偏心量检测装置制造方法及图纸

提供一种光记录介质及使用该光记录介质的偏心量检测装置，该光记录介质可正确检出照射于光记录介质的光点与光记录介质在径向的相对位移量即偏心量。光记录介质上，多（Ｎ）个由第一偏摆痕２１１与第二偏摆痕２１２构成的伺服区１１３和多（Ｎ）个进行信息的记录与再现的数据区在环向上交互配置；伺服区由第一偏摆痕与第二偏摆痕之间的环向间隔不同的多个伺服图案区２１０ａ～２１０ｃ在径向上配置而成，多个伺服图案区各自所包含的纹道数相等且小于Ｎ／（２×π）。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及利用光进行数据的记录与再现的光记录介质，以及使用该光记录介质的偏心量检测装置。以下，参照附图说明一例传统的光记录介质。图23中示意表示一例传统的传统的光记录介质。如图23所示，传统的光记录介质1401上沿螺旋状纹道中心线1402(图23只表示了一部分)形成伺服区1403和数据区1404。图24所示为图23中的伺服区1403和数据区1404的结构。图24中，伺服区1403上分别以预定的间隔形成时标痕(clock mark)1501、第一偏摆痕(wobble mark)1502与第二偏摆痕1503。并且，在数据区1404中，信息基本上记录于纹道的中心线1402上。时标痕1501用于生成同步时钟信号，该同步时钟信号用于再现记录在第一偏摆痕1502、第二偏摆痕1503与数据区1404的信息。其中，纹道中心线1402表示连续地连接时标痕1501中心的假想线。第一偏摆痕1502与第二偏摆痕1503相对纹道中心线1402在径向上的以预定的距离相互反向偏离的位置形成，用以检测对应于照射在光记录介质1401上的光点离纹道中心线1402的偏离位置的跟踪误差信号。如光点偏离纹道中心线1402，第一偏摆痕1502或第二偏摆痕1503的反射光强度比其它的反射光更强，由此可检出跟踪误差信号。在如上结构的光记录介质1401中，以时标痕1501生成的同步时钟信号为基准检出跟踪误差信号。而且，利用跟踪误差信号进行跟踪控制，使光记录介质1401上的光点正确地扫描记录于数据区1404的数据信息，从而记录或再现信息。但是，由于在上述结构中所得到的跟踪误差信号是离散的，当光记录介质和照射于光记录介质的光点在径向上的相对位移量即偏心量小时，还可以由跟踪误差信号测量偏心量，但若偏心量大时就得不到正确的跟踪信号而不能检测其偏心量。由此，无法进行偏心量的修正动作，使跟踪控制的导入动作等成为困难。针对此课题，提出了日本专利申请特开昭63-225924号公报所记载的光盘。也就是，通过这样的光盘解决该课题，「该光盘特征为将一对偏摆凹坑中的至少一个凹坑与作为信息数据的基准凹坑的时钟凹坑之间的距离预先设为3段以上，在一条以上的信息纹道的每一条中该距离以预先设定的顺序反复改变」。据此，可检出光记录介质与照射于光记录介质的光点径向的相对位移量即偏心量。因此，可进行偏心量的修正动作，可实现稳定的跟踪控制的导入动作等。但据知，在上述传统的光记录介质上检测光记录介质与照射于光记录介质的光点在径向上的相对移动方向时，根据偏摆痕的配置有时产生检测误差。由此，产生读写时的精度恶化问题。为达成上述目的，本专利技术的第一光记录介质具有如下特征在环向上设置多(N)个伺服区；在径向上设置有包括各自不同图案的多个伺服图案区；该多个伺服图案区各自所包含的纹道数相等且小于N/(2×π)(此处，π表示圆周率)。