光盘装置、存取方法、程序和半导体集成电路制造方法及图纸

提供有一种用于对具有至少一个轨迹的光盘进行存取的光盘装置，其中在所述至少一个轨迹中提供有至少一个预制凹坑。所述装置包括：一光照射部分，用于以光照射所述至少一个轨迹；一第一信号产生部分，用于检测从所述至少一个轨迹反射的光，并根据所述反射的光，产生包括表示所述至少一个预制凹坑的预制凹坑信号的第一信号；一第二信号产生部分，用于从所述第一信号除去阻止检测所述预制凹坑信号的信号分量以产生一第二信号；和一预制凹坑检测部分，用于根据所述第一信号和第二信号中的至少一个检测所述至少一个预制凹坑。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及一种用于对具有至少一个轨迹的光盘进行存取的光盘装置和存取方法、用于使计算机对光盘执行存取处理的程序、和用于对光盘执行存取处理的半导体集成电路。
技术介绍
传统的，光盘装置包括用于检测从轨迹中心一侧上的区域反射的光的检测装置，和用于检测从轨迹中心另一侧上的区域反射的光的检测装置，所述轨迹中心的一侧更靠近于光盘的外圆周(此后称作外圆周区域)，所述轨迹中心的另一侧更靠近于光盘的内圆周(此后称作内圆周区域)。为了检测光盘上形成的预制凹坑，传统的光盘装置调节由两个检测装置检测的两个检测信号中的每个幅度以减少阻止检测预制凹坑的信号分量。结果，预制凹坑的检测精度能够得以改善(参见，例如日本公开文本第2002-216363号(5-6页，图3和7)和日本公开文本第2003-30831号(6-10页，图5和11))。然而，在传统的光盘装置中，两个检测信号的幅度不能被独立的调节。例如，如果由于光拾取器的再现射束点的形状(尤其是，在半径方向上的射束点的形状)或光盘的扭曲(倾斜)使得两个检测信号的幅度发生变化，则两个检测信号的幅度就不能被独立调节。因此，阻止预制凹坑的检测的信号分量增加，且预制凹坑的检测精度明显下降，尤其是当以高速再现数据时。
技术实现思路
根据本专利技术的一个方面，提供有一种用于对具有至少一个轨迹的光盘进行存取的光盘装置，其中在所述至少一个轨迹中提供有至少一个预制凹坑。所述装置包括一光照射部分，用于以光照射所述至少一个轨迹；一第一信号产生部分，用于检测从所述至少一个轨迹反射的光，并根据所述反射的光，产生包括表示所述至少一个预制凹坑的预制凹坑信号的第一信号；一第二信号产生部分，用于从所述第一信号除去阻止检测所述预制凹坑信号的信号分量以产生一第二信号；和一预制凹坑检测部分，用于根据所述第一信号和第二信号中的至少一个检测所述至少一个预制凹坑。因此，能够实现上述目的。在本专利技术的一个实施例中，所述至少一个轨迹可以包括一位于所述轨迹中心的外圆周侧的外圆周区域和一位于所述轨迹中心的内圆周侧的内圆周区域。所述反射光可以包括从所述外圆周区域反射的第一反射光和从所述内圆周区域反射的第二反射光。所述第一信号产生部分可以包括一第一光检测信号产生部分，用于检测所述第一反射光，并根据所述检测的第一反射光产生一第一光检测信号；一第二光检测信号产生部分，用于检测所述第二反射光，并根据所述检测的第二反射光产生一第二光检测信号；和一差信号产生部分，用于根据所述第一光检测信号和所述第二光检测信号之间的差产生所述第一信号。在本专利技术的一个实施例中，所述差信号产生部分可以包括一调节部分，用于调节所述第一光检测信号的幅度和所述第二光检测信号的幅度中的至少一个使得第一光检测信号的幅度和第二光检测信号的幅度比为1∶1。在本专利技术的一个实施例中，所述光盘装置可进一步包括一反馈部分，用于将一预定的信号反馈给所述第一信号以使所述第二信号具有一预定的电位。在本专利技术的一个实施例中，所述反馈部分可以将所述预定的信号反馈给所述第一信号使得所述预定电位的值为所述第二信号的平均值。在本专利技术的一个实施例中，所述光盘装置可进一步包括一用于使所述反馈部分的输出值保持恒定的部分。在本专利技术的一个实施例中，所述第二信号产生部分可包括一同步信号产生部分，用于产生与出现所述信号分量的定时同步的同步信号；和一切换部分，用于根据所述同步信号在所述第一信号的输出和表示一预定参考值的第一参考信号的输出之间进行切换。