激光功率控制装置和方法、光盘装置和记录方法制造方法及图纸

技术编号:3061553 阅读:142 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术披露了一种用在光盘装置中的激光功率控制装置,所述光盘装置用于将信息记录到至少具有第一层和第二层的光盘上。所述激光功率控制装置包括:功率控制部分,用于控制激光元件,以使激光束的功率接近控制目标电平;变化检测部分,用于检测光盘的记录条件已经改变;和功率调节部分,用于根据变化检测部分的输出调节用于第一层的记录薄膜的激光束的功率。功率调节部分根据已经针对第一层的记录薄膜调节过的激光束的功率确定用于第二层的记录薄膜的激光束的功率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种用在光盘装置中的激光功率控制装置和方法,所述光盘装置用于在具有多个层的光盘上记录信息,本专利技术还涉及一种用于在光盘上记录信息的光盘装置和一种用于将信息记录在光盘上的记录方法。
技术介绍
作为一种传统的用于调节光盘装置的激光束的功率的方法,已知的方法包括根据温度和光盘的径向位置调节激光束功率以及产生激光束功率的数据表的步骤。例如,日本公开文本NO.1-112551公开了一种使用数据表确定激光束的功率的方法。该传统技术将在下文中参考图12进行描述。图12是传统的用于将信息记录在光盘1上的光盘装置的结构的方框图。光盘1包括一个单层1a。层1a中提供有记录薄膜。光拾取器10将激光束会聚在层1a的记录薄膜上。从激光元件12中发射出来的激光束的一部分穿过反射板15,并被发射光检测器13检测。此外,由激光元件12发出的激光束被反射板15反射,穿过偏转全息元件16,被会聚透镜11会聚在光盘1的记录薄膜上。由光盘1的记录薄膜反射的激光束(反射光)穿过会聚透镜11,被偏转全息元件16偏转,穿过反射板15,并被反射光检测器14检测。AD转换器31对由发射光检测器13检测的激光束进行模数转换,所述AD转换器包括在DSP(数字信号处理器)30中。AD转换器31的输出输入到包含在DSP30内的功率控制部分32。功率控制部分32产生激光驱动值,以使被发射光检测器13检测到的激光束的功率接近控制目标电平,所述功率控制部分还根据激光驱动值控制激光元件12。例如,包含在DSP30之内的DA转换器33可以实现这种控制,所述DA转换器对功率控制部分32产生的激光驱动值进行数模转换,并将DA转换器33的输出传送到驱动电路2。控制目标电平由功率调节部分43确定,并设定于功率控制部分32中。驱动电路2根据DA转换器33的输出驱动激光元件12。包括在DSP30之内的AD转换器41对由反射光检测器14检测的激光束(即反射光)进行模数转换。AD转换器41的输出被传送到包括在DSP30内的不对称检测部分42。不对称检测部分42通过峰值电平Ipk、谷值电平Ibm和平均电平Iavg检测反射光的不对称度(Ipk+Ibm-2Iavg)/(Ipk-Ibm),并将指示反射光的不对称度的信号输出到功率调节部分43。功率调节部分43查找激光束的功率的最佳值,以使反射光的不对称度变为希望的数值(例如“0”)。下文将参考图13来详细描述用于调节激光束功率的方法的步骤。对光盘1的记录薄膜进行功率调节(S1)。例如,可以通过功率控制部分32控制激光元件12,使得具有根据预定控制目标电平而确定的功率的激光束照向光盘1,并通过功率调节部分43将控制目标电平调节为使来自光盘1的反射光的不对称度变为希望的值(例如“0”),从而实现这种功率调节。已经由功率调节部分43调节过的控制目标电平设定于功率控制部分32内。功率调节部分43用控制目标电平更新当前温度下的表值,所述控制目标电平已经被功率调节部分43调节过(S2)。确定温度是否已经改变(S3)。