全息存储装置制造方法及图纸

为了适当重现来自全息存储器的信息，即使当倾斜误差在垂直于包括有数据光和参考光的光轴的表面的方向上出现时。在重现期间，全息存储器（１０）从起始访问位置开始相对于重现目标块在固定往返范围内于盘周缘方向上被逐步馈送。在每一个逐步馈送位置上，重现信号的ＳＮＲ通过ＳＮＲ计算电路（１９）来计算以此探测重现信号的质量。其中ＳＮＲ变为最佳的盘周缘方向位置相对于重现目标块被设置在周缘方向位置。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种全息存储装置，用于重现来自全息存储器的信息，在全息存储器中通过固定由数据光和参考光之间于其中导致的干涉所产生的干涉条纹来记录信息，并且尤其适合用于校正全息存储器和参考光之间的倾斜误差。
技术介绍
一般，在全息存储器中，通过在全息存储材料上固定由数据光和参考光之间于其中导致的干涉所产生的干涉条纹来记录信息。在这种情形下，按照要被记录的信息，数据光经历了空间光调制。因此，在数据光和参考光被施加于全息存储器时，按照要被记录的信息，在全息材料层上产生亮和暗的干涉条纹。全息存储材料中的高度聚合单体接近要被聚合的干涉条纹的“亮”区，从而在与干涉条纹相对应的全息存储材料层上固定折射率分布。结果，信息被记录在全息存储器中。已知在全息存储器中，通过改变参考光相对于全息存储材料层的入射角(角度复用)，可将多种信息同时记录在一个记录区域(记录块)上。也就是，每当参考光的入射角针对不同种类的信息而被改变时，数据光会经历空间光调制，据此针对每一入射角，各自与要被记录的不同块信息相对应的干涉条纹被独立固定在相同的记录区域上。在重现期间，参考光以与记录期间所施加的参考光相同的角度被施加于全息存储材料层上。因此，按照该角度的干涉条纹，衍射在参考光中出现，并且被衍射的参考光被受光器元件接收以此重现以该角度被记录的信息。JP-11-16374和JP-A-2000-338846各自描述了基于角度复用的全息存储装置。在通过角度复用记录信息的情形中，通常参考光相对于全息材料层的入射角在包括有数据光和参考光的光轴的表面的共面方向上被改变。因此，即使当重现期间在共面方向上于全息存储器和参考光之间出现了倾斜误差时，通过按照倾斜误差控制用于调节参考光的执行机构(电流反射镜等)，可将参考光相对于全息存储器的入射角调节到适当的状态。例如，如图10A所示，当干涉条纹在全息存储材料层上生成时，即使重现期间在全息存储器中沿着图10A中的线X-Y的平面上出现了倾斜，如图10B所示参考光执行机构被驱动并被控制以此校正参考光的入射角，从而使得参考光以适当的角度入射到全息存储器上。然而，如果倾斜误差出现在垂直于包括有数据光和参考光的光轴的表面的方向上，即如果倾斜误差出现在沿着图10A的线X-Z的平面的共面方向上，干涉条纹的方向向量具备有不同于参考光执行机构的驱动方向的向量分量。因此，仅仅通过控制参考光执行机构不能抑制这个向量分量。在这种情形下，即使当参考光执行机构被控制时，干涉条纹和参考光之间的角度不同于记录期间使其不能获得适当的重现信号的角度。
技术实现思路
进行本专利技术来解决上述问题，并且本专利技术的目的是提供一种即使当倾斜误差在全息存储器中垂直于包括有数据光和参考光的光轴的表面方向上出现时，也能够适当重现来自全息存储器的信息的全息存储装置。按照本专利技术的第一方面，用于通过将参考光施加于全息存储介质来重现通过针对每个像素进行光调制而被记录在全息存储介质中的二进制数据1和0的全息存储装置的特征在于包括用于探测被全息存储介质衍射的参考光并且基于衍射状态为每个像素输出信号的光电探测单元；用于探测从光电探测单元输出的信号质量的质量探测单元；用于改变全息存储介质的旋转位置的位置改变单元；用于基于质量探测单元的探测结果在质量是适当的时候探测全息存储介质的旋转位置的位置探测单元；以及用于在全息存储介质位于由位置探测单元探测到的旋转位置上时获得从光电探测单元输出的信号的重现数据的重现数据获取单元。按照本专利技术的第二方面，在按照本专利技术第一方面的全息存储装置中，每当全息存储介质的旋转位置被改变时，质量探测单元探测从光电探测单元输出的信号的质量，以及位置探测单元探测其中由质量探测单元探测到的质量是最佳的旋转位置作为重现期间全息存储器的旋转位置。按照本专利技术的第三方面，在按照本专利技术第一或第二方面的全息存储装置中，质量探测单元针对各个像素基于从光电探测单元输出的信号中与二进制数据1对应的信号组的信号值的平均值μ1和与二进制数据0对应的信号组的信号值的平均值μ0之间的差，来探测从光电探测单元输出的信号的质量。按照本专利技术的第四方面，在按照本专利技术的第一或第二方面的全息存储装置中，质量探测单元针对各个像素基于从光电探测单元输出的信号当与二进制数据1对应的信号组的信号值的标准偏差σ1和与二进制数据0对应的信号组的信号值的标准偏差σ0的总和，来探测从光电探测单元输出的信号的质量。按照本专利技术的第五方面，在按照本专利技术的第一或第二方面的全息存储装置中，质量探测单元针对各个像素基于从光电探测单元输出的信号中与二进制数据1对应的信号组的信号值的平均值μ1和与二进制数据0对应的信号组的信号值的平均值μ0之间的差、以及与二进制数据1对应的信号组的信号值的标准偏差σ1和与二进制数据0对应的信号组的信号值的标准偏差σ0的总和，来探测从光电探测单元输出的信号的质量。按照本专利技术的第六方面，用于通过将参考光施加于全息存储介质来重现被记录在全息存储介质中的数据的全息存储装置的特征在于包括用于探测全息存储介质的倾斜的倾斜探测单元；以及用于基于倾斜探测单元的探测结果调节全息存储介质的旋转位置到达倾斜的影响被抑制的位置的调节单元。按照本专利技术的第七方面，在按照本专利技术第六方面的全息存储装置中，调节单元配备有其中倾斜量和旋转位置的校正量彼此相关联的表格。按照本专利技术的第八方面，用于通过将参考光施加于全息存储介质来重现记录在全息存储介质中的数据的全息存储装置的特征在于包含用于探测被全息存储介质衍射的参考光并且基于衍射状态输出每个像素的信号的光电探测元件；以及用于实施处理的控制电路，所述处理包括用于探测从光电探测元件输出的信号质量的质量探测处理；用于改变全息存储介质的旋转位置的位置改变处理；用于基于质量探测处理中的探测结果在质量是适当的时候探测全息存储介质的旋转位置的位置探测处理；以及用于在全息存储介质位于位置探测处理中探测到的旋转位置时获得从光电探测单元输出的信号的重现数据的重现数据获得处理。按照本专利技术的第九方面，在按照本专利技术第八方面的全息存储装置中，每当全息存储介质的旋转位置被改变时，质量探测处理探测从光电探测元件输出的信号的质量；以及位置探测处理探测其中在质量探测处理中探测到的质量是最佳的旋转位置作为重现期间全息存储器的旋转位置。按照本专利技术，即使当倾斜误差在垂直于包括有数据光和参考光的光轴的表面的方向上出现时，通过将全息存储介质的旋转位置调节至适当位置也能够获得高质量的重现数据。附图说明在参考附图阅读下面的实施例描述时，本专利技术上述的和其他的目的以及其中的新颖特征将变得更加清楚，其中图1是表示按照本专利技术实施例1的全息存储装置的光学系统的示意图。图2是表示按照本专利技术实施例1的全息存储装置的配置的示意图。图3是说明按照本专利技术实施例1的SNR计算方法的示意图。图4是表示按照本专利技术实施例1的全息存储装置的重现操作的流程图。图5A和5B是说明按照本专利技术实施例1的倾斜校正操作的示意图。图6A和6B是说明按照本专利技术实施例1的倾斜校正操作的示意图。图7是表示按照本专利技术实施例2的全息存储装置的光学系统的示意图。图8是表示按照本专利技术实施例2的全息存储装置的配置的示意图。图9是表示按照本专利技术实施例2的全息存储装置的重现操作的流程图。图10A和10本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种全息存储装置，用于通过将参考光施加于全息存储介质来重现二进制数据１和０，所述二进制数据１和０通过针对每个像素进行光调制而被记录在全息存储介质中，其特征在于包含：光电探测单元，用于探测被所述全息存储介质衍射的参考光并且基于衍射状态 输出每个像素的信号；质量探测单元，用于探测从所述光电探测单元输出的信号的质量；位置改变单元，用于改变所述全息存储介质的旋转位置；位置探测单元，用于基于所述质量探测单元的探测结果在所述质量是适当的时候探测所述全息存储介 质的旋转位置；以及重现数据获取单元，用于在所述全息存储介质位于所述位置探测单元探测的旋转位置时获得从所述光电探测单元输出的所述信号的重现数据。