在本专利技术的一个实施例中，所述至少一个轨迹可包括一位于所述轨迹中心的外圆周侧的外圆周区域和一位于所述轨迹中心的内圆周侧的内圆周区域。所述反射光包括从所述外圆周区域反射的第一反射光和从所述内圆周区域反射的第二反射光。所述第一信号产生部分可包括一第一光检测信号产生部分，用于检测所述第一反射光，并根据所述检测的第一反射光产生一第一光检测信号；一第二光检测信号产生部分，用于检测所述第二反射光，并根据所述检测的第二反射光产生一第二光检测信号。所述同步信号产生部分可包括一和信号产生部分，用于产生表示所述第一光检测信号和所述第二光检测信号的和的和信号；一二进制信号产生部分，用于根据所述和信号和表示一预定参考值的第二参考信号产生一二进制信号；和一单一多(mono-multi)部分，用于将所述二进制信号改变为单一-多信号以产生所述同步信号。在本专利技术的一个实施例中，所述至少一个轨迹包括一位于所述轨迹中心的外圆周侧的外圆周区域和一位于所述轨迹中心的内圆周侧的内圆周区域。所述反射光可包括从所述外圆周区域反射的第一反射光和从所述内圆周区域反射的第二反射光。所述第一信号产生部分可包括一第一光检测信号产生部分，用于检测所述第一反射光，并根据所述检测的第一反射光产生一第一光检测信号。一第二光检测信号产生部分，用于检测所述第二反射光，并根据所述检测的第二反射光产生一第二光检测信号。所述同步信号产生部分可包括一和信号产生部分，用于产生表示所述第一光检测信号和所述第二光检测信号的和的和信号；一滤波部分，用于对所述和信号进行滤波；和一二进制信号产生部分，用于根据所述滤波的和信号和表示一预定参考值的第三参考信号产生一二进制信号。在本专利技术的一个实施例中，所述第一参考信号可表示所述第二信号的平均值。在本专利技术的一个实施例中，所述同步信号产生部分可进一步包括一确定部分，用于确定所述光盘装置是否正在访问记录有数据的光盘区域。当所述确定装置确定所述光盘装置不是正在访问所述区域时，所述切换部分维持所述第一信号的输出。在本专利技术的一个实施例中，所述信号分量是通过光的调制产生的。所述信号分量可被叠加在所述第一信号上。在本专利技术的一个实施例中，所述至少一个轨迹可包括至少一个形成区域，在该区域中提供有至少一个记录标记。所述信号分量可以是由从所述至少一个形成区域反射的光的反射率和从所述至少一个形成区域之外的区域反射的光的反射率之间的差产生的。所述信号分量可被叠加在所述第一信号上。在本专利技术的一个实施例中，所述预制凹坑检测部分可参照根据所述第一信号产生的取样保持信号检测所述至少一个预制凹坑。在本专利技术的一个实施例中，所述预制凹坑检测部分可参照根据所述第二信号产生的取样保持信号检测所述至少一个预制凹坑。在本专利技术的一个实施例中，所述预制凹坑检测部分可参照根据所述第二信号的平均值产生的取样保持信号检测所述至少一个预制凹坑。根据本专利技术的另一个方面，提供有一种用于对具有至少一个轨迹的光盘进行存取的存取方法，其中在所述至少一个轨迹中提供有至少一个预制凹坑。所述方法包括用光照射所述至少一个轨迹；检测从所述至少一个轨迹反射的光，并根据所述反射的光，产生包括表示所述至少一个预制凹坑的预制凹坑信号的第一信号；从所述第一信号除去阻止检测所述预制凹坑信号的信号分量以产生一第二信号；和根据所述第一信号和第二信号中的至少一个检测所述至少一个预制凹坑。因此，上述的目的被实现。根据本专利技术的另一个方面，提供有一种用于使计算机执行一存取处理的程序，所述存取处理用于对具有至少一个轨迹的光盘进行存取，其中在所述至少一个轨迹中提供有至少一个预制凹坑。所述存取处理包括用光照射所述至少一个轨迹；检测从所述至少一个轨迹反射的光，并根据所述反射的光，产生包括表示所述至少一个预制凹坑的预制凹坑信号的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于对具有至少一个轨迹的光盘进行访问的光盘装置，其中在所述至少一个轨迹中提供有至少一个预制凹坑，所述装置包括：一光照射部分，用于以光照射所述至少一个轨迹；一第一信号产生部分，用于检测从所述至少一个轨迹反射的光，并根据所述 反射的光，产生包括表示所述至少一个预制凹坑的预制凹坑信号的第一信号；一第二信号产生部分，用于从所述第一信号除去阻止检测所述预制凹坑信号的信号分量以产生一第二信号；和一预制凹坑检测部分，用于根据所述第一信号和第二信号中的至少一 个检测所述至少一个预制凹坑。

