管理一次写入式盘数据区的方法和再现其数据的方法技术

技术编号:3058119 阅读:127 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种允许数据区的管理的一次写入式盘、一种管理一次写入式盘的数据区的方法、一种将数据记录在一次写入式盘上的设备、一种从一次写入式盘中再现数据的设备和方法。一次写入式盘包括:导入带、数据区、和导出带。一次写入式盘包括存储指示数据区的至少一个扇区是否被分配用于盘缺陷管理的区分配信息的预定区。在盘和方法中,指定数据区的结构的区分配信息被记录在盘上,因此允许记录/再现设备识别数据区结构。因此,可将除用于存储用户数据的区之外的用于盘缺陷管理的诸如备用区的区分配至数据区。将用于盘缺陷管理的区分配至数据区保证一次写入式盘的有效使用。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种一次写入式盘,更具体地说,涉及一种允许分配存储除用户数据之外的数据的区的一次写入式盘、一种管理一次写入式盘的数据区的方法、一种在一次写入式盘中记录数据的设备、以及一种从一次写入式盘中再现数据的方法和设备。
技术介绍
缺陷管理被执行以允许用户将在其中出现缺陷的用户数据区的部分的用户数据重写至盘的用户数据区的新的部分,由此补偿由缺陷造成的数据方面的损失。通常,使用线性替换或滑动替换方法执行缺陷管理。在线性替换方法中,在其中出现缺陷的用户数据区被没有缺陷的备用数据区替换。在滑动替换方法中,具有缺陷的用户数据区被滑过以使用下一个没有缺陷的用户数据区。线性替换和滑动替换方法两者都只对诸如DVD-RAM/RW的盘可应用,在其上数据可被重复记录并且记录可使用随机存取法被执行。同时,甚至在其上数据的重写不被允许的一次写入式盘上的使用线性替换方法的盘缺陷管理的方法也已经被开发。然而,有一些情况下不能使用线性替换方法用记录/再现设备对一次写入式盘执行盘缺陷管理。例如,当数据被实时地记录在一次写入式盘上时,难以使用线性替换方法用记录/再现设备在其上执行盘缺陷管理。因此,只有当需要使用记录/再现设备的盘缺陷管理时,备用区才被分配至一次写入式盘。即,备用区的分配由用户的意图确定。此外,如必要的话,则可向一次写入式盘的数据区不仅分配备用区还分配其它区以用于盘缺陷管理。然而,当非用于用户数据的其它区被分配至数据区时,记录/再现设备不能识别该数据区的结构。换言之,如果一次写入式盘没有包含关于数据区结构的信息,则记录/再现设备不能确定用于除用户数据之外的信息的其它区是否被分配至数据区,也不能确定当其它区被形成时用户数据区的位置和大小。在写操作之后,指定包含数据的区的信息被以比特映射格式写到盘的预定区,由此使进一步的写操作或读操作得以进行。更具体地说,盘的可记录区包括多个为数据记录单元或纠错单元的簇。如果包含数据的簇和空白簇被以比特映射格式记录为信息,则记录/再现设备可在写或读操作期间容易地访问期望的区。具体说,当使用一次写入式盘时指定包含数据的区的比特映射信息非常有用。换言之,需要快速检测在其中数据被最近记录的簇的下一个簇以便向一次写入式盘写数据。比特映射信息保证下一个簇的快速检测。此外,使用比特映射信息可检查在一次写入式盘的记录状态中的变化,并检测在变化发生之前记录的原始数据。通过向包含数据的一次写入式盘进一步记录数据可改变盘记录状态。
技术实现思路
本专利技术提供一种一次写入式盘,在其上在数据区中用户数据和其它数据两者可被记录并管理。本专利技术还提供一种其数据记录状态可被容易地检查的盘。本专利技术还提供一种管理一次写入式盘的数据区以便在数据区中用户数据和其它数据两者可被记录并管理的方法。本专利技术还提供一种记录并管理在一次写入式盘的数据区中的用户数据和其它数据两者的记录设备。本专利技术还提供一种从在其上用户数据和其它数据被记录在数据区中的一次写入式盘中再现数据的方法。本专利技术还提供一种从在其上用户数据和其它数据被记录在数据区中的一次写入式盘中再现数据的设备。根据本专利技术的一方面,提供一种一次写入式盘,其包括导入带、数据区、和导出带,该盘包括预定区,其存储指示数据区的至少一个扇区是否被分配用于盘缺陷管理的区分配信息。根据本专利技术的另一方面,提供一种带有至少一个记录层的一次写入式盘,其包括至少一个存储用户数据的数据区、和至少一个存储区分配信息的预定区,其中,区分配信息指示至少一个数据区的至少一个扇区是否被分配用于盘缺陷管理。