一种聚酰亚胺膜单拉线在线测厚装置制造方法及图纸

技术编号:30474742 阅读:25 留言:0更新日期:2021-10-24 19:28
本实用新型专利技术公开了一种聚酰亚胺膜单拉线在线测厚装置,属于薄膜在线测厚技术领域,该装置包括主控制柜、O型扫描架和操作终端,主控制柜与O型扫描架一端连接,操作终端与主控制柜连接,O型扫描架内圈活动连接有X射线发射头和X射线接收头,X射线发射头与所述O型扫描架的下横梁滑动连接,X射线接收头与O型扫描架的上横梁滑动连接,X射线发射头和X射线接收头位置相对应,O型扫描架下端设有若干个可升降的支撑腿,O型扫描架一侧设有若干个托辊架,O型扫描架另一侧设有若干个除静电棒架。本实用新型专利技术适合根据在线生产的聚酰亚胺膜高度进行调整高度,测量效率和准确率高,装置整体散热效率提高。率提高。率提高。

【技术实现步骤摘要】
一种聚酰亚胺膜单拉线在线测厚装置


[0001]本技术属于薄膜在线测厚
,具体涉及一种聚酰亚胺膜单拉线在线测厚装置。

技术介绍

[0002]聚酰亚胺膜是一种具有优良的耐高低温性、电气绝缘性、粘结性、耐辐射性、耐介质性的薄膜类绝缘材料,在聚酰亚胺膜的生产中需要对生产出的薄膜厚度进行测量,从而根据厚度调整薄膜厚度控制设备,使聚酰亚胺薄膜的厚度保持在合适范围,可以采用X射线测厚仪进行膜厚度测量,X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时,X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性,从而测定材料的厚度,是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心,采集计算数据并输出目标偏差值。现有的在线测厚装置在安装后位置较为固定,无法调节位置,在对聚酰亚胺膜进行在线测量时无法适应膜高度的变化,需要较长时间来调整聚酰亚胺膜的水平高度,影响生产效率,同时测厚仪部分区域散热效果不佳。

技术实现思路

[0003]技术问题:针对现有技术中存在的上述问题,本技术所要解决的技术问题在于提供一种能够适应在线生产聚酰亚胺膜高度变化且散热效果好的聚酰亚胺膜单拉线在线测厚装置。
[0004]技术方案:为了解决上述技术问题,本技术采用的技术方案如下:
[0005]一种聚酰亚胺膜单拉线在线测厚装置,包括主控制柜、O型扫描架和操作终端,所述主控制柜与O型扫描架一端连接,所述操作终端与主控制柜连接,所述O型扫描架内圈活动连接有X射线发射头和X射线接收头,所述X射线发射头与所述O型扫描架的下横梁滑动连接,所述X射线接收头与所述O型扫描架的上横梁滑动连接,所述X射线发射头和X射线接收头位置相对应,所述O型扫描架下端设有若干个可升降的支撑腿,所述O型扫描架一侧设有若干个托辊架,所述O型扫描架另一侧设有若干个除静电棒架。
[0006]进一步的,所述支撑腿是液压升降支撑腿。
[0007]进一步的,所述托辊架与O型扫描架活动连接。
[0008]进一步的,所述除静电棒架与O型扫描架活动连接,所述除静电棒架之间设有除静电棒。
[0009]进一步的,所述操作终端设有显示器,所述显示器与主控制柜活动连接。
[0010]进一步的,所述主控制柜或O型扫描架上设有报警灯柱,所述报警灯柱数量在一个以上。
[0011]进一步的,所述上横梁上覆盖有散热铜管,且散热铜管上设有若干个进气孔,所述散热铜管一端连接有散热风扇。
[0012]进一步的,所述散热风扇出口端连接有风管。
[0013]有益效果:与现有技术相比,本技术具有以下优点:通过可以调节高度的托辊
架可以微调聚酰亚胺膜的高度,使其与X射线发射头21和X射线接收头22保持合适距离,测量效率和准确率高;设置静电消除棒可以消除聚酰亚胺膜上的静电;支撑腿高度可调节,装置整体适合根据在线生产的聚酰亚胺膜高度进行调整高度;在O型扫描架的上横梁覆盖散热铜管,并设置散热风扇和风管,装置整体散热效率提高,并且减少散热气流对下方聚酰亚胺膜的影响。
附图说明
[0014]图1是本技术结构示意图;
[0015]图2是本技术侧视结构示意图。
具体实施方式
[0016]下面结合具体实施例,进一步阐明本专利技术,实施例在以本专利技术技术方案为前提下进行实施,应理解这些实施例仅用于说明本专利技术而不用于限制本专利技术的范围。
[0017]如图1和2所示,一种聚酰亚胺膜单拉线在线测厚装置,包括主控制柜1、O型扫描架2和操作终端3,主控制柜1与O型扫描架2一端连接,操作终端3与主控制柜1连接,操作终端3包括专用的计算机和显示器,显示器与通过转轴与主控制柜1转动连接,可以0

