金属线栅偏振片与光探测设备制造技术

本申请实施例提供一种金属线栅偏振片与光探测设备。金属线栅偏振片包括透明衬底及设于透明衬底上的金属层，金属层包括第一线栅单元、第二线栅单元，第一线栅单元包括间隔且平行设置的多根第一金属条，第二线栅单元包括间隔且平行设置的多根第二金属条；第一金属条的延伸方向与第二金属条的延伸方向不平行。当该金属线栅偏振片应用于光探测设备时，可以将第一线栅单元与第二线栅单元分别对应第一探测单元与第二探测单元设置，这样第一探测单元与第二探测单元各自检测到的偏振光的偏振方向不同，从而可以采用一个光探测设备实现多种偏振光的检测，并且，在检测过程中，不需要改变探测单元的位置或方向，使光探测设备的使用更加便捷。便捷。便捷。

【技术实现步骤摘要】
金属线栅偏振片与光探测设备


[0001]本申请涉及偏振片
，特别涉及一种金属线栅偏振片与光探测设备。

技术介绍

[0002]偏振片包括吸收型偏振片及反射型偏振片。吸收型偏振片是例如使碘等二向色性色素在树脂薄膜中取向的偏振片。反射型偏振片包括线栅型偏振片、由双折射树脂层叠体构成的直线偏振片及由胆甾型液晶构成的圆偏振片。然而，直线偏振片及圆偏振片显示出的偏振光分离能力较低。因此，显示出较高偏振光分离能力的线栅型偏振片受到重视。线栅型偏振片的结构如下：多个金属细线相互平行地排列在透光性基板上，在金属细线的间距比入射光的波长充分短的情况下，线栅型偏振片使入射光中具有与金属细线正交的电场矢量的成分(即p偏振光)透过，将具有与金属细线相平行的电场矢量的成分(即s偏振光)反射。

