一种以太网设备的测试设备制造技术

本实用新型专利技术提出一种以太网设备的测试设备，该设备包括控制器、切换电路和校准电路，而且，校准电路还包括第一校准电路、第二校准电路和第三校准电路，在进行测试时，第一校准电路、第二校准电路和第三校准电路中的一路，通过以太网线与切换电路相连，切换电路分别与被测设备以及各功能测试设备相连，而控制器则分别与切换电路、校准电路以及上位机相连，在测试时，控制器根据上位机的测试指令控制切换电路切换被测设备与各功能测试设备之间的连接，以便实现对被测设备的各项功能的测试。本实施例提供的测试设备通过控制器对测试设备进行总体控制，实现被测设备与各个功能测试设备之间的切换连接，完成不同功能的制动化测试。完成不同功能的制动化测试。完成不同功能的制动化测试。

【技术实现步骤摘要】
一种以太网设备的测试设备


[0001]本技术涉及设备测试
，尤其涉及一种以太网设备的测试设备。

技术介绍

[0002]根据带宽的不同，大致可以将以太网设备分为100BASE
‑
TX设备和1000BASE
‑
T设备，但是不论对于哪一种以太网设备，当前对于以太网设备的测试通常都是借助转接测试板卡实现的。转接测试板卡具有不同的功能测试接口，在对以太网设备的各项功能进行测试时，需要根据待测试项，手动地将以太网设备插接到转接测试板卡的相应的功能测试接口，以便实现对相应功能的测试。
[0003]上述基于转接测试板卡的以太网设备测试过程需要用户频繁地执行以太网设备的插接操作，其测试过程繁琐，用户工作量大。

