本发明专利技术所提供的光学头，包括半导体激光器（２）、分离半导体激光器（２）发射出的光束并发射出第１光束和第２光束的光束分离元件（８）、接收上述光束分离元件（８）发出的第１光束并将其聚光到光信息记录介质的物镜、接收上述光束分离元件（８）发出的第２光束的受光元件（３６），根据射入上述受光元件（３６）的光量调整上述光源的发射光量的演算电路。其中，发射上述第２光束的上述光束分离元件（８）的出射面与接收上述第２光束的受光元件（３６）的入射面由粘合剂（４０）粘合。这样，在追求光学头的大幅小型化的同时，还可以实现更高精度和灵敏度的光量调整。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种适用于将光点投影在盘状记录介质上、通过光学方式记录和读取信息的光信息介质驱动装置的光学头和光信息介质驱动装置。
技术介绍
近年来，光盘刻录再生装置的用途日益多样化，出现了CD-ROM、CD-R、MD、DVD-RAM、蓝光光盘等不同标准的产品，同时不断追求产品的高密度、高性能、高品质、高附加值化，并且大幅推进小型化和低成本化。特别是便携式可刻录光盘记录再生装置的需求呈上升趋势，对小巧、轻薄、高性能的要求也日益提高。此前，日本专利公报特开2000-048374号等众多文献中也对光盘刻录再生装置的光学头的相关技术进行了介绍。以下参照附图，对作为以往的光学头的一个示例的磁光盘用光盘刻录再生装置的光学头进行说明。图13、图14、图15以及图16中显示了以往的光学头的概要结构和工作原理。如图15所示，硅基板1上固定有半导体激光器2，并且在硅基板1上还形成有经IC处理的多分割光检测器3。另外，散热片4以通过银膏传热的状态配置于硅基板1上。此外通过引线接合等方法在上述多分割光检测器3上连接端子5。而且，上述硅基板1、散热片4以及端子5均由树脂捆包层6来固定。在树脂捆包层6上，固定有全息图元件(衍射格子)7。该全息图元件7由树脂材料成型。其上固定有复合元件8。该复合元件8由分光镜8a、折射镜(folding mirror)8b以及偏振分光元件8c构成。集成单元9是由上述硅基板1、半导体激光器2、多分割光检测器3、散热片4、端子5、树脂捆包层6、全息图元件7以及复合元件8一体构成。在该集成单元9的前方配设有反射镜10。反射镜10固定在光学台19上。另外，上述集成单元9，在端子5与柔性电路35焊接后，被插入光学台19的内侧。光学台19与上述树脂捆包层6被粘着固定。经上述反射镜10反射的光，穿过物镜11聚光在磁光记录介质13上，形成光点32。磁光记录介质13具有磁光效应。如图13所示，物镜11被物镜移动机构14沿磁光记录介质13的焦点方向及半径方向驱动。物镜移动机构14由物镜11、物镜支架12、基座15、悬吊系统16、磁性电路17、线圈18a、18b等各部件构成。物镜移动机构14，通过向线圈18a通电，可驱动物镜11沿焦点方向移动，通过向线圈18b通电，可驱动物镜11沿半径方向移动。此外，上述基座15通过粘合剂34被粘着固定在上述光学台19上。柔性电路35中，设有用于监测激光器的受光元件36和根据受光元件36受光量控制激光器2的发光量的演算电路(图中省略)。受光元件36被焊接在柔性电路35的端部，并与上述演算电路电连接。此外，如图15(a)所示，受光元件36被配置在远离复合元件8的位置，由复合元件8的分光镜8a分离的光束可以射入其中。柔性电路35上盖有盖板33，同时被固定在光学台19上。如图16所示，多分割光检测器3上形成有聚焦误差信号受光区域24、追踪误差信号受光区域25、26以及信息信号受光区域27。在聚焦误差信号受光区域24中，形成用于检测聚焦误差信号的光点20，在追踪误差信号受光区域25、26中形成用于检测追踪误差信号的光点21，在信息信号受光区域27中形成主光束(P偏振光)的光点22和主光束(S偏振光)的光点23。此外，关于光学台19的尺寸，应确保聚焦误差信号受光区域24位于接近多分割光检测器3的Z轴方向(光轴方向)上的光点20、20的两焦点30、31间的中心的位置。各受光区域24、25、26、27分别与减法器28和加法器29相连接。以下参照图14及图15对采用如上结构的以往的光学头的工作状况进行说明。半导体激光器2发出的光被全息图元件7分离为各不相同的数条光束。该数条光束射入复合元件8的分光镜8a。该光束的一部分穿过分光镜8a并经反射镜10反射后通过物镜11，在磁光记录介质13上聚光为直径约1微米的光点32。另一方面，上述光束的残余部分被分光镜8a反射。该被反射的光束射入用于监测激光器的受光元件36，并根据受光量控制半导体激光器2的驱动电流。来自磁光记录介质13的反射光，沿着相反的路径射入复合元件8的分光镜8a，并被分离为数个光束。而且该入射光的一部分被分光镜8a反射，然后经折射镜8b射入偏振分光元件8c。该入射光被偏振分光元件8c分离为相互垂直的两个不同偏振光性质的光束，并射入信息信号受光区域27。另一方面，来自磁光记录介质13的反射光中穿过分光镜8a的光束，被全息图元件7分离为数个光束，并分别集光在聚焦误差信号受光区域24和追踪误差信号受光区域25、26上。