光传感头装置制造方法及图纸

一种光传感头装置，具有：第１绕射光栅，其上形成将从发光元件射出的光绕射以引导到聚光透镜的第１光栅图形；第２绕射光栅，其上形成将来自光记录媒体的返回光绕射以引导到受光元件的第２光栅图形；其特点是，在第１及第２绕射光栅中至少一个绕射光栅上附加将该绕射光栅与其他结构要素间进行对位用的第１定位标记。本发明专利技术可以容易地将光学元件以最佳状态设置在光程中。（*该技术在2018年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及进行光记录媒体的记录和再现用的光传感头装置。进行CD(compact disc)和DVD(digital video disc)等光记录媒体的再现用的光传感头装置是用物镜把来自激光光源的激光在光记录媒体的记录面上聚光，同时用光检测器把来自该光记录媒体的返回光进行检测，再根据该光检测器的检测结果再现光记录媒体上记录的信息。光传感头装置中有一种如日本专利技术专利公开1995-302433号公报所公开的，是在激光光源和物镜之间的光程中设置绕射光栅，通过该绕射光栅把从激光光源射出的激光分割成多束激光后引导到光记录媒体上。另外，日本专利技术专利公开1995-130021号公报和日本专利技术专利公开1995-130223号公报分别公开的是通过绕射光栅把来自光记录媒体的返回光绕射后引导到光检测器。上述构造的光传感头装置如图7所示，在绕射光栅18的装载区域81形成凹部82作为规定该绕射光栅18装载位置的引导部，通过使绕射光栅18落入该凹部82内部，使凹部82的内壁与绕射光栅18的外周端面101抵接，以决定绕射光栅18的装载位置。也有的装置如图8所示，把绕射光栅18的装载区域91做成平坦部，同时在该装载区域91预先设置定位标记92，通过使绕射光栅18的外周端面101与该定位标记92对齐来决定绕射光栅18的装载位置。这种绕射光栅18的栅距历来较宽，故即使面内方向的装载位置略有偏差，也不会对光传感头装置的性能有太大的影响。然而，近年来有缩小绕射光栅18的栅距、使激光用更大的角度绕射、以将受光器等光学元件和绕射光栅18置于小空间的趋势。结果是使绕射光栅18在面内方向的装载位置也会对光传感头装置的性能产生重大影响，如果采用传统的利用绕射光栅18的外周端101与凹部82的内壁之间的抵接来定位的结构(见图7)、或者采用使绕射光栅18的外周端101与定位标记92对位的方法(见图8)，则绕射光栅18的外形尺寸和形状的误差就会变成装载位置的误差。其结果，不能把来自光记录媒体的返回光有效地引导到光检测器，导致光传感头装置性能降低。本专利技术申请人曾就新型光传感头装置提出专利技术专利申请(日本专利技术专利公开1998-11773号、CN98108428.1号)，该装置为了精确地从返回光得到误差信号，使用形成不等距光栅图形的绕射光栅(调制绕射光栅)，将从激光光源射出的光分割成3束后引导到聚光透镜，并从来自记录媒体记录面的返回光检测聚焦误差信号。这种光传感头装置是通过调节绕射光栅的栅距来改变射到记录媒体记录面上的光束的焦距。另外，3个光束的间隔取决于光栅相对激光光源的位置。然而，由于调制绕射光栅的光栅图形是不等距的，故使用这种方式的光传感头装置，尤其在绕射光栅的光栅位置与激光光源之间的位置关系发生偏差时，不能得到规定的焦距和光束间隔。因此，装载调制绕射光栅的光传感头装置必须将绕射光栅在面内方向精确地对位，而传统的对位结构不能得到符合此要求的对位精度。鉴于上述问题，本专利技术的目的在于提出一种能够容易地将绕射光栅以最佳状态置于光程中的光传感头装置。以下是对附图的简单说明。图1(A)、(B)、(C)、(D)分别是本专利技术实施形态的光传感头装置光学系统大致结构的说明图、第1绕射光栅的光栅图形的俯视图、第2绕射光栅的光栅图形的俯视图、以及受光器的排列的俯视图。图2是在本专利技术实施形态1的光传感头装置上边将绕射光栅与光学单元的单元盒对位边进行安装的立体图。图3(A)、(B)分别为具有不同光栅图形的绕射光栅的立体图。图4(A)是在本专利技术实施形态2的光传感头装置上边将绕射光栅与光学单元的单元盒对位边进行安装的立体图，(B)是表示这种绕射光栅的制造方法的说明图。图5是在运用本专利技术的光传感头装置上，将第1绕射光栅、第2绕射光栅、底板(激光二极管及光检测器)全部单元化的光学单元的剖视图。图6是在运用本专利技术的光传感头装置上间接地对照定位标记以将绕射光栅定位的说明图。图7是在传统的光传感头装置上边将绕射光栅与光学单元的单元盒对位边进行安装的立体图。图8是在传统的又一光传感头装置上边将绕射光栅与光学单元的单元盒对位边进行安装的立体图。