【技术特征摘要】
US 2005-11-22 11/2839661.一种全息存储装置，用于通过将参考光施加于全息存储介质来重现二进制数据1和0，所述二进制数据1和0通过针对每个像素进行光调制而被记录在全息存储介质中，其特征在于包含光电探测单元，用于探测被所述全息存储介质衍射的参考光并且基于衍射状态输出每个像素的信号；质量探测单元，用于探测从所述光电探测单元输出的信号的质量；位置改变单元，用于改变所述全息存储介质的旋转位置；位置探测单元，用于基于所述质量探测单元的探测结果在所述质量是适当的时候探测所述全息存储介质的旋转位置；以及重现数据获取单元，用于在所述全息存储介质位于所述位置探测单元探测的旋转位置时获得从所述光电探测单元输出的所述信号的重现数据。2.如权利要求1所述的全息存储装置，其中每当所述全息存储介质的所述旋转位置被改变时，所述质量探测单元探测从所述光电探测单元输出的所述信号的质量；以及所述位置探测单元探测其中由所述质量探测单元探测到的质量是最佳的旋转位置作为重现期间所述全息存储器的旋转位置。3.如权利要求1或2所述的全息存储装置，其中所述质量探测单元针对各个像素基于从所述光电探测单元输出的信号中与二进制数据对应的信号组的信号值的平均值μ1和与二进制数据0对应的信号组的信号值的平均值μ0之间的差，来探测从所述光电探测单元输出的所述信号的质量。4.如权利要求1或2所述的全息存储装置，其中所述质量探测单元针对各个像素基于从所述光电探测单元输出的所述信号中与二进制数据1对应的信号组的信号值的标准偏差σ1和与二进制数据0对应的信号组的信号值的标准偏差σ0的总和，来探测从所述光电探测单元输出的所述信号的质量。5.如权利要求1或2所述的全息存储装置，其中所述质量探测单元针对各个像...

【专利技术属性】
技术研发人员：松村吉晋，IR雷德蒙德，
申请(专利权)人：三洋电机株式会社，英菲斯技术公司，
类型：发明
国别省市：JP[日本]