存储技术中读通道的自适应以及可选择性电平调节制造技术

一种用于存储技术中读信号的选择采样的有选择性以及自适应有效电平调节的方法、电路以及系统。体现本发明专利技术的电路包括采样逻辑、算术逻辑以及条件逻辑。采样逻辑接收采样并且提供一个主采样以及一个或多个选择的相邻采样。算术逻辑将主采样与相邻采样进行比较以便于确定满意的选择条件标准。如果所选的条件标准满意，则条件逻辑有选择地并且自适应地达到主采样的电平调节。体现本发明专利技术的一种方法包括：获得与该读信号的参考区相关的电平调节参数；对通道位位置上的读信号采样以提供若干采样；从若干采样中选择主采样；从若干采样中选择一个或多个相邻采样，在来自主采样的通道位中以预定距离处设置这些相邻采样；将主采样与这些相邻采样的每一个比较以确定满意的选择条件标准；在确定所选的条件标准使其满意的地方，对主采样施加电平调节，这个电平调节响应于电平调节参数。（*该技术在2019年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术的
技术介绍
本专利技术通常涉及存储技术的数据恢复，特别涉及于用于通过存储技术的读通道的自适应以及选择电平调节进行数据恢复的方法、装置以及系统。在制造技术以及系统结构中的发展已经越来越导致了大功率消费电子设备和计算机。这些消费电子设备以及计算机支持诸如多媒体这样的与在其上可以处理和存储大量信息有关的各种特性及应用。通常，信息量不仅巨大而且不断增加。为了提供信息，已经发展了包括磁性、光学以及磁-光学技术的存储技术。尽管这些技术提供了相对大的存储容量，但是这些技术通常需要进行改善以便于克服限制存储容量的各种因素。其它领域中正在发展的是记录数据的精确检测，特别是当增加记录密度的时候。通常可以使用一个门限来实现记录数据的检测。作为一个例子，通过将一个读信号与一个预定门限值比较来检测光学读通道(例如，使用1，7运行长度限制的调制编码)的通道位；如果在一个特定的通道位位置上该读信号超过门限值，则该通道位被识别为‘1’(即，一个标记)；否则将该通道位识别为‘0’(即，一个空格)。相对于门限值的检测通常依靠于设置一个合适的门限值。一般地，在可接受的位误差率范围内可以对于恢复的记录信息来设置门限值。这样做，可以将门限值最佳地设置在一个“眼图”的中央，这个眼图可以作为显示读信号幅度和相位容限的一个测量。但是，读信号的幅度和相位容限趋向于受各种参数的影响，这些参数包括，尤其是，写功率、介质的写入灵敏度、写入以及读出驱动器点的品质(例如，标记大小的变化)、写入以及读出驱动器的聚焦补偿、以及记录密度。例如，增加的记录密度趋向于增加符号间干扰(“IST”)以便于可以相对于标记和空格降低幅度容限。此外，由于这些参数在系统和介质之间变化，所以眼图的中心趋向于变化，则最佳门限值设置也依次趋向于变化。因此，在调节增加的记录密度以及趋于导致门限值变化以及容限降低的其它参数时，希望提供对于记录数据的准确检测。专利技术综述在调节增加的记录密度以及趋于导致门限值变化以及容限降低的其它参数时，提供一些方法、电路以及系统来增加记录数据的检测准确性。更特别地，提供一些方法、电路以及系统来自适应以及选择性地调节读信号的采样电平。这种方法、电路以及系统的有利之处在于可以为选择采样建立起可靠的容限，可以因此改进记录数据的检测，特别是在扩大了记录密度的时候。体现本专利技术的一种电路包括采样逻辑、算术逻辑以及条件逻辑。采样逻辑接收采样信号并且提供一个主采样以及一个或多个选择的相邻采样。算术逻辑将主采样与相邻采样进行比较以便于确定满意的选择条件标准。如果所选的条件标准满意，则条件逻辑有选择地并且自适应地达到主采样的电平条件。