一种陶瓷基板工装夹具和检测机制造技术

本实用新型专利技术涉及工装夹具的技术领域，公开了一种陶瓷基板工装夹具，包括底板，所述底板上设有若干用于对应测量位置的沉孔，所述沉孔贯穿所述底板的上表面和下表面，所述沉孔的内侧壁开设有定位槽；还公开了一种检测机，包括上述的陶瓷基板工装夹具。本实用新型专利技术的陶瓷基板工装夹具，结构简单，限位准确，测试的精度较高。高。高。

【技术实现步骤摘要】
一种陶瓷基板工装夹具和检测机


[0001]本技术涉及工装夹具的
，特别是涉及一种陶瓷基板工装夹具和检测机。

技术介绍

[0002]目前，用X射线检测机测试陶瓷基板时，常将陶瓷基板直接放置在测试载台上，但这种放置方式容易使测试载台刮花，且陶瓷基板放置的位置不准确。因此，现有通过将陶瓷基板放置于墨盒中，再将墨盒放置在测试载台上进行测试，这种方式虽解决了测试载台的刮花问题，但没有解决陶瓷基板摆放位置不准确的问题，导致测试结果偏差大。

技术实现思路

[0003]本技术的目的是：提供一种具有准确定位的工装夹具，提高测试精度。
[0004]为了实现上述目的，本技术提供了一种陶瓷基板工装夹具，包括底板，所述底板上设有若干用于对应测量位置的沉孔，所述沉孔贯穿所述底板的上表面和下表面，所述沉孔的内侧壁开设有定位槽。
[0005]作为优选方案，所述沉孔相对的两侧壁分别开设有操作槽。
[0006]作为优选方案，所述沉孔的内侧壁包括上部和用于保持陶瓷基板与测试载台的间距的下部，所述上部的内侧壁凹陷形成阶梯槽，所述阶梯槽的下表面形成用于放置陶瓷基板的支撑面，所述定位槽设于所述阶梯槽的内侧壁。
[0007]作为优选方案，所述沉孔的横截面形状为矩形。
[0008]作为优选方案，所述定位槽的横截面形状为圆弧形，所述沉孔的四个角位均设有所述定位槽。
[0009]作为优选方案，所述操作槽的横截面形状为单圆头键形。
[0010]作为优选方案，若干个所述沉孔阵列设于所述底板上。/>[0011]作为优选方案，还包括第一把手和第二把手，所述第一把手和第二把手分别设于所述底板靠近两对侧的位置。
[0012]一种检测机，包括上述的陶瓷基板工装夹具。
[0013]本技术实施例与现有技术相比，其有益效果在于：
[0014]本技术实施例在底板上对应测量位置的位置设有沉孔，可将陶瓷基板放置于沉孔内，再将底板放置于测试载台上，实现陶瓷基板的测量位置准确的效果，且沉孔上设有定位槽，在放置陶瓷基板时，先将陶瓷基板的角对准定位槽的位置，再将陶瓷基板放入沉孔内，若陶瓷基板放置时倾斜了，可利用沉孔的余量对其进行调整。本技术结构简单、限位准确，可提高测量精度。
附图说明
[0015]图1是本技术实施例的整体结构示意图；
[0016]图2是图1的A部放大图；
[0017]图3是本技术实施例的内部结构示意图。
[0018]图中：
[0019]1、底板；2、沉孔；21、定位槽；22、操作槽；23、上部；231、阶梯槽；231a、支撑面；24、下部；3、第一把手；4、第二把手。
具体实施方式
[0020]下面结合附图和实施例，对本技术的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本技术，但不用来限制本技术的范围。
[0021]在本技术的描述中，应当理解的是，本技术中采用术语“上”、“下”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。
[0022]如图1至图2所示，本技术实施例优选实施例的一种陶瓷基板工装夹具，包括底板1，所述底板1上设有若干用于对应测量位置的沉孔2，所述沉孔2贯穿所述底板1的上表面和下表面，所述沉孔2的内侧壁开设有定位槽21。所述底板1大小根据X射线检测机进行设计，并在底板1上根据每一测量位置对应设有沉孔2，可将陶瓷基板放置于沉孔2内，在测量时可精确定位到每一个陶瓷基板，通过定位槽21可在放置陶瓷基板时，先对陶瓷基板进行定位，再将陶瓷基板放入沉孔内，便于确定陶瓷基板的放置位置。
