【技术实现步骤摘要】
一种粘尘装置的姿态校正方法和粘尘装置的姿态校正系统
[0001]本专利技术实施例涉及自动控制领域，特别涉及一种粘尘装置的姿态校正方法和粘尘装置的姿态校正系统。
技术介绍
[0002]在半导体AOI检测行业，微型摄像头是市场中很重要且很常见的一种元器件。由于摄像头模组的特殊性，需要在生产过程中保证摄像头模组芯片上晶元的无尘状态，避免影响其质量。在目前市面上的产品中，是通过机械结构控制粘尘装置进行按压做粘尘处理，但是由于生产机器本身造成的震动，机械结构运动精度影响等原因，会导致粘尘装置不可避免的发生一定程度的位置偏移或者转动，在这种情况下除尘会对晶元造成破坏或者无法正确除尘。
技术实现思路
[0003]本专利技术实施例的目的是提供一种粘尘装置的姿态校正方法和粘尘装置的姿态校正系统，实现稳定可靠的粘尘，保证被除尘产品的产品质量。
[0004]第一方面，提供一种粘尘装置的姿态校正方法，所述方法包括：
[0005]夹持装置夹持粘尘装置运动至第一位置，所述第一位置位于相机的正上方；
[0006]所述相机在每次所述等距运动结束时对所述粘尘装置进行取像，获取所述粘尘装置的图像，并将所述图像传输至存储器和/或处理器；
[0007]所述处理器基于所述图像获取所述粘尘装置的垂直偏转角度，所述垂直偏转角度为所述粘尘装置的粘尘头中心相对于第一方向的偏转角度，所述第一方向为垂直所述相机所在平面的方向；
[0008]所述夹持装置根据所述垂直偏转角度对所述粘尘装置进行垂直偏转角度补偿；>[0009]在一些实施例中，在所述夹持装置根据所述垂直偏转角度对所述粘尘装置进行垂直偏转角度补偿之后，所述方法还包括：
[0010]夹持装置夹持粘尘装置运动至第一位置，所述第一位置位于相机的正上方；
[0011]所述相机对所述粘尘装置进行取像，获取所述粘尘装置的图像，并将所述图像传输至存储器和/或处理器；
[0012]所述处理器基于获取的图像获得第一位置偏移坐标，所述第一位置偏移坐标为所述粘尘头中心坐标与所述相机中心坐标的偏移坐标。
[0013]在一些实施例中，所述夹持装置夹持粘尘装置运动至第一位置，具体包括：
[0014]所述夹持装置从第二位置通过滑动轨道水平和垂直运动移动至第三位置；
[0015]松开所述夹持装置的夹爪，并经过水平运动将所述夹持装置由所述第三位置移动至第四位置，夹紧所述夹爪，从而夹住所述粘尘装置；
[0016]所述夹持装置做垂直向上的运动由所述第四位置移动至第五位置；
[0017]所述夹持装置经水平运动由所述第五位置移动至第六位置；
[0018]所述夹持装置经水平和垂直运动由所述第六位置移动至所述第一位置。
[0019]在一些实施例中，所述粘尘装置还包括连接杆，所设粘尘头设置于所述连接杆；
[0020]所述处理器基于所述图像获取所述粘尘装置的垂直偏转角度，包括：
[0021]所述处理器基于所述图像获取所述粘尘装置的第二位置偏移坐标，所述第二位置偏移坐标为所述粘尘头中心的像素坐标于所述图像中心的像素坐标的距离；
[0022]所述处理器基于所述第二位置偏移坐标获取第一长度M，所述第一长度M为所述粘尘装置的实际长度L在相机镜头所在平面的投影长度，所述粘尘装置的实际长度L为所述粘尘头中心至所述连接杆末端的距离；
[0023]所述处理器基于所述第一长度M和所述实际长度L计算出所述粘尘装置的垂直偏转角度。
[0024]在一些实施例中，所述处理器基于获取的图像获得第一位置偏移坐标，具体包括：
[0025]对所述图像进行分割，获取粘尘头图像；
[0026]确定所述粘尘头图像中所述粘尘头中心的像素坐标；
[0027]基于所述图像中心的像素坐标和所述粘尘头中心的像素坐标获取所述粘尘头的像素偏移坐标；
[0028]基于所述像素偏移坐标获得所述第一位置偏移坐标。
[0029]所述处理器基于所述图像获取所述粘尘装置的第二位置偏移坐标，具体包括：
[0030]对所述图像进行分割，获取粘尘头图像；
[0031]确定所述粘尘头图像中所述粘尘头中心的像素坐标；
[0032]基于所述图像中心的像素坐标和所述粘尘头中心的像素坐标获取所述第二位移偏移坐标。
[0033]在一些实施例中，所述处理器基于所述第一长度M和所述实际长度L计算出所述粘尘装置的垂直偏转角度，具体包括：
[0034]根据以下公式获取所述垂直偏转角度：
[0035]sinθ＝M/L，其中，θ为所述垂直偏转角度。
[0036]在一些实施例中，所述夹持装置根据所述垂直偏转角度对所述粘尘装置进行垂直偏转角度补偿，具体包括：
[0037]根据偏转角度θ，所述夹持装置控制所述粘尘装置做
‑
θ的角度校正进行补偿。
[0038]在一些实施例中，所述方法还包括：根据所述第一位置偏移坐标调整所述粘尘装置与被粘尘产品的相对位置，以进行位置偏移补偿，所述被粘尘产品由载具装载。
