本实用新型专利技术公开了一种ARM服务器外壳抗老化测试装置，包括外壳和圆壳，所述外壳内腔活动连接有圆壳，所述圆壳的内腔侧壁上设置有老化设备，所述圆壳的左侧壁中心活动连接有转轴，所述转轴的左端与外壳内腔左侧壁活动连接，所述转轴的右端延伸到外壳内腔并固定连接有固定板。本实用新型专利技术通过设置有夹紧机构，夹紧机构位于固定板自上而下设置，可以单次实现对多种规格的ARM服务器外壳进行固定测试操作，充分利用设备空间，提高测试效率；通过设置有驱动机构和圆壳，通过驱动机构可以实现圆壳和转轴的反向转动，可以实现对ARM服务器外壳充分的测试操作，使得测试效果好。本实用新型专利技术具有测试效率高和效果好的优点。具有测试效率高和效果好的优点。具有测试效率高和效果好的优点。
【技术实现步骤摘要】
一种ARM服务器外壳抗老化测试装置
[0001]本技术涉及老化测试，尤其涉及一种ARM服务器外壳抗老化测试装置。
技术介绍
[0002]ARM服务器是一种“模块组成的计算机”，好似由许多小智能手机主板堆砌起来的“物理组合物”（相互之间有光纤连接）。现有技术之中的ARM服务器在使用时都是被安装在指定的外壳内部，通过外壳可以有效的避免外部环境对ARM服务器内部设备的损坏，因此对ARM服务器外壳进行老化测试十分的必要。现有技术之中对的老化设备在使用时ARM服务器外壳只能静置在设备内部，这样不能很好和全面的对其进行老化测试，降低测试精度，还有就是，现有技术的老化设备对于其内部空间利用不合理，只能对单一的ARM服务器外壳进行测试操作，极大降低了测试的效率，不利于使用，这是现有技术的不足。基于以上的原因，本技术提出一种ARM服务器外壳抗老化测试装置来解决现有技术的不足。
技术实现思路
[0003]为了克服现有技术的不足，本技术的目的之一在于提供一种ARM服务器外壳抗老化测试装置。
[0004]本技术的目的之一采用如下技术方案实现：
[0005]一种ARM服务器外壳抗老化测试装置，包括壳体，所述壳体内腔活动连接有圆壳，所述圆壳的内腔侧壁上设置有老化装置，所述圆壳的左侧壁中心活动连接有转轴，所述转轴的左端与壳体内腔左侧壁活动连接，所述转轴的右端延伸到壳体内腔并固定连接有固定板，所述固定板上均匀分布设置有若干个夹紧机构，所述壳体的底面上设置有驱动机构，所述壳体的右侧壁不封闭设置，所述壳体的右侧活动连接门板，，所述壳体的底面上固定连接有支撑腿。
[0006]进一步的，所述夹紧机构包括活动槽，所述固定板的右侧壁自上而下均匀分布开设有若干个活动槽，所述活动槽内前后对称活动连接有两个活动块，所述活动块上设置有定位机构，所述活动块远离活动槽中心一侧均固定连接有第一弹簧，所述第一弹簧另一端分别与活动槽的前后侧壁固定连接，所述活动块的右侧壁中心均固定连接有横杆，所述横杆的上下两侧对称设置有夹板，所述夹板靠近横杆一侧的侧壁上左右对称开设有两个圆孔，所述圆孔内活动连接有圆杆，所述圆杆位于圆孔内腔一端固定连接有第二弹簧，所述第二弹簧另一端与圆孔底面固定连接，所述圆杆远离第二弹簧一端延伸出圆孔与横杆固定连接。
[0007]进一步的，所述驱动机构包括电机，所述电机与壳体底面固定连接，所述电机的转子上固定连接有圆轴，所述圆轴的侧壁上自左向右依次固定连接有链轮和第一齿轮，所述圆轴位于壳体和圆壳之间的侧壁上固定连接有另一链轮，所述壳体底面上开设有通槽，两个所述链轮之间通过链条传动连接，所述链条贯穿通槽设置，所述圆壳外侧壁靠近左侧处固定连接有环形齿轮，所述第一齿轮贯穿通槽与环形齿轮相互啮合设置。
[0008]进一步的，所述壳体内腔侧壁上均匀分布固定连接有若干个固定块，所述圆壳的外侧壁上开设有圆槽，所述固定块与圆槽之间活动连接。
[0009]进一步的，所述定位机构包括侧孔，所述活动块的左侧壁中心开设有侧孔，所述侧孔内活动连接有活动杆，所述活动杆位于侧孔内腔一端固定连接有第三弹簧，所述第三弹簧另一端与侧孔的右侧壁固定连接，所述活动杆远离第三弹簧一端延伸出侧孔固定连接有卡齿，所述活动槽的侧壁上均匀分布开设有若干个卡槽，所述卡齿与卡槽相互匹配设置。
[0010]进一步的，所述夹板截面呈L形设置。
[0011]进一步的，所述门板的侧壁上固定连接有把手。
[0012]相比现有技术，本技术的有益效果在于：
[0013]1、本技术通过设置有夹紧机构，夹紧机构位于固定板自上而下设置，可以单次实现对多种规格的ARM服务器外壳进行固定测试操作，充分利用设备空间，提高测试效率；
[0014]2、通过设置有驱动机构和圆壳，通过驱动机构可以实现圆壳和转轴的反向转动，可以实现对ARM服务器外壳充分的测试操作，使得测试效果好。
[0015]上述说明仅是本技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本技术的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本技术的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附图，详细说明如下。
