【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及例如光盘等、光学记录、再现信息的光学信息记录媒体、使用光学信息记录媒体的信息记录方法和信息记录装置。
技术介绍
近年来，作为光学记录信息的媒体被提案并开发了光盘、光卡、光磁带等。其中，光盘作为能大容量且高密度地记录、再现信息的媒体而被关注。在可改写型光盘的一个方式中，有相变型光盘。在相变型光盘中，为了得到期望的热、光学特性，通常形成除记录膜外、还使电介质膜、反射膜等组合的多层膜结构。用于该相变型光盘的记录膜基于激光的加热条件和冷却条件而变为非晶状态和结晶状态之一。在非晶状态和结晶状态之间具有可逆性。在上述非晶状态和结晶状态中，记录膜的光学常数(折射率和衰减系数)不同。在相变型光盘中，根据信息信号，在记录膜上选择地形成所述两个状态，利用作为结果生成的光学变化(透过率或反射率变化)，进行信息信号的记录、再现。 为了得到上述两个状态，用以下的方法来记录信息信号。将由光头汇聚的激光(功率电平Pp)脉冲状地照射于光盘的记录膜(将之称为记录脉冲)，使记录膜的温度上升。一旦温度超过熔点，则记录膜熔融，熔融部分在通过激光的同时，被迅速冷却，变为非晶状态的记录标记(或称为标记)。另外，将该功率电平Pp称为峰值功率。此外，若汇聚强度能使记录膜的温度上升到结晶温度以下、熔点以下的温度左右的激光(功率电平Pb，Pp＜Pb)并照射，则照射部的记录膜变为结晶状态。另外，将该功率电平Pb称为偏置功率。将这些峰值功率和偏置功率统称为记录功率。 由此，在光盘的轨道上，形成由对应于记录数据信号的非晶区域构成的记录标记、和由结晶区域的非标记部(称之为空隙)的记录图案。另外...
【技术保护点】
一种光学信息记录方法，在光学信息记录媒体上记录信息，其特征在于：包含：识别工序，识别所述光学信息记录媒体的信息记录条件或信息记录特性；和记录脉冲补偿工序，为了在预定位置上形成记录标记，补偿记录脉冲位置，在所述记录脉冲 补偿工序中，根据所述识别工序中识别的信息记录条件或信息记录特性，使所述记录脉冲位置的补偿精度不同。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】JP 2002-4-19 117247/20021、一种光学信息记录方法，在光学信息记录媒体上记录信息，其特征在于包含识别工序，识别所述光学信息记录媒体的信息记录条件或信息记录特性；和记录脉冲补偿工序，为了在预定位置上形成记录标记，补偿记录脉冲位置，在所述记录脉冲补偿工序中，根据所述识别工序中识别的信息记录条件或信息记录特性，使所述记录脉冲位置的补偿精度不同。2、根据权利要求1所述的光学信息记录方法，其特征在于使用具有两层以上信息层的光学信息记录媒体作为所述光学信息记录媒体，在所述识别工序之前，还包含信息层特定工序，在所述光学信息记录媒体中特定要记录信息的信息层，在所述识别工序中，识别有关由述信息层特定工序特定的信息层的信息记录条件或信息记录特性，在所述记录脉冲补偿工序中，根据所述识别工序中识别的信息记录条件或信息记录特性，使对由所述信息层特定工序特定的信息层而记录信息用的记录脉冲位置的补偿精度不同。3、根据权利要求1或2所述的光学信息记录方法，其特征在于使用具有测试记录区域的光学信息记录媒体作为所述光学信息记录媒体，还包含测试记录工序，使用由所述记录脉冲补偿工序补偿的记录脉冲，在所述测试记录区域中记录测试记录用图案；和补偿量确定工序，从所述测试记录区域再现测试记录用图案，根据再现结果，确定所述记录脉冲位置的补偿量。4、根据权利要求3所述的光学信息记录方法，其特征在于在所述补偿精度低的情况下，不进行所述记录脉冲位置的补偿，省略所述测试记录工序和补偿量确定工序。5、根据权利要求1-4之一所述的光学信息记录方法，其特征在于使用具有控制轨道区域的光学信息记录媒体作为所述光学信息记录媒体，所述识别工序包含识别符检测工序，从所述控制轨道区域再现信息，从再现的信息中，检测表示该光学信息记录媒体的信息记录条件或信息记录特性的识别符，在所述记录脉冲补偿工序中，根据由所述识别符检测工序检测的识别符表示的信息记录条件或信息记录特性，使所述记录脉冲位置的补偿精度不同。6、根据权利要求5所述的光学信息记录方法，其特征在于所述识别符检测工序中检测的识别符是表示该光学信息记录媒体的记录密度的识别符。7、根据权利要求5所述的光学信息记录方法，其特征在于所述识别符检测工序中检测的识别符是表示该光学信息记录媒体的记录再现特性的好坏的识别符。8、根据权利要求7所述的光学信息记录方法，其特征在于所述记录再现特性的好坏基于跳动或比特误差率的好坏、或重复记录再现特性的好坏。