扫描输出触发器制造技术

本发明专利技术提供一种扫描输出触发器，用于在所述扫描输出触发器的扫描输出端子处输出扫描输出信号，包括：选择电路，包括第一输入端子和第二输入端子，由第一测试使能信号控制，以将所述第一输入端子上的数据信号或所述第二输入端子上的测试信号传输到所述选择电路的输出端子用作输入信号；控制电路，由第一时钟信号和第二时钟信号控制，以根据所述输入信号产生第一控制信号和第二控制信号；和扫描输出级电路，其中，所述扫描输出级电路由所述第一测试使能信号和所述第二测试使能信号控制以仅根据所述第一控制信号和所述第二控制信号中的一个产生所述扫描输出信号。实施本发明专利技术实施例可降低扫描链的不必要的功耗。例可降低扫描链的不必要的功耗。例可降低扫描链的不必要的功耗。

【技术实现步骤摘要】
扫描输出触发器


[0001]本专利技术涉及一种触发器(flip
‑
flop)设计，更具体地，涉及一种扫描输出触发器。

技术介绍

[0002]扫描链(scan chain)被用于在测试过程期间检测组合逻辑块中的各种制造故障。通常，一个扫描链由复数个串联的扫描输出触发器组成，并且在一个扫描输出触发器的数据输出端子和下一个扫描输出触发器的扫描输入端子之间的扫描路径中添加延迟链(delay chain)。一种传统的扫描输出触发器可以使用公共输出端子来进行正常数据(normal data)和扫描数据(scan data)的传输。因此，无论是进行正常数据或扫描数据(scan data)的传输，公共输出端子后端的电路仍然运行，这会增加不必要的功耗。因此，需要一种创新的扫描输出触发器设计。