包含在DSP30内的AD转换器45对温度检测器17的输出进行模数转换。AD转换器45的输出被传送到功率调节部分43。功率调节部分43通过例如监测AD转换器45的输出确定温度是否已经改变。如果确定温度已经改变,则确定控制目标电平是否已经针对当前温度进行了调节(S4)。功率调节部分43通过例如检索RAM44的内容确定控制目标电平是否已被调节。如果确定控制目标电平已经经过调节,则功率调节部分43从存储在RAM44中的列表中读取与当前温度相应的控制目标电平(S5),并在功率控制部分32中设定控制目标电平(S6)。如果确定控制目标电平还没有经过调节,则将要处理的步骤返回到步骤S1。根据上述的用于调节激光束的功率的方法,有可能在由激光元件发射的激光束的功率由于温度的变化而发生改变时,针对记录过程调节激光束的功率,从而可以获得这样的再生信号所述信号使反射光的不对称度变为希望的值(例如“0”),所述温度的改变是由所使用的光盘装置所处的环境温度或光盘装置的操作过程中产生的热引起的。然而,在光盘具有多个含有信息记录薄膜的层(例如两个层)的情况下,根据传统记录方法,不能在所使用的光盘装置所处的环境温度已经发生改变的情况下,以最佳功率在除光盘的参考层之外的任何其它层的记录薄膜上记录信息。具体地说,即使响应于温度的改变产生并存储了针对一个层(即参考层)的数据表,也不可能产生针对参考层之外的任何其它层的数据表。为了产生针对参考层之外的其它层的数据表,需要在对参考层进行功率调节之后对参考层之外的其它层进行功率调节。在两个层之间进行移动以及通过记录/再生数据而对除参考层之外的其它层进行功率调节都需要花费时间,从而导致在进行功率调节方面需要花费两倍以上的时间。为了将运动画面连续记录在光盘上,需要以预定传输速率记录所述运动画面。因此,在进行功率调节同时暂时停止记录操作的时间周期内,运动画面的数据必须要存储在DRAM中。在功率调节上花费两倍以上的时间导致占用两倍以上的DRAM的容量,这使光盘装置的成本增加。
技术实现思路
根据本专利技术的一个方面,提供了一种用在光盘装置中的激光功率控制装置,所述光盘装置用于将信息记录到至少具有第一层和第二层的光盘上。所述激光功率控制装置包括功率控制部分,用于控制激光元件,以使激光束的功率接近控制目标电平;变化检测部分,用于检测光盘的记录条件已经改变;和功率调节部分,用于根据变化检测部分的输出调节用于第一层的记录薄膜的激光束的功率,其中,功率调节部分根据已经针对第一层的记录薄膜调节过的激光束的功率确定用于第二层的记录薄膜的激光束的功率。在本专利技术的一个实施例中,光盘装置包括用于以激光束照射光盘的光拾取器和用于驱动光拾取器的驱动电路,所述光拾取器包括激光元件和用于检测激光元件发出的激光的发射光检测器,功率控制部分产生激光驱动值,以使发射光检测器检测到的激光束的功率接近控制目标电平,所述功率控制部分还根据激光驱动值控制激光元件,功率调节部分通过调节被发射光检测器检测到的激光束的电平、控制目标电平以及激光驱动值的电平中的至少一个电平来调节用于第一层的记录薄膜的激光束的功率。在本专利技术的一个实施例中,功率调节部分确定用于第二层的记录薄膜的控制目标电平,所述用于第二层的记录薄膜的控制目标电平是用于第一层的记录薄膜的控制目标电平的函数。在本专利技术的一个实施例中,所述函数是用于第二层的记录薄膜的控制目标电平与用于第一层的记录薄膜的控制目标电平的比值。在本专利技术的一个实施例中,所述函数是线性函数或二次函数。在本专利技术的一个实施例中,所述函数记录在光盘的预定区域内。在本专利技术的一个实施例中,所述光盘还包括第三层,功率调节部分还确定用于第三层的记录薄膜的控制目标电平,所述用于第三层的记录薄膜的控制目标电平是用于第一层的记录薄膜的控制目标电平的函数,在确定用于第二层的记录薄膜的控制目标电平的过程中使用的函数不同于在确定用于第三层的记录薄膜的控制目标电平的过程中使用的函数。