以下结合附图说明运用了本专利技术的光传感头装置。〔实施形态1〕图1(A)表示本形态光传感头装置光学系统的大致结构。如图所示，光传感头装置1具有作为发光元件的激光二极管2，从其射出的激光L0通过物镜4而作为光点在光学记录媒体5的记录面5a上聚焦。物镜4可向聚焦方向和跟踪方向移动，并通过向各方向的移动来进行聚焦控制和跟踪控制。在激光二极管2与物镜4之间的光程上，从激光二极管2一侧起顺序排列着由调制绕射光栅构成的第1绕射光栅12和由偏振光绕射光栅构成的第2绕射光栅11。图1(B)和图1(C)分别表示第1绕射光栅12的光栅图形及第2绕射光栅的光栅图形，第2绕射光栅11上等距地形成光栅图形，而第1绕射光栅12上不等距地形成光栅图形。这里，第1绕射光栅12的光栅图形与第2绕射光栅11以它们的绕射方向正交的状态排列。在图1(A)中，在第2绕射光栅11靠物镜4的一侧设有1/4波长板8。本例中，是按照使从激光二极管2射出的激光L0通过第1绕射光栅12受到绕射作用而不通过第2绕射光栅11受到绕射作用的要求来设定激光L0的偏振光方向和第2绕射光栅11的晶体轴方向。激光L0通过1/4波长板8后变成圆偏振光，在记录媒体的记录面5a上反射后再度通过1/4波长板8后再度变回直线偏振光，而偏振光方向成为正交的方向，因此，来自记录媒体5的返回光受到第2绕射光栅11的绕射作用。来自记录媒体5的返回光被第2绕射光栅11绕射后被光检测装置10受光。根据光检测装置10的受光量检测位信号，并且检测聚焦误差信号及跟踪误差信号。如图1(D)所示，本例的光检测装置10具有隔着激光二极管2而左右对称排列的2组光检测器组20、30。光检测器组20具有位于中央的位信号检测用光检测器21和位于其两侧的聚焦误差及跟踪误差检测用光检测器22、23。同样，另一组光检测器组30也具有位于中央的位信号检测用光检测器3 1和位于其两侧的聚焦误差及跟踪误差检测用光检测器32、33。这里，光检测器22、23以及光检测器32、33是3分割式光检测器。即，光检测器22具有受光面22a、22b、22c，同样，光检测器23也具有受光面23a、23b、23c。另外，光检测器32、33也具有受光面32a、32b、32c以及33a、33b、33c。如此结构的光传感头装置1的光信号检测动作在前述日本专利技术专利公开1998-11773号公报中已有详细记载，故在此结合图1简要说明。在图1所示的光传感头装置1上，来自激光二极管2的激光射出光L0首先通过第1绕射光栅12的光栅图形120的形成区域后受到绕射作用，主要被分割成0次光、+1次绕射光以及-1次绕射光这3束光。第1绕射光栅12的绕射方向被设定为记录媒体的记录轨迹方向。这样形成的3束光在平透过第2绕射光栅11后通过1/4波长板8并被变换成圆偏振光，然后射入物镜4。3束光经过物镜4后作为3个光点在形成于记录媒体5的记录面5a上的记录轨迹上聚光。在记录媒体5上反射的返回3束光Lr经过物镜4后返回1/4波长板8，并通过该波长板8后再度变换为直线偏振光。然而，偏振光方向切换成与激光射出光L0正本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光传感头装置，具有：第１绕射光栅，其上形成将从发光元件射出的光绕射以引导到聚光透镜的第１光栅图形；第２绕射光栅，其上形成将来自光记录媒体的返回光绕射以引导到受光元件的第２光栅图形；其特征在于，在所述第１及第２绕射光栅中至少一个绕射光 栅上附加将该绕射光栅与其他结构要素间进行对位用的第１定位标记。

【技术特征摘要】
JP 1997-8-12 217341/971.一种光传感头装置，具有第1绕射光栅，其上形成将从发光元件射出的光绕射以引导到聚光透镜的第1光栅图形；第2绕射光栅，其上形成将来自光记录媒体的返回光绕射以引导到受光元件的第2光栅图形；其特征在于，在所述第1及第2绕射光栅中至少一个绕射光栅上附加将该绕射光栅与其他结构要素间进行对位用的第1定位标记。2.根据权利要求1所述的光传感头装置，其特征在于，所述第1绕射光栅是调制绕射光栅，具有把从发光元件射出的光分割成3束后引导到所述聚光透镜的不等距的第1光栅图形，且在该第1绕射光栅上附有所述第1定位标记。3.根据权利要求1或2所述的光传感头装置，其特征在于，所述第1定位标记是在形成所述绕射光栅的光栅图形的工序中形成的。4.根据权利要求3所述的光传感头装置，其特征在于，所述第1定位标记由在用栅状膜形成所述绕...

【专利技术属性】
技术研发人员：武居勇一，小林一雄，
申请(专利权)人：株式会社三协精机制作所，
类型：发明
国别省市：JP[日本]