技术实现思路

[0004]基于上述现有技术的缺陷和不足，本技术提出一种以太网设备的测试设备，可以实现对以太网设备的自动测试。为实现上述目的，本技术的具体技术方案如下：
[0005]一种以太网设备的测试设备，包括：控制器、切换电路和校准电路，其中，
[0006]所述校准电路包括第一校准电路、第二校准电路和第三校准电路；
[0007]所述第一校准电路、第二校准电路和第三校准电路中的一路，通过以太网线与所述切换电路相连；
[0008]所述切换电路分别与被测设备以及各功能测试设备相连；
[0009]所述控制器分别与所述切换电路、所述校准电路以及上位机相连；
[0010]所述控制器用于根据所述上位机的测试指令控制所述切换电路切换所述被测设备与所述各功能测试设备之间的连接，以便实现对所述被测设备的各项功能的测试；
[0011]其中，所述各功能测试设备包括矢量网络分析仪、示波器和干扰源。
[0012]可选的，所述各功能测试设备还包括从扰动测试设备；
[0013]所述测试设备还包括：从扰动测试电路，其中，
[0014]所述从扰动测试电路的一端与所述从扰动测试设备相连；
[0015]所述从扰动测试电路的另一端经扰动测试线缆与所述被测设备相连。
[0016]可选的，所述切换电路包括负载电路、干扰源接入电路、共模测试电路和回波损耗测试电路，其中，
[0017]所述负载电路分别与所述被测设备、所述共模测试电路和所述回波损耗测试电路相连；
[0018]所述回波损耗测试电路分别与所述校准电路以及所述共模测试电路相连；
[0019]所述共模测试电路分别与所述干扰源接入电路以及所述示波器相连；
[0020]所述干扰源接入电路与所述干扰源相连。
[0021]可选的，所述第一校准电路包括RJ45接口和与RJ45接口相连的第一校准子电路；
[0022]所述第二校准电路包括M12X接口和与M12X接口相连的第二校准子电路；
[0023]所述第三校准电路包括M12D接口和与M12D接口相连的第三校准子电路。
[0024]可选的，所述第一校准子电路、所述第二校准子电路和所述第三校准子电路为结构相同的校准子电路；
[0025]所述校准子电路包括四路校准线路，各所述校准线路镜像对称布置，且任一所述校准线路的长度小于第一预设长度阈值。
[0026]可选的，所述校准子电路包括：第一连通电路、第二连通电路和阻抗匹配电路，其中，
[0027]所述阻抗匹配电路经所述第一连通电路与所述第二连通电路相连；
[0028]所述第二连通电路与相应的接口相连；
[0029]所述第一连通电路和所述第二连通电路分别包括两路校准线路，以组成四路校准线路；
[0030]所述阻抗匹配电路用于输出与预设校准项目对应的阻抗。
[0031]可选的，所述负载电路包括RJ45接口和与RJ45接口相连的负载子电路，其中，
[0032]所述负载子电路包括四路测试线路，各所述测试线路镜像对称布置，且任一所述测试线路的长度小于第二预设长度阈值。
[0033]可选的，所述负载子电路包括第一切换开关、第二切换开关和第三切换开关，其中，
[0034]所述第一切换开关的两组静触点和所述第二切换开关的两组静触点分别与RJ45接口相连；
[0035]所述第三切换开关的一组静触点与所述第一切换开关的动触点相连，所述第三切换开关的另一组静触点与所述第二切换开关的动触点相连；
[0036]所述第三切换开关的动触点与所述共模测试电路相连。
[0037]可选的，所述干扰源接入电路包括：阻抗变换电路和耦合电路，其中，
[0038]所述阻抗变换电路的输入端与干扰源相连，所述阻抗变换电路的输出端与所述耦合电路的第一输入端相连；
[0039]所述耦合电路的第二输入端与所述共模测试电路的第一输出端相连；
[0040]所述耦合电路的输出端与所述共模测试电路的第二输出端相连；
[0041]所述阻抗变换电路用于转换所述干扰源的干扰信号；
[0042]所述耦合电路用于将转换后的干扰信号与所述共模测试电路的输出信号耦合。
[0043]可选的，所述回波损耗测试电路包括分析仪接入电路和校准接入电路，其中，
[0044]所述分析仪接入电路的输入端与网络矢量分析仪相连，所述分析仪接入电路的输出端分别与所述共模测试电路和所述校准接入电路相连；
[0045]所述校准接入电路与所述校准电路相连。
[0046]本技术提出的以太网设备的测试设备，包括：控制器、切换电路和校准电路，而且，校准电路还包括第一校准电路、第二校准电路和第三校准电路，在进行测试时，第一校准电路、第二校准电路和第三校准电路中的一路，通过以太网线与切换电路相连，切换电路分别与被测设备以及各功能测试设备相连，而控制器则分别与切换电路、校准电路以及上位机相连，在测试时，控制器根据上位机的测试指令控制切换电路切换被测设备与各功
能测试设备之间的连接，以便实现对被测设备的各项功能的测试。本实施例提供的测试设备通过控制器对测试设备进行总体控制，实现被测设备与各个功能测试设备之间的切换连接，完成不同功能的制动化测试。
[0047]进一步的，针对100BASE
‑
TX设备和1000BASE
‑
T设备之间的差异，测试设备还包括三路校准电路，并能与干扰源相连，完成有干扰的测试，满足对1000BASE
‑
T设备的测试需求，适用范围更广。
附图说明
[0048]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
[0049]图1是本技术实施例提供的一种以太网设备的测试设备的结构框图；
[0050]图2是本技术实施例提供的一种校准子电路的电本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种以太网设备的测试设备，其特征在于，包括：控制器、切换电路和校准电路，其中，所述校准电路包括第一校准电路、第二校准电路和第三校准电路；所述第一校准电路、第二校准电路和第三校准电路中的一路，通过以太网线与所述切换电路相连；所述切换电路分别与被测设备以及各功能测试设备相连；所述控制器分别与所述切换电路、所述校准电路以及上位机相连；所述控制器用于根据所述上位机的测试指令控制所述切换电路切换所述被测设备与所述各功能测试设备之间的连接，以便实现对所述被测设备的各项功能的测试；其中，所述各功能测试设备包括矢量网络分析仪、示波器和干扰源。2.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述各功能测试设备还包括从扰动测试设备；所述测试设备还包括：从扰动测试电路，其中，所述从扰动测试电路的一端与所述从扰动测试设备相连；所述从扰动测试电路的另一端经扰动测试线缆与所述被测设备相连。3.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述切换电路包括负载电路、干扰源接入电路、共模测试电路和回波损耗测试电路，其中，所述负载电路分别与所述被测设备、所述共模测试电路和所述回波损耗测试电路相连；所述回波损耗测试电路分别与所述校准电路以及所述共模测试电路相连；所述共模测试电路分别与所述干扰源接入电路以及所述示波器相连；所述干扰源接入电路与所述干扰源相连。4.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述第一校准电路包括RJ45接口和与RJ45接口相连的第一校准子电路；所述第二校准电路包括M12X接口和与M12X接口相连的第二校准子电路；所述第三校准电路包括M12D接口和与M12D接口相连的第三校准子电路。5.根据权利要求4所述的测试设备，其特征在于，所述第一校准子电路、所述第二校准子电路和所述第三校准子电路为结构相同的校准子电路；所述校准子电路包括四路校准线路，各所述校准线路镜像对称布置，且任一所述校准线路的长度小于第一预设长度阈值。6...

【专利技术属性】
技术研发人员：李新桥，朱蔚东，侯振龙，
申请(专利权)人：上海仁童电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：