一种老化测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种老化测试装置，用于发光元件，其中，包括母板和子板，所述子板可拆卸设置于所述母板上，且所述子板上设有所述发光元件；所述子板与所述母板电连接，所述子板用于向所述发光元件输入电信号。本申请的老化测试装置通过设置与母板可拆卸设置的子板电连接来对子板上的发光元件进行老化测试，可以自由选择不同尺寸的子板与母板连接，使测试过程中不仅驱动电流和环境温度可控，还可以进一步控制发光元件的散热条件。步控制发光元件的散热条件。步控制发光元件的散热条件。

【技术实现步骤摘要】
一种老化测试装置


[0001]本技术涉及半导体检测
，特别是涉及一种老化测试装置。

技术介绍

[0002]目前，半导体行业的发展日新月异，随着发光二极管(Light Emitting Diode，简称LED)技术的不断研究，LED灯珠的性能趋于小尺寸，低能耗，长寿命等等，在新型的LED灯珠投入使用之前，往往需要测试其性能，现在常见的LED灯珠老化测试大多是将LED灯珠固定在灯条或特定测试板上老化，通过控制驱动电流和环境温度来控制LED灯珠内部晶片的结温(junction temperature，简称TJ温度)，进而测试LED灯珠在不同TJ温度下的老化性能。
[0003]但是，现有的测试装置只能控制驱动电流和环境温度等影响因素，对每个灯珠的散热条件控制不够精确，故不能准确测试LED灯珠的TJ温度。
[0004]因此，现有技术还有待于改进和发展。

