光盘记录装置和光盘的记录方法制造方法及图纸

驱动装置与盘表面的温度差大，在盘表面的温度逐步变化的过渡状态中，根据盘表面的温度使策略适当化、使激光的照射角度适当化、使功率适当化是要解决的课题。本发明专利技术分别检测出驱动装置和盘表面的温度，基于该温度差确定适当的策略，另外，通过进行调整，在盘倾斜的情况下使激光以适当的角度照射，从而使激光照射到盘上，根据盘表面的温度确定适当的功率，由此解决所述课题。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及使用半导体激光器在盘中记录信息的光盘装置。
技术介绍
作为光盘装置的热对策，有对记录波形(以下称为策略)进行控制的方法。该控制方法，例如在日本专利特开2001-297437号公报中公开的在时间轴方向上控制脉冲信号波形的方法，例如在日本专利特开2005-182847号公报和日本专利特开2001-143372号公报中公开的控制短脉冲的脉冲振幅(功率)的方法。另外，还有在例如日本专利特开2001-34947号公报中公开的检查记录位置附近的温度并进行校准的方法。近年来，使用光盘的信息记录装置(以下，将光盘记录装置称为驱动装置)的发展显著。大容量化、高速化和小型化取得了进展，但另一方面，驱动装置的发热或来自周围温度的热量对记录质量产生了坏的影响。作为热量对记录产生坏影响的原因，可以例举的有激光波长随温度变化、盘的信号记录层的灵敏度随温度变化、标记(mark)空间(space)部由于热积蓄和热干涉发生形变等。如果在温度高的驱动装置中装入温度低的盘，则盘表面的温度随时间上升，最终变成大致与驱动装置内的温度相同。在这样的盘表面的温度发生变化的过渡状态下，合适的记录条件根据盘表面温度逐步变化。然而，现有的方法中检测温度的位置在盘的周边部仅有一处，有无法由与盘表面温度的过渡状态对应的合适的策略进行记录的问题。另外，还存在在过渡状态初期，由于驱动装置与盘表面的温度差，盘暂时翘起，如果结合过渡状态初期来进行倾斜调整，则在过渡状态结束时，盘的倾斜恢复，照射到盘上的激光的角度就变得不合适这样的问题。另外，在过渡状态初期和过渡状态结束时，由于盘表面温度不同，如果结合过渡状态初期来进行功率调整，则在过渡状态结束时，由于过渡状态初期的激光的功率热量和盘表面上积蓄的热量加在一起，记录功率会变得不合适，这也是问题。
技术实现思路
于是，本专利技术的课题是在驱动装置与盘表面的温度差大，盘表面的温度逐步变化的过渡状态下，以合适的记录条件实现记录。为了解决上述课题，进行分别检测驱动装置和盘表面的温度，根据驱动装置和盘表面的温度确定适当的策略，更具体的是根据其温度差确定，另外，在盘的倾斜状态下以合适的角度照射激光而进行调整，使激光照射在盘上，另外，根据盘表面的温度确定合适的功率。本专利技术能够提供能以合适的记录条件进行记录，对使用者来说可靠性得到提高的光盘的记录装置。附图说明图1是表示第一实施例的整体构成的示意图。图2是表示第一实施例的温度信息和策略定时脉冲的关系的图表。图3是表示第三实施例的温度信息和功率系数的关系的图表。图4是表示第一实施例的策略和记录标记与再现二值化等级(level)的示意图。图5是表示第一实施例的策略的脉冲定时的变化的示意图。图6是表示第三实施例的策略的功率的变化的示意图。图7是表示第二实施例的整体构成的示意图。图8是表示第三实施例的整体构成的示意图。图9是表示第三实施例的温度信息的关系的图表。具体实施例方式以下，对于涉及本专利技术的驱动装置，以重写型的DVD(DigitalVersatile Disc)为例，参照附图加以说明。第一实施例图1表示本专利技术的第一实施例的驱动装置101的整体构成。驱动装置101具有光盘111、照射激光112的半导体激光器113、检测盘表面的温度的盘温度检测模块121、检测驱动装置的温度的驱动器温度检测模块122、计算盘与驱动装置的温度差的温度差算出模块123、确定与盘和驱动装置的温度对应的策略的策略确定模块124、设定已确定的策略的激光器驱动器125、和对在光盘111上记录的信号进行处理的信号处理部131。141是管理记录信息的主机。151是作为在光盘上进行记录的记录模块的实施例的拾取器。驱动器温度检测模块122安装在具有半导体激光器113和激光器驱动器125的拾取器151内。该驱动器温度检测模块122设置在面对光盘111的拾取器151内更佳。盘温度检测模块121在将光盘111装入到驱动装置101中时，检测光盘111的拾取器151侧的面的温度。作为一个例子，在盘温度检测模块121中使用热电元件，在驱动器温度检测模块122的温度传感器中使用热敏电阻。热敏电阻的电阻值随温度而变化，从与热敏电阻相关联的电压值和电流值进行换算而求出温度。另外，热电元件由于红外线所具有的热效应而使传感器变暖，检测到由元件温度的上升而产生的元件的电性质的变化。利用了该热电元件的性质来向光盘表面照射红外线，根据反射的红外线检测光盘表面的温度。这里，由于对半导体激光器113与更近的位置的盘表面之间的温度差进行测量相比，对于根据温度差的记录波形等的调整是有效的，所以，可以将半导体激光器113与盘温度检测模块121和驱动器温度检测模块122分别配置在更近的位置上，另外，盘温度检测模块121和驱动器温度检测模块122在相对对准的位置进行温度检测。因此，也可以是使盘温度检测模块121与驱动器温度检测模块122一体化来与光盘的半径方向的记录位置相配合而2移动的结构。另外，温度传感器无论是其它的接触式还是非接触式的，只要是检测温度的装置就可以。下面，参照图1、2、4、5对记录的动作进行说明。从主机141记录的信息施加到信号处理部131，信号处理部131进行扰频(scramble)、附加码和调制并进行编码。扰频是使数据随机化，防止固定图案的连续。附加码是为了对由通信线路的杂音和误操作引起的错误进行检测与校正而附加的误码校正码。调制是防止2进制信息1或0的连续、根据调制规则进行码的变换。被编码的信号以记录动作时钟为1T来表示，则在3T～14T的范围内将标记部和空间部记录在盘上。为了进行记录，设定与标记长度对应的策略和与盘记录膜适应的功率。图4表示用策略401和能在光盘上照射的标记空间部402将再现信号二值化而得到的再现二值化等级403。在策略401中具有的最初的发光脉冲被称为头脉冲411，在其后继续的脉冲组被称为多脉冲412。另外，最后的发光脉冲称为尾脉冲413，尾脉冲413之后的功率低的脉冲被称为尾清除脉冲414。多脉冲412在1T的周期内发光，发光脉冲数因记录标记长度而不同。设定记录标记长度是nT(n是自然数，3～11、14)，则多脉冲数为(n-3)。于是，若施加头脉冲411和尾脉冲413，则标记长度为nT的策略发光脉冲数为(n-1)。另外，脉冲的发光个数只是一个例子，也可以是其它个数。另外，在策略401中具有的最大功率被称为写入功率(Write Power)415，位于中间的功率称为消去功率416，最小功率称为清除功率417，不发光的等级称为消光等级418。若写入功率415照射到光盘上，则记录膜的温度上升到熔点以上，原子排列变成无秩序的状态。此后若清除功率417进行照射，由于急剧地冷却，原子排列在无秩序状态下变成无定形状态。由于这样的无序状态的光的反射率与其它情况相比变低，形成标记421。另一方面，若将消去功率416照射到光盘上，则由于在结晶化温度以上保持了一段时间，标记421部分的无序状态再次变成结晶状态，可以消去标记421部，在结晶化状态下形成反射率高的空间422。另外，即使以消去功率416照射空间422，也再次形成空间422。另外，图4是表示消去功率416比清除功率417大的示意图。消去功率416也可以与清除功率417本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光盘记录装置，通过将激光照射到光盘上进行信息的记录，其特征在于，具有：检测光盘表面的温度的第一温度检测模块；检测将激光照射到光盘上而进行记录的记录模块的温度的第二温度检测模块；算出来自所述第一和第二温度检测模块的光盘表面的温度与记录模块的温度的温度差的温度差算出模块；和根据由所述温度差算出模块得到的温度差确定记录波形的记录波形确定模块，其中，所述记录模块使用由所述记录波形确定模块确定的记录波形，在所述光盘上进行记录。