通过演算由P偏振光构成的主光束22和由S偏振光构成的主光束23的差，采用差动检测法可测得磁光盘信息信号。再通过取其和，即可测得预制凹坑信号(pre-pit signal)。此外，采用所谓的SSD法进行聚焦伺服，采用所谓的推挽法进行追踪伺服。采用以上结构的光学头中，为从磁光记录介质13的反射光中得到期望的检测信号，组装时须调整半导体激光器2和物镜11以及多分割光检测器3的相互位置关系。位置关系调整过程中，多分割光检测器3的Z轴方向(光轴方向)上的聚焦误差信号的初始位置被设定成应确保聚焦误差信号受光区域24位于接近用于检测聚焦误差信号的光点的两个焦点30、31的中间的位置。为了确保能够实现以上位置设定，光学台19和集成单元9的树脂捆包层6的尺寸是有规定的。另外，追踪误差信号的调整方法如下。使用外部夹具(图中未显示)固定住基座15，然后通过在Y方向及X方向上移动物镜移动机构14的方法调整追踪误差信号，使两个追踪误差信号受光区域25、26的输出接近均衡。该调整使物镜11的中心将与半导体激光器2的发光轴中心对齐。另外，如图14(a)、(b)所示，磁光记录介质13与物镜11的相对倾斜的调整方法如下。使用外部夹具(图中未显示)固定住基座15，然后通过半径方向(Y轴周围)的倾斜调整θR及切线方向(X轴周围)的倾斜调整θT，实现磁光记录介质13与物镜11的相对倾斜的调整。调整完成后，使用粘合剂34将基座15粘着固定在光学台19上。以上步骤均完成后，即实现了聚焦误差信号、追踪误差信号以及倾斜的调整，完成了光学头的设置。采用上述结构的以往的光学头中，由于受光元件36与演算电路是电连接的，从而受光元件36也就设在了柔性电路35内。为此，受光元件36也就被设置在远离复合元件8的位置上，从而出现了受光元件36与复合元件8发生位置偏差的隐患。于是就带来了无法确保受光元件36的检测精度的问题。
技术实现思路
本专利技术即为解决上述以往的问题，在追求光学头的大幅小型化的同时，实现更高精度和灵敏度的光量调整。为实现上述目的，本专利技术所提供的光学头，包括光源、分离上述光源发射出的光束并至少发射出第1光束和第2光束的光束分离元件、射入有上述第1光束并将该光束聚光到光信息记录介质上的物镜、射入有上述第2光束的受光元件，根据射入上述受光元件的光量调整上述光源的发射光量的演算电路、射入有上述光信息介质的反射光的光检测器，其中，发射上述第2光束的上述光束分离元件的出射面与射入有上述第2光束的上述受光元件的入射面被接合在一起。在本结构中，由于是将受光元件直接与光束分离元件相接合，因而可减小受光元件相对于光轴或光束分离元件的位置偏差。另外，由于通过缩短光束分离元件与受光元件间的距离从而本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种光学头，其特征在于包括：光源；分离上述光源发射出的光束并至少发射出第１光束和第２光束的光束分离元件；射入有上述第１光束并将该光束聚光到光信息记录介质上的物镜；射入有上述第２光束的受光元件；根据射入 至上述受光元件的光量来调整上述光源的发射光量的演算电；射入有来自上述光信息介质的反射光的光检测器，其中，发射上述第２光束的上述光束分离元件的出射面与射入有上述第２光束的上述受光元件的入射面被接合在一起。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】JP 2003-10-23 363062/20031.一种光学头，其特征在于包括光源；分离上述光源发射出的光束并至少发射出第1光束和第2光束的光束分离元件；射入有上述第1光束并将该光束聚光到光信息记录介质上的物镜；射入有上述第2光束的受光元件；根据射入至上述受光元件的光量来调整上述光源的发射光量的演算电；射入有来自上述光信息介质的反射光的光检测器，其中，发射上述第2光束的上述光束分离元件的出射面与射入有上述第2光束的上述受光元件的入射面被接合在一起。2.根据权利要求1所述的光学头，其特征在于发射上述第2光束的上述光束分离元件的出射面与射入有上述第2光束的上述受光元件的入射面，通过粘合剂层接合。3.根据权利要求2所述的光学头，其特征在于上述粘合剂层的光透射率在95％或95％以下。4.根据权利要求3所述的光学头，其特征在于上述粘合剂层的光透射率在40％或40％以上。5.根据权利要求3或4所述的光学头，其特征在于上述粘合剂层的光透射率在80％或80％以下。6.根据权利要求5所述的光学头，其特征在于上述粘合剂层的光透射率在60％或60％以上。7.根据权利要求2至6中任一项所述的光学头...
【专利技术属性】
技术研发人员：中田秀辉，富田浩稔，太田武志，
申请(专利权)人：松下电器产业株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]
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