用于使用临时缺陷信息(TDFL)和临时缺陷管理信息(TDDS)来管理盘缺陷的方法和设备技术

技术编号:3059691 阅读:133 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
提供了一种具有由用于管理在盘上的缺陷的设备使用的可更新的缺陷管理区的盘,该盘包括:用户数据区,其包括用户数据;备用区,其是用于在用户数据区中存在的缺陷的替换数据;和一个区,在其中记录了在用户数据区中最后记录的数据的地址和在备用区中记录的替换数据的地址。因此,该盘缺陷管理方法和设备可应用于如一次性写入盘的可记录盘,同时有效地使用该盘的缺陷管理区。(*该技术在2023年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及盘缺陷管理,更具体地讲,涉及一种用于使用临时缺陷管理区(TDMA)管理其中的缺陷的方法和设备,以及一种具有用于管理其上的缺陷的TDMA的盘。
技术介绍
盘缺陷管理是将存储在存在缺陷的盘的用户数据区的数据重新写入到该盘的数据区的新部分,由此补偿否则由缺陷引起的数据损失。通常,使用线性替换方法或滑移替换方法来执行盘缺陷管理。在线性替换方法中,在其中存在缺陷的用户数据区用无缺陷的备用数据区来替换。在滑移替换方法中,具有缺陷的用户数据区被滑过并且下一个无缺陷的用户数据区被使用。然而,线性替换方法和滑移替换方法都只能应用于在其上数据可重复地被记录并且可使用随机访问方法执行记录的可重写盘,如DVD-RAM/RW。换言之,难于将线性替换方法和滑移替换方法应用于在其上记录只被允许一次的一次性写入盘。通常,通过在盘上记录数据并确认数据是否已经正确地被记录在盘上来检测盘上缺陷的存在。然而,一旦数据被记录在一次性写入盘上,就不可能盖写新数据并管理其中的缺陷。在开发了CD-R和DVD-R之后,引入了具有几十个GB记录容量的高密度一次性写入盘。由于这种类型的盘便宜并且允许随机访问以实现快速记录操作,所以它可以被用作备份盘。然而,由于盘缺陷管理对于一次性写入盘是不可用的,所以当在备份操作期间检测到缺陷区(即,存在缺陷的区)时,备份操作可中止。另外,由于当不频繁地使用系统时(例如,在晚上当系统管理员不操作该系统时),通常执行备份操作,所以很可能由于检测到一次性写入盘的缺陷区备份操作将被停止并保持中止。
技术实现思路
本专利技术提供了一种在其上管理缺陷的一次写入性盘、以及可用于该一次写入性盘的盘缺陷管理方法和设备。本专利技术还提供了一种在其上管理缺陷的一次性写入盘,以及一种即使当在记录操作期间检测到缺陷时,允许记录操作无中断执行的可以管理在盘上的盘缺陷的盘缺陷管理方法及设备。将在接下来的描述中部分阐述本专利技术另外的方面和/或优点,还有一部分通过描述将是清楚的,或者可以经过本专利技术的实施而得知。根据本专利技术的一方面,盘包括用户数据区,用户数据被记录在其中;备用区,其包括在其中记录用于记录在存在于用户数据区中的缺陷区中的用户数据的部分的替换数据的替换区;和一个区,在其中记录在用户数据区中最后记录的数据的地址和记录在备用区中的替换数据的地址。根据本专利技术的一方面,盘还包括临时缺陷管理区,其包括对每个记录操作记录的临时缺陷信息和临时缺陷管理信息以被用于盘缺陷管理,其中,临时缺陷管理区是包括在用户数据区中最后记录的数据的地址和在备用区中记录的替换数据的地址的区。根据本专利技术的另一专利技术,提供了一种管理在盘中的缺陷的方法,包括将用户数据记录在用户数据区中;将被记录在存在缺陷的用户数据区的缺陷区中的用户数据再次记录在盘的备用区中,以产生用于记录在缺陷区中的用户数据的部分的替换数据;和将在用户数据区中最后记录的数据的地址和在备用区中记录的替换数据的地址记录在临时缺陷管理区中,该临时缺陷管理区被形成以执行盘缺陷管理。