光信息记录/再现装置制造方法及图纸

技术编号:3069189 阅读:125 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种光信息记录/再现装置,光盘包括:备用区,用以替换记录有缺陷的扇区;缺陷目录区,其中缺陷目录包括一组有缺陷的扇区和用以记录的替换扇区;以及信息记录区,用以记录信息;所述装置包括:光学读写头;记录道标识装置;聚焦装置;跟踪装置;记录道搜索装置;地址再现装置;读/写门发生装置;数据记录/再现装置;记录检验和替换装置;缺陷目录存储装置;以及光信息记录/再现装置的控制装置。(*该技术在2014年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】
本申请是同一申请人于1994年6月8日提交的第94105685.6号专利技术名称为“光盘和信息记录/再现装置”的中国专利申请的分案申请。本专利技术涉及通过其记录道的槽脊和凹槽,记录和再现信息的一种高密度光盘,并涉及通过该光盘记录和再现信息的一种信息记录/再现装置。光盘是一种大容量的高密度存储器,用它可以实现非接触的记录和再现,并且一张光盘可以由另一张光盘替换。典型光盘的容量如下当光学读写头用NA(数值孔径)为0.5的透镜时,一张130mm的光盘,其单面容量为300至500MB,而一张90mm的光盘,其单面容量约为128至250MB。为适应多媒体用途,目前已研究了一种高密度记录/再现技术,即利用一种波长为680mm的短波长激光,来获得约2至4倍于上述所提到容量的容量。图10表示现有技术的光盘中,一种连续伺服记录道格式的平面图(上图)和截面图(下图)。图10(a)表示在现有技术的130mm或90mm光盘中所采用的一种连续伺服记录道,它具有一种槽脊记录道格式。在槽脊记录道格式中,该记录道包括在透明基片1上形成的凹槽2,凹槽2的深度为λ/(8·n)(λ为激光波长,n为基片1的折射率,下同),凹点4构成一种扇区识别(ID)信号,记录符5记录在由记录道所(夹进)的槽脊3上。用作ID信号的凹点4是一种相位深度为λ/(4·n)的凹凸形坑。记录道间距约选择为λ/NA,即取决于激光波长(λ)和透镜孔径(NA)。在现有技术的光盘中,由于槽脊必须保留在凹槽2与ID信号凹点4之间,故从槽脊成型工艺的角度来看,难以使记录道间距缩至1.3μm或更小。图10(b)表示一例凹槽记录道格式,其中,各记录道由相位深度为λ/(8Nn)的简单凹槽6以及槽脊7形成,凹点8构成ID信号,其中录有数据信号的记录符9记录在凹槽6内。由于这种凹槽记录道的道结构由简单凹槽6构成,故可以较为容易地生产道间距为1μm或更小的光盘。图10(c)表示一例槽脊/凹槽记录道格式,其中,通过将深度约为λ/(8·n)的凹槽11的宽度设置为道间距的一半,而形成凹槽记录道,信号12还记录在槽脊10上。原则上说,这种槽脊/凹槽记录可以达到两倍于图10(a)所示槽脊记录的表面记录密度。通常,当道间距减小时,有关在相邻道中记录的信号产生串扰;因进行数据记录而将相邻两条道中记录的信号一起擦去的交叉擦除,以及道伺服稳定性方面的问题将会产生。接下来将讨论道伺服的稳定性。在用于图10(c)所示槽脊/凹槽记录的槽脊记录道10中,道间距为λ/NA的一半。在λ为830mm、NA为0.5的情况下,即使当用以记录信号的道间距为0.8μm,相对于构成每条凹槽和槽脊的1.6μm的道间距,道伺服也可以实施。因此,无论采用常用的三束方法或推挽式方法,道伺服都能稳定工作。即使在采用上述记录方式的槽脊/凹槽记录中,当为了提高记录密度而进一步减小道间距时,也会产生在含有凹槽11与含有槽脊的记录道之间发生串扰的问题。