技术实现思路

[0003]本专利技术提供扫描输出触发器，避免了延迟链中的额外功耗。
[0004]本专利技术提供的一种扫描输出触发器用于在所述扫描输出触发器的扫描输出端子处输出扫描输出信号，包括：选择电路，包括第一输入端子和第二输入端子，所述选择电路由第一测试使能信号控制，以将所述第一输入端子上的数据信号或所述第二输入端子上的测试信号传输到所述选择电路的输出端子用作输入信号；控制电路，耦接到所述选择电路的所述输出端子，所述控制电路由第一时钟信号和第二时钟信号控制，以根据所述输入信号产生第一控制信号和第二控制信号，其中所述第二时钟信号为所述第一时钟信号的反相，所述第二控制信号为所述第一控制信号的反相；和扫描输出级电路，其中，所述扫描输出级电路仅接收所述第一控制信号和所述第二控制信号中的一个，所述扫描输出级电路由所述第一测试使能信号和所述第二测试使能信号控制以仅根据所述第一控制信号和所述第二控制信号中的一个产生所述扫描输出信号，其中所述第二测试使能信号是所述第一测试使能信号的反相。
[0005]本专利技术提供的另一种扫描输出触发器用于在所述扫描输出触发器的数据输出端子处输出数据输出信号，包括：选择电路，包括第一输入端子和第二输入端子，所述选择电路由第一测试使能信号控制，以将所述第一输入端子上的数据信号或所述第二输入端子上的测试信号传输到所述选择电路的输出端子用作输入信号；控制电路，耦接到所述选择电路的所述输出端子，所述控制电路由第一时钟信号和第二时钟信号控制，以根据所述输入信号产生控制信号，其中所述第二时钟信号为所述第一时钟信号的反相；和数据输出级电路，其中，所述数据输出级电路接收所述控制信号，并由第一测试使能信号和第二测试使能信号控制，以根据所述控制信号产生所述数据输出信号，其中所述第二测试使能信号是所述第一测试使能信号的反相。
[0006]因此，本专利技术实施例提供了新的扫描输出触发器架构，可降低扫描链的不必要的功耗。
附图说明
[0007]图1是根据本专利技术的实施例示出的扫描输出触发器的图。
[0008]图2是根据本专利技术的第一实施例示出的扫描输出级电路的图。
[0009]图3是根据本专利技术的第二实施例示出的扫描输出级电路的图。
[0010]图4是根据本专利技术的第三实施例示出的扫描输出级电路的图。
[0011]图5是根据本专利技术的第四实施例示出的扫描输出级电路的图。
[0012]图6是根据本专利技术的第五实施例示出的扫描输出级电路的图。
[0013]图7是根据本专利技术的第六实施例示出的扫描输出级电路的图。
[0014]图8是根据本专利技术的实施例示出的另一扫描输出触发器的图。
[0015]图9是根据本专利技术的第一实施例示出的数据输出级电路的图。
[0016]图10是根据本专利技术的第二实施例示出的数据输出级电路的图。
具体实施方式
[0017]在说明书及权利要求书当中使用了某些词汇来指称特定的组件。本领域技术人员应可理解，硬件制造商可能会用不同的名词来称呼同一个组件。本说明书及权利要求书并不以名称的差异来作为区分组件的方式，而是以组件在功能上的差异来作为区分的准则。在通篇说明书及权利要求当中所提及的“包含”及“包括”为一开放式的用语，故应解释成“包含但不限定于”。“大体上”是指在可接受的误差范围内，本领域技术人员能够在一定误差范围内解决所述技术问题，基本达到所述技术效果。此外，“耦接”一词在此包含任何直接及间接的电性连接手段。因此，若文中描述一第一装置耦接于一第二装置，则代表该第一装置可直接电性连接于该第二装置，或通过其它装置或连接手段间接地电性连接至该第二装置。以下所述为实施本专利技术的较佳方式，目的在于说明本专利技术的精神而非用以限定本专利技术的保护范围，本专利技术的保护范围当视权利要求书所界定者为准。
[0018]接下面的描述为本专利技术预期的最优实施例。这些描述用于阐述本专利技术的大致原则而不应用于限制本专利技术。本专利技术的保护范围应在参考本专利技术的权利要求书的基础上进行认定。
[0019]本专利技术实施例提供了新的扫描输出触发器架构，可降低扫描链的不必要的功耗。
[0020]本专利技术提供的一种扫描输出触发器用于在所述扫描输出触发器的扫描输出端子处输出扫描输出信号，包括：选择电路，包括第一输入端子和第二输入端子，所述选择电路由第一测试使能信号控制，以将所述第一输入端子上的数据信号或所述第二输入端子上的测试信号传输到所述选择电路的输出端子用作输入信号；控制电路，耦接到所述选择电路的所述输出端子，所述控制电路由第一时钟信号和第二时钟信号控制，以根据所述输入信号产生第一控制信号和第二控制信号，其中所述第二时钟信号为所述第一时钟信号的反相，所述第二控制信号为所述第一控制信号的反相；和扫描输出级电路，其中，所述扫描输出级电路仅接收所述第一控制信号和所述第二控制信号中的一个，所述扫描输出级电路由所述第一测试使能信号和所述第二测试使能信号控制以仅根据所述第一控制信号和所述第二控制信号中的一个产生所述扫描输出信号，其中所述第二测试使能信号是所述第一测试使能信号的反相。
[0021]本专利技术提供的另一种扫描输出触发器用于在所述扫描输出触发器的数据输出端
子处输出数据输出信号，包括：选择电路，包括第一输入端子和第二输入端子，所述选择电路由第一测试使能信号控制，以将所述第一输入端子上的数据信号或所述第二输入端子上的测试信号传输到所述选择电路的输出端子用作输入信号；控制电路，耦接到所述选择电路的所述输出端子，所述控制电路由第一时钟信号和第二时钟信号控制，以根据所述输入信号产生控制信号，其中所述第二时钟信号为所述第一时钟信号的反相；和数据输出级电路，其中，所述数据输出级电路接收所述控制信号，并由第一测试使能信号和第二测试使能信号控制，以根据所述控制信号产生所述数据输出信号，其中所述第二测试使能信号是所述第一测试使能信号的反相。