根据本专利技术的另一方面,提供一种管理一次写入式盘的数据区的方法,接收关于是否需要分配用于盘缺陷管理的盘的数据区的至少一个部分的指令,以及记录区分配信息,其指示在盘的预定区中,数据区的至少一个扇区是否被分配用于盘缺陷管理。根据本专利技术的另一方面,提供一种记录设备,包括记录/再现单元,其在一次写入式盘上记录数据或从一次写入式盘中读取数据;以及控制器,其控制记录/再现单元响应于关于是否需要分配至少一个扇区至数据区的指令,将指示盘的数据区的至少一个扇区是否被分配用于盘缺陷管理的区分配信息记录在盘的预定区中。根据本专利技术的另一方面,提供一种从一次写入式盘中再现数据的方法,包括访问盘的预定区以读取区分配信息,以及从区分配信息中获得关于盘的数据区的至少一个扇区的位置的信息,该扇区被分配用于盘缺陷管理。根据本专利技术的另一方面,提供一种从一次写入式盘中再现数据的设备,包括读单元,其从盘读取数据;以及控制器,其控制读单元访问盘的预定区以便读取区分配信息并从区分配信息中获得关于盘的数据区的至少一个扇区的位置的信息,该扇区被分配用于盘缺陷管理。本专利技术另外的方面和/或优点将部分地在下面的描述中提出,部分地从描述中变得清楚,或者可通过对本专利技术的实践而被了解。附图说明通过下面结合附图进行的对实施例的描述,本专利技术的这些和/或其它方面和优点将会变得清楚和更加容易理解,其中图1A和图1B示出根据本专利技术的实施例的一次写入式盘的结构;图2示出根据本专利技术的实施例的允许数据区的管理的单记录层盘的结构;图3示出图2所示的临时盘缺陷结构(TDDS,Temporary Disc DefectStructure)区的详细结构;图4示出图2的空白比特映射(SMB,Space Bit Map)区的详细结构;图5示出根据本专利技术的另一实施例的允许数据区的管理的单记录层盘的结构; 图6示出图5所示的TDDS+SBM区的详细结构;图7示出根据本专利技术的另一实施例的允许数据区的管理的单记录层盘的结构;图8示出图7所示的临时盘管理区(TDMA,Temporary Disc ManagementArea)的详细结构;图9示出图7所示的盘和驱动器信息+SBM区的详细结构;图10示出根据本专利技术的另一实施例的允许数据区的管理的单记录层盘的结构;图11示出图10所示的TDMA#1的详细结构;图12示出TDDS和SBM两者被记录在其中的图11所示的簇的详细结构;图13示出包含在盘初始化期间获得的盘初始化信息的簇的详细结构;图14示出包含盘重新初始化信息的簇的详细结构;图15示出根据本专利技术的实施例的SBM区的结构;图16示出根据本专利技术的实施例的完成的SBM区;图17是根据本专利技术的实施例的记录设备的方框图;以及图18是示出根据本专利技术的实施例的管理一次写入式盘的数据区的方法的流程图。具体实施例方式现在,将详细参考本专利技术的实施例,其示例在附图中示出,其中,相同的标号始终表示相同的部件。以下,通过参照附图描述实施例以解释本专利技术。图1A示出根据本专利技术的实施例的其为具有单记录层L0的单记录层盘的一次写入式盘(以下,称作‘盘’)的结构。该盘包括导入带、数据区、和导出带。导入带位于盘的内圈,导出带位于盘的外圈。数据区出现在导入带和导出带之间并且被分成用户数据区和备用区。备用区具有从数据区的开始开始的预定的大小。图1B示出其为具有两个记录层L0和L1的双记录层盘的盘。从第一记录层L0的内圈到它的外圈,导入带、数据区、和外区被顺序地形成。此外,从第二记录层L1的外圈到它的内圈,外区、数据区、和导出带被顺序地形成。与图1A的单记录层盘不同,第二记录层L1的导出带出现在第二记录层L1的内圈。即,盘具有逆光道路径(OTP),在本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种包括导入带、数据区、和导出带的一次写入式盘,该盘包括:预定区,存储指示数据区的至少一个扇区是否被分配用于盘缺陷管理的区分配信息。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】KR 2003-3-13 10-2003-0015858;KR 2003-3-31 10-2003-1.一种包括导入带、数据区、和导出带的一次写入式盘,该盘包括预定区,存储指示数据区的至少一个扇区是否被分配用于盘缺陷管理的区分配信息。2.如权利要求1所述的盘,其中,区分配信息包括指定所述数据区的至少一个扇区的大小的信息。3.如权利要求1所述的盘,其中,用于盘缺陷管理的分配至数据区的扇区包括备用区、临时盘缺陷结构(TDDS)区、临时缺陷列表(TDFL)区、和临时缺陷管理区(TDMA)的至少之一。