尤其在采用激光波长λ为830nm、透镜孔径NA为0.5的一种光学读写头的情况下,当道间距为1.6μm时,将产生-30至-35dB的串扰,当道间距为0.8μm时,将产生-15至-20dB的串扰,由此将产生不能正常再现ID信号和数据信号的问题。尤其还存在以下问题如在记录道搜索过程中,因有一些再现错误而难以确认目标记录道,例如由于ID信号的串扰影响,使ID信号被错误地再现,或者错误地再现邻近记录道上的ID信号。又如在一个未曾记录的扇区进行记录的过程中,即使当ID信号从邻近道上泄漏时,再现好像仍按正常方式进行,由此将使数据记录在错误的扇区上。然而,在以上所述的凹槽/槽脊记录中,虽然记录道密度加倍了,但由此也产生了在记录或再现过程中的问题,由于串扰或交叉擦除产生的错误超过了标准,不合格的扇区数量也因此而增加。本专利技术的目的在于提供一种能够解决上述问题的一种光盘以及一种信息记录/再现装置,与现有技术相比,不仅能够提高记录密度,而且能够减少槽脊道与凹槽道之间的串扰程度,并且能防止因槽脊道与凹槽道之间的串扰而在ID信号或数据信号的记录或再现中产生错误。另一方面,从现有技术的记录方式的问题来看,本专利技术的目的在于提供一种信息记录/再现装置,一种信息记录/再现方法,以及一种能提供大容量存储的光盘,其中,可以迅速地实现缺陷替换处理。根据本专利技术的一种光信息记录/再现装置,用以通过其由光盘录入和/或再现信息,该光盘包括在同一记录面上形成的第一记录道和第二记录道,所述光盘包括备用区,用以替换记录有缺陷的扇区;缺陷目录区,其中缺陷目录包括一组有缺陷的扇区和用以记录的替换扇区;以及信息记录区,用以记录信息;所述装置包括用光束照射记录道,以记录和/或再现信号的光学读写头;用以选择第一记录道和第二记录道之一的记录道标识装置;用以将光学读写头的光束聚焦于记录道上的聚焦装置;用以跟踪第一记录道或第二记录道的跟踪装置;用以搜索目标记录道的记录道搜索装置;用以读取记录道上地址信号的地址再现装置;读/写门发生装置,用以根据记录道标识装置和地址再现装置的输出,选择第一记录道和第二记录道之一,并用以启动在目标记录道上记录或再现信息的工作;数据记录/再现装置,用以根据读/写门发生装置的输出在目标扇区上记录和/或再现数据;记录检验和替换装置,用以检验由数据记录/再现装置所记录的数据,并用备用区替换所验出的有缺陷的扇区;缺陷目录存储装置,用以按缺陷目录存储有缺陷的扇区地址,以及作为记录检验和替换装置的替换操作结果的替换地址;以及光信息记录/再现装置的控制装置,用以向所述各装置输出控制指令,监测各装置的状态,并用以控制在光盘上的记录、再现和检验信息。根据本专利技术的一种信息记录/再现方法,用以通过其由光盘录入和/或再现信息,所述光盘包括在同一记录面上形成的第一记录道和第二记录道,其中,当按所述光盘每一圈交替切换所述第一记录道和第二记录道时,按所述第一记录道(或第二记录道)、第二记录道(或第一记录道)、第一记录道(或第二记录道)的依次顺序记录和/或再现信息。根据本专利技术的一种信息记录/再现方法,用以通过其由光盘录入和/或再现信息,所述光盘包括在同一记录面上形成的第一记录道和第二记录道,其中,在记录和/或再现信息的同时,按所述第一记录道和第二记录道的寻址顺序进行寻址;其中,所述第一记录道或第二记录道的结束地址连接至所述第二记录道或第一记录道的初始地址。根据本专利技术的一种信息记录/再现方法,用以通过其由光盘录入和/或再现信息,所述光盘包括由凹槽录入和/或再现信息的第一记录道,以及由夹于所述第一记录道的槽脊录入和/或再现信息的第二记录道;所述第一记录道和第二记录道在同一记录面上形成,其中,在所述第一记录道和第二记录道之一形成一个缺陷目录区,该缺陷目录区记录了包括有缺陷扇区的缺陷扇区地址和替换扇区地址的缺陷目录,且当在所述第一记录道或第二记录道内检测到一个有缺陷的扇区时,完成缺陷一替换过程,同时将所述的缺陷目录附加记录到所述缺陷目录区。