附图说明
[0016]图1为本实施例的立体结构示意图；
[0017]图2为本实施例的内部结构示意图；
[0018]图3为本实施例的固定板的右侧面结构示意图；
[0019]图4为本实施例的图2的A处放大图。
[0020]图中：1、壳体；2、圆壳；3、老化装置；4、转轴；5、固定板；6、夹紧机构；7、驱动机构；8、门板；9、活动槽；10、活动块；11、定位机构；12、第一弹簧；13、横杆；14、夹板；15、圆杆；16、第二弹簧；17、电机；18、圆轴；19、链轮；20、第一齿轮；21、链条；22、环形齿轮；23、固定块；24、圆槽；25、侧孔；26、活动杆；27、第三弹簧；28、卡齿；29、卡槽；30、把手。
具体实施方式
[0021]下面，结合附图以及具体实施方式，对本技术做进一步描述，需要说明的是，在不相冲突的前提下，以下描述的各实施例之间或各技术特征之间可以任意组合形成新的实施例。
[0022]需要说明的是，当组件被称为“固定于”另一个组件，它可以直接在另一个组件上或者也可以存在居中的组件。当一个组件被认为是“连接”另一个组件，它可以是直接连接到另一个组件或者可能同时存在居中组件。当一个组件被认为是“设置于”另一个组件，它可以是直接设置在另一个组件上或者可能同时存在居中组件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。
[0023]除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本技术的说明书中所使用的术语只是为
了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本技术。本文所使用的术语“及／或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
[0024]请参阅图1至图4，一种ARM服务器外壳抗老化测试装置，包括壳体1，壳体1内腔活动连接有圆壳2，壳体1内腔侧壁上均匀分布固定连接有若干个固定块23，圆壳2的外侧壁上开设有圆槽24，固定块23与圆槽24之间活动连接，便于圆壳2的转动，使得测试充分，圆壳2的内腔侧壁上设置有老化装置3，圆壳2的左侧壁中心活动连接有转轴4，转轴4的左端与壳体1内腔左侧壁活动连接，转轴4的右端延伸到壳体1内腔并固定连接有固定板5，固定板5上均匀分布设置有若干个夹紧机构6，夹紧机构6包括活动槽9，固定板5的右侧壁自上而下均匀分布开设有若干个活动槽9，活动槽9内前后对称活动连接有两个活动块10，活动块10上设置有定位机构11，定位机构11包括侧孔25，活动块10的左侧壁中心开设有侧孔25，侧孔25内活动连接有活动杆26，活动杆26位于侧孔25内腔一端固定连接有第三弹簧27，第三弹簧27另一端与侧孔25的右侧壁固定连本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种ARM服务器外壳抗老化测试装置，包括壳体（1），其特征在于：所述壳体（1）内腔活动连接有圆壳（2），所述圆壳（2）的内腔侧壁上设置有老化装置（3），所述圆壳（2）的左侧壁中心活动连接有转轴（4），所述转轴（4）的左端与壳体（1）内腔左侧壁活动连接，所述转轴（4）的右端延伸到壳体（1）内腔并固定连接有固定板（5），所述固定板（5）上均匀分布设置有若干个夹紧机构（6），所述壳体（1）的底面上设置有驱动机构（7），所述壳体（1）的右侧壁不封闭设置，所述壳体（1）的右侧活动连接门板（8），所述壳体（1）的底面上固定连接有支撑腿。2.如权利要求1所述的一种ARM服务器外壳抗老化测试装置，其特征在于：所述夹紧机构（6）包括活动槽（9），所述固定板（5）的右侧壁自上而下均匀分布开设有若干个活动槽（9），所述活动槽（9）内前后对称活动连接有两个活动块（10），所述活动块（10）上设置有定位机构（11），所述活动块（10）远离活动槽（9）中心一侧均固定连接有第一弹簧（12），所述第一弹簧（12）另一端分别与活动槽（9）的前后侧壁固定连接，所述活动块（10）的右侧壁中心均固定连接有横杆（13），所述横杆（13）的上下两侧对称设置有夹板（14），所述夹板（14）靠近横杆（13）一侧的侧壁上左右对称开设有两个圆孔，所述圆孔内活动连接有圆杆（15），所述圆杆（15）位于圆孔内腔一端固定连接有第二弹簧（16），所述第二弹簧（16）另一端与圆孔底面固定连接，所述圆杆（15）远离第二弹簧（16）一端延伸出圆孔与横杆（13）固定连接。3.如权利要求1所述的一种ARM服务器外壳抗老化测试装置，其特征在于：所述驱动机构（7）包括电机（17），所述电机...
【专利技术属性】
技术研发人员：龙翔，
申请(专利权)人：成都凌点科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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