优选地，这个条件是双电平置换，其中对于一个选择的主采样可以置换一个高置换电平或一个低置换电平。一种体现本专利技术的方法包括获得与该读信号的某个参考标记相关的电平条件参数；对通道位位置上的读信号采样以提供若干采样；从若干采样中选择主采样；从若干采样中选择一个或多个相邻采样，在通道位中离主采样以预定距离处配置这些相邻采样；将主采样与这些相邻采样的每一个比较以确定满意的选择条件标准；并且在确定所选的条件标准为满意的地方，响应电平调节参数对主采样施加电平调节。在附加于说明书并成为其一部分的权利要求中特别地指出了体现本专利技术特性的各种新颖性特征。为了便于理解本专利技术，以及通过其应用所得到的操作效果以及特别的目的，应该参考附图和在说明以及描述的最佳实施例中的说明性内容，其中相同的参考数字确定了相同或相似的元件。附图简述附图说明图1(a)示出了一个读信号、该读信号具有参考区和数据区。图1(b)示出了一个处理过的读信号，该处理过的读信号具有包括经受电平调节的数据标记以及空格的参考区和数据区。图2是根据本专利技术的与读通道相关的电平调节电路的框图。图3是一个存储系统的框图，该系统包括一个根据本专利技术的与读通道相关的电平调节电路。详细说明术语这里使用的读通道，涉及可以从记录介质面上将信号发送到处理元件上的光学、电子、磁以及机械元件以便于转换为便于用户的格式。这里使用的K-约束，涉及在二进制通道位的任何序列中的连续逻辑零位(或1位)的最大数，其中逻辑1(零)表示信号转换的位置。这里使用的D-约束，涉及在二进制通道位的任何序列中的连续逻辑零位(或1位)的最大数，其中逻辑1(零)表示信号转换的位置。使用d-约束来确定用于在经受电平替换的选择通道位中的估算的采样之间的距离，如下面将更为详细描述的。这里使用的电平调节，涉及操纵被选的采样以便于在检测或其它用途中增强性能(例如，可靠性)。电平调节的好处包括，举例而言，改进用于读信号的通道位的逻辑极性的检测(即，‘1’或‘0’)，特别是在增强记录密度的情况中或其他可以导致读误差的情况中(例如，由于门限值的变化或容限的降低)。综述本专利技术的实施例采用电平调节来选择读信号的采样。电平调节可以有各种实施方式。优选地，电平调节响应于电平调节参数。优选地，电平调节参数的获得是与读信号的参考区中的标记和空格的预定结构相关。在一个实施例中，通过将一个或多个置换电平安排给采样过程来实现电平调节，该置换电平最好是从电平调节参数中导出。在这个实施例中，最好是，这个推导过程需要将每个置换电平设置得等于相应的电平调节参数。在这种情况中，电平调节参数最好基于从参考区的结构中检测出的各种电平。但是在这种情况中可以理解的是，可以以另外方式使电平调节参数为基准并且不需要将置换电平设置得等于相应的电平调节参数。但是，所实现的电平调节最好是可自适应的。带有指定的置换电平，自适应电平调节包括自适应地获得电平调节参数和/或自适应地导出置换电平。在这种情况中，自适应地导出一个或多个置换电平需要修正、调整和/或重复地导出这些电平(例如，在设置的间隔和/或对应于一个或多个触发情况中)。参考标记在本专利技术的一个说明性实施例中，将盘格式化以便于包括若干磁迹，每个磁迹包括一个选择的分段数(例如，225)，并且每个段都有一个所选的帧数(例如，16)。每帧包括一个或多个区。这些区包含预先格式化的多个标记，使用这些标记来提供选择功能，这些功能特别包括时钟同步、磁迹跟踪、磁迹捕获、地址以及磁迹计数。每个帧还包括一个可记录区。这个可记录区是提供用于记录用户数据的。在逻辑扇区中安排数据，每个扇区最好开始在一帧的边界处。每个扇区包括一个数据字节的选择数(例如，1024或2048)以及其它信息。