为达成上述目的，本专利技术的第二光记录介质，是在环向上多(N)个由时标痕、第一偏摆痕与第二偏摆痕构成的伺服区和多(N)个进行记录和再现信息的数据区交互设置的光记录介质；其特征在于伺服区由时标痕与第一偏摆痕之间的环向间隔和时标痕与第二偏摆痕之间的环向间隔不相同的多个伺服图案区在径向设置而成，而该多个伺服图案区各自所包含的纹道数相等且小于N/(2×π)。为达成上述目的，本专利技术的第三光记录介质，是在环向上多(N)个由第一偏摆痕与第二偏摆痕构成的伺服区和多(N)个进行记录和再现信息的数据区交互设置的光记录介质配置；其特征在于伺服区是由第一偏摆痕与第二偏摆痕之间的环向间隔不同的多个伺服图案区在径向设置而成，该多个伺服图案区各自所包含的纹道数相等且小于N/(2×π)(其中π表示圆周率)。依据上述第一到第三光记录介质，即使光点横切纹道中心线的频率(纹道横断频率)大于生成跟踪误差信号的取样频率(到达第一与第二偏摆痕的频率)，也可以正确地检出偏心量。并且，依据第三光记录介质，由于其用第一或第二偏摆痕充当第二光记录介质上的时标痕，因此在径向上构成的痕数比第二光记录介质的少一组，这样就使环向上的伺服区变窄，使数据区变宽，从而可增大数据的记录容量。对于第二及第三光记录介质，其伺服区的环向长度最好不取决于径向位置而大致相同。依据这种结构，外环部分的伺服区所占的面积比率将变小，数据区面积将相应地变大，从而可增大数据记录容量。并且，第二光记录介质中，多个伺服图案区中相邻接的伺服图案区之间，其时标痕与第一偏摆痕的环向间隔和时标痕与第二偏摆痕的环向间隔中的任一方最好大致相同。依据这种结构，即使光点通过伺服图案区的边界附近，由于可得到邻接的伺服图案区中任一方的信息，也可正确地进行检出动作。并且，第二光记录介质中，多个伺服图案区是由第一伺服图案区、第二伺服图案区、第三伺服图案区与第四伺服图案区组成，最好这样第一伺服图案区和第二伺服图案区的时标痕与第一偏摆痕之间的环向距离大致相同；第二伺服图案区和第三伺服图案区的时标痕与第二偏摆痕之间的环向距离大致相同；第三伺服图案区和第四伺服图案区环向的时标痕与第一偏摆痕之间的环向距离大致相同；第四伺服图案区和第一伺服图案区的时标痕与第二偏摆痕之间的环向距离大致相同。依据这种结构，可用较简单结构的电路检出照射于光记录介质的光点与光记录介质之间径向的相对移动量和移动方向。为达成上述目的，本专利技术的第一偏心量检测装置的特征在于设有第一光记录介质；检测来自光记录介质的反射光的传感部分；根据传感部分的检测信号检出光记录介质面与由物镜聚焦的光点之间在半径方向上的相对移动方向，作为方向检测信号输出的方向检测部分；根据传感部分的检测信号和方向检测部分的方向检测信号，计算伺服图案区改变的图案计数部分；以及根据图案计数部分的计数值得到偏心量的偏心量计算部分。为达成上述目的，本专利技术的第二偏心量检测装置的特征在于设有第二光记录介质；检测来自光记录介质的反射光的传感部分；根据传感部分的检测信号检测光记录介质面与由物镜聚焦的光点之间的在半径方向上的相对移动方向，作为方向检测信号输出的方向检测部分；根据传感部分的检测信号和方向检测部分的方向检测信号，计算伺服图案区改变的图案计数部分；以及根据图案计数部分的计数值得到偏心量的偏心量计算部分。为达成上述目的，本专利技术的第三偏心量检测装置的特征在于设有第三光记录介质；检测来自光记录介质反射的返回光的传感部分；根据传感部分的检测信号检测光记录介质面与由物镜聚焦的光点之间在半径方向上的相对移动方向，作为方向检测信号输出的方向检测部分；根据传感部分的检测信号和方向检测部分的方向检测信号，计算伺服图案区改变的图案计数部分；以及根据图案计数部分的计数值得到偏心量的偏心量计算部分。