试样支承体、离子化方法和质量分析方法技术

技术编号:30531306 阅读:26 留言:0更新日期:2021-10-30 12:32
试样支承体是用于使用移液管吸头滴下的试样溶液中所含的试样的离子化的试样支承体。试样支承体具备:基板,其形成有在第1表面和第2表面开口的多个贯通孔;和框架,其形成有以从基板的厚度方向观察的情况下与测量区域重叠的方式在厚度方向贯通的贯通孔,且与基板的第1表面接合。框架的贯通孔包括宽度窄部,该宽度窄部具有比移液管吸头的前端的外径小的宽度。窄部具有比移液管吸头的前端的外径小的宽度。窄部具有比移液管吸头的前端的外径小的宽度。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】试样支承体、离子化方法和质量分析方法


[0001]本专利技术涉及一种试样支承体、离子化方法和质量分析方法。

技术介绍

[0002]现有技术中,作为为了进行质量分析等而将生物体试样等试样离子化的方法,已知有激光解吸离子化法。作为用于激光解吸离子化法的试样支承体,专利文献1中记载了包括形成有多个贯通孔的基板和设置于基板的至少一个表面的导电层的试样支承体。
[0003]现有技术文献
[0004]专利文献
[0005][专利文献1]日本专利第6093492号公报