【技术特征摘要】
JP 2003-10-15 355437/031.一种用于对具有至少一个轨迹的光盘进行访问的光盘装置，其中在所述至少一个轨迹中提供有至少一个预制凹坑，所述装置包括一光照射部分，用于以光照射所述至少一个轨迹；一第一信号产生部分，用于检测从所述至少一个轨迹反射的光，并根据所述反射的光，产生包括表示所述至少一个预制凹坑的预制凹坑信号的第一信号；一第二信号产生部分，用于从所述第一信号除去阻止检测所述预制凹坑信号的信号分量以产生一第二信号；和一预制凹坑检测部分，用于根据所述第一信号和第二信号中的至少一个检测所述至少一个预制凹坑。2.根据权利要求1所述的光盘装置，其中所述至少一个轨迹包括一所述轨迹中心的外圆周侧上的外圆周区域和一所述轨迹中心的内圆周侧上的内圆周区域；所述反射光包括从所述外圆周区域反射的第一反射光和从所述内圆周区域反射的第二反射光；和所述第一信号产生部分包括一第一光检测信号产生部分，用于检测所述第一反射光，并根据所述检测的第一反射光产生一第一光检测信号；一第二光检测信号产生部分，用于检测所述第二反射光，并根据所述检测的第二反射光产生一第二光检测信号；和一差信号产生部分，用于根据所述第一光检测信号和所述第二光检测信号之间的差产生所述第一信号。3.根据权利要求2所述的光盘装置，其中所述差信号产生部分包括一调节部分，用于调节所述第一光检测信号的幅度和所述第二光检测信号的幅度中的至少一个使得第一光检测信号的幅度与第二光检测信号的幅度比为1∶1。4.根据权利要求1所述的光盘装置，进一步包括一反馈部分，用于将一预定的信号反馈给所述第一信号以使所述第二信号具有一预定的电位。5.根据权利要求4所述的光盘装置，其中所述反馈部分将所述预定的信号反馈给所述第一信号使得所述预定电位的值为所述第二信号的平均值。6.根据权利要求4所述的光盘装置，进一步包括一用于使所述反馈部分的输出值保持恒定的部分。7.根据权利要求4所述的光盘装置，其中所述第二信号产生部分包括一同步信号产生部分，用于产生与出现所述信号分量的定时同步的同步信号；和一切换部分，用于根据所述同步信号在所述第一信号的输出和表示一预定参考值的第一参考信号的输出之间进行切换。8.根据权利要求7所述的光盘装置，其中所述至少一个轨迹包括一所述轨迹中心的外圆周侧上的外圆周区域和一所述轨迹中心的内圆周侧上的内圆周区域；所述反射光包括从所述外圆周区域反射的第一反射光和从所述内圆周区域反射的第二反射光；和所述第一信号产生部分包括一第一光检测信号产生部分，用于检测所述第一反射光，并根据所述检测的第一反射光产生一第一光检测信号；一第二光检测信号产生部分，用于检测所述第二反射光，并根据所述检测的第二反射光产生一第二光检测信号；所述同步信号产生部分包括一和信号产生部分，用于产生表示所述第一光检测信号和所述第二光检测信号的和的和信号；一二进制信号产生部分，用于根据所述和信号和表示一预定参考值的第二参考信号产生一二进制信号；和一单一-多部分，用于将所述二进制信号改变为单一-多信号以产生所述同步信号。9.根据权利要求7所述的光盘装置，其中所述至少一个轨迹包括一所述轨迹中心的外圆周侧上的外圆周区域和一所述轨迹中心的内圆周侧上的内圆周区域；所述反射光包括从所述外圆周区域反射的第一反射光和从所述内圆周区域反射的第二...

【专利技术属性】
技术研发人员：中尾政仁，桥本清一，
申请(专利权)人：松下电器产业株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]