[0039]第二方面，提供一种粘尘装置的姿态校正系统，所述系统包括：相机、夹持装置、粘尘套筒、存储器、处理器和至少一个粘尘装置；
[0040]所述相机用于为所述粘尘装置的粘尘头进行取像，生成图像；
[0041]所述夹持装置包含一个夹爪头以及可供所述夹爪头水平和垂直运动的滑动轨道，用于控制所述粘尘装置运动；
[0042]所述粘尘套筒用于存放至少一个所述粘尘装置；
[0043]所述粘尘装置用于为微型摄像头除尘；
[0044]所述存储器与所述处理器通信连接，所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述姿态校正系统执行上述的方
法。
[0045]第三方面，提供一种非易失性计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，当所述计算机可执行指令被所述计算机执行时，使所述计算机执行上述的方法。
[0046]本申请实施例与现有技术相比，至少具有以下有益效果：通过对粘尘装置进行检测获得粘尘装置的偏移值，然后让控制粘尘装置的夹持装置对粘尘装置基于偏移值进行相应的补偿校正，从而实现稳定可靠的粘尘，保证被除尘产品的产品质量。
附图说明
[0047]一个或多个实施例通过与之对应的附图中的图片进行示例性说明，这些示例性说明并不构成对实施例的限定，附图中具有相同参考数字标号的元件表示为类似的元件，除非有特别申明，附图中的图不构成比例限制。
[0048]图1是本专利技术一实施例中姿态校正系统的硬件结构图；
[0049]图2是本专利技术一实施例中姿态校正系统的存储器和处理器的结构示意图；
[0050]图3是本专利技术一种粘尘装置的姿态校正方法一实施例的流程图；
[0051]图4是本专利技术一实施例中的夹持装置的运动控制步骤示意图；
[0052]图5是本专利技术一本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种粘尘装置的姿态校正方法，所述粘尘装置包括粘尘头，其特征在于，所述方法包括：夹持装置夹持粘尘装置运动至第一位置，所述第一位置位于相机的正上方；所述相机对所述粘尘装置进行取像，获取所述粘尘装置的图像，并将所述图像传输至存储器和/或处理器；所述处理器基于所述图像获取所述粘尘装置的垂直偏转角度，所述垂直偏转角度为所述粘尘头中心相对于第一方向的偏转角度，所述第一方向为垂直所述相机镜头所在平面的方向；所述夹持装置根据所述垂直偏转角度对所述粘尘装置进行垂直偏转角度补偿。2.根据权利要求1所述的粘尘装置的姿态校正方法，其特征在于,在所述夹持装置根据所述垂直偏转角度对所述粘尘装置进行垂直偏转角度补偿之后，所述方法还包括：夹持装置夹持粘尘装置运动至第一位置，所述第一位置位于相机的正上方；所述相机对所述粘尘装置进行取像，获取所述粘尘装置的图像，并将所述图像传输至存储器和/或处理器；所述处理器基于获取的图像获得第一位置偏移坐标，所述第一位置偏移坐标为所述粘尘头中心坐标与所述相机中心坐标的偏移坐标。3.根据权利要求1或2所述的粘尘装置的姿态校正方法，其特征在于，所述夹持装置夹持粘尘装置运动至第一位置，具体包括：所述夹持装置从第二位置通过滑动轨道水平和垂直运动移动至第三位置；松开所述夹持装置的夹爪，并经过水平运动将所述夹持装置由所述第三位置移动至第四位置，夹紧所述夹爪，从而夹住所述粘尘装置；所述夹持装置做垂直向上的运动由所述第四位置移动至第五位置；所述夹持装置经水平运动由所述第五位置移动至第六位置；所述夹持装置经水平和垂直运动由所述第六位置移动至所述第一位置。4.根据权利要求1或2所述的粘尘装置的姿态校正方法，其特征在于，所述粘尘装置还包括连接杆，所述粘尘头设置于所述连接杆；所述处理器基于所述图像获取所述粘尘装置的垂直偏转角度，包括：所述处理器基于所述图像获取所述粘尘装置的第二位置偏移坐标，所述第二位置偏移坐标为所述粘尘头中心的像素坐标与所述图像中心的像素坐标的距离；所述处理器基于所述第二位置偏移坐标获取第一长度M，所述第一长度M为所述粘尘装置的实际长度L在相机镜头所在平面的投影长度，所述粘尘装置的实际长度L为所述粘尘头中心至所述连接杆末端的距离；所述处理器基于所述第一长度M和所述实际长度L计算出所述粘尘装置的垂直偏转角度。5.根据权利要求2所述的粘尘装置的姿态校...
【专利技术属性】
技术研发人员：张超，张骏，邓柳明，陈锐钊，
申请(专利权)人：深圳明锐理想科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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