磁读/写头检测方法技术

本发明专利技术公开了一种用于检测其中磁记录部分和磁再现部分彼此靠近的磁读／写头的方法，所述方法包括如下步骤：以大于所述磁记录部分的正常磁记录操作的负载执行磁记录操作；以及在以所述负载进行的所述磁记录操作之后，检测所述磁再现部分。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术一般地涉及检测方法，具体涉及具有磁记录部分(读装置)和 磁再现部分(写装置)的磁读/写头的检测方法。本专利技术适用于例如包括用 于硬盘驱动器(HDD)的高灵敏读头(诸如巨磁阻GMR头装置 和穿隧磁阻(TMR)头装置)的磁读/写头的检测方法。
技术介绍
随着近来因特网等的普及，对于提供稳定记录和再现大量信息(包括 静止和运动的图片)的便宜的磁盘驱动器的需求不断增大。当增大表面记 录密度来满足大容量的要求时，记录介质上的1比特面积减小，并且来自 记录介质的信号磁场变得更弱。为了读该弱的信号磁场，需要小的并且高 灵敏的读头。对于这类读头，GMR头装置和TMR头装置是已知的。通常，基于头 装置的电磁转换特性进行头装置的读性能测试，并且在读头被安装在 HDD上之后测试整个HDD的运行，以确定HDD的工作性能。 现有技术包括例如日本专利申请公开No.( JP )2005-93054。 在HDD被装运之前进行环境测试，以检査HDD是否存在缺陷。环境 测试例如通过将HDD置于高于室温的温度下或外部负载之下来检测其特 性。随着高灵敏读头的小型化，读特性可能由于诸如磁场、热(温度)和 电波之类的外部负载而劣化。不利的是，这些外部负载降低了 HDD的成 品率。JP 2005-93054在HDD安装读装置之后进行外部负载测试，但是如 果从待安装到HDD上的候选件撤除不能维持到将外部负载的预定持续时 间的读装置，则可改善HDD的成品率。然而，新的专用外部负载测试设 备将增大HDD的成本，无法满足提供廉价HDD的需求。
技术实现思路
因此，本专利技术涉及用于提供对于外部负载劣化减小的磁再现部分的检 测方法。根据本专利技术的一方面的一种用于检测其中磁记录部分和磁再现部分彼此靠近的磁读/写头的方法包括如下步骤以大于所述磁记录部分的正常磁 记录操作的负载执行磁记录操作；以及在以所述负载进行的所述磁记录操 作之后，检测所述磁再现部分。此检测方法利用了磁记录部分和磁再现部 分之间的靠近布置，并且磁记录部分向磁再现部分施加外部负载。由于磁 记录操作施加大于正常的磁记录操作的负载，所以在正常磁记录操作中确 保了操作可靠性。此外，由传统的磁记录部分施加外部负载，而不设置新 的施加外部负载的装置，防止了检测成本的增加。当磁记录部分和磁再现 部分之间的距离为例如5 /mi时，它们在磁读/写头中彼此靠近，但是，本 专利技术对于该据率没有限制，只要磁记录部分可以向磁再现部分施加外部负 载。所述检测步骤检测当恒定电流流过所述磁再现部分时所述磁再现部分 的电压。所述负载可以为使大于额定电流的电流流过所述磁记录部分，以 最大的写频率连续地写，对于将由所述磁读/写头进行记录和再现的磁记录 介质的至少一圈进行连续地写。根据本专利技术的另一方面的头(所述头包括从盘读信息的所述读装置和 在所述盘中写信息的写装置)的读装置的测试方法包括如下步骤在所述 头被安装到存储设备上之前，在所述写装置向所述读装置施加负载的同 时，检测所述读装置的读特性。根据该测试方法，在检测读装置的读特性 时，检测步骤向读装置施加外部负载。传统头测试设备具有在外部负载 没有施加负载的情况下检测所述读装置的读特性的第一功能；和在没有外 部负载情况检测所述写装置的写特性的第二功能。第二功能可以控制流过写装置的电流的大小，电流的频率和写的次数。对于传统的测试设备而 言，在进行第一功能的同时进行第二功能不是大的变化。通过写装置施加 外部负载利用了传统的测试设备所固有的第一和第二功能。设置第三模式 仅仅需要对传统测试设备中的程序或软件进行小的修改，并且不需要新的设备，防止了测试成本的增加。而且，此测试方法较之JP 2005-93054可 以进一步提高HDD的成品率，因为其在头被安装在HDD上之前进行测 试。根据本专利技术的另一方面的制造包括头(所述头包括从盘读信息的读装置和在所述盘中写信息的写装置)的存储设备的方法包括如下步骤在所 述头被安装到所述存储设备上之前，在所述写装置向所述读装置施加负载 的同时，检测所述读装置的读特性；确定由所述检测步骤检测到的所述读 装置的读特性是否落入容许范围；以及选择具有落入所述容许范围的读特 性的所述读装置作为将被安装到所述存储设备上的候选件。该制造方法在 存储设备上仅仅安装由确定步骤确定为具有预定读特性的读装置，提高了 存储设备的成品率。上述的检测步骤可以限制存储设备制造成本的明显增 加。根据本专利技术的另一方面的用于制造包括头(所述头包括从盘读信息的 读装置和在所述盘中写信息的写装置)的存储设备的方法包括第一检测步骤，所述第一检测步骤在所述头被安装到所述存储设备上之前，在所述写装置没有向所述读装置施加负载的情况下检测所述读装置的读特性；第 二检测步骤，所述第二检测步骤在所述头被安装到所述存储设备上之前， 在所述写装置向所述读装置施加负载的情况下检测所述读装置的读特性； 确定由所述第二检测步骤检测出的所述读装置的读特性相对于由所述第一 检测步骤检测出的所述读装置的读特性的劣化是否落入容许范围；以及选 择具有落入所述容许范围的读特性的所述读装置作为将被安装到所述存储 设备上的候选件。该制造方法在存储设备上仅仅安装由确定步骤确定为具 有预定读特性的读装置，提高了存储设备的成品率。上述的检测步骤可以 限制存储设备制造成本的明显增加。例如，所述负载是磁负载和/或热负载。所述第二检测步骤的检测步骤将流过所述写装置的电流的大小、所述电流的频率和写的次数中至少之 一，设定为大于用于实际将信息写入盘中的实际使用模式中的最大值的 值。如果必要，可以进一步控制电流前沿的过冲、电流极性以及频率模式 (即，其是连续模式还是随机模式)。根据本专利技术的另一方面的程序能够使得计算机实施包括头(所述头包 括从盘读信息的读装置和在所述盘中写信息的写装置)的存储设备的制造 方法，所述方法包括如下歩骤确定在由写装置向读装置施加负载的情况 下所述读装置的读特性相对于在所述读装置没有负载的情况下读特性的劣 化是否落入容许范围；输出所述确定歩骤的确定结果，同时将所述确定结 果与头的识别信息相关联。此程序有助于分类存在缺陷和不存在缺陷的 头。根据本专利技术的另一方面的头(所述头包括从盘读信息的读装置和在所 述盘中写信息的写装置)的测试设备包括第一模式，用于在所述头被安 装到所述存储设备上之前，在所述写装置没有向所述读装置施加负载的情 况下检测所述读装置的读特性；第二模式，用于在所述头被安装到所述存 储设备上之前，检测所述写装置的写特性；和第三模式，用于在所述头被 安装到所述存储设备上之前，在所述写装置向所述读装置施加负载的情况 下检测所述读装置的读特性。此测试设备具有对于传统的测试设备不是固 有的第三模式，但是第三模式是对于第一和第二模式的修改，并且仅仅是 软件修改就足够了。因此，不必对传统的测试设备进行大的设计修改。优选地，测试设备还包括控制器，所述控制器确定在所述头被安装到 所述存储设备上之前，在所述写装置向所述读装置施加负载的情况下所述 读装置的读特性相对于在所述写装置没有向所述读装置施加负载的情况下 所述读装置的读特性的劣化是否落入容许范围。而且，控制器输出测试确 定结果，并且将其与头的ID相关联。参考附图，通过下面对优选本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于检测其中磁记录部分和磁再现部分彼此靠近的磁读／写头的方法，所述方法包括如下步骤：以大于所述磁记录部分的正常磁记录操作的负载执行磁记录操作；并且在以所述负载进行的所述磁记录操作之后，检测所述磁再现部分。

