本申请公开了一种VR产品脏污检测方法、装置，该方法包括：利用上料工装将待测产品上料至转盘的上料工位，并将待测产品屏幕点亮；转盘的转动将待测产品送至第一测试工位，在第一测试工位利用相机对待测产品的镜片和透明窗进行拍摄；将待测产品送至第二测试工位，在第二测试工位利用相机对待测产品的显示器进行拍摄；将待测产品送至计算工位，在计算工位对拍摄的照片进行分析，以得到待测产品的脏污状态；将待测产品返回至上料工位进行下料。这样可以满足不同产品的镜片、透明窗以及显示器脏污的同步检测，进而减少了整个脏污检测时长，带来极大的效能提升。带来极大的效能提升。带来极大的效能提升。
【技术实现步骤摘要】
一种VR产品脏污检测方法、装置
[0001]本专利技术涉及光学检测
，特别是涉及一种VR产品脏污检测方法、装置。
技术介绍
[0002]虚拟现实技术(Virtual Reality，VR)类产品的设计结构主要包括镜片(lens)、透明窗(Cover Window，CW)以及液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)等。脏污(blemish)检测是VR类产品中常见的检测项，blemish的检测结果好坏直接对产品的显示性能带来直观的影响。
[0003]目前，针对VR产品的blemish的测试主要集中在LCD检测，而且检测涉及到多张图卡的切换、相机拍摄以及算法的串行运行，在时间方面需要极大的损耗，造成极大的时间浪费，同时现阶段对lens、CW blemish的检测也产生更大的需求，在时间上的优化显得更加重要。
[0004]因此，如何解决VR产品的blemish检测时长的问题，是本领域技术人员亟待解决的技术问题。
技术实现思路
[0005]有鉴于此，本专利技术的目的在于提供一种VR产品脏污检测方法、装置，可以减少脏污检测时长，带来极大的效能提升。其具体方案如下：
[0006]一种VR产品脏污检测方法，包括：
[0007]利用上料工装将待测产品上料至转盘的上料工位，并将待测产品屏幕点亮；
[0008]所述转盘的转动将待测产品送至第一测试工位，在所述第一测试工位利用相机对待测产品的镜片和透明窗进行拍摄；
[0009]将待测产品送至第二测试工位，在所述第二测试工位利用相机对待测产品的显示器进行拍摄；
[0010]将待测产品送至计算工位，在所述计算工位对拍摄的照片进行分析，以得到待测产品的脏污状态；
[0011]将待测产品返回至所述上料工位进行下料。
[0012]优选地，在本专利技术实施例提供的上述VR产品脏污检测方法中，在所述将待测产品送至第一测试工位的同时，还包括：
[0013]利用所述上料工装将下一个待测产品上料至所述转盘的上料工位，并将下一个待测产品屏幕点亮。
[0014]优选地，在本专利技术实施例提供的上述VR产品脏污检测方法中，在所述将待测产品返回至所述上料工位进行下料之后，还包括：
[0015]利用所述上料工装将下一个待测产品上料至所述转盘的上料工位，并将下一个待测产品屏幕点亮。
[0016]优选地，在本专利技术实施例提供的上述VR产品脏污检测方法中，所述上料工位、所述
第一测试工位、所述第二测试工位和所述计算工位均匀分布在所述转盘的周边上。
[0017]优选地，在本专利技术实施例提供的上述VR产品脏污检测方法中，所述上料工位、所述第一测试工位、所述第二测试工位和所述计算工位依次沿着所述转盘的顺时针或逆时针方向分布。
[0018]优选地，在本专利技术实施例提供的上述VR产品脏污检测方法中，所述转盘转动的方向不变；或，
[0019]将待测产品送至所述第一测试工位、所述第二测试工位和所述计算工位时所述转盘转动的方向与将待测产品返回至所述上料工位时所述转盘转动的方向相反。
[0020]优选地，在本专利技术实施例提供的上述VR产品脏污检测方法中，在所述第一测试工位利用相机对待测产品的镜片和透明窗进行拍摄的同时，还包括：
[0021]在所述第一测试工位对拍摄的待测产品的镜片和透明窗的照片进行分析，检测出待测产品的镜片和透明窗是否存在脏污。
[0022]优选地，在本专利技术实施例提供的上述VR产品脏污检测方法中，在所述计算工位对拍摄的照片进行分析，包括：
[0023]在所述计算工位对拍摄的待测产品的显示屏的照片进行分析，检测出待测产品的显示屏是否存在脏污。
[0024]本专利技术实施例还提供了一种采用本专利技术实施例提供上述VR产品脏污检测方法进行检测的VR产品脏污检测装置，包括：转盘、上料工装、第一测试工位、第二测试工位和计算工位；其中，