对于第一至第三偏心量检测装置，其方向检测部分最好包括判断伺服图案区种类的图案判断部分；按照图案判断部分的判断结果检测光记录介质面与由物镜聚焦的光点之间在半径方向上的相对移动方向的方向决定部分。并且，对于第一至第三偏心量检测装置，其图案计数部分最好按照方向检测部分的检测结果将伺服图案区改变次数相加或相减，并输出其计数值。并且，对于第一至第三偏心量检测装置，其偏心量计算部分最好将图案计数部分的计数值乘以一个伺服图案区包含的纹道数来得到偏心量。依据第一至第三偏心量检测装置，可正确地检出照射于光本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光记录介质，其特征在于：其环向上设有多（Ｎ）个伺服区，其径向上设有各自有不同图案的多个伺服图案区，所述多个伺服图案区各自包含的纹道数相等且小于Ｎ／（２×π）（此处，π表示圆周率）。

【技术特征摘要】
JP 2000-8-31 263052/001.一种光记录介质，其特征在于其环向上设有多(N)个伺服区，其径向上设有各自有不同图案的多个伺服图案区，所述多个伺服图案区各自包含的纹道数相等且小于N/(2×π)(此处，π表示圆周率)。2.一种其环向上多(N)个由时标痕、第一偏摆痕与第二偏摆痕构成的伺服区和多(N)个进行信息的记录与再现的数据区交互设置的光记录介质，其特征在于所述伺服区是由所述时标痕与所述第一偏摆痕之间的环向间，和所述时标痕与所述第二偏摆痕之间的环向间隔不同的多个伺服图案区在径向上配置而成，所述多个伺服图案区各自包含的纹道数相等且小于N/(2×π)(此处，π表示圆周率)。3.一种其环向上多(N)个由第一偏摆痕与第二偏摆痕构成的伺服区和多(N)个进行信息的记录与再现的数据区交互设置的光记录介质，其特征在于所述伺服区由所述第一偏摆痕与第二偏摆痕之间的环向间隔不同的多个伺服图案区在其径向上配置而成，而所述多个伺服图案区各自包含的纹道数相等且小于N/(2×π)(此处，π表示圆周率)。4.如权利要求2或3所述的光记录介质，其特征在于所述伺服区的环向上的长度大致固定，不取决于光盘上的径向位置。5.如权利要求2所述的光记录介质，其特征在于在所述多个伺服图案区中的相邻伺服图案区之间，所述时标痕与所述第一偏摆痕之间的环向间隔和所述时标痕与所述第二偏摆痕之间的环向间隔中有一方大致相等。6.如权利要求2所述的光记录介质，其特征在于所述多个伺服图案区由第一伺服图案区、第二伺服图案区、第三伺服图案区与第四伺服图案区组成；所述第一伺服图案区和所述第二伺服图案区之间，所述时标痕与所述第一偏摆痕之间的环向距离大致相等；所述第二伺服图案区和所述第三伺服图案区之间，所述时标痕与所述第二偏摆痕之间的环向距离大致相等；所述第三伺服图案区和所述第四伺服图案区之间，所述时标痕与所述第一偏摆痕之间的环向距离大致相等；所述第四伺服图案区和所述第一伺服图案区之间，所述时标痕与所述第二偏摆痕之间的环向距离大致相等。7.一种使用各自有不同图案的多个伺服图案区在径向上配置而成的、所述多个伺服图案区各自包含的纹道数相等且小于N/(2×π)(此处，π表示圆周率)的光记录介质的偏心量检测装置，其特征在于包括检出来自所述光记录介质的反射光的传感部分；基于所述传感部分的检测信号，检出所述光记录介质面上与由物镜聚焦的光点之间在半径方向上的相对移动方向，并作为方向检测信号输出的方向检测部分；基于所述传感部分的检测信号和所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：上田英司，
申请(专利权)人：松下电器产业株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]