根据本专利技术的一种信息记录/再现方法,用以通过其由光盘录入和/或再现信息,并同时在所述光盘上完成缺陷-替换过程,所述光盘包括由凹槽录入和/或再现信息的第一记录道,以及由夹于所述第一记录道的槽脊录入和/或再现信息的第二记录道;所述第一记录道和第本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光信息记录/再现装置,用以通过其由光盘录入和/或再现信息,该光盘包括在同一记录面上形成的第一记录道和第二记录道, 所述光盘包括: 备用区,用以替换记录有缺陷的扇区; 缺陷目录区,其中缺陷目录包括一组有缺陷的扇区和用以记录的替换扇区;以及 信息记录区,用以记录信息; 所述装置包括: 用光束照射记录道,以记录和/或再现信号的光学读写头; 用以选择第一记录道和第二记录道之一的记录道标识装置; 用以将光学读写头的光束聚焦于记录道上的聚焦装置; 用以跟踪第一记录道或第二记录道的跟踪装置; 用以搜索目标记录道的记录道搜索装置; 用以读取记录道上地址信号的地址再现装置; 读/写门发生装置,用以根据记录道标识装置和地址再现装置的输出,选择第一记录道和第二记录道之一,并用以启动在目标记录道上记录或再现信息的工作; 数据记录/再现装置,用以根据读/写门发生装置的输出在目标扇区上记录和/或再现数据; 记录检验和替换装置,用以检验由数据记录/再现装置所记录的数据,并用备用区替换所验出的有缺陷的扇区; 缺陷目录存储装置,用以按缺陷目录存储有缺陷的扇区地址,以及作为记录检验和替换装置的替换操作结果的替换地址;以及 光信息记录/再现装置的控制装置,用以向所述各装置输出控制指令,监测各装置的状态,并用以控制在光盘上的记录、再现和检验信息。...

【技术特征摘要】
JP 1993-6-8 137089/93;JP 1993-6-10 138793/931.一种光信息记录/再现装置,用以通过其由光盘录入和/或再现信息,该光盘包括在同一记录面上形成的第一记录道和第二记录道,所述光盘包括备用区,用以替换记录有缺陷的扇区;缺陷目录区,其中缺陷目录包括一组有缺陷的扇区和用以记录的替换扇区;以及信息记录区,用以记录信息;所述装置包括用光束照射记录道,以记录和/或再现信号的光学读写头;用以选择第一记录道和第二记录道之一的记录道标识装置;用以将光学读写头的光束聚焦于记录道上的聚焦装置;用以跟踪第一记录道或第二记录道的跟踪装置;用以搜索目标记录道的记录道搜索装置;用以读取记录道上地址信号的地址再现装置;读/写门发生装置,用以根据记录道标识装置和地址再现装置的输出,选择第一记录道和第二记录道之一,并用以启动在目标记录道上记录或再现信息的工作;数据记录/再现装置,用以根据读/写门发生装置的输出在目标扇区上记录和/或再现数据;记录检验和替换装置,用以检验由数据记录/再现装置所记录的数据,并用备用区替换所验出的有缺陷的扇区;缺陷目录存储装置,用以按缺陷目录存储有缺陷的扇区地址,以及作为记录检验和替换装置的替换操作结果的替换地址;以及光信息记录/再现装置的控制装置,用以向所述各装置输出控制指令,监测各装置的状态,并用以控制在光盘上的记录、再现和检验信息。2.如权利要求1所述的信息记录/再现装置,其特征在于,所述记录检验和替换装置集中替换所述第一记录道和第二记录道上有缺陷的扇区,并根据所述缺陷目录存储装置的内容,完成对有缺陷的扇区的记录和/或再现。3.