[0025]所述上料工装，用于将待测产品上料至所述转盘的上料工位，并将待测产品屏幕点亮，还用于将待测产品进行下料；
[0026]所述第一测试工位，用于利用相机对待测产品的镜片和透明窗进行拍摄；
[0027]所述第二测试工位，用于利用相机对待测产品的显示器进行拍摄；
[0028]所述计算工位，用于对拍摄的照片进行分析，以得到待测产品的脏污状态。
[0029]从上述技术方案可以看出，本专利技术所提供的一种VR产品脏污检测方法，包括：利用上料工装将待测产品上料至转盘的上料工位，并将待测产品屏幕点亮；转盘的转动将待测产品送至第一测试工位，在第一测试工位利用相机对待测产品的镜片和透明窗进行拍摄；将待测产品送至第二测试工位，在第二测试工位利用相机对待测产品的显示器进行拍摄；将待测产品送至计算工位，在计算工位对拍摄的照片进行分析，以得到待测产品的脏污状态；将待测产品返回至上料工位进行下料。
[0030]本专利技术将关于VR产品的脏污检测进行转盘结构设计，随着转盘的转动，可以满足不同产品的镜片、透明窗以及显示器脏污的同步检测，进而减少了整个脏污检测时长，带来极大的效能提升。此外，本专利技术还针对VR产品脏污检测方法提供了相应的装置，进一步使得上述方法更具有实用性，该装置具有相应的优点。
附图说明
[0031]为了更清楚地说明本专利技术实施例或相关技术中的技术方案，下面将对实施例或相关技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据
提供的附图获得其他的附图。
[0032]图1为本专利技术实施例提供的VR产品脏污检测方法的流程图；
[0033]图2为本专利技术实施例提供的采用VR产品脏污检测方法进行检测的装置结构示意图；
[0034]图3为本专利技术实施例提供的VR产品脏污检测方法的运行机制的示意图。
具体实施方式
[0035]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0036]本专利技术提供一种VR产品脏污检测方法，如图1所示，包括以下步骤：
[0037]S101、利用上料工装将待测产品上料至转盘的上料工位，并将待测产品屏幕点亮；
[0038]具体地，如图2所示，利用上料工装可以将待测产品上料至上料工位1，还可以进行扫码，点亮待测产品屏幕等准备动作。
[0039]S102、转盘的转动将待测产品送至第一测试工位，在第一测试工位利用相机对待测产品的镜片和透明窗进行拍摄；
[0040]具体地，如图2所示，利用第一测试工位2可以对镜片和透明窗的缺陷进行检测。需要说明的是，执行步骤S102的第一种具体实施方式为在第一测试工位2只利用相本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种VR产品脏污检测方法，其特征在于，包括：利用上料工装将待测产品上料至转盘的上料工位，并将待测产品屏幕点亮；所述转盘的转动将待测产品送至第一测试工位，在所述第一测试工位利用相机对待测产品的镜片和透明窗进行拍摄；将待测产品送至第二测试工位，在所述第二测试工位利用相机对待测产品的显示器进行拍摄；将待测产品送至计算工位，在所述计算工位对拍摄的照片进行分析，以得到待测产品的脏污状态；将待测产品返回至所述上料工位进行下料。2.根据权利要求1所述的VR产品脏污检测方法，其特征在于，在所述将待测产品送至第一测试工位的同时，还包括：利用所述上料工装将下一个待测产品上料至所述转盘的上料工位，并将下一个待测产品屏幕点亮。3.根据权利要求2所述的VR产品脏污检测方法，其特征在于，在所述将待测产品返回至所述上料工位进行下料之后，还包括：利用所述上料工装将下一个待测产品上料至所述转盘的上料工位，并将下一个待测产品屏幕点亮。4.根据权利要求3所述的VR产品脏污检测方法，其特征在于，所述上料工位、所述第一测试工位、所述第二测试工位和所述计算工位均匀分布在所述转盘的周边上。5.根据权利要求4所述的VR产品脏污检测方法，其特征在于，所述上料工位、所述第一测试工位、所述第二测试工位和所述计算工位依次沿着所述转盘的顺时针或逆时针方向分布。6.根...
【专利技术属性】
技术研发人员：韩辉，张兴鑫，徐博，金玲，苗鲁伟，孙凯，张烁，
申请(专利权)人：歌尔光学科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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