光学头和盘记录/再现装置制造方法及图纸

一种光学头，包括具有用于将来自盘形记录介质（１３）的反射光变换成电信号的光敏单元和光源的集成单元（９）、物镜（１１）、用于由在光敏单元根据反射光变换的电信号产生聚焦误差信号和跟踪误差信号的信号产生单元（１０２）、以及用于根据聚焦误差信号和跟踪误差信号控制跟踪线圈（１８ａ）和聚焦线圈（１８ｂ）的控制单元（１０１）。控制单元根据由跟踪线圈引起的在径向方向上物镜的位移量计算散焦量，并将根据散焦量产生的偏移信号加到聚焦误差信号上。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种用于将光点投影到盘形记录介质上并以光学方式记录/再现信息的光学头、盘记录/再现装置以及驱动物镜的方法。
技术介绍
近来，已经开发了各种记录/再现光盘、例如DVD、MD、CD和CR-R。与此相关联的是，已经增加了各种品种的用于播放光盘的光学头和光盘记录/再现装置，并在高性能、高质量和附加值上作出了努力。特别地，对采用以可记录磁光盘为代表的磁光记录介质的便携式盘记录/再现装置的需求趋于增多，因此需要进一步小型化、减小厚度、高性能和减小成本。已经报道了关于用于磁光记录介质的光学头和盘记录/再现装置的相关技术。下面将参考附图说明图12-16描述一种常规的用于磁光记录介质的光学头。图12-16显示了采用磁光盘作为磁光记录介质的例子。首先，参考图12和13描述光学头的示意性构造。图12是显示一个常规光学头的构造的分解立体图。图13是显示一个常规光学头的进给器的示意性构造的分解立体图。如图12所示，光学头的构造为在光学基座10上排列反射镜10、集成单元9、物镜驱动装置14、挠性电路35、螺母板所附着的盖板33和热辐射板4。集成单元9通过一个端子(未显示)与挠性电路35相连，连接是在将这些元件排列在光学基座19上之前进行的。物镜驱动装置14包括物镜支架12、基座15、悬架16、磁路17、聚焦线圈18a和跟踪线圈18b。物镜驱动装置14通过将电流加到聚焦线圈18a和跟踪线圈18b上而在磁光记录介质(磁光盘)的焦点方向和径向方向驱动物镜11。具体地，可以通过将电流加到聚焦线圈18a上来在焦点方向驱动物镜11。可以通过将电流加到跟踪线圈18b上来在径向方向驱动物镜11。物镜11被固定在物镜支架12上。用于将电流加到聚焦线圈18a和跟踪线圈18b的驱动电路以及用于控制这样施加的电流的控制电路被放置在一个独立于物镜驱动装置14、集成单元9等而提供的衬底(未显示)上。驱动电路和控制电路通过挠性电路35与聚焦线圈18a和跟踪线圈18b相连。此外，如图13所示，一个进给器被附着在图12所示的光学头43上。进给器的主要部件包括进给螺杆36、副轴37、进给马达38、齿轮39a、39b和轴承41。进给器被固定在一个机械基座42上。在图13中，机械基座42被示意性地显示。通过将进给螺杆36穿过螺母板40来将光学头43附着在机械基座42上。因此，当进给马达38旋转时，进给螺杆36在齿轮39a和39b中旋转，因此光学头43由进给螺杆36在箭头所示的光磁记录介质(未显示)的径向方向上移动。光学头43的位移量由齿轮39a与齿轮39b的齿轮比以及在齿轮比和进给螺杆36的螺距的基础上计算出的压缩比来确定。如上所述，光学头相对于磁光记录介质的位移是由物镜驱动装置14和进给器实现的。图14A-14C被用于描述图12和13所示的光学头从磁光记录介质的内圆周指向外圆周(径向方向上的移动)的操作。图14A是显示在径向方向驱动物镜的跟踪线圈中的驱动电流的波形的曲线图。图14B是显示在径向方向推送光学头的进给马达中的驱动电压的波形的曲线图。图14C是显示由磁光记录介质反射的光束在光电检测器上形成的光点的散焦量与时间或物镜的位移量之间的关系的曲线图。图14A中的术语“偏心校正量”表示当在驱动磁光记录介质的主轴马达的驱动轴的中心与磁光记录介质的中心之间产生偏移时加到跟踪线圈18b的校正电流。在相对于磁光记录介质记录或读取信息的情况下，首先将物镜11(参见图12和13)定位，使得光轴与光束的光轴基本一致。接着，如图14A所示将一个电流加到跟踪线圈18b上，使得物镜11跟踪磁光记录介质的磁道(参见图15)，因而物镜11在径向方向上移动。此时，如图14B所示，将一个对应于加到线圈18b上的电流值的电压加到进给马达38上。