技术实现思路

[0003]本申请实施例提供一种金属线栅偏振片与光探测设备，该金属线栅偏振片可以在不同区域透过不同偏振方向的偏振光，与探测器配合使用时可以使光线偏振信息的检测更加便捷。
[0004]第一方面，本申请实施例提供一种金属线栅偏振片，包括透明衬底及设于所述透明衬底上的金属层，所述金属层包括第一线栅单元、第二线栅单元，所述第一线栅单元包括间隔且平行设置的多根第一金属条，所述第二线栅单元包括间隔且平行设置的多根第二金属条；所述第一金属条的延伸方向与所述第二金属条的延伸方向不平行。
[0005]可选的，所述第一金属条的延伸方向垂直于所述第二金属条的延伸方向。可选的，所述第一线栅单元与所述第二线栅单元的线栅周期不同；和/或
[0006]所述第一线栅单元与所述第二线栅单元的高宽比不同；和/或
[0007]所述第一线栅单元与所述第二线栅单元的线宽不同。
[0008]可选的，所述金属层还包括第三线栅单元，所述第三线栅单元包括间隔且平行设置的多根第三金属条，所述第一金属条、所述第二金属条、所述第三金属条中，任意两者的延伸方向不平行。
[0009]可选的，所述第三金属条的延伸方向与所述第一金属条的延伸方向之间的夹角为第一锐角，所述第三金属条的延伸方向与所述第二金属条的延伸方向之间的夹角为第二锐角。
[0010]可选的，所述第一锐角为45度，所述第二锐角为45度。
[0011]可选的，所述金属层中，所述第一线栅单元的数量设置为多个，所述第二线栅单元的数量设置为多个，所述第三线栅单元的数量设置为多个；
[0012]多个所述第一线栅单元按照第一方向依次排列为第一行，多个所述第二线栅单元按照第一方向依次排列为第二行，多个所述第三线栅单元按照第一方向依次排列为第三
行；所述第一行、所述第二行、所述第三行按照垂直于所述第一方向的第二方向依次排列。
[0013]可选的，所述第一线栅单元、所述第二线栅单元以及所述第三线栅单元中，任意两个线栅单元的线栅周期不同；和/或
[0014]所述第一线栅单元、所述第二线栅单元以及所述第三线栅单元中，任意两个线栅单元的高宽比不同；和/或
[0015]所述第一线栅单元、所述第二线栅单元以及所述第三线栅单元中，任意两个线栅单元的线宽不同。
[0016]可选的，所述金属线栅偏振片采用纳米压印工艺制备得到。
[0017]第二方面，本申请实施例提供一种光探测设备，包括金属线栅偏振片与探测器；
[0018]所述金属线栅偏振片为如上所述的金属线栅偏振片；
[0019]所述探测器包括第一探测单元与第二探测单元；
[0020]所述第一探测单元与所述第一线栅单元对应设置，所述第二探测单元与所述第二线栅单元对应设置。
[0021]本申请实施例提供的金属线栅偏振片，包括第一线栅单元与第二线栅单元，且第一线栅单元与第二线栅单元的线栅方向不同，当该金属线栅偏振片应用于光探测设备时，可以将第一线栅单元与第二线栅单元分别对应第一探测单元与第二探测单元设置，这样第一探测单元与第二探测单元各自检测到的偏振光的偏振方向不同，从而可以采用一个光探测设备实现多种偏振光的检测，并且，在检测过程中，不需要改变探测单元的位置或方向，使光探测设备的功能更强大，使用更加便捷。
附图说明
[0022]为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0023]图1为本申请实施例提供的金属线栅偏振片的第一角度的结构示意图。
[0024]图2为图1的金属线栅偏振片中的第一线栅单元的放大结构示意图。
[0025]图3为图1的金属线栅偏振片中的第一线栅单元的立体结构示意图。
[0026]图4为图1的金属线栅偏振片中的第二线栅单元的放大结构示意图。
[0027]图5为图1的金属线栅偏振片中的第三线栅单元的放大结构示意图。
[0028]图6为本申请实施例提供的金属线栅偏振片的第二角度的结构示意图。
[0029]图7为本申请实施例提供的光探测设备的第一角度的结构示意图。
[0030]图8为本申请实施例提供的光探测设备的第二角度的结构示意图。
具体实施方式
[0031]下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0032]请参阅图1，图1为本申请实施例提供的金属线栅偏振片的第一角度的结构示意图。金属线栅偏振片110可以包括透明衬底10及设于透明衬底10上的金属层20，金属层20包括第一线栅单元21、第二线栅单元22，第一线栅单元21包括间隔且平行设置的多根第一金属条211，第二线栅单元22包括间隔且平行设置的多根第二金属条221；第一金属条211的延伸方向与第二金属条221的延伸方向不平行。
[0033]已知金属线栅偏振片能够透过偏振方向垂直于线栅方向(金属条延伸方向)的入射光，并且反射偏振方向平行于线栅方向的入射光，本申请实施例通过将第一金属条211的延伸方向与第二金属条221的延伸方向设置为不同的方向，从而使得第一线栅单元21与第二线栅单元22所选择透过的偏振光的偏振方向不同，也即是说，当一束具有多个偏振方向的光穿过本申请实施例的金属线栅偏振片110时，从第一线栅单元21与第二线栅单元22中透射出的光线的偏振方向各不相同。当该金属线栅偏振片110应用于光探测设备100时，可以将第一线栅单元21与第二线栅单元22分别对应第一探测单元41与第二探测单元42设置，这样第一探测单元41与第二探测单元42各自检测到的偏振光的偏振方向不同，从而可以采用一个光探测设备100实现多种偏振光的检测，并且，在检测过程中，不需要改变探测单元的位置或方向，使光探测设备100的功能更强大，使用本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种金属线栅偏振片，其特征在于，包括透明衬底及设于所述透明衬底上的金属层，所述金属层包括第一线栅单元、第二线栅单元，所述第一线栅单元包括间隔且平行设置的多根第一金属条，所述第二线栅单元包括间隔且平行设置的多根第二金属条；所述第一金属条的延伸方向与所述第二金属条的延伸方向不平行。2.根据权利要求1所述的金属线栅偏振片，其特征在于，所述第一金属条的延伸方向垂直于所述第二金属条的延伸方向。3.根据权利要求1所述的金属线栅偏振片，其特征在于，所述第一线栅单元与所述第二线栅单元的线栅周期不同；和/或所述第一线栅单元与所述第二线栅单元的高宽比不同；和/或所述第一线栅单元与所述第二线栅单元的线宽不同。4.根据权利要求1
‑
3任一项所述的金属线栅偏振片，其特征在于，所述金属层还包括第三线栅单元，所述第三线栅单元包括间隔且平行设置的多根第三金属条，所述第一金属条、所述第二金属条、所述第三金属条中，任意两者的延伸方向不平行。5.根据权利要求4所述的金属线栅偏振片，其特征在于，所述第三金属条的延伸方向与所述第一金属条的延伸方向之间的夹角为第一锐角，所述第三金属条的延伸方向与所述第二金属条的延伸方向之间的夹角为第二锐角。6.根据权利要求5所述的金属线栅偏振片，其特征在于，所述第一锐角为45度，所述第二锐...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈黎暄，
申请(专利权)人：深圳市华星光电半导体显示技术有限公司，
类型：发明
国别省市：