[0022]图1是根据本专利技术的实施例示出的扫描输出触发器的图。如图1所示1，扫描输出触发器1包括选择电路10，控制电路11，扫描输出级电路12，信号产生电路13和时钟产生电路14。扫描输出触发器1具有：数据输入端子D，扫描输入端子TD，测试使能端子T本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种扫描输出触发器，其特征在于，用于在所述扫描输出触发器的扫描输出端子处输出扫描输出信号，包括：选择电路，包括第一输入端子和第二输入端子，所述选择电路由第一测试使能信号控制，以将所述第一输入端子上的数据信号或所述第二输入端子上的测试信号传输到所述选择电路的输出端子用作输入信号；控制电路，耦接到所述选择电路的所述输出端子，所述控制电路由第一时钟信号和第二时钟信号控制，以根据所述输入信号产生第一控制信号和第二控制信号，其中所述第二时钟信号为所述第一时钟信号的反相，所述第二控制信号为所述第一控制信号的反相；和扫描输出级电路，其中，所述扫描输出级电路仅接收所述第一控制信号和所述第二控制信号中的一个，所述扫描输出级电路由所述第一测试使能信号和所述第二测试使能信号控制以仅根据所述第一控制信号和所述第二控制信号中的一个产生所述扫描输出信号，其中所述第二测试使能信号是所述第一测试使能信号的反相。2.如权利要求1所述的扫描输出触发器，其特征在于，当所述扫描输出触发器在正常模式下操作时，所述选择电路根据所述第一测试使能信号将所述数据信号发送到所述选择电路的所述输出端子用作所述输入信号，并且无论所述数据信号的电压电平是多少，所述扫描输出级电路将所述扫描输出信号保持在固定的电压电平。3.如权利要求1所述的扫描输出触发器，其特征在于，所述扫描输出级电路包括：第一个第一类型的晶体管，包括被布置为接收所述第一测试使能信号的控制电极，被布置为接收所述扫描输出触发器的参考电压的第一电极，以及耦接到所述扫描输出端子的第二电极；第二个第一类型的晶体管，包括被布置为仅接收所述第一控制信号和所述第二控制信号中的一个的控制电极，被布置为接收所述参考电压的第一电极，以及耦接到所述扫描输出端子的第二电极；和第二类型的晶体管，包括被布置为仅接收所述第一控制信号和所述第二控制信号中的一个的控制电极，被布置为接收所述第二测试使能信号的第一电极，以及耦接到所述扫描输出端子的第二电极。4.如权利要求3所述的扫描输出触发器，其特征在于，所述第二类型的晶体管由N型晶体管实现，所述第一类型的晶体管由P型晶体管实现，所述参考电压是所述扫描输出触发器的电源电压。5.如权利要求1所述的扫描输出触发器，其特征在于，所述扫描输出级电路包括：第一个第一类型的晶体管，包括被布置为接收所述第一测试使能信号的控制电极，被布置为接收所述扫描输出触发器的参考电压的第一电极，以及耦接到所述扫描输出端子的第二电极；第二个第一类型的晶体管，包括被布置为仅接收所述第一控制信号和所述第二控制信号中的一个的控制电极，第一电极，和耦接到所述扫描输出端子的第二电极；第一个第二类型的晶体管，包括被布置为仅接收所述第一控制信号和所述第二控制信号中的一个的控制电极，第一电极，和耦接到所述扫描输出端子的第二电极；至少一个第一延迟组件，耦接在所述第二个第一类型的晶体管的所述第一电极与所述参考电压之间；和
至少一个第二延迟组件，耦接在所述第一个第二类型的晶体管的所述第一电极与所述第二测试使能信号之间。6.如权利要求5所述的扫描输出触发器，其特征在于，包括在所述至少一个第一延迟组件中的每一个第一延迟组件由第三个第一类型的晶体管实现，所述第三个第一类型的晶体管包括被布置为接收所述第二测试使能信号的控制电极，并且包括在所述至少一个第二延迟组件中的每一个第二延迟组件由第二个第二类型的晶体管实现，所述第二个第二类型的晶体管包括被布置为接收所述第一测试使能信号的控制电极。7.如权利要求6所述的扫描输出触发器，其特征在于，所述第二类型的晶体管由N型晶体管，所述第一类型的晶体管由P型晶体管实现，所述参考电压是所述扫描输出触发器的电源电压。8.如权利要求1所述的扫描输出触发器，其特征在于，所述扫描输出级电路包括：第一个第一类型的晶体管，包括被布置为接收所述第一测试使能信号的控制电极，被布置为接收所述扫描输出触发器的第一参考电压的第一电极，以及耦接到所述扫描输出端子的第二电极；第二个第一类型的晶体管，包括控制电极，被布置为接收所述第一参考电压的第一电极，和耦接到所述扫描输出端子的第二电极；第一个第二类型的晶体管，包括控制电极，被布置为接收所述第二测试使能信号的第一电极，和耦接到所述扫描输出端子的第二电极；至少一个第一延迟组件，耦接在所述第二个第一类型的晶体管的所述控制电极与所述第一控制信号和所述第二控制信号中的一个之间；和至少一个第二延迟组件，耦接在所述第一个第二类型的晶体管的所述控制电极与所述第一控制信号和所述第二控制信号中的一个之间。9.如权利要求8所述的扫描输出触发器，其特征在于，包括在所述至少一个第一延迟组件中的每一个第一延迟组件由第三个第一类型的晶体管来实现，所述第三个第一类型的晶体管包括被布置为接收所述扫描输出触发器的第二参考电压控制电极，并且包括在所述至少一个第二延迟组件中的每一个第二延迟组件由第二个第二类型的晶体管实现，所述第二个第二类型的晶体管包括被布置为接收第一参考电压的控制电极。10.如权利要求9所述的扫描输出触发器，其特征在于，所述第二类型的晶体管由N型晶体管实现，所述第一类型的晶体管由P型晶体管实现，所述第一参考电压是所述扫描输出触发器的电源电压，所述第二参考电压是所述扫描输出触发器的接地电压。11.如权利要求1所述的扫描输出触发器，其特征在于，所述扫描输出级电路包括：第一个第一类型的晶体管，包括被布置为接收所述第二测试使能信号的控制电极，被布置为接收所述扫描输出触发器的参考电压的第一电极，以及耦接到所述扫描输出端子的第二电极；第二个第一类型的晶体管，包括被布置为仅接收所述第一控制信号和所述第二控制信号中的一个的控制电极，被布置为接收所述参考电压的第一电极，以及耦接到所述扫描输出端子的第二电极；和第二类型的晶体管，包括被布置为仅接收所述第一控制信号和所述第二控制信号中的一个的控制电极，被布置为接收第一测试使能信号的第一电极，以及耦接到所述扫描输出
端子的第二电极。12.如权利要求11所述的扫描输出触发器，其特征在于，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：翁伟哲，黄恒亮，
申请(专利权)人：联发科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：