用于从多层光盘再现信号的设备制造技术

一种光拾取设备，用于将光照射在具有两个记录层的光盘上，并且检测来自光盘的反射光，包括：光源；光学系统，位于从光盘返回的光束的路径上，该光束包含由光盘的第一记录层反射的光、以及由光盘的第二记录层反射的光，该光学系统包括聚光光学单元，用于将返回光束变成会聚光束，并且包括光束调节单元，用于从会聚光束提取与会聚光束的横截面的一部分相对应的部分光束；以及一个或多个光电检测器，位于包含在部分光束中的由第一记录层反射的光所会聚的位置、与包含在部分光束中的由第二记录层反射的光所会聚的位置之间，所述一个或多个光电检测器具有检测由第一记录层反射的光的第一光电检测区、以及检测由第二记录层反射的光的第二光电检测区。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术一般涉及光拾取设备和光盘设备。本专利技术特别涉及一种光拾取设备，其将光束照射在具有两个记录层的光盘上，以从光盘接收反射光，并涉及一种光盘设备，在信息的记录、再现和擦除之中，其至少执行从具有两个记录层的光盘的信息再现。
技术介绍
随着最近数字技术的发展和数据压缩技术的改进，作为用于记录诸如音乐、电影、照片、计算机软件等(以下也被称为“内容”)的信息的记录介质，诸如DVD(数字通用盘)的光盘已经引起关注。随着光盘价格下降，使用光盘作为信息记录介质的光盘设备已经在市场上普及。内容信息的大小趋向于逐年增加，这导致期望进一步增加光盘的记录容量。作为增加光盘记录容量的手段，可以将记录层制成多层结构。关于具有多个记录层的光盘(以下也被称为多层盘)、以及关于用于访问这样的多层盘的光盘设备，正在进行广泛的开发。在多层盘中，由于球面像差的影响，记录层之间的宽间隙可能导致从所选记录层再现的信号恶化。因此，存在使记录层之间的间隙变窄的倾向。然而，随着记录层之间的间隙变窄，发生层间串扰，以致从多层盘返回的光束最终不仅包括来自所选记录层的反射光(以下被称为信号光)，而且还包括来自不同于所选记录层的其它记录层的大量反射光(以下被称为异常光)。因此，再现信号的信噪比可能恶化。有鉴于此，已经开发了这样的装置，其用于减小在从多层盘再现时的层间串扰(例如，专利文献1到专利文献3)。然而，在专利文献1到专利文献3中公开的设备允许信号光和异常光在到达光电检测装置的光电检测表面之前相互干扰。这导致相对于各个光电检测装置的接收光量的波动，这可能导致再现信号的信噪比的下降。日本专利脎申请公布No.2001-273640 日本专利申请公布No.10-11786[专利文献3]国际专利申请公布No.WO96/20473因此，需要这样的光拾取设备，即，当反射光分量来自光盘的两个记录层时，其可以以足够的精度将反射光分量相互分离。另外需要这样的光盘设备，即，当从具有两个记录层的光盘获得信息时，其可以以足够的精度再现信息。
技术实现思路
本专利技术的一般目的是提供一种光拾取设备和光盘设备，其基本上避免由于相关技术的局限性和缺点而引起的一个或多个问题。本专利技术的特征和优点将在下面描述中加以介绍，并且部分地从本描述和附图中将会变得清楚，或者可以根据在本描述中提供的教导、通过本专利技术的实施来了解。通过在说明书中具体指出的光拾取设备和光盘设备，将会实现和获得本专利技术的目的以及其它特征和优点，其中本说明书如此完整、清楚、简明和准确，以致本领域的普通技术人员能够实施本专利技术。为了实现根据本专利技术目的的这些以及其它优点，本专利技术提供了一种光拾取设备，用于将光照射在具有两个记录层的光盘上，并且用于检测来自光盘的反射光。该光盘设备包括光源；光学系统，位于从光盘返回的光束的路径上，该光束包含由光盘的第一记录层反射的光、以及由光盘的第二记录层反射的光，该光学系统包括聚光光学单元，用于将返回光束变成会聚光束，以及光束调节单元，用于从会聚光束提取与会聚光束的横截面(cross section)的一部分相对应的部分光束；以及一个或多个光电检测器，位于包含在部分光束中的由第一记录层反射的光所会聚的位置、与包含在部分光束中的由第二记录层反射的光所会聚的位置之间，该一个或多个光电检测器具有用于检测由第一记录层反射的光的第一光电检测区、以及用于检测由第二记录层反射的光的第二光电检测区。