在本专利技术的一个实施例中,变化检测部分至少包括用于检测温度的温度检测部分、用于检测光盘的信息表面的正常方向与照向光盘的激光束的光轴方向之间的倾斜度的倾斜检测部分以及用于检测由光盘的保护层的厚度不同引本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种用在光盘装置中的激光功率控制装置,所述光盘装置用于将信息记录到至少具有第一层和第二层的光盘上,所述激光功率控制装置包括:功率控制部分,用于控制激光元件,以使激光束的功率接近控制目标电平;变化检测部分,用于检测光盘的记录条 件已经改变;和功率调节部分,用于根据变化检测部分的输出调节用于第一层的记录薄膜的激光束的功率,其中,功率调节部分根据已经针对第一层的记录薄膜调节过的激光束的功率确定用于第二层的记录薄膜的激光束的功率。

【技术特征摘要】
JP 2003-9-2 309790/031.一种用在光盘装置中的激光功率控制装置,所述光盘装置用于将信息记录到至少具有第一层和第二层的光盘上,所述激光功率控制装置包括功率控制部分,用于控制激光元件,以使激光束的功率接近控制目标电平;变化检测部分,用于检测光盘的记录条件已经改变;和功率调节部分,用于根据变化检测部分的输出调节用于第一层的记录薄膜的激光束的功率,其中,功率调节部分根据已经针对第一层的记录薄膜调节过的激光束的功率确定用于第二层的记录薄膜的激光束的功率。2.根据权利要求1所述的激光功率控制装置,其中,所述光盘装置包括用于以激光束照射光盘的光拾取器和用于驱动光拾取器的驱动电路,光拾取器包括激光元件和用于检测激光元件发出的激光的发射光检测器,功率控制部分产生激光驱动值,以使发射光检测器检测到的激光束的功率接近控制目标电平,所述功率控制部分还根据激光驱动值控制激光元件,和功率调节部分通过调节被发射光检测器检测到的激光束的电平、控制目标电平以及激光驱动值的电平中的至少一个电平来调节用于第一层的记录薄膜的激光束的功率。3.根据权利要求1所述的激光功率控制装置,其中,功率调节部分确定用于第二层的记录薄膜的控制目标电平,所述用于第二层的记录薄膜的控制目标电平是用于第一层的记录薄膜的控制目标电平的函数。4.根据权利要求3所述的激光功率控制装置,其中,所述函数是用于第二层的记录薄膜的控制目标电平与用于第一层的记录薄膜的控制目标电平的比值。5.根据权利要求3所述的激光功率控制装置,其中,所述函数是线性函数或二次函数。6.根据权利要求3所述的激光功率控制装置,其中,所述函数记录在光盘的预定区域内。7.根据权利要求1所述的激光功率控制装置,其中,所述光盘还包括第三层,功率调节部分还确定用于第三层的记录薄膜的控制目标电平,所述用于第三层的记录薄膜的控制目标电平是用于第一层的记录薄膜的控制目标电平的函数,在确定用于第二层的记录薄膜的控制目标电平的过程中使用的函数不同于在确定用于第三层的记录薄膜的控制目标电平的过程中使用的函数。8.根据权利要求1所述的激光功率控制装置,其中,变化检测部分至少包括用于检测温度的温度检测部分、用于检测光盘的信息表面的正常方向与照向光盘的激光束的光轴方向之间的倾斜度的倾斜检测部分以及用于检测由光盘的保护层的厚度不同引起的激光束的球差的球差部分中的一个,功率调节部分根据温度检测部分的输出、倾斜度检测部分的输出和球差部分的输出中的至少一个来调节用于第一层的记录薄膜的激光束的功率。9.根据权利要求1所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员:渡边克也冈田雄东海林卫
申请(专利权)人:松下电器产业株式会社
类型:发明
国别省市:JP[日本]

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