一种便于校准的电子分析天平制造技术

技术编号:30503893 阅读:18 留言:0更新日期:2021-10-27 22:38
本实用新型专利技术提供一种便于校准的电子分析天平,涉及电子分析天平技术领域,包括测量底座,所述测量底座的顶部靠近中心处固定有测量台,所述测量底座的顶部固定有防风罩,所述防风罩的两侧外表面靠近顶部边缘处均开设有第一圆孔。本实用新型专利技术,工作人员转动转盘,使活动环在丝杆上移动,通过空心杆和连接杆带动毛刷在测量台上滑动,清理测量台上残留的浮灰,防止浮灰吸附堆积在测量台的外表面影响电子分析天平的校准,且本实用新型专利技术转动转盘即可进行清理工作,无需工作人员经常把手伸入防风罩的内部清理测量台,降低了防尘罩内部天平零件被触碰的可能性,防止零件发生金属氧化,且毛刷为可拆卸结构,在使用多次过后可进行清理更换,方便下次使用。方便下次使用。方便下次使用。

【技术实现步骤摘要】
一种便于校准的电子分析天平


[0001]本技术涉及电子分析天平
,尤其涉及一种便于校准的电子分析天平。

技术介绍

[0002]电子分析天平以其操作简单、称量准确可靠等优点,迅速在工业生产、科研、贸易等方面得到广泛应用。
[0003]但是现有技术中,现有的电子分析天平在使用过后测量台的表面会吸附一些浮灰,浮灰本身具有轻微的重量,残留在测量台的表面后会影响电子分析天平的校准,需要工作人员经常去擦拭,但工作人员手动擦拭时手部有极大的可能会碰触到天平零件,水分遗留在零件上引起金属氧化,影响电子分析天平的正常使用。

技术实现思路

[0004]本技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺点,工作人员不接触测量台来达到清理浮灰的目的,方便电子分析天平校准。
[0005]为了实现上述目的,本技术采用了如下技术方案:一种便于校准的电子分析天平,包括测量底座,所述测量底座的顶部靠近中心处固定有测量台,所述测量底座的顶部固定有防风罩,所述防风罩的两侧外表面靠近顶部边缘处均开设有第一圆孔,两个所述第一圆孔的内表壁之间滑动贯穿有丝杆,所述丝杆的一端固定有转盘,所述丝杆的外表面螺纹套设有活动环,所述活动环的底部固定有空心杆,所述空心杆的两侧外表面均开设有第二圆孔,两个所述第二圆孔的内表壁均卡合连接有卡合块,两个所述卡合块的一侧外表面均固定有弹簧,两个所述弹簧的一端之间固定有连接杆,且连接杆的一端延伸至空心杆的下方,所述空心杆的底端固定有毛刷,且毛刷的底部与测量台的顶部滑动连接。
[0006]作为一种优选的实施方式,所述防风罩的内部顶面和内部底面之间靠近前侧边缘处固定有第一闭合门,所述防风罩的内部顶面和内部底面靠近前侧边缘处均固定有滑轨,两个所述滑轨的内表壁之间滑动连接有第二闭合门。
[0007]作为一种优选的实施方式,所述第二闭合门的一侧外表面固定有第一磁条,所述防风罩的一侧内表壁靠近前侧边缘处固定有第二磁条,且第二磁条的外表面与第一磁条的外表面磁性吸附。
[0008]作为一种优选的实施方式,所述防风罩的后侧内表壁固定有超声波装置。
[0009]作为一种优选的实施方式,所述第二闭合门的前表面靠近一侧边缘处固定有把手。
[0010]作为一种优选的实施方式,所述测量底座的底部靠近四个拐角处均固定有滚轮。
[0011]与现有技术相比,本技术的优点和积极效果在于,
[0012]本技术中,工作人员转动转盘,使活动环在丝杆上移动,通过空心杆和连接杆带动毛刷在测量台上滑动,清理测量台上残留的浮灰,防止浮灰吸附堆积在测量台的外表
面影响电子分析天平的校准,且本技术转动转盘即可进行清理工作,无需工作人员经常把手伸入防风罩的内部清理测量台,降低了防尘罩内部天平零件被触碰的可能性,防止零件发生金属氧化,且毛刷为可拆卸结构,在使用多次过后可进行清理更换,方便下次使用。
附图说明
[0013]图1为本技术提出一种便于校准的电子分析天平的立体结构示意图;
[0014]图2为本技术提出一种便于校准的电子分析天平的主视结构剖视图;
[0015]图3为本技术提出一种便于校准的电子分析天平的图2中A处的结构放大示意图。
[0016]图例说明:
[0017]1、测量底座;2、防风罩;3、测量台;4、丝杆;5、活动环;6、转盘;7、空心杆;8、连接杆;9、毛刷;10、超声波装置;11、滑轨;12、第一闭合门;13、第二闭合门;14、第一磁条;15、第二磁条;16、把手;17、第一圆孔;18、第二圆孔;19、卡合块;20、弹簧;21、滚轮。
具体实施方式
[0018]下面将结合本技术实施例中的附图,对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本技术保护的范围。
[0019]请参阅图1

