动调节,使得检测更加方便)。
[0034]作为上述技术方案的进一步优选的技术方案,所述第一数据线和所述第二数据线设有防水结构。
附图说明
[0035]图1是本技术的一种新型的雷达产品测试装置的结构示意图。
[0036]图2是本技术的一种新型的雷达产品测试装置的示意图。
[0037]附图标记包括:0、被检测雷达产品;1、金属球;2、半封闭暗箱;3、目标控制台;4、测试工控机;5、第一数据线;6、第二数据线。
具体实施方式
[0038]以下描述用于揭露本技术以使本领域技术人本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种新型的雷达产品测试装置,用于检测雷达产品,其特征在于,包括金属球、半封闭暗箱、目标控制台、测试工控机、第一数据线和第二数据线,其中:所述半封闭暗箱设有封闭端口和开放端口,所述封闭端口固定安装被检测雷达产品,所述开放端口朝向所述金属球;所述第一数据线的一端与所述测试工控机电性连接并且所述第一数据线远离所述测试工控机的一端穿过所述半封闭暗箱的封闭端口与被检测雷达产品电性连接;所述第二数据线的一端与所述测试工控机电性连接并且所述第二数据线远离所述测试工控机的一端与所述目标控制台电性连接;所述金属球安装于所述目标控制台,所述目标控制台用于调节所述金属球的运动状态。2.根据权利要求1所述的一种新型的雷达产品测试装置,其特征在于,所述封闭端口设有第一位置调节结构,所述第一位置调节结构包括第一导轨、第一移动支架和第一固定件,所述第一导轨固定于所述封闭端口靠近被测件雷达产品的一侧,被检测雷达安装于所述第一移动支架并且所述第一...

【专利技术属性】
技术研发人员:连科峰卢煜旻朱欣恩曹建
申请(专利权)人:浙江芯力微电子股份有限公司
类型:新型
国别省市:

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