[0023]进一步的，所述沉孔2相对的两侧壁分别开设有操作槽22，所述操作槽22贯穿所述底板1的上表面和下表面。该操作槽22便于人手放置陶瓷基板，在放置陶瓷基板时，通过该操作槽22可方便人手将陶瓷基板放置在沉孔2内，且便于对陶瓷基板位置进行调整。
[0024]进一步的，如图2所示，所述沉孔2的内侧壁包括上部23和用于保持陶瓷基板与测试载台的间距的下部24，所述上部23的内侧壁凹陷形成阶梯槽231，所述阶梯槽231的下表面形成用于放置陶瓷基板的支撑面231a，所述定位槽21设于所述阶梯槽231的内侧壁。沉孔2的上部23的内侧壁凹陷形成阶梯槽231，通过阶梯槽231的支撑面231a放置陶瓷基板，下部24是将陶瓷基板与测试载台隔开，防止陶瓷基板对测试载台的磨损，且下部24贯穿底板1的下表面，有利于X射线穿透陶瓷基板。
[0025]具体的，沉孔2的下部24的深度为1－1.5mm，既保证了陶瓷基板与测试载台隔开，又使陶瓷基板尽可能接近测试载台，从而提高测试精度。优选地，该间距优选为1.1、1.2、1.3、1.4mm，且效果更佳。
[0026]进一步的，所述沉孔2的横截面形状为矩形。该沉孔2的横截面形状与测试用的陶瓷基板形状相匹配，便于陶瓷基板放入，且沉孔2的大小相对于陶瓷基板留有余量，便于放置和调整陶瓷基板。
[0027]进一步的，所述定位槽21的横截面形状为圆弧形，所述沉孔2的四个角位均设有所述定位槽21。在放置陶瓷基板时，可将陶瓷基板的四个角对准定位槽21，再放置到沉孔2内，可摆正陶瓷基板，并在陶瓷基板倾斜时利用沉孔2的余量对其进行调整，定位槽21可防止陶瓷基板调整时角被磨损或挤碎。
[0028]进一步的，所述操作槽22的横截面形状为单圆头键形。该操作槽22形状与手指弯
曲时的形状相适配，便于人手拿住陶瓷基板并放置进沉孔2内，且有助于调整陶瓷基板的位置。
[0029]进一步的，若干个所述沉孔2阵列设于所述底板1上。X射线检测机可同时进行多个陶瓷基板测试，在底板1上设置多个沉孔2，每个沉孔2对应一个测试位置，沉孔2与沉孔2间具有间距，呈阵列分布，可有效利用空间，同时测量多个陶瓷基板。
[0030]进一步的，还包括第一把手3和第二把手4，所述第一把手3和第二把手4分别设于所述底板1靠近两对侧的位置。在底板两对侧设置有第一把手3和第二把手4，便于拿起底板1，在测量前先在底板1上每一沉孔2内放置好陶瓷基板，再通过第一把手3和第二把手4拿起底板1并将底板1放置到测试载台上。
[0031]本技术实施例还提供一种检测机，包括上述的陶瓷基板工装夹具。
[0032]综上，本技术实施例提供一种陶瓷基板工装夹具和检测机，通过在底板上对应测量位置开设沉孔，沉孔包括上部和下部，可将陶瓷基板放置在沉孔的上部内保证测量位置准确，且沉孔的下部将陶瓷基板与测试载台隔开，防止测试载台磨损，下部的深度较小且贯穿底板的下表面，可使陶瓷基板尽可能接近测试载台，且有助于X射线穿透，本技术结构简单，对陶瓷基板的限位准确，测试的精度较高。
[0033]以上仅是本技术的优选实施方本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种陶瓷基板工装夹具，其特征在于：包括底板，所述底板上设有若干用于对应测量位置的沉孔，所述沉孔贯穿所述底板的上表面和下表面，所述沉孔的内侧壁开设有定位槽。2.根据权利要求1所述的陶瓷基板工装夹具，其特征在于：所述沉孔相对的两侧壁分别开设有操作槽。3.根据权利要求2所述的陶瓷基板工装夹具，其特征在于：所述沉孔的内侧壁包括上部和用于保持陶瓷基板与测试载台的间距的下部，所述上部的内侧壁凹陷形成阶梯槽，所述阶梯槽的下表面形成用于放置陶瓷基板的支撑面，所述定位槽开设于所述阶梯槽的内侧壁。4.根据权利要求1或2所述的陶瓷基板工装夹具，其特征在于：所述沉孔的横截面形状为矩...

【专利技术属性】
技术研发人员：邓西南，黄昆，何以田，戴燕城，赖明亮，
申请(专利权)人：广东风华高新科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：