3,本技术提供一种技术方案:一种便于校准的电子分析天平,包括测量底座1,测量底座1的顶部靠近中心处固定有测量台3,测量底座1的顶部固定有防风罩2,防风罩2的两侧外表面靠近顶部边缘处均开设有第一圆孔17,两个第一圆孔17的内表壁之间滑动贯穿有丝杆4,丝杆4的一端固定有转盘6,丝杆4的外表面螺纹套设有活动环5,活动环5的底部固定有空心杆7,空心杆7的两侧外表面均开设有第二圆孔18,两个第二圆孔18的内表壁均卡合连接有卡合块19,两个卡合块19的一侧外表面均固定有弹簧20,两个弹簧20的一端之间固定有连接杆8,且连接杆8的一端延伸至空心杆7的下方,空心杆7的底端固定有毛刷9,且毛刷9的底部与测量台3的顶部滑动连接。
[0020]防风罩2的内部顶面和内部底面之间靠近前侧边缘处固定有第一闭合门12,防风罩2的内部顶面和内部底面靠近前侧边缘处均固定有滑轨11,两个滑轨11的内表壁之间滑动连接有第二闭合门13,两个闭合门密封防风罩2,防止灰尘进入,拉动第二闭合门13,使第二闭合门13在两个滑轨11内部滑动,便可打开第二闭合门13,把需要测量的物品放入防风罩2内部。
[0021]第二闭合门13的一侧外表面固定有第一磁条14,防风罩2的一侧内表壁靠近前侧边缘处固定有第二磁条15,且第二磁条15的外表面与第一磁条14的外表面磁性吸附,第一磁条14与第二磁条15磁性吸附后对第二闭合门13的位置进行固定,使第二闭合门13不会轻易移动。
[0022]防风罩2的后侧内表壁固定有超声波装置10,超声波装置10启动后发射超声波,震动脱落测量台3表面的浮灰,便于毛刷9清扫。
[0023]第二闭合门13的前表面靠近一侧边缘处固定有把手16,通过把手16可拉动第二闭合门13。
[0024]测量底座1的底部靠近四个拐角处均固定有滚轮21,方便本技术移动。
[0025]本实施例的工作原理:在使用该电子分析天平时,首先根据图1、图2和图3所示,在进行安装的时候,超声波装置10工作发射超声波,产生震动使灰尘不再牢牢吸附在测量台3上,转动转盘6带动丝杆4旋转,导致与丝杆4螺纹连接的活动环5在丝杆4的外表面左右移动,通过空心杆7和连接杆8再带动毛刷9在测量台3上滑动,把测量台3上的灰尘扫落,防止灰尘堆积在测量台3上产生重量,影响本技术的校准,防风罩2的前侧设置的两个闭合门在本技术不工作时密封防风罩2内部,防止有灰尘进入防风罩2,第一闭合门12与防风罩2固定连接不能移动,握住把手16推动第二闭合门13,使第二闭合门13在两个滑轨11内部滑动,便可打开第二闭合门13,把需要测量的物体放至防风罩2内部的测量台3,第二闭合门13在关闭时,第一磁条14与第二磁条15吸附在一起,对第二闭合门13的位置进行固定,使第二闭合门13不会轻易打开,捏住空心杆7两侧的卡合块19,因为弹簧20具有的延展性,两个卡合块19会缩至空心杆7的内本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种便于校准的电子分析天平,包括测量底座(1),其特征在于:所述测量底座(1)的顶部靠近中心处固定有测量台(3),所述测量底座(1)的顶部固定有防风罩(2),所述防风罩(2)的两侧外表面靠近顶部边缘处均开设有第一圆孔(17),两个所述第一圆孔(17)的内表壁之间滑动贯穿有丝杆(4),所述丝杆(4)的一端固定有转盘(6),所述丝杆(4)的外表面螺纹套设有活动环(5),所述活动环(5)的底部固定有空心杆(7),所述空心杆(7)的两侧外表面均开设有第二圆孔(18),两个所述第二圆孔(18)的内表壁均卡合连接有卡合块(19),两个所述卡合块(19)的一侧外表面均固定有弹簧(20),两个所述弹簧(20)的一端之间固定有连接杆(8),且连接杆(8)的一端延伸至空心杆(7)的下方,所述空心杆(7)的底端固定有毛刷(9),且毛刷(9)的底部与测量台(3)的顶部滑动连接。2.根据权利要求1所述的一种便于校准的电子分析天平,其特征在于:所述防风...

【专利技术属性】
技术研发人员:蒋澄马玮莉
申请(专利权)人:安徽环能环境监测有限责任公司
类型:新型
国别省市:

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