根据本专利技术的另一方面,提供了一种记录和/或再现设备,包括记录/读单元,其将数据记录在盘上或从盘上读取数据;和控制器,其控制记录/读单元以将用户数据记录在盘的用户数据区中,控制记录/读单元以将记录在用户数据区的缺陷区中的用户数据的部分作为替换数据再次记录在备用区中,并且控制记录/读单元以将在用户数据区中最后记录的数据的地址和在备用区中最后记录的替换数据的地址记录在被形成以执行盘缺陷管理的临时缺陷管理区中。附图说明通过结合附图对本专利技术的实施例进行详细描述,本专利技术的以上和/或其它方面和优点将会变得更加清楚,其中图1是根据本专利技术实施例的记录设备的方框图;图2A和2B示出了根据本专利技术实施例的盘的结构;图3A示出了根据本专利技术实施例的图2A和2B中的盘的数据结构;图3B示出了具有如图3A所示的缺陷管理区(DMA)和临时DMA(TDMA)的盘的数据结构;图4A至4D示出了根据本专利技术实施例的TDMA的数据结构;图5A示出了根据本专利技术实施例的临时缺陷信息(TDFL)#i的数据结构;图5B示出了根据本专利技术另一实施例的临时缺陷信息(TDFL)#i的数据结构;图6示出了根据本专利技术实施例的临时缺陷管理信息(TDDS)#i的数据结构;图7示出了解释根据本专利技术实施例的在用户数据区A和备用区B中的数据的记录的示图;图8是示出根据本专利技术实施例的数据区的有效使用的示图;图9A和9B示出根据如图7所示的数据的记录记录的TDFL#1和TDFL#2的数据结构;图10示出关于缺陷#i的信息的数据结构;图11是示出根据本专利技术实施例的盘缺陷管理方法的流程图;和图12是示出根据本专利技术另一实施例的盘缺陷管理方法的流程图。具体实施例方式现在将详细地描述本专利技术的实施方式,其例子示出在附图中,其中,相同的标号始终表示同一部件。以下,通过参考附图来描述实施例以解释本专利技术。图1是根据本专利技术实施例的记录和/或再现设备的方框图。参照图1,记录和/或再现设备包括记录/读单元1、控制器2和存储器3。记录/读单元1将数据记录在根据本专利技术实施例的信息存储介质的盘100上,并从盘100读回该数据以校验记录的数据的准确性。控制器2执行根据本专利技术的实施例的盘缺陷管理。在示出的实施例中,控制器2使用写入后校验(verify-after-write)的方法,在该方法中,数据以数据的预定单元被记录在盘100上,并且校验记录的数据的准确性以检测盘100的区是否存在缺陷。换言之,控制器2以记录操作为单位将用户数据记录在盘100上,并且校验记录的用户数据以检测存在缺陷的盘100的区。其后,控制器2创建指示具有缺陷的区的位置的信息并将该创建的信息存储在存储器3中。当存储的信息的量达到预定水平或写入后校验操作被执行预定次数时,控制器2将存储的信息作为临时缺陷信息记录在盘100上。根据本专利技术的一方面,记录操作是根据用户的意图确定的工作单位或将被执行的记录工作。根据示出的实施例,记录操作指示在其中盘100被载入记录和/或再现设备,数据被记录在盘100上,并且将盘100从记录设备中取出的过程。然而,可以理解记录操作也可被另外定义。在记录操作期间,至少一次记录用户数据并校验。通常,尽管不必需,但数据被记录并校验几次。使用写入后校验的方法获得的缺陷信息作为临时缺陷信息被临时地存储在存储器3中。当在记录数据后用户按住记录和/或再现设备的弹出按钮(未示出)以将盘100移走时,控制器2预料记录操作将被终止。控制器2从存储器3读取信息,将其提供至记录/读单元1,并控制记录/读单元1将其记录在盘100上。当数据的记录完成(即,将不在盘100上记录其它数据并且盘100需要被完成)时,控制器2控制记录/读单元1以将记录的临时缺陷信息和临时缺陷管理信息作为缺陷管理信息重新写入到盘100的缺陷管理区(DMA)。在再现期间,记录和/或再现设备利用在缺陷管理区和/或临时缺陷管理区中的缺陷信息和缺陷管理信息以访问记录的用户数据。尽管根据如图1所示的记录和/或再现设备描述,但可以理解该设备可以是单独地记录或再现设备,或记录和再现设备。图2A和2B示出了根据本专利技术实施例的图1中盘100的结构。图2A详细示出了具有记录层L0的盘100的单记录层盘代表。盘100包括导入区本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于记录和/或再现设备的盘,该盘包括:用户数据区,用户数据被记录在其中;备用区,在用户数据区之外并且包括用于存在于用户数据区中的缺陷区的替换区;和地址区,包括作为在用户数据区中最后记录的最后数据的地址和在备用区中 记录的替换数据的地址,并且其通过记录和/或再现设备被访问。

