制造高到低和低到高反射比型光盘介质的方法技术

一种制造高到低反射型和低到高反射型的光盘介质的方法同时将高到低反射型的光盘介质的未记录区域的反射比和低到高反射型的光盘介质的已记录坑的反射比设置在指定反射比范围内。光盘驱动器可以再现同时来自这些光盘介质的数据，而不会改变对信号处理系统的设备。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种。本专利技术还涉及一种这样的光盘介质和用于驱动这样的光盘介质的光盘驱动器。
技术介绍
通常，光盘驱动器利用光束光斑(spot)来照射光盘介质的记录表面以便向/从光盘介质记录/再现数据。市场上的光盘介质包括ROM(只读存储器)介质和可记录介质。ROM介质在于在制造ROM介质期间，在记录表面上形成凸起数据比特串，并且将其用作专用只读介质。可记录介质在于由用户在记录轨道上形成记录坑，从而记录所需的用户数据。可以将可记录光学介质实现为相变盘，分类为可记录压缩光盘(CD-R)、可记录数字通用盘(DVD-R)、可重写CD(CD-RW)和可重写DVD(DVD-RW)。图5示出了传统可记录光盘介质11，其中数据记录区16具有螺旋记录轨道14。该记录轨道14包括在轨道控制中使用的凹槽，在其上形成了多个有机记录膜。在记录操作期间，将具有高输出功率的激光束光斑聚焦到光记录介质11的有机记录膜之一上，对记录轨道上的记录膜的局部区域进行变换以在其上形成所记录的坑。一些类型的光盘介质在盘介质11的圆周附近具有系统数据区17，系统数据区17存储有光盘介质11的类型或特性信息。例如，DVD-R具有记录轨道14，在其上形成了与其上形成凸起数据坑串的DVD-ROM的数据格式相同的数据格式的所记录的坑串。由于这些盘介质提供具有实质上相同格式的类似伺服信号，光盘驱动器能够同时从DVD-R和DVD-ROM中再现数据。换句话说，有利地，专用只读光盘驱动器可以再现来自DVD-R的数据。诸如DVD-RAM等一些可重写光盘介质具有平面(land)/凹槽数据记录格式，其中平面和凹槽均用于在其上记录数据。该结构为光盘介质提供了更高的数据容量。通常，将诸如DVD-R和DVD-RW等传统光盘介质形成为高到低记录介质，其中数据的记录允许已记录的局部区域采取比以前低的反射比，即，已记录坑的反射比低于记录轨道中的未记录区域的反射比。另一方面，例如，专利公开JP-A-2000-260061描述了一种低到高记录介质，其中已记录坑具有比记录轨道的未记录区域更高的反射比。如今，这种类型的光学记录介质也是可得到的。低到高光学记录介质可以具有更高信号与干扰(S/N)比的优点，只要在将未记录区域的初始较低反射比保持在较低的水平的同时，减小了已记录坑的噪声。通常，在盘介质的标准中指定了光学记录介质在未记录区域中具有特定反射比范围。对于高到低光盘介质的情况，由于未记录区域具有比已记录坑更高的反射比，光盘驱动器能够提前识别来自记录轨道的反射光的功率上限。另一方面，对于低到高光盘介质的情况，由于在记录之前没有比未记录区域更高反射比的已记录坑，因此，光盘驱动器不能够提前识别反射光的功率上限。反射光的功率上限是用于使光盘驱动器在适当的信号电平和适当S/N比处操作的最重要因素之一，而不涉及在信号处理系统中的信号饱和。然而，在传统技术中，单光盘驱动器难以向/从高到低光盘介质和低到高光盘介质记录/再现数据，这是因为在低到高光盘介质中的反射光的未知上限功率水平。
技术实现思路
考虑到传统技术中的上述问题，本专利技术的目的是提出一种制造高到低和低到高反射比型的光盘介质的方法，其中单光盘驱动器能够向/从高到低和低到高反射比型光盘介质记录/再现数据。本专利技术的另一目的是提出这样的光盘介质和用于驱动这样的光盘介质的光盘驱动器。本专利技术提出了一种制造高到低反射型和低到高反射型的光盘介质的方法，所述方法包括将所述高到低反射型的所述光盘介质的未记录区域的反射比设置在指定反射范围内；以及将所述低到高反射型的所述光盘介质的可能记录坑(pit)的反射比设置在所述指定反射比范围内。本专利技术还提出了一种由本专利技术的方法制造的光盘介质。本专利技术还提出了一种在由根据权利要求1所述的方法制造的高到低反射型和低到高反射型光盘介质上记录/再现数据的光盘驱动器，所述光盘驱动器包括光头，用于照射所述光盘介质的记录轨道以便同时在所述高到低反射型和所述低到高反射型的所述光盘介质的记录轨道上形成已记录坑，其中所述光头在所述低到高反射比型的所述光盘介质上形成已记录坑，所述已记录坑具有位于所述指定反射比范围内的反射比。