技术实现思路

[0005]鉴于上述现有技术的不足，本技术的目的在于提供一种老化测试装置，旨在解决测试装置只能控制驱动电流和环境温度，不能更准确地控制LED灯珠的散热条件的问题。
[0006]本技术的技术方案如下：
[0007]一种老化测试装置，用于发光元件，其中，包括母板和子板，所述子板可拆卸设置于所述母板上，且所述子板上设有所述发光元件；所述子板与所述母板电连接，所述子板用于向所述发光元件输入电信号。
[0008]所述的老化测试装置，其中，所述母板上设有连接座，所述子板上与所述连接座相对的位置设有连接头，所述连接头与所述连接座可拆卸卡接。
[0009]所述的老化测试装置，其中，所述连接座设有多个，多个所述连接座均匀分布在所述母板上。
[0010]所述的老化测试装置，其中，多个所述连接座交错设置在所述母板上。
[0011]所述的老化测试装置，其中，所述母板上设有一条电路走线，多个所述连接座均设置在所述电路走线上。
[0012]所述的老化测试装置，其中，所述子板设置有多个，多个所述子板上的所述发光元件均朝向所述母板的同一侧设置。
[0013]所述的老化测试装置，其中，所述母板所在的平面与所述子板所在的平面之间的夹角为0
‑
90
°
。
[0014]所述的老化测试装置，其中，所述发光元件设置于所述子板的中心位置。
[0015]所述的老化测试装置，其中，所述母板为印制电路板；和/或，所述子板为印制电路板。
[0016]所述的老化测试装置，其中，所述发光元件为OLED灯珠、mini LED灯珠、Micro LED灯珠中的一种或多种。
[0017]与现有技术相比，本技术实施例具有以下优点：
[0018]本申请的老化测试装置工作时，通过母板与子板电连接，控制驱动电流的大小，并且与测试装置周围的温度配合，从而共同控制LED灯珠的工作温度；特别的，本申请中发光元件是设置在子板上的，子板的面积大小对发光元件的散热速度产生直接的影响，进而会影响LED灯珠的实时的工作温度，所以，通过在母板上可拆卸地设置尺寸自由的子板，可增加对LED灯珠的老化测试中散热条件的影响，进而可与控制驱动电流和测试装置周围的温度等方式配合共同控制LED灯珠的TJ温度，增加了测试过程中的控制变量，以便更加精确地测试LED灯珠的老化特性；另外，母板可以通用，便于标准化管理。
附图说明
[0019]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0020]图1为本技术中老化测试装置的结构示意图。
[0021]其中，10、母板；11、连接座；20、子板；21、连接头；30、发光元件。
具体实施方式
[0022]为了使本
的人员更好地理解本技术方案，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述，显然，所描述的实施例仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0023]现有技术中半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明、大功率电源转换等领域都有应用，无论从科技或是经济发展的角度来看，进入21世纪以后，半导体的重要性都是非常巨大的。发光二极管是半导体行业中一种常用的发光器件，通过电子与空穴复合释放能量发光，与传统灯具相比，LED灯的节能、环保、显色性与响应速度好，所以LED灯的应用前景非常好，现在人们在LED显示技术上也进行大量的研究投入，近年来mini LED显示技术和Micro LED显示技术这样的新技术的出现更进一步推进了LED显示面板、LED显示屏等显示设备的使用。
[0024]不管是有机发光二极管(Organic Light
‑
Emitting Diode，简称OLED)技术，mini LED技术，还是Micro LED技术，LED灯珠作为最基础的发光单元，其物理性质和化学性质的稳定都是十分关键的。在研发过程中新型的LED灯珠可能具有更好的稳定性、更高的亮度、更优的抗老化性等等性能，这些性能在正式投入使用之前都需要检测。现有的检测LED灯珠的老化性能的装置一般是通过将LED灯珠固定在灯条或特定的测试板上进行老化，通过控制驱动电流和LED灯珠周围的环境温度来控制LED灯珠的TJ温度，进而使LED灯珠可以在不同TJ温度下老化，从而测试LED灯珠的老化性能。
[0025]但是，仅仅控制LED灯珠的驱动电流和LED灯珠周围的环境温度无法实现对LED灯珠的工作温度的完全控制，仍然存在不能精确控制每个灯珠的散热条件，无法更加准确地测试LED灯珠的老化性能的问题。
[0026]需要说明的是，在本申请的实施例中公开的所述发光元件为OLED灯珠、mini LED灯珠、Micro LED灯珠中的一种或多种。本申请的老化测试装置可适用OLED显示设备、mini LED显示设备、Micro LED显示设备等等制造工艺中各种半导体灯珠的老化测试。
[0027]参阅图1，本技术申请的一实施例中，公开了一种老化测试装置，用于发光元件30，其中，包括母板10和子板20，所述子板20可拆卸设置于所述母板10上，且所述子板20上设有所述发光元件30；所述子板20与所述母板10电连接，所述子板20用于向所述发光元件30输入电信号。
[0028]本申请的老化测试装置工作时，通过母板10与子板20电连接，控制驱动电流的大小，并且与测试装置周围的温度配合，从而共同控制发光元件30的工作温度；特别的，本申请中发光元件30是设置在子板20上的，子板20的面积大小对发光元件30的散热速本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种老化测试装置，用于发光元件，其特征在于，包括：母板；子板，可拆卸设置于所述母板上，且所述子板上设有所述发光元件；其中，所述子板与所述母板电连接，所述子板用于向所述发光元件输入电信号。2.根据权利要求1所述的老化测试装置，其特征在于，所述母板上设有连接座，所述子板上与所述连接座相对的位置设有连接头，所述连接头与所述连接座可拆卸卡接。3.根据权利要求2所述的老化测试装置，其特征在于，所述连接座设有多个，多个所述连接座均匀分布在所述母板上。4.根据权利要求3所述的老化测试装置，其特征在于，多个所述连接座交错设置在所述母板上。5.根据权利要求3所述的老化测试装置，其特征在于，所述母板上设有一条电路走线，多个所述连接座均设置在所述电路走线上。6.根...

【专利技术属性】
技术研发人员：高伟，何健僖，
申请(专利权)人：深圳康佳电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：