根据至少一个实施例，将从光源发射的光束照射在具有两个记录层(第一记录层和第二记录层)的光盘上，并且包含由第一记录层反射的光和由第二记录层反射的光的返回光束进入聚光单元。聚光单元将返回光变成会聚光束。然后，由一个或多个光电检测器检测作为会聚光束的一部分的部分光束。该一个或多个光电检测器位于包含在部分光束中的由第一记录层反射的光的聚光点、与包含在部分光束中的由第二记录层反射的光的聚光位置之间，并且具有第一光电检测区，用于检测由第一记录层反射的光，以及第二光电检测区，用于检测由第二记录层反射的光。在这种条件下，彼此分开地获得由第一记录层反射的光和由第二记录层反射的光，而没有相互干扰。这实现了从光盘的两个记录层传播的反射光束的高精度分离。根据本专利技术的另一方面，该光束调节单元是分光单元，其被配置成将会聚光束分裂成多个光束，该部分光束对应于该多个光束中的至少一个。根据本专利技术的另一方面，该多个光束包括第一光束和第二光束，并且该一个或多个光电检测器包括第一光电检测器，其具有用于检测包含在第一光束中的由第一记录层反射的光的光电检测区、以及用于检测包含在第一光束中的由第二记录层反射的光的光电检测区；以及第二光电检测器，具有用于检测包含在第二光束中的由第一记录层反射的光的光电检测区、以及用于检测包含在第二光束中的由第二记录层反射的光的光电检测区。根据本专利技术的另一方面，该分光单元是分光棱镜。根据本专利技术的另一方面，该分光单元是具有第一全息区域和第二全息区域的全息单元(hologram)，该第一光束是由第一全息区域产生的衍射，并且该第二光束是由第二全息区域产生的衍射。根据本专利技术的另一方面，所述第一光束和第二光束是不同级(order)的衍射。根据本专利技术的另一方面，所述第一全息区域和第二全息区域具有各自不同的透镜功能。根据本专利技术的另一方面，所述第一光束和第二光束是相同级的衍射。根据本专利技术的另一方面，光源、分光单元、以及所述一个或多个光电检测器被放置在单个外壳中，并且被配置成单个封装。根据本专利技术的另一方面，还提供了驱动单元，其被配置成在聚光单元的光轴方向上驱动聚光单元。根据本专利技术的另一方面，还提供了驱动单元，其被配置成在关于该一个或多个光电检测器的光电检测表面的光轴方向上，驱动该一个或多个光电检测器。根据本专利技术的另一方面，还提供了光电装置，其具有响应于外加电压而改变的折射率，该光电装置位于从聚光单元传播的会聚光束的路径上。根据本专利技术的另一方面，一种用于从具有两个记录层的光盘再现信息的光盘设备，包括如上所述的光拾取设备；信号获得单元，被配置成响应于光拾取设备的输出信号，而从光盘的两个记录层中的所选一个获得信号；以及再现单元，被配置成基于由信号获得单元获得的信号而再现信息。该光盘设备装备有如上所述的光拾取设备，使得信号获得单元可以容易地从两个记录层中所选的一个获得信号，因而使再现单元以足够的精度再现记录在两个记录层中的所选一个内的信息。也就是，以令人满意的精度成功地执行从具有两个记录层的光盘的信息再现。根据本专利技术的另一方面，该信号获得单元被配置成在光拾取设备的输出信号之中选择仅仅包含来自两个记录层中的所选一个的信号的输出信号。根据本专利技术的另一方面，该信号获得单元被配置成从光拾取设备的输出信号减去与两个记录层中的另一个相对应的信号分量。根据本专利技术的另一方面，一种用于从具有两个记录层的光盘再现信息的光盘设备包括如上所述的具有驱动单元的光拾取设备；驱动控制单元，被配置成响应于表示选择两个记录层中的哪个以便再现的信号，控制驱动单元；信号选择单元，被配置成在光拾取设备的输出信号之中，选择仅仅包含来自两个记录层中的所选一个的信号的输出信号；以及再现单元，被配置成基于由信号选择单元获得的信号而再现信息。