数据记录方法技术

本发明专利技术涉及在从若干个磁迹间距中选择的预定磁迹间距上记录在磁带存储介质上形成的磁迹的数据。该被选择的预定磁迹间距大于若干磁迹间距中的最小磁迹间距。判定由最小磁迹间距形成的磁迹的第一绝对地址。使用第一绝对地址判定预定磁迹间距形成的磁迹的第二绝对地址。数据和第二绝对地址被记录在由预定磁迹间距形成的磁迹上。在第二绝对值判定中，每个第二绝对地址的ｎ比特的（ｎ－ｍ）高位比特的数值靠预定磁迹间距形成的每个磁迹来增加。（*该技术在2016年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及，特别涉及一种在磁带存储介质上用数据记录绝对地址的。一般来说，螺线扫描型磁记录和/或重放设备是众所周知的磁带录像机(VTR)。像音频和/或视频信号那样的数据的模拟或数字信号的形式由该设备记录在磁带存储介质(例如磁带)上或者从其重现。记录时，使用单个或多个旋转磁头在磁带存储介质上形成磁迹，以致该磁迹相对磁带的轴向方向上倾斜。在传统的设备中，为了自动数据搜索或自动电子编辑中的磁带定位，需要把绝对磁带地址记录在斜磁迹上或记录在沿磁带纵向扩展的磁迹上。绝对地址有用于确定24小时帧系统的磁带地址的时间代码，即每个TV帧的分、秒的时间单元，或可以显示斜磁迹顺序地磁迹号。还有公知的像数字磁带录音机(DAT)那样的信号记录设备是通过使用旋转磁头记录数字(主)数据(例如，音频和/或视频信号)和重现其它的子数据。该子数据包括通过顺序合成它们的每个数据块用数字数据记录为绝对地址的磁迹号。在传统的设备中，磁迹号在第一磁迹间距上记录磁迹的记录期间增加。这样，通过在与磁带的第一间距中间不同的第二磁迹间距上顺序形成斜磁迹来记录新数据中，就不可能利用在第一磁迹间距上记录的先前磁迹号。此外，在记录记录过程的绝对地址中间，尽管可以根据计算剩余磁带的比率的已知方法在某种程度上假定磁带位置，但不能够消除计算误差。考虑到上述问题，因此本专利技术的目的是提供一种，通过该方法在存储介质上记录绝对地址数据以便甚至当磁迹记录在不同间距上时也可以精确地进行磁带定位。为了实现上述目的，本专利技术提供了一种在从若干磁迹间距中选择的预定磁迹间距上记录遍及形成在磁带存储介质上的磁迹的数据的方法，该选择的预定磁迹间距比在若干磁迹间距中的最小磁迹间距大，该方法包括以下步骤判定由最小磁迹间距形成的磁迹的第一绝对地址；使用第一绝对地址判定由预定磁迹间距形成的磁迹的第二绝对地址；和在由预定磁迹间距形成的磁迹上记录数据和第二绝对地址。第二绝对地址的判定步骤可以包括以下步骤靠由预定磁迹间距形成的每磁迹来增加每个第二绝对地址的n比特的(n-m)高位比特的数值，在这里，n是2或更大的自然数，m是1或更大的另一个自然数但要小于n，上述的第一绝对地址曲n和m比特表达；和像设置第二绝对地址的m低位比特的第二数值那样设置第一绝对地址的m低位比特的第一数值。设置步骤可以包括使用最小磁迹间距对预定间距的比值判定像第二数值那样设置的第一数值的步骤。附图说明图1是用于辅助说明根据本专利技术的的实施例记录磁迹号的三个低位比特的变化的示意图；图2是应用本专利技术方法的磁迹格式实例的示图；图3是显示图2所示磁迹格式的主数据区格式的实例的示图；图4是显示图2所示磁迹格式的子代码区格式的实例的示图；图5是显示子代码区实例的示图；图6是显示子代码区中一个同步块的具体结构的示图；和图7是显示图6所示ID0和ID1的内容的示图。下面将结合附图详细说明根据本专利技术的的实施例。在本专利技术的中，磁迹号和用于判别相互之间磁迹号的支持标记(SF)和数字信号一起被记录在从若干磁迹间距中选择的期望的磁迹间距上，如图1所示。图1是用于辅助说明本专利技术方法的根据不同磁迹间距记录磁迹的三个低位比特的变化的示图。对它的详细描述将在后面进行。数字信号、磁迹号和支持标记由螺线扫描型磁记录和重现设备(VTR)用两个旋转磁头记录在磁带上和从磁带上重放。旋转磁头被相对设置(即，以180°角相互隔开设置)并具有两个不同的方位角。磁带被斜交地绕在旋转体的外圆周表面上，该旋转体以180°角的范围设置在设备中。磁带以恒定传动速度运动以便数字信号、磁迹号和支持标记通过两个旋转磁头的使用被记录在磁带上和从磁带上重现。在这里，记录在磁带上的磁迹在旋转磁头的扫描操作下由安排若干个固定比特的数据区构成。每个数据区对应一个数据块并称之为同步(Sync)块。图2示出了磁迹的格式，在其中通过合成若干个称之为同步块的数据块而得到的数字信号被顺序地记录在每个磁迹上。