自带整机掉电功能的存储产品开放式综合测试平台制造技术

本发明专利技术公开了自带整机掉电功能的存储产品开放式综合测试平台，涉及存储产品开放式综合测试技术领域，具体为自带整机掉电功能的存储产品开放式综合测试平台，包括系统主机，以及与系统主机通过网络控制信号连接的网络控制模块，以及与系统主机通过USB控制信号连接的USB控制模块，所述网络控制模块通过网络控制信号分别连接有电源输出端口一、电源输出端口二、电源输出端口三和电源输出端口四，以及USB控制模块通过网络控制信号分别与电源输出端口一、电源输出端口二、电源输出端口三和电源输出端口四实现数据传输。本发明专利技术能够同时对4台测试测试任务分发，测试结果收集，测试日志显示，效率高，减少对控制机需求，降低成本。降低成本。降低成本。

【技术实现步骤摘要】
自带整机掉电功能的存储产品开放式综合测试平台


[0001]本专利技术涉及存储产品开放式综合测试
，具体为自带整机掉电功能的存储产品开放式综合测试平台。

技术介绍

[0002]当前市场上的产品有以下几个问题：（1）其他的设备没有对测试机器整机掉电功能；目前市场上针对存储类产品的掉电测试设备，都是对被测试的存储产品进行掉电，这种方式，只能孤立的对测试产品进行掉电和上电，不能模拟实际场景中存储产品所遇到的实际情况；（2）当前市场上的其他的存储类测试设备，测试环境非常封闭，都是在固定的，单一的测试平台上测试（主板，CPU，内存，系统等硬件，软件环境固定不变），这就存在测试平台上能通过测试，但在实际使用中会出现各种问题；（3）其他的测试设备没有解决Windows系统作为测试系统，并在出现各种蓝屏的情况下，自动跳过因异常掉电而导致的各种蓝屏场景，不能自动化测试，导致测试效率低下；（4）其他的测试产品只能同一个测试环境下测试，不能同时在不同的硬件平台和系统进行测试。