9、根据权利要求5所述的光学信息记录方法，其特征在于所述识别符检测工序中检测的识别符是表示该光学信息记录媒体的记录线速度的识别符。10、根据权利要求1或2所述的光学信息记录方法，其特征在于使用具有测试记录区域的光学信息记录媒体作为所述光学信息记录媒体，所述识别工序包含测试记录工序，向所述测试记录区域记录测试记录用图案；和特性判断工序，从所述测试记录区域再现测试记录用图案，测定再现信号的跳动或比特误差率，由此判断该光学信息记录媒体的信息记录特性，在所述记录脉冲补偿工序中，根据所述特性判断工序判断的信息记录特性，使所述记录脉冲位置的补偿精度不同。11、根据权利要求10所述的光学信息记录方法，其特征在于在所述特性判断工序中测定的跳动或比特误差率为一定值以上的情况下，在所述记录脉冲补偿工序中提高补偿精度。12、根据权利要求10所述的光学信息记录方法，其特征在于在所述特性判断工序中测定的跳动或比特误差率为一定值以下的情况下，在所述记录脉冲补偿工序中降低补偿精度。13、根据权利要求10-12之一所述的光学信息记录方法，其特征在于使用随机图案来作为所述测试记录用图案。14、根据权利要求10-13之一所述的光学信息记录方法，其特征在于还包含第2测试记录工序，使用由所述记录脉冲补偿工序补偿的记录脉冲，在所述测试记录区域记录第2测试记录用图案；和补偿量确定工序，从所述测试记录区域再现第2测试记录用图案，并根据再现结果，确定所述记录脉冲位置的补偿量。15、根据权利要求1-14之一所述的光学信息记录方法，其特征在于在所述记录脉冲补偿工序中，使用根据补偿精度来规定记录脉冲位置的补偿量的补偿表，补偿所述记录脉冲位置。16、根据权利要求15所述的光学信息记录方法，其特征在于在所述记录脉冲补偿工序中，在补偿精度高的情况下，使用规定记录脉冲位置的补偿量的要素数量比补偿精度低的情况下多的补偿表。17、根据权利要求16所述的光学信息记录方法，其特征在于在所述记录脉冲补偿工序中，在补偿精度低的情况、补偿精度高的情况下，使所述补偿表具有的多个要素中、规定数量的要素规定的补偿量彼此相等，由此实质上削减对应补偿表的要素数量。18、根据权利要求15所述的光学信息记录方法，其特征在于还包含如下工序，根据补偿精度，由预定的表要素数量和补偿分辨率，来设定各要素的值，由此生成所述补偿表。19、根据权利要求15所述的光学信息记录方法，其特征在于在所述记录脉冲补偿工序中，选择使用根据补偿精度预定的、要素数量彼此不同的多个补偿表中的一个。20、根据权利要求19所述的光学信息记录方法，其特征在于作为所述要素数量不同的多个补偿表，包含从以下(a)~(c)中选择的至少两个，(a)不管记录编码长度如何都规定一律的值来作为所述补偿量的补偿表、(b)规定依据记录编码长度的值来作为所述补偿量的补偿表、(c)规定依据记录编码长度与前编码长度的组合、及记录编码长度与后编码长度的组合的值来作为所述补偿量的补偿表。21、根据权利要求15所述的光学信息记录方法，其特征在于在所述记录脉冲补偿工序中，在补偿精度高的情况下，使用记录脉冲位置的补偿分辨率比补偿精度低的情况下高的补偿表。22、根据权利要求21所述的光学信息记录方法，其特征在于在所述记录脉冲补偿工序中，在补偿精度低的情况下，使用通过抽取所述补偿表的各要素值的设定步长，来将所述补偿分辨率规定得低的补偿表。23、根据权利要求1-22之一所述的光学信息记录方法，其特征在于对所述光学信息记录媒体的记录方式是标记边缘记录方式。24、根据权利要求1-22之一所述的光学信息记录方法，其特征在于对所述光学信息记录媒体的记录方式是标记位置记录方式。25、根据权利要求1-24之一所述的光学信息记录方法，其特征在于在所述记录脉冲补偿工序中，通过使前端脉冲的前边缘位置和后端脉冲的后边缘位置变化，补偿记录脉冲位置。26、根据权利要求1-24之一所述的光学信息记录方法，其特征在于在所述记录脉冲补偿工序中，通过使前端脉冲和后端脉冲本身的位置变化，补偿记录脉冲位置。27、一种光学信息记录装置，在光学信息记录媒体上记录信息，其特征在于配备识别单元，识别所述光学信息记录媒体的信息记录条件或信息记录特性；和记录脉冲补偿单元，为了在预定位置上形成记录标记，补偿记录脉冲位置，所述记录脉冲补偿单元根据所述识别单元识别的信息记录条件或信息记录特性，使所述记录脉冲位置的补偿精度不同。28、根据权...
【专利技术属性】
技术研发人员：鸣建治，西内健一，古川惠昭，
申请(专利权)人：松下电器产业株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]
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