【技术特征摘要】
KR 2002-10-18 10-2002-0063850;KR 2002-12-13 10-2001.一种用于记录和/或再现设备的盘,该盘包括用户数据区,用户数据被记录在其中;备用区,在用户数据区之外并且包括用于存在于用户数据区中的缺陷区的替换区;和地址区,包括作为在用户数据区中最后记录的最后数据的地址和在备用区中记录的替换数据的地址,并且其通过记录和/或再现设备被访问。2.根据权利要求1所述的盘,还包括临时缺陷管理区,其包括用于通过记录和/或再现设备使用以执行盘缺陷管理的多个记录操作中的每个记录的临时缺陷信息和临时缺陷管理信息,其中,临时缺陷管理信息区包括地址区。3.根据权利要求1所述的盘,还包括记录层,其中,数据的地址和替换区的地址被彼此对应的记录在记录层中。4.根据权利要求2所述的盘,其中,临时缺陷信息和临时缺陷管理信息中的至少一个被重复地记录在盘上。5.根据权利要求2所述的盘,除了用户数据区和备用区之外还包括导入区和导出区中的至少一个,其中,在导入区和导出区中的至少一个中形成了临时缺陷管理区。6.根据权利要求2所述的盘,其中,临时缺陷管理区还包括临时缺陷信息的记录位置的指针。7.根据权利要求2所述的盘,其中,临时缺陷管理信息对应于临时缺陷信息被记录在临时缺陷管理区中,在其中用户数据被记录在用户数据区中的多个记录操作中的每个记录临时缺陷信息。8.根据权利要求2所述的盘,其中,临时缺陷信息包括缺陷位置指针,其指向在用户数据区中的缺陷区的位置;和替换位置指针,其指向替换在缺陷区中记录的用户数据的部分的替换数据的位置。9.根据权利要求8所述的盘,其中,临时缺陷信息还包括指定缺陷区的状态的状态信息。10.根据权利要求9所述的盘,其中,状态信息指定该缺陷是延伸超过一个块的连续缺陷块还是单个缺陷块。11.根据权利要求9所述的盘,其中,状态信息指定缺陷区在超过一个块的连续缺陷块中,并且对应的缺陷位置指针和替换位置指针分别指示缺陷区的开始位置和替换数据的开始位置。12.根据权利要求9所述的盘,其中,状态信息指定缺陷区在超过一个块的连续缺陷块中,并且对应的缺陷位置指针和替换位置指针分别指示缺陷区的结束位置和替换数据的结束位置。13.根据权利要求1所述的盘,还包括缺陷管理区,其形成在导入区和导出区的至少一个中,其中,缺陷管理区还包括在盘的完成期间,分别作为缺陷信息和缺陷管理信息记录的最后记录的临时缺陷信息和最后记录的临时缺陷管理信息,并且最后记录的临时缺陷信息和最后记录的临时缺陷管理信息包括在临时缺陷管理区中最后记录的临时缺陷信息和临时缺陷管理信息。14.根据权利要求13所述的盘,还包括多个缺陷管理区。15.一种管理在盘中的缺陷的方法,该盘包括用户数据区和除了用户数据区之外的备用区,该方法包括将用户数据记录在用户数据区中;将记录在存在缺陷的用户数据区的缺陷区中的用户数据再次记录在备用区中以产生在缺陷区记录的用户数据的替换数据;和将在用户数据区中最后记录的最后用户数据的地址和在备用区中记录的最后替换数据的地址记录在在盘上的临时缺陷管理区中以执行盘缺陷管理。16.根据权利要求15所述的方法,其中,记录地址还包括将最后记录的数据的地址和最后记录的替换数据的地址彼此对应的记录在盘的记录层中。17.根据权利要求15所述的方法,其中,记录地址还包括将最后记录的数据的地址和最后记录的替换数据的地址作为临时缺陷信息记录在临时缺陷管理区中。18.根据权利要求17所述的方法,其中,记录地址还包括重复地记录临时缺陷信息。19.根据权利要求17所述的方法,其中,记录地址还包括将指向缺陷区的缺陷位置指针和指向替换数据的位置的替换位置指针记录在临时缺陷信息中。