根据本专利技术的光盘介质和由本专利技术制造的光盘介质，由于将高到低光盘介质的未记录区域中的较高反射比水平和低到高光盘介质的已记录坑的较高反射比水平设置在公共特定反射比范围内，可以将光盘驱动器的信号处理系统的信号电平设置在公共水平处，而与光盘介质的类型无关，由此，光盘驱动器的信号处理系统能够从这两种盘介质中记录/再现数据，而不会改变对信号处理系统的信号电平的设置。参考附图，从以下描述中，本专利技术的上述和其他目的、特征和优点将变得更加明显。附图说明图1是根据本专利技术实施例的光盘驱动器的方框图；图2示出了已记录坑串和沿记录轨道的反射比分布之间的关系，其中(a)是光盘介质的记录轨道的示意顶面图；(b)是假定光盘介质为高到低反射比型的情况下的记录轨道的反射比分布；以及(c)是假定光盘介质是低到高反射比型的情况下的记录轨道的反射比分布；图3是示出了再现信号的眼图的曲线图；图4是示出了最小已记录坑长度和根据其再现的再现信号的差错率之间的关系的曲线图； 图5是传统可记录光盘介质的示意顶面图。具体实施例方式在描述本专利技术的优选实施例之前，为了更好地理解，将对本专利技术的原理进行描述。通常，将传统光盘介质制造为在未记录区域上具有特定反射比范围内的反射比。在这种情况下，在再现记录轨道上的数据期间，低到高光盘介质不允许光盘驱动器知道光盘介质的更高反射比水平。在本专利技术的一个实施例中，用于制造光盘介质的处理实际上在测试生产中在低到高光盘介质上形成了已记录坑，从而使已记录坑具有在特定反射比范围内的反射比，并因而将根据已记录坑再现数据期间的上限反射比设置在特定的反射比范围内。在测试生产中的材料、处理条件等数据用于制造成品盘介质。这允许光盘驱动器在再现数据期间知道更高的反射比水平，从而实现了先进记录/再现。将根据一个实施例的高到低反射型光盘介质制造为在未记录区域上具有特定反射比范围内的反射比，并且将根据一个实施例的低到高反射型光盘介质制造为在已记录坑上具有特定反射比范围内的反射比。在本实施例的光盘介质中，优选地，特定反射比范围的最大值应该在特定反射比范围的最小值的两翻(两倍)和三翻(三倍)之间。现在，将参考附图更具体地描述本专利技术。图1示出了根据本专利技术一个实施例的光盘驱动器。通常由数字100表示的光盘驱动器包括主轴电动机12、光头13和信号处理系统，所述信号处理系统包括信号检测块18、数据再现块19、伺服控制块20、光头驱动块21和记录信号产生块22。光盘驱动器100向/从光盘介质11记录/再现数据。将光盘介质11配置为相变型的可记录光盘，并且可以为高到低反射型或低到高反射型的。对于光盘介质11为高到低反射型和低到高反射型这两种情况，在将光盘光斑照射到记录轨道上时，将反射光的上限光功率设置在特定范围内。将光盘介质11安装在主轴电动机12的主轴上，用于旋转光盘介质11。光头13将光束光斑照射到光盘介质11的记录表面上，用于向/从光盘介质11记录/再现数据。信号检测块18从光头13接收再现的信号以便从已记录坑中检测数据信号和从平面/凹槽结构中检测伺服信号。该伺服信号用于检测光本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种制造高到低反射型和低到高反射型的光盘介质的方法，所述方法包括：将所述高到低反射型的所述光盘介质的未记录区域的反射比设置在指定反射范围内；以及将所述低到高反射型的所述光盘介质的可能记录坑的反射比设置在所述指定反射比范围内。

【技术特征摘要】
JP 2004-8-20 2004-2401871.一种制造高到低反射型和低到高反射型的光盘介质的方法，所述方法包括将所述高到低反射型的所述光盘介质的未记录区域的反射比设置在指定反射范围内；以及将所述低到高反射型的所述光盘介质的可能记录坑的反射比设置在所述指定反射比范围内。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于所述指定反射比范围由所述指定反射比范围的上限和下限来指定，并且所述上限是所述下限的两倍到三倍。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于还包括将所述高到低反射型的信息记录到所述高到低反射型的所述光盘介质上；以及将所述低到高反射型的信息记录到所述低到高反射型的所述光盘介质上。4.一...

【专利技术属性】
技术研发人员：山中丰，
申请(专利权)人：日本电气株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]