技术实现思路

[0003]针对现有技术的不足，本专利技术提供了自带整机掉电功能的存储产品开放式综合测试平台，解决了上述
技术介绍
中提出现有的的问题。
[0004]为实现以上目的，本专利技术通过以下技术方案予以实现：自带整机掉电功能的存储产品开放式综合测试平台，包括系统主机，以及与系统主机通过网络控制信号连接的网络控制模块，以及与系统主机通过USB控制信号连接的USB控制模块，所述网络控制模块通过网络控制信号分别连接有电源输出端口一、电源输出端口二、电源输出端口三和电源输出端口四，以及USB控制模块通过网络控制信号分别与电源输出端口一、电源输出端口二、电源输出端口三和电源输出端口四实现数据传输。
[0005]可选的，所述系统主机的网络控制模块通过网络控制信号与电源输出端口一、电源输出端口二、电源输出端口三和电源输出端口四实现数据传输，以及电源输出端口一、电源输出端口二、电源输出端口三和电源输出端口四通过电源线与测试机电连接，用于测试。
[0006]可选的，所述系统主机通过API接口与网络交换机模块实现数据传输，以及系统主机通过网络交换机模块与测试机实现数据交互。
[0007]可选的，所述电源输出端口一、电源输出端口二、电源输出端口三和电源输出端口四的电源线电连接有继电器，所述电源输出端口一、电源输出端口二、电源输出端口三和电源输出端口四对应设置的电源线和继电器与可与测试机电连接，用于控制电源的通断。
[0008]可选的，所述电源输出端口一、电源输出端口二、电源输出端口三和电源输出端口四的输入端可连接开机线，以及与开机线电连接的继电器，用于控制电源的通断。
[0009]本专利技术提供了自带整机掉电功能的存储产品开放式综合测试平台，具备以下有益效果：1、该自带整机掉电功能的存储产品开放式综合测试平台能够对测试整机掉电，使得测试对象SSD/HDD能够参与测试机器整个完整的上下电的过程，完全贴近实际的使用场景。
[0010]2、该自带整机掉电功能的存储产品开放式综合测试平台提供4个独立的供电电源端口，能够对4台独立的测试机进行测试，测试机可以是4个不同的硬件平台和系统。
[0011]3、该自带整机掉电功能的存储产品开放式综合测试平台能够同时对4台测试测试任务分发，测试结果收集，测试日志显示，效率高，减少对控制机需求，降低成本。
[0012]4、该自带整机掉电功能的存储产品开放式综合测试平台中，设计小巧，紧凑，使得实验室等测试环境的搭建方便，简洁。
附图说明
[0013]图1为本专利技术的测试原理示意图。
具体实施方式
[0014]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。
[0015]在本专利技术的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上；术语“上”、“下”、“左”、“右”、“内”、“外”、“前端”、“后端”、“头部”、“尾部”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0016]在本专利技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。
[0017]实施案例一请参阅图1，本专利技术提供一种技术方案：自带整机掉电功能的存储产品开放式综合测试平台，包括系统主机，以及与系统主机通过网络控制信号连接的网络控制模块，以及与系统主机通过USB控制信号连接的USB控制模块，所述网络控制模块通过网络控制信号分别连接有电源输出端口一、电源输出端口二、电源输出端口三和电源输出端口四，以及USB控制模块通过网络控制信号分别与电源输出端口一、电源输出端口二、电源输出端口三和电源输出端口四实现数据传输。
[0018]系统主机的网络控制模块通过网络控制信号与电源输出端口一、电源输出端口二、电源输出端口三和电源输出端口四实现数据传输，以及电源输出端口一、电源输出端口二、电源输出端口三和电源输出端口四通过电源线与测试机电连接，用于测试。
[0019]系统主机通过API接口与网络交换机模块实现数据传输，以及系统主机通过网络
交换机模块与测试机实现数据交互。
[0020]该自带整机掉电功能的存储产品开放式综合测试平台的测试方法，包括以下步骤：步骤一、在系统主机上运行eBird测试软件，进行初始化配置，设置测试循环次数，填入4台测试机的IP地址，使得系统主机能够通过网络交互机模块和测试机进行通信；步骤二、进行整机掉电测试时，测试主机将测试任务发送到对应的测试机上例如:测试机；步骤三、在相应的测试机上运行SSD/HDD测试程序；步骤四、测试主机给测试机发送“poweroff”命令，通过网络控制模块或者USB控制模块控制继电器断开电源端口的线路，使电源端口无电压输出，从而切断整个测试机的供电；步骤五、测试机被切断电源后，测试对象SSD/HDD也同时被正常或异常的断电；步骤六、等待一定时间后（可自定义，例如30秒），测试主机给测试机发送“poweron”命令，通过网络控制模块或者USB控制模块控制继电器接通电源端口的线路，使得电源端通电，从而给整个测试机的供电；步骤七、测试机完成整个完整的上电过程，进入系统。在掉电测试过程，能够使被测对象SSD/HHD与测试机产生交互，SSD/HDD参与了完整的上电过程，而不只是简单的对SSD/HDD进行通断电；步骤八、进入系统后，运行校验测试脚本，进行数据检验，保证掉电前后本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.自带整机掉电功能的存储产品开放式综合测试平台，包括系统主机，以及与系统主机通过网络控制信号连接的网络控制模块，以及与系统主机通过USB控制信号连接的USB控制模块，其特征在于：所述网络控制模块通过网络控制信号分别连接有电源输出端口一、电源输出端口二、电源输出端口三和电源输出端口四，以及USB控制模块通过网络控制信号分别与电源输出端口一、电源输出端口二、电源输出端口三和电源输出端口四实现数据传输。2.根据权利要求1所述的自带整机掉电功能的存储产品开放式综合测试平台，其特征在于：所述系统主机的网络控制模块通过网络控制信号与电源输出端口一、电源输出端口二、电源输出端口三和电源输出端口四实现数据传输，以及电源输出端口一、电源输出端口二、电源输出端口三和电源输出端口四通过电源线与测试机电连接，用于测试。3.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员：蔡强，
申请(专利权)人：蔡强，
类型：发明
国别省市：