上述光盘设备装备有具有驱动单元的光拾取设备，并且该驱动控制单元根本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光拾取设备，用于将光照射在具有两个记录层的光盘上，并且用于检测来自光盘的反射光，包括：光源；光学系统，位于从光盘返回的光束的路径上，所述光束包含由光盘的第一记录层反射的光、以及由光盘的第二记录层反射的光，所述光学系统包括 ：聚光光学单元，用于将返回光束变成会聚光束；和光束调节单元，用于从会聚光束提取与会聚光束的横截面的一部分相对应的部分光束；以及一个或多个光电检测器，位于包含在部分光束中的由第一记录层反射的光所会聚的位置、与包含在部分 光束中的由第二记录层反射的光所会聚的位置之间，所述一个或多个光电检测器具有用于检测由第一记录层反射的光的第一光电检测区、以及用于检测由第二记录层反射的光的第二光电检测区。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】JP 2004-2-16 037814/20041.一种光拾取设备，用于将光照射在具有两个记录层的光盘上，并且用于检测来自光盘的反射光，包括光源；光学系统，位于从光盘返回的光束的路径上，所述光束包含由光盘的第一记录层反射的光、以及由光盘的第二记录层反射的光，所述光学系统包括聚光光学单元，用于将返回光束变成会聚光束；和光束调节单元，用于从会聚光束提取与会聚光束的横截面的一部分相对应的部分光束；以及一个或多个光电检测器，位于包含在部分光束中的由第一记录层反射的光所会聚的位置、与包含在部分光束中的由第二记录层反射的光所会聚的位置之间，所述一个或多个光电检测器具有用于检测由第一记录层反射的光的第一光电检测区、以及用于检测由第二记录层反射的光的第二光电检测区。2.如权利要求1所述的光拾取设备，其中所述光束调节单元是分光单元，其被配置成将会聚光束分裂成多个光束，所述部分光束对应于所述多个光束中的至少一个。3.如权利要求2所述的光拾取设备，其中所述多个光束包括第一光束和第二光束，并且所述一个或多个光电检测器包括第一光电检测器，其具有用于检测包含在第一光束中的由第一记录层反射的光的光电检测区、以及用于检测包含在第一光束中的由第二记录层反射的光的光电检测区；以及第二光电检测器，具有用于检测包含在第二光束中的由第一记录层反射的光的光电检测区、以及用于检测包含在第二光束中的由第二记录层反射的光的光电检测区。4.如权利要求2所述的光拾取设备，其中所述分光单元是分光棱镜。5.如权利要求2所述的光拾取设备，其中所述分光单元是具有第一全息区域和第二全息区域的全息单元，第一光束是由第一全息区域产生的衍射，并且第二光束是由第二全息区域产生的衍射。6.如权利要求5述的光拾取设备，其中所述第一光束和第二光束是不同级的衍射。7.如权利要求5所述的光拾取设备，其中所述第一全息区域和第二全息区域具有各自不同的透镜功能。8.如权利要求7所述的光拾取设备，其中所述第一光束和第二光束是相同级的衍射。9.如权利要求2所述的光拾取设备，其中所述光源、所述分光单元、以及所述一个或多个光电检测器被放置在单个外壳中，并且被配置成单个封装。10.如权利要求1所述的光拾取设备，还包括驱动单元，其被配置成在所述聚光单元的光轴方向上，驱动所述聚光单元。11.如权利要求1所述的光拾取设备，还包括驱动单元，其被配置成在关于所述一个或多个光电检测器的光电检测表面的光轴方向上，驱动所述一个或多个光电检测器。12.如权利要求1所述的光拾取设备，还包括光电装置，其具有响应于外加电压而改变的折射率，所述光电装置位于从所述聚光单元传播的会聚光束的路径上。13.一种用于从具有两个记...

【专利技术属性】
技术研发人员：小形哲也，
申请(专利权)人：株式会社理光，
类型：发明
国别省市：JP[日本]