4.如权利要求1所述的盘,还包括数据记录区信息被记录在其中的空白比特映射(SBM)信息区,其中,数据记录区信息包含头信息和指示包含数据的区的比特映射。5.如权利要求4所述的盘,其中,当区分配信息被记录在预定区的预定簇中时,与预定簇对应的比特映射的比特被以指示所述预定簇包含数据的预定值记录。6.如权利要求4所述的盘,其中,头信息包括指示更多数据是否被记录在盘上的完成标记。7.如权利要求3所述的盘,其中,区分配信息被记录在其中的预定区是TDDS区。8.如权利要求7所述的盘,还包括缺陷管理区(DMA),当数据区不包括用于盘缺陷管理的区时,记录在TDDS区中的区分配信息被复制到其中。9.如权利要求1所述的盘,还包括形成于导入带中的第一临时缺陷管理区(TDMA);以及形成于数据区的第二TDMA,其中,区分配信息指示分配第二TDMA至数据区,并且区分配信息被记录在其中的预定区是第一和第二TDMA之一。10.如权利要求9所述的盘,其中,第一TDMA是在从记录和/或再现设备中弹出盘之前更新的TDDS被记录在其中至少一次的区,以及第二TDMA是更新的TDDS被以预定操作的单位记录在其中的区,其中,在所述操作期间数据被记录。11.如权利要求1所述的盘,其中,区分配信息被记录在预定区的至少一个簇中,更新的区分配信息被记录在预定区的至少一个不同的簇中。12.一种管理一次写入式盘的数据区的方法,包括接收关于是否需要分配用于盘缺陷管理的盘的数据区的至少一个扇区的指令;以及将区分配信息记录在盘的预定区中,其中,区分配信息指示数据区的至少一个扇区是否被分配用于盘缺陷管理。13.如权利要求12所述的方法,其中,记录区分配信息的步骤包括记录指定数据区的至少一个扇区的大小的信息。14.如权利要求12所述的方法,其中,记录区分配信息的步骤包括将所述区分配信息记录在形成于盘的导入带、数据区、和导出带的至少之一中的临时盘缺陷结构(TDDS)区。15.如权利要求12所述的方法,还包括记录关于数据可记录区的信息,其中,关于数据可记录区的信息包括头信息和指示包含数据的区的比特映射。16.如权利要求15所述的方法,其中,记录关于数据可记录区的信息的步骤包括以指示包含数据的区的预定值记录与包含指示数据区的至少一个扇区是否被分配的数据的预定区对应的比特映射的比特值。17.如权利要求15所述的方法,其中,头信息包括指示更多数据能否被记录在一次写入式盘上的完成标记。18.如权利要求13所述的方法,其中,记录区分配信息的步骤包括当数据区的至少一个扇区未被分配时,将指示至少一个扇区的大小的区分配信息记录为0。19.如权利要求12所述的方法,还包括将记录在临时缺陷管理区(TDMA)的区分配信息记录在缺陷管理区(DMA)中。20.如权利要求12所述的方法,其中,数据区的至少一个扇区包括备用区、TDDS区、TDFL区、和TDMA的至少之一。21.如权利要求12所述的方法,其中,记录区分配信息的步骤包括将指示分配第二TDMA至数据区的区分配信息记录在形成于盘的导入带中的第一TDMA和第二TDMA之一中。22.如权利要求21所述的方法,其中,第一TDMA是在从记录和/或再现设备中弹出一次写入式盘之前更新的TDDS被记录在其中的区,以及第二TDMA是更新的TDDS被以预定操作的单位记录在其中的区,其中,在所述操作期间数据被记录。23.如权利要求12所述的方法,还包括响应于指示将被改变的至少一个扇区的大小的命令,通过将指定至少一个扇区的大小的改变的区分配信息记录在预定区中来更新区分配信息。24.如权利要求14所述的方法,其中,在记录区分配信息期间,区分配信息被记录在从TDDS的开始开始的至少一个簇中。25.一种记录和/或再现设备,包括记录和/或再现单元,其将数据记录在一次写入式盘上或从一次写入式盘中读取数据;以及控制器,其控制记录和/或再现单元响应于关于是否需要分配至少一个扇区至数据区的指令,将指示盘的数据区的至少一个扇区是否被分配用于盘缺陷管理的区分配信息记录在盘的预定区中。26.如权利要求25所述的设备,其中,区分配信息包括指定至少一个扇区的大小的信息。27.如权利要求25所示的设备,其中,控制器控制记录和/或再现单元将区分配信息记录在形成于盘的导入带、数据区、和导出带的至少之一中的临时盘缺陷结构(TDDS)中。28.如权利要求25所示的设备,其...

【专利技术属性】
技术研发人员:黄盛凞高祯完李坰根
申请(专利权)人:三星电子株式会社
类型:发明
国别省市:KR[韩国]

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