这种其它信息提供一种或多种包括特别是误差修正的功能。图1(a)和(b)示出了根据本专利技术的读通道的典型读信号。每个读信号包括(i)在参考区中的参考标记和空格，(ii)在数据区中的示意性数据标记和空格，该数据区包括用户数据并且(iii)各种电平包括门限(a.k. a.，“片”)电平。尽管说明性的读信号是模拟信号，最好是将每个读信号作为在选择频率处被采样的离散值那样处理。根据本专利技术的原则，在电平调节中使用与参考区有关的选择采样。在一个实施例中，检测选择采样以得到电平调节参数。在一个更特定的实施例中，使用参考区中标记和空格的选择模式来检测所选采样。在其中电平调节包括置换电平的分配的一个实施例中，最好使用该模式从其中导出高和/或低置换电平的参数中得到电平调节参数具有其幅度大于主要的检测门限值的高置换电平以及具有其幅度本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种在存储技术中调节读信号采样的方法，这个读信号包括与参考区有关的采样，该方法包括：获得一个或多个与选择采样有关的电平调节参数，而选择采样是与参考区相关的；从该读信号中选择一个主采样；从该读信号中选择一个或多个相邻采样，这些相邻 采样被设置在通道位中离主采样预定位置的地方；比较主采样与每个相邻采样以确定满意的选择调节标准；以及电平调节，其中确定选择调节标准为满意，主采样、电平调节对应于一个或多个所得到的电平调节参数。

【技术特征摘要】
US 1998-6-30 09/107,8081.一种在存储技术中调节读信号采样的方法，这个读信号包括与参考区有关的采样，该方法包括获得一个或多个与选择采样有关的电平调节参数，而选择采样是与参考区相关的；从该读信号中选择一个主采样；从该读信号中选择一个或多个相邻采样，这些相邻采样被设置在通道位中离主采样预定位置的地方；比较主采样与每个相邻采样以确定满意的选择调节标准；以及电平调节，其中确定选择调节标准为满意，主采样、电平调节对应于一个或多个所得到的电平调节参数。2.如权利要求1的方法，其中电平调节包括为主采样分配从一个或多个置换电平中选择出的一个。3.如权利要求1的方法，其中相邻采样的选择对应于读信号的编码。4.如权利要求1的方法，其中比较主采样与每个相邻采样的步骤包括求主采样的电平与所选若干相邻采样中的每一个的电平之差。5.如权利要求4的方法，其中比较主采样与每个相邻采样的步骤包括从两个或多个相邻采样的电平中减去主采样电平，这些相邻采样位于与主采样间隔的所选通道位上，并且其中确定满意的选择调节标准步骤包括确定每个所述电平相减会产生具有共同算术符的一个数。6.如权利要求1的方法，进一步包括实现一个排除函数，以便于对主采样选择性地排除有效的电平调节，其中实现排除函数包括找出一组主采样和所选相邻采样之差，并且比较所述的这组差值从而选择一个或多个调节触发值。7.如权利要求6的方法， 其中实现排除函数包括使用一个从与参考区相关的选择采样中导出的调节触发值。8.如权利要求1的方法，其中获得电平调节参数包括选择用于记录若干参考区的标记和空格模式，以便于自适应地获得电平调节参数。9.如权利要求8的方法，进一步包括使用一个模式，该模式至少包括下列中的一个(i)选择设置在记录介质的一帧或多帧中的一系列标记和空格；以及(ii)对应于读信号的与记录介质的一个或多个扇区相关的前置字节。10.如权利要求1的方法，进一步包括在通道位位置上对读信号采样以提供一些采样，并且其中是从所提供的若干采样中选择主采样和相邻采样。11.一种电路，提供该电...

【专利技术属性】
技术研发人员：JJ韦博姆，
申请(专利权)人：皇家菲利浦电子有限公司，
类型：发明
国别省市：NL[荷兰]