【技术特征摘要】
JP 2006-9-28 2006-2651811.一种用于检测其中磁记录部分和磁再现部分彼此靠近的磁读/写头的方法，所述方法包括如下步骤以大于所述磁记录部分的正常磁记录操作的负载执行磁记录操作；并且在以所述负载进行的所述磁记录操作之后，检测所述磁再现部分。2. 如权利要求1所述的方法，其中，所述检测步骤检测当恒定电流流 过所述磁再现部分时所述磁再现部分的电压。3. 如权利要求1所述的方法，其中，所述负载为使大于额定电流的电 流流过所述磁记录部分。4. 如权利要求1所述的方法，其中，所述负载为以最大的写频率连续 地写。5. 如权利要求l所述的方法，其中，所述负载为对于将由所述磁读/写 头进行记录和再现的磁记录介质的至少一圈进行连续地写。6. 头的读装置的测试方法，所述头包括从盘读信息的所述读装置和在所述盘中写信息的写装置，所述测试方法包括如下步骤在所述头被安装 到存储设备上之前，在所述写装置向所述读装置施加负载的同时，检测所 述读装置的读特性。7. —种用于制造包括头的存储设备的方法，所述头包括从盘读信息的读装置和在所述盘中写信息的写装置，所述方法包括如下步骤在所述头被安装到所述存储设备上之前，在所述写装置向所述读装置 施加负载的同时，检测所述读装置的读特性；确定由所述检测步骤检测到的所述读装置的读特性是否落入容许范围；并且选择具有落入所述容许范围的读特性的所述读装置作为将被安装到所 述存储设备上的候选件。8. 如权利要求7所述的制造方法，其中，所述检测步骤将流过所述写 装置的电流的大小、所述电流的频率和写的次数中至少之一，设定为大于用于实际将信息写入盘中的实际使用模式中的最大值的值。9. 一种用于制造包括头的存储设备的方法...

【专利技术属性】
技术研发人员：远藤敏彦，
申请(专利权)人：富士通株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[]