技术实现思路

[0006]专利技术想要解决的技术问题
[0007]作为使用了上述试样支承体的测量方法,有如下方法:对在上述试样支承体中形成有导电层的面滴下测量对象(离子化对象)的试样溶液,在该试样溶液干燥后对该面照射激光等能量射线。在该方法中,试样溶液的滴下可以使用移液管吸头实施。在此,为了在尽可能短的时间内使试样溶液干燥,有时试样溶液的滴下量为非常少量(例如50nL~100nL等)。此时,为了向试样支承体的测量区域(用于配置试样的区域)可靠地滴下试样溶液,需要使移液管吸头的前端尽量接近测量区域。
[0008]但是,手动进行使移液管吸头靠近测量区域的操作时,移液管吸头的前端有可能无意地接触测量区域。另外,即使在机械地进行上述操作的情况下,也不容易高精度地定位移液管吸头的前端的高度。特别是,在通过同时操作多个移液管吸头来对设置于试样支承体的多个测量区域同时滴下试样溶液的情况下,要求使多个移液管吸头的前端的高度位置高精度地一致,但这样的控制并不容易。这样,无论通过手动或机械操作中的哪一个来进行使用移液管吸头滴下试样溶液的操作,移液管吸头的前端都有可能与测量区域接触。另外,由于构成试样支承体的基板是薄膜状的薄膜,所以如果移液管吸头的前端与测量区域接触,则在该测量区域基板有可能破损。
[0009]因此,本公开的目的在于提供一种能够防止因基板与移液管吸头的接触而导致的基板的破损的试样支承体、离子化方法和质量分析方法。
[0010]用于解决技术问题的方法
[0011]本公开的一个方面的试样支承体用于试样的离子化,该试样是使用移液管吸头滴下的试样溶液中所含的试样,所述试样支承体具备:基板,其具有第1表面和与第1表面相反侧的第2表面,并形成有在第1表面和第2表面开口的多个第1贯通孔;和框架,其以在从基板的厚度方向观察的情况下与基板中用于使试样的成分离子化的测量区域重叠的方式形成有在厚度方向贯通的第2贯通孔,并与基板的第1表面接合,第2贯通孔包括宽度窄部,该宽度窄部具有比移液管吸头的前端的外径小的宽度。
[0012]在上述试样支承体中,在框架中,在形成有多个第1贯通孔的基板中的与用于使试样的成分离子化的测量区域重叠的部分,形成有包含宽度窄部的第2贯通孔,该宽度窄部具有比用于滴下试样溶液的移液管吸头的前端的外径小的宽度。因此,即使为了向测量区域的第1表面滴下试样溶液而进行了使移液管吸头的前端靠近第1表面的操作,移液管吸头的前端也不会通过第2贯通孔。即,通过第2贯通孔的宽度窄部,可靠地防止移液管吸头的前端贯通第2贯通孔而与测量区域的第1表面接触。因此,根据上述试样支承体,能够防止基板与移液管吸头接触导致的基板的破损。
[0013]第2贯通孔也可以形成为具有比外径小的宽度的筒状。由此,通过具有比较简单的形状的第2贯通孔,能够可靠地防止移液管吸头的前端与测量区域的第1表面的接触。
[0014]也可以是,第2贯通孔形成为内径随着沿厚度方向接近第1表面而变小的锥状,在从厚度方向观察的情况下,第2贯通孔的与第1表面侧相反的一侧的开口具有包含移液管吸头的前端的大小。由此,能够容易地将移液管吸头的前端导入到第2贯通孔内。即,即使移液管吸头的前端的位置在与厚度方向正交的方向上稍微偏离,也能够将移液管吸头的前端引导到第2贯通孔内。另外,由于能够使移液管吸头的前端更接近测量区域的第1表面,所以能够向测量区域适当地滴下试样溶液。
[0015]也可以是,第2贯通孔具有:筒状部,其包含宽度窄部;和碗状部,其与筒状部的与第1表面侧相反的一侧的端部连接,且内径随着沿着厚度方向远离第1表面而变大,在从厚度方向观察的情况下,碗状部的与筒状部相反的一侧的开口具有包含移液管吸头的前端的大小。由此,能够容易地将移液管吸头的前端导入到第2贯通孔内。即,即使移液管吸头的前端的位置在与厚度方向正交的方向上稍微偏离,也能够将移液管吸头的前端导入到第2贯通孔内。另外,由于能够使移液管吸头的前端更接近测量区域的第1表面,所以能够向测量区域适当地滴下试样溶液。另外,这样的第2贯通孔具有能够通过蚀刻加工等比较容易的加工而形成的优点。
[0016]也可以是,第2贯通孔还具有内侧碗状部,该内侧碗状部与筒状部的第1表面侧的端部连接,且内径随着沿厚度方向接近第1表面而变大。在该情况下,与第2贯通孔不具有内侧碗状部的情况相比,能够扩大在第2贯通孔露出的第1表面的面积。由此,在利用粘接剂将框架与基板的第1表面粘接的情况下,即使该粘接剂向测量区域侧稍微滴液,也能够没有问题地实施使用了测量区域的试样的离子化。
[0017]也可以是,上述试样支承体还包括粘接层,该粘接层配置于框架与第1表面之间,且将框架与第1表面粘接,在框架中,在第2贯通孔的附近且与粘接层相对的面形成有收纳粘接层的一部分的凹部。由此,在第2贯通孔的附近、即测量区域的周缘部分,能够使构成粘接层的粘接剂向凹部逃逸,所以能够抑制该粘接剂向测量区域侧滴液。由此,能够适当地进行使用了测量区域的试样的离子化。
[0018]上述试样支承体还可以包括由磁性材料形成且设置于基板的第2表面的磁性基板。例如在为了向试样支承体滴下试样溶液而固定试样支承体时,通过使用具有磁性的载置部,从而能够利用作用于磁性基板与载置部之间的磁力将磁性基板适当地相对于载置部固定。
[0019]也可以是,框架由磁性材料形成,磁性基板通过框架与磁性基板之间的磁力而相对于基板的第2表面固定。假设利用粘接剂将磁性基板粘接于基板的第2表面,则在测量(滴
下到测量区域的试样的离子化)时,不仅测量对象的试样被离子化,而且设置于测量区域的第2表面的粘接剂的成分也被离子化,有可能无法适当地实施测量。另一方面,根据上述结构,能够消除上述问题点,并且能够容易地将磁性基板相对于基板固定。
[0020]在从厚度方向观察的情况下不与基板重叠的框架的周缘部和磁性基板的周缘部也可以彼此接合。由此,能够将设置于基板的第1表面侧的框架与设置于基板的第2表面侧的磁性基板适当地固定。
[0021]上述试样支承体还可以进一步在第1表面具备以不堵塞第1贯通孔的方式设置的导电层。由此,即使在使用绝缘性的基板的情况下,也能够经由导电层对基板的第1表面侧施加电压。由此,在对第1表面滴下试样溶液后,在该试样溶液干燥后,一边对导电层施加电压一边对第1表面照射能量射线,由此能够使试样的成分适当地离子化。
[0022]也可以是,第1贯通孔的宽度为1nm~700本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种试样支承体,其特征在于:所述试样支承体用于试样的离子化,所述试样是使用移液管吸头滴下的试样溶液中所含的试样,所述试样支承体具备:基板,其具有第1表面和与所述第1表面相反侧的第2表面,并形成有在所述第1表面和所述第2表面开口的多个第1贯通孔;和框架,其以从所述基板的厚度方向观察的情况下与所述基板中用于使所述试样的成分离子化的测量区域重叠的方式形成有在所述厚度方向贯通的第2贯通孔,并与所述基板的所述第1表面接合,所述第2贯通孔包括宽度窄部,该宽度窄部具有比所述移液管吸头的前端的外径小的宽度。2.如权利要求1所述的试样支承体,其特征在于:所述第2贯通孔形成为具有比所述外径小的宽度的筒状。3.如权利要求1所述的试样支承体,其特征在于:所述第2贯通孔形成为内径随着沿所述厚度方向接近所述第1表面而变小的锥状,在从所述厚度方向观察的情况下,所述第2贯通孔的与所述第1表面侧相反的一侧的开口具有包含所述移液管吸头的所述前端的大小。4.如权利要求1所述的试样支承体,其特征在于:所述第2贯通孔具有:筒状部,其包含所述宽度窄部;和碗状部,其与所述筒状部的与所述第1表面侧相反的一侧的端部连接,且内径随着沿所述厚度方向远离所述第1表面而变大,在从所述厚度方向观察的情况下,所述碗状部的与所述筒状部相反的一侧的开口具有包含所述移液管吸头的所述前端的大小。5.如权利要求4所述的试样支承体,其特征在于:所述第2贯通孔还具有内侧碗状部,该内侧碗状部与所述筒状部的所述第1表面侧的端部连接,且内径随着沿所述厚度方向接近所述第1表面而变大。6.如权利要求1~5中任一项所述的试样支承体,其特征在于:所述试样支承体还包括粘接层,该粘接层配置于所述框架与所述第1表面之间,且将所述框架与所述第1表面粘接,在所述框架中,在所述第2贯通孔的附近且与所述粘接层相对的面形成有收纳所述粘接层的一部分的凹部。7.如权利要求1~6中任一项所述的试样支承体,其特征在于:所述试样支承体还包括磁性基板,该磁性...

【专利技术属性】
技术研发人员:小谷政弘大村孝幸田代晃
申请(专利权)人:浜松光子学株式会社
类型:发明
国别省市:

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