如权利要求1所述的信息记录/再现装置,其特征在于,所述缺陷目录存储装置包括用以存储所述第一记录道的缺陷目录区内容的第一存储装置,以及用以存储所述第二记录道的缺陷目录区内容的第二存储装置;以及所述记录检验和替换装置根据所述第一和第二缺陷目录存储装置的内容,完成对所述第一记录道和第二记录道的有缺陷扇区的记录和/或再现。4.如权利要求1、2或3所述的信息记录/再现装置,其特征在于,所述记录检验和替换装置用所述第一记录道的第一缺陷备用区替换记录所述第一记录道的有缺陷的扇区;并用所述第二记录道的第二缺陷备用区替换记录所述第二记录道的有缺陷的扇区。5.如权利要求1所述的信息记录/再现装置,其特征在于,在初始化所述光盘的过程中,所述记录道搜索装置访问光盘管理区;所述数据记录/再现装置用所述光盘管理区记录容量识别信息,所述容量识别信息表示所述第一记录道和第二记录道作为两组或多组容量编址,还是作为一组容量编址。6.一种信息记录/再现方法,用以通过其由光盘录入和/或再现信息,所述光盘包括在同一记录面上形成的第一记录道和第二记录道,其特征在于,当按所述光盘每一圈交替切换所述第一记录道和第二记录道时,按所述第一记录道(或第二记录道)、第二记录道(或第一记录道)、第一记录道(或第二记录道)的依次顺序记录和/或再现信息。7.一种信息记录/再现方法,用以通过其由光盘录入和/或再现信息,所述光盘包括在同一记录面上形成的第一记录道和第二记录道,其特征在于,在记录和/或再现信息的同时,按所述第一记录道和第二记录道的寻址顺序进行寻址;其中,所述第一记录道或第二记录道的结束地址连接至所述第二记录道或第一记录道的初始地址。8.如权利要求6或7所述的信息记录/再现方法,其特征在于,所述第一记录道是在凹槽内记录信息的记录道,所述第二记录道是在由所述第一记录道相夹的槽脊上记录信息的记录道,所述第一记录道与第二记录道之间的切换,是通过反转跟踪错误信息的极性而实现的。9.一种信息记录/再现方法,用以通过其由光盘录入和/或再现信息,所述光盘包括由凹槽录入和/或再现信息的第一记录道,以及由夹于所述第一记录道的槽脊录入和/或再现信息的第二记录道;所述第一记录道和第二记录道在同一记录面上形成,其特征在于,在所述第一记录道和第二记录道之一形成一个缺陷目录区,该缺陷目录区记录了包括有缺陷扇区的缺陷扇区地址和替换扇区地址的缺陷目录,且当在所述第一记录道或第二记录道内检测到一个有缺陷的扇区时,完成缺陷一替换过程,同时将所述的缺陷目录附加记录到所述缺陷目录区。10.一种信息记录/再现方法,用以通过其由光盘录入和/或再现信息,并同时在所述光盘上完成缺陷一替换过程,所述光盘包括由凹槽录入和/或再现信息的第一记录道,以及由夹于所述第一记录道的槽脊录入和/或再现信息的第二记录道;所述第一记录道和第二记录道在同一记录面上形成,其特征在于,在所述第一记录道和第二记录道之一形成一个缺陷目录区,该缺陷目录区记录了含有所述第一记录道或第二记录道的有缺陷扇区的缺陷扇区地址和替换扇区地址的缺陷目录,所述缺陷在第一记录道或第二记录道检测和替换;在所述第一记录道和第二记录道内形成被用作替换扇区的备用区;以及在各个备用区内替换所述第一记录道或第二记录道的缺陷扇区,并将所述缺陷目录录入所述缺陷目录区,由此完成缺陷替换过程。11.一种信息记录/再现方法,用以通过其由光盘录入和/或再现信息,所述光盘包括由凹槽录入和/或再现信息的第一记录道,以及由夹于所述第一记录道的槽脊录入和/或再现信息的第二记录道;所述第一记录道和第二记录道在同一记录面上形成,其特征在于,在所述第一记录道和第二...

【专利技术属性】
技术研发人员:佐藤勲
申请(专利权)人:松下电器产业株式会社
类型:发明
国别省市:JP[日本]

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