20.根据权利要求17所述的方法,其中,记录地址还包括将指定缺陷区的状态的状态信息记录在临时缺陷信息中。21.根据权利要求20所述的方法,其中,记录地址还包括将指定缺陷区是延伸超过一个块的连续缺陷块还是单个缺陷块的块信息记录在状态信息中。22.根据权利要求21所述的方法,其中,记录地址还包括将指定缺陷区是连续缺陷块的块信息、和分别指示缺陷区的开始位置和替换数据的开始位置的对应的缺陷位置指针和替换位置指针记录。23.根据权利要求21所述的方法,其中,记录地址还包括将指定缺陷区是连续缺陷块的块信息、和分别指示缺陷区的结束位置和替换数据的结束位置的对应的缺陷位置指针和替换位置指针记录。24.一种使用具有用户数据区、和除了用户数据区之外的临时缺陷管理区和备用区的盘的记录和/或再现设备,该设备包括记录/读单元,其将数据记录在盘上或从盘上读取数据;和控制器,其控制记录/读单元将用户数据记录在盘的用户数据区中,将记录在用户数据区的缺陷区中的用户数据再次记录在备用区中以产生记录在缺陷区中的用户数据的替换数据,和将在用户数据区中最后记录的最后数据的地址、和在备用区中最后记录的最后替换数据的地址记录在临时缺陷管理区中,该临时缺陷管理区由该设备使用以针对该盘执行盘缺陷管理。25.根据权利要求24所述的记录和/或再现设备,其中,控制器还控制记录/读单元以将在盘的记录层中的最后记录的数据的地址和最后记录的替换数据的地址记录,从而该地址彼此对应。26.根据权利要求24所述的记录和/或再现设备,其中,控制器还控制记录/读单元以将在盘的记录层中的最后记录的数据的地址和最后记录的替换数据的地址作为临时缺陷信息记录在临时缺陷管理区中。27.根据权利要求26所述的记录和/或再现设备,其中,控制器还控制记录/读单元以将临时缺陷信息重复地记录在盘上。28.根据权利要求26所述的记录和/或再现设备,其中,控制器还控制记录/读单元以将指向缺陷区的缺陷位置指针和指向替换数据的位置的替换位置指针记录在临时缺陷信息中。29.根据权利要求26所述的记录和/或再现设备,其中,控制器还控制记录/读单元以将指定缺陷区的状态的状态信息记录在临时缺陷信息中。30.根据权利要求29所述的记录和/或再现设备,其中,控制器还控制记录/读单元以将指定缺陷区是延伸超过一个块的连续缺陷块还是单个缺陷块的块信息记录在状态信息中。31.根据权利要求29所述的记录和/或再现设备,其中,控制器还控制记录/读单元以将指定缺陷区是延伸超过一个块的连续缺陷块的块信息、和分别指示缺陷区的开始位置和替换数据的开始位置的对应的缺陷位置指针和替换位置指针记录在状态信息中。32.根据权利要求29所述的记录和/或再现设备,其中,控制器还控制记录/读单元以将指定缺陷区是延伸超过一个块的连续缺陷块的块信息、和分别指示缺陷区的结束位置和替换数据的结束位置的对应的缺陷位置指针和替换位置指针记录在状态信息中。33.根据权利要求1所述的盘,其中,盘是具有在数据被记录在盘的区上之后防止新数据被写入该盘的该区的属性的一次性写入存储介质。34.根据权利要求15所述的方法,其中,盘是具有在数据被记录在盘的区上之后防止新数据被写入该盘的该区的属性的一次性写入存储介质。35.根据权利要求24所述的记录和/或再现设备,其中,盘是具有在数据被记录在盘的区上之后防止新数据被写入该盘的该区的属性的一次性写入存储介质。36.一种用于记录和/或再现设备的存储介质,该存储介质包括用户数据区,用户数据被记录在其中,该用户数据区包括第一缺陷区;和管理区,在用户数据区之外并且包括第一临时缺陷信息区,该第一临时缺陷信息区对应于第一缺陷区并且包括关于第一缺陷区的第一临时缺陷信息和包括第一临时缺陷信息的第一临时缺陷信息副本,其中,管理区通过记录和/或再现设备访...

【专利技术属性】
技术研发人员:黄盛凞高祯完李坰根
申请(专利权)人:三星电子株式会社
类型:发明
国别省市:KR[韩国]

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1