一种用于相控阵天线高低温试验的微波屏蔽测试罩制造技术

本实用新型专利技术公开了一种用于相控阵天线高低温试验的微波屏蔽测试罩，涉及相控阵天线高低温试验用设备技术领域，主要用于解决相控阵天线在进行高低温试验时会受到温度试验箱影响，导致测试数据出现误差的问题。其主要结构为：包括测试罩主体，测试罩主体的一端设有锥形盖，另一端设有天线安装法兰环，测试罩主体和锥形盖内壁上皆设有吸波内衬，锥形盖轴心处设有直波导和测试接头。本实用新型专利技术提供的一种用于相控阵天线高低温试验的微波屏蔽测试罩，用该测试罩遮盖相控阵列天线，能使相控阵天线不再受温度试验箱带来的其它因素的影响，保证了温度试验测试数据的准确性。了温度试验测试数据的准确性。了温度试验测试数据的准确性。

【技术实现步骤摘要】
一种用于相控阵天线高低温试验的微波屏蔽测试罩


[0001]本技术涉及相控阵天线高低温试验用设备
，尤其涉及一种用于相控阵天线高低温试验的微波屏蔽测试罩。

技术介绍

[0002]相控阵天线根据其应用场景的不同，会出现应用在极端温度下的情况，而高低温工作试验是目前检验相控阵天线温度环境适应性的常用及有效的方法。
[0003]由于相控阵天线性能的特殊性——相控阵天线是用来接收和发射辐射电磁波的，且辐射电磁波存在无穷个波束。所以相控阵天线性能测试必须采用开环式测试方法。这就导致相控阵列天线容易受到测试环境的影响，对测试环境要求极为严苛，常温状态下都需要到专业的微波暗室进行测试。
[0004]然而，由于相控阵天线进行高低温工作试验测试时必须在温度试验箱内进行高温、低温度保持。因此，相控阵天线在测试时往往因为受到温度试验箱带来的影响——如温度试验箱金属内壁反射电磁波等，使测试数据出现误差，给试验结果带来影响，进而导致不能真实的反映出相控阵天线在极端温度特性下的性能的问题。