图2详细示出的磁迹格式包括边缘区11、前同步码区12、子代码区13、后同步码区14、IBG区15、前同步码区16、数据区17、纠错代码区18、后一前同步码区19、和边缘区20。这里，数据区17和纠错代码区18构成了主信号区。如正常重现数据或特定重现数据那样的306个同步块的数字信号DATA1被记录在数据区17上。此外，用于纠错的30个同步块的外代码(C3代码)被记录在纠错代码区18上。同步块将作进一步说明。图3示出了在其内记录主数据的主数据区17的同步块格式的实例。图4示出了在其内记录子代码的子代码区13的块格式的实例。如图3所示，主数据区17的同步块(即数据块)包括用于重现同步块的二字节同步信号(Sync)区21、3字节的地址区(ID)22、用于记录格式数据的二字节主标题(MH)区23、用于存储各种数据的97字节存储区24、和用于纠正该同步块错误的8字节奇偶校验区25；它们被顺序地合成为总计112字节。另外，如图4所示，子代码区13包括顺序合成的16个块。每块的28字节包括2字节同步信号(Sync)区31、3字节地址数据(ID)区32、19字节数据区33、和4字节奇偶校驱区34。子代码区13被合成为总计448(16×28)字节。这里，16个块中的每一个是相互分离的独立块。此外，子代码数据具有像主数据的格式数据、记录内容、记录数据和时间等等那样的数据。它们与记录在跟随子代码区13的数据区17中的主数据连接。图5示出了子代码区13的更具体的格式，其中，16个同步块SB存在于每个子代码区13中。此外，图6示出了子代码区的每个同步块的格式。图6所示的格式以图4所示的28字节块的相同方式由28字节块构成。所以，在图6中，图4所示的相同标号保留在相同的区域中。实际上，图4所示的数据区33包括18字节子代码数据(例如，由每组6字节的三组数据构成)和1字节子代码标题，如图6所示。另外，如图6所示，图4所示的地址数据(ID)区32包括1字节的第一地址数据ID0、1字节的第二地址数据ID1、和1字节的用于这些地址数据纠错的ID奇偶校验(数据)IDP。在这里，地址数据ID0和ID1的相应数值根据记录在子代码区中的同步块号SB#被确定，如图7所示。从图7中可以进一步理解，表示磁迹号状态的支持标记SF以第(4n+1)(n0，1，2，3)同步块号的同步块地址数据ID0的两个高位比特的形式设置。此外，以图6所示地址数据ID1的四个高位比特形式设置的[Tag]包括启动标记、索引标记、跳过标记、制造者(maker)标记。然而，由于这些标记不直接涉及本专利技术的要点，因此在这里省略对这些标记的说明。上述的两个-比特支持标记SF的内容将在下面作进一步说明。标记SF为表示磁迹号未被支持，即未记录磁迹号。标记SF为表示存在磁迹号被重叠的可能性(即，存在重叠可能性)。当标记SF为[10]时，表示存在磁迹号未重叠而且不连续的可能性(即，没有重叠而且存在不连续的可能性)。此外，当标记SF为[11]时，表示磁迹号从起始端开始连续但不重叠(即，连续磁迹号没有重叠)。另外，如图7所示，磁迹号的高位字节以绝对地址安排在第(4n+1)同步块号的同步块的ID0的6个低位比特上；磁迹号的中间字节以第(4n+2)同步块号的同步块的ID0安排；和磁迹号的低位字节本文档来自技高网...

【技术保护点】
在从若干磁迹间距中选择的预定磁迹间距的磁带存储介质上形成的磁迹上记录数据的方法，所选择的预定磁迹间距大于若干磁迹间距中的最小磁迹间距，该方法包括以下步骤： 判定由最小磁迹间距形成的磁迹第一绝对地址； 使用第一绝对地址判定由预定磁迹间距形成的磁迹第二绝对地址；和 记录在由预定磁迹间距形成的磁迹上的数据和第二绝对地址。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】JP 1995-12-4 315697/951.在从若干磁迹间距中选择的预定磁迹间距的磁带存储介质上形成的磁迹上记录数据的方法，所选择的预定磁迹间距大于若干磁迹间距中的最小磁迹间距，该方法包括以下步骤判定由最小磁迹间距形成的磁迹第一绝对地址；使用第一绝对地址判定由预定磁迹间距形成的磁迹第二绝对地址；和记录在由预定磁迹间距形成的磁迹上的数据和第二绝对地址。2.根据权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员：日暮诚司，
申请(专利权)人：日本胜利株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]