当跟踪磁道的动作不能利用线圈18b所引起的一个位移控制时，即，当如图14B所示的所加电压到达一特定电平时，进给马达38旋转。当进给马达38旋转时，如上所述，光学头43在磁光记录介质的圆周方向上与光学基座19一起移动由在齿轮39a与齿轮39b的齿轮比以及进给螺杆36的螺距的基础上计算出的压缩比确定的进给量。此时，由于物镜11到磁光记录介质的相对位置不改变，因此恰在由进给器引起位移之前(恰在进给马达38旋转之前)，物镜11相对于光学基座19在径向方向上的位移量最大。此外，恰在由进给器引起的位移之后物镜11相对于光学基座19(或光束的光轴)的相对位置偏差是一个通过从光学头(光学基座19)的进给量扣除恰在由进给器引起的位移之前物镜11相对于光学基座19在径向方向上的位移量。接着，下面将参考图15和16解释图12和13中所示的光学头的光学系统。图15A是从磁光记录介质的法线方向显示图12和13的光学头的光学路径的光学路径示意图，图15B是从垂直于磁光记录介质的法线方向的方向显示图12和13的光学头的光学路径的光学路径示意图。图16是显示组成图12和13所示的光学头的发光元件和光电检测器的示意图。下面首先描述组成光学头的集成单元。如图15A和15B所示，组成光学头的集成单元9包括在其上布置有半导体激光器2和光电检测器(未显示)的硅衬底1、由树脂形成的全息元件(衍射光栅)7以及复合元件8。复合元件8包括分束器8a、反射镜8b和偏振光分离器8c。热辐射板4通过银膏附着在硅衬底1的与带有半导体激光器2的表面相对的表面上，因此将在硅衬底1产生的热传导到热辐射板4。如图16所示，硅衬底1在具有半导体激光器2的表面上带有聚焦误差信号光接收单元24a和24b、跟踪误差信号光接收单元25和26以及信息信号光接收单元27。在各个光接收单元形成光电检测器。硅衬底1用作一个多分割的光电检测器。由各个光接收单元接收的光束由光电检测器变换成电信号，并通过输出部分3和端子5输出。减法器28和加法器29采用输出的电信号产生伺服信号、再现信号等。虽然自各个光电检测器的电信号的输出路径在图16中为了便于解释以单独的线来显示，但实际上来自各个光电检测器的电信号是通过输出部分3和端子5输出的。减法器28和加法器29被布置在一个衬底(未显示)上，该衬底的设置独立于与物镜驱动装置14和集成单元9(参见图12)。端子5通过挠性电路35(参见图12)连接到减法器28和加法器29。在图15A、15B和16中，标号6代表用于容纳硅衬底1、端子5和热辐射板4的树脂外壳。树脂外壳6由粘合剂固定在图12所示的光学基座19上。由于这个构造，如图15A和15B所示，从半导体激光器2发射出的激光束被全息元件7分离成多个光束。所分离出的光束的一部分被复合元件8的分束器8a所反射，剩余部分通过分束器8a。由分束器8a反射的光束进入激光监视光电检测器(未显示)，以便被变换成一个电信号。在这个电信号的基础上控制半导体激光器2的驱动电流。通过分束器8a的光束被反射镜10反射，进入固定在物镜支架(未显示)上的物镜11。通过物镜11将进入物镜11的多个光束在磁光记录介质(磁光盘)13的记录表面上会聚成一个直径为大约1微米的光斑32并反射。自磁光记录介质13的反射光沿同一路径返回，进入复合元件8，以便由分束器8a反射并分离。在来自磁光记录介质13的反射光束中，由分束器8a反射的光束进一步由反射镜8b反射，并进入偏本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光学头，包括：一光源，用于在盘形记录介质的记录表面上会聚来自该光源的光束的一物镜，用于在盘形记录介质的径向方向和聚焦方向驱动该物镜的一物镜驱动单元，用于接收由盘形记录介质的记录表面反射的光并将反射的光变换成电信号的光接收单元，以及，用于由在光接收单元变换的电信号产生聚焦误差信号和跟踪误差信号的信号产生单元；其中，　　　　将一个偏移信号加到该聚焦误差信号和该跟踪误差信号中的至少一个上，该偏移信号对应于由该物镜驱动单元引起的该物镜在径向方向上的位移量。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：中田秀辉，富田浩，田中徹，冈村公二，隅田胜利，
申请(专利权)人：松下电器产业株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]