技术实现思路

[0005]本技术的目的是提供一种用于相控阵天线高低温试验的微波屏蔽测试罩，用该测试罩遮盖相控阵列天线，能使相控阵天线不再受温度试验箱带来的其它因素的影响，保证了温度试验测试数据的准确性。
[0006]本技术解决上述技术问题的技术方案是：一种用于相控阵天线高低温试验的微波屏蔽测试罩，包括圆筒形的测试罩主体，所述测试罩主体的一端设有与其同轴连接的锥形盖，所述测试罩主体的另一端设有固定套接在其外壁上的天线安装法兰环，所述测试罩主体和锥形盖的内壁上皆设有吸波内衬，所述锥形盖轴心处的内壁上设有沿测试罩主体轴线方向设置的直波导，所述锥形盖轴心处的外壁上设有用于连接直波导与测试仪器电缆的测试接头。
[0007]作为本技术的更进一步改进，所述测试罩主体两侧外壁上皆设有把手，两个所述把手相对设置。
[0008]作为本技术的更进一步改进，每个所述把手的两端皆设有用于将其固定安装在测试罩主体外壁上的把手固定孔。
[0009]作为本技术的更进一步改进，所述天线安装法兰环上设有多个围绕其轴心设置且延伸贯穿测试罩主体的天线固定孔。
[0010]作为本技术的更进一步改进，所述吸波内衬内表面上设有多个均匀排布的尖劈形的吸波凸块。
[0011]作为本技术的更进一步改进，所述吸波内衬与吸波凸块为一体式结构。
[0012]作为本技术的更进一步改进，所述锥形盖轴心处设有用于安装直波导和测试
接头的波导安装部。
[0013]作为本技术的更进一步改进，所述测试接头一端设有波导连接部，另一端侧壁上设有电缆连接部。
[0014]作为本技术的更进一步改进，所述直波导靠近测试罩主体一端为喇叭形。
[0015]作为本技术的更进一步改进，所述测试罩主体为铝制的圆筒形壳体，所述锥形盖为铝制的锥形壳体。
[0016]有益效果
[0017]与现有技术相比，本技术的一种用于相控阵天线高低温试验的微波屏蔽测试罩的优点为：
[0018]1、本技术包括圆筒形的测试罩主体，测试罩主体的一端设有与其同轴连接的锥形盖，测试罩主体的另一端设有固定套接在其外壁上的天线安装法兰环，测试罩主体和锥形盖的内壁上皆设有吸波内衬，锥形盖轴心处的内壁上设有沿测试罩主体轴线方向设置的直波导，锥形盖轴心处的外壁上设有用于连接直波导与测试仪器电缆的测试接头。在对相控阵列天线进行高低温工作试验时，先通过天线安装法兰环将整个相控阵列天线固定在测试罩内部。然后，将测试罩连同其内部相控阵列天线放置到温度试验箱内，然后，即可进行相控阵列天线进行高低温工作试验。在这个过程中，温度试验箱产生的温度能透过测试罩作用在相控阵列天线上，保证了相控阵列天线高低温工作试验的正常进行。同时，由于该测试罩能遮盖阻隔相控阵列天线和温度试验箱，且测试罩主体和锥形盖内壁上皆设有吸波内衬——采用了微波暗室测试原理。该测试罩能使相控阵天线在温度试验测试时，不再受温度试验箱带来的其它因素的影响，保证了温度试验测试数据的准确性，进而能准确反映出相控阵列天线在不同温度环境下的真实性能特性。另外，该装置还具有制造简单成本低、重量轻、方便携带等优点，且能满足试验室内及外场试验的需求。
[0019]2、测试罩主体两侧外壁上皆设有把手，两个把手相对设置。把手作用除了方便搬运整个装置外，还可以起到一定固定作用——可以通过把手将该装置限位固定在温度试验箱内，使该装置在温度试验箱内不会发生大幅滚动，进而避免与温度试验箱内壁产生碰撞，损坏试验设备。
[0020]通过以下的描述并结合附图，本技术将变得更加清晰，这些附图用于解释本技术的实施例。
附图说明
[0021]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0022]图1为本技术的剖面图；
[0023]图2位本技术的结构示意图；
[0024]图3为测试罩主体的正视图；
[0025]图4为测试罩主体的侧视图；
[0026]图5为锥形盖的侧视图；
[0027]图6为测试接头的结构示意图；
[0028]图7为直波导的结构示意图。
[0029]其中：1
‑
天线安装法兰环；2
‑
测试罩主体；3
‑
锥形盖；31
‑
波导安装部；4
‑
直波导；5
‑
测试接头；51
‑
波导连接部；52
‑
电缆连接部；6
‑
吸波内衬；61
‑
吸波凸块；7
‑
天线固定孔；8
‑
把手；81
‑
把手固定孔。
具体实施方式
[0030]为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图，对本技术进一步详细说明。显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0031]在本技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；当然的，还可以是机械连接，也可以是电连接；另外的，还可以是直接相连，也可以是通过中间媒介间接相连，或者可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。
[0032]现在参考附图描述本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于相控阵天线高低温试验的微波屏蔽测试罩，其特征在于，包括圆筒形的测试罩主体（2），所述测试罩主体（2）的一端设有与其同轴连接的锥形盖（3），所述测试罩主体（2）的另一端设有固定套接在其外壁上的天线安装法兰环（1），所述测试罩主体（2）和锥形盖（3）的内壁上皆设有吸波内衬（6），所述锥形盖（3）轴心处的内壁上设有沿测试罩主体（2）轴线方向设置的直波导（4），所述锥形盖（3）轴心处的外壁上设有用于连接直波导（4）与测试仪器电缆的测试接头（5）。2.根据权利要求1所述的一种用于相控阵天线高低温试验的微波屏蔽测试罩，其特征在于，所述测试罩主体（2）两侧外壁上皆设有把手（8），两个所述把手（8）相对设置。3.根据权利要求2所述的一种用于相控阵天线高低温试验的微波屏蔽测试罩，其特征在于，每个所述把手（8）的两端皆设有用于将其固定安装在测试罩主体（2）外壁上的把手固定孔（81）。4.根据权利要求1所述的一种用于相控阵天线高低温试验的微波屏蔽测试罩，其特征在于，所述天线安装法兰环（1）上设有多个围绕其轴心设置且延伸贯穿测试罩主体（2）...

【专利技术属性】
技术研发人员：李冬，李超，邱忠云，余浪，吕清刚，易亮，
申请(专利权)人：成都华芯天微科技有限公司，
类型：新型
国别省市：