【技术特征摘要】
JP 2006-5-12 2006-1332071.一种光盘记录装置，通过将激光照射到光盘上进行信息的记录，其特征在于，具有检测光盘表面的温度的第一温度检测模块；检测将激光照射到光盘上而进行记录的记录模块的温度的第二温度检测模块；算出来自所述第一和第二温度检测模块的光盘表面的温度与记录模块的温度的温度差的温度差算出模块；和根据由所述温度差算出模块得到的温度差确定记录波形的记录波形确定模块，其中，所述记录模块使用由所述记录波形确定模块确定的记录波形，在所述光盘上进行记录。2.如权利要求1所述的光盘记录装置，其特征在于所述记录波形是多脉冲，所述记录波形确定模块通过所述温度差变更所述多脉冲的头脉冲或尾脉冲的脉冲宽度。3.如权利要求2所述的光盘记录装置，其特征在于所述脉冲宽度的变更使用表示通过所述温度差增减脉冲宽度的值的、预先设置的表格而进行。4.如权利要求1所述的光盘记录装置，其特征在于具有确定基于所述温度差算出模块得到的温度差的激光照射功率的激光功率确定模块，改变激光的照射功率，将激光照射在光盘面上。5.如权利要求4所述的光盘记录装置，其特征在于所述激光功率确定模块使用表示通过所述温度差增减功率的系数的、预先设置的表格而工作。6.如权利要求4所述的光盘记录装置，其特征在于所述激光功率确定模块使用盘表面温度变成恒定状态时的温度与过渡状态时的温度之比而工作。7.如权利要求1所述的光盘记录装置，其特征在于设置有测量光盘的倾斜的盘倾斜测量模块；和控制激光的照射角度的激光倾斜控制模块，变更激光的照射角度并照射到光盘上。8.如权利要求1所述的光盘记录装置，其特征在于当所述温度差大于确定的值时，所述记录波形确定模块根据由温度差算出模块得到的温度差确定记录波形。9.如权利要求1所述的光盘记录装置，其特征在于对检测所述光盘表面的温度的第一温度检测模块和检测将激光照射在光盘上而进行记录的记录模块的温度的第二温度检测模块进行温度检测的位置，即使在光盘的半径方向上移动也在相对的位置上进行温度检测。10.如权利要求1所述的光盘记录装置，其特征在于将激光照射在所述光盘上而进行记录的记录模块是拾取器，在拾取器的光盘面侧具有所述第二温度检测模块。11.一种光盘的记录方法，将激光照射到光盘上而进行信息的记录，其特征在于，包括检...

【专利技术属性】
技术研发人员：伸卓磨，赤星健司，
申请(专利权)人：株式会社日立制作所，
类型：发明
国别省市：JP[]