180
°
转动,面向各个方向使用,可以显示整个装置的测量数据,计算机可以控制和操作主控制柜1和O型扫描架2,O型扫描架2上设有报警灯柱5,报警灯柱5与操作终端3电性连接并设置有两个,预先设定报警值用来对现场工作人员进行报警提示,O型扫描架2内圈活动连接有对聚酰亚胺膜进行测厚的X射线发射头21和X射线接收头22,X射线发射头21与O型扫描架2的下横梁24滑动连接,X射线发射头21和下横梁24内可以设置有X射线管和高压电源,根据使用需要可以在X射线发射头21处射出不同光斑设计的X射线,X射线接收头22与O型扫描架2的上横梁23滑动连接,X射线接收头22和上横梁23内设有电离室和电子前置放大器组成的高性能电离室检测头,对X射线的强度进行测定并对电信号进行放大,将电信号传入操作终端3的计算机内,X射线发射头21和X射线接收头22位置相对应,被测量厚度的聚酰亚胺膜位于X射线发射头21和X射线接收头22之间并从O型扫描架2内圈中穿过,X射线发射头21和X射线接收头22在O型扫描架2内圈左右来回运动对聚酰亚胺膜进行测厚工作;
[0018]O型扫描架2下端设有若4个支撑腿4,支撑腿4是液压升降支撑腿(也可以是可调节高度的其他类型升降支撑腿),可以采用电动或者手动的方式调节高度,从而在对单拉线的聚酰亚胺膜进行在线测量时可以随时根据聚酰亚胺膜的水平高度随时调节O型扫描架2的高度,调节速度快效率高,使聚酰亚胺膜能够位于X射线发射头21和X射线接收头22之间的合适位置,提高测量厚度的准确性。
[0019]O型扫描架2一侧设有若2个托辊架6,2个托辊架6之间架设托辊,对经过O型扫描架2内圈的聚酰亚胺膜进行撑托,使其在经过X射线发射头21和X射线接收头22之间时保持平整,方便进行膜的测厚工作,托辊架6与O型扫描架2活动连接能够上下调整高度,从而可以通过托辊调整经过的聚酰亚胺膜的高度。
[0020]O型扫描架2另一侧设有若2个除静电棒架7,2个除静电棒架7之间设有静电消除棒,对经过的聚酰亚胺膜进行除静电操作,除静电棒架7与O型扫描架2活动连接,可以调节静电消除棒的距离。
[0021]由于X射线的射线源的温度波动将直接导致射线能量的变化,致使测量结果波动,所以现有的测厚仪一般在X射线发射头21和下横梁24处设有专用的水冷或油冷冷却系统,但在上横梁23处则在侧面设置散热孔自然冷却或者设置风扇进行风冷,冷却效果不好,为了提高上横梁23处的冷却效果,在上横梁23上覆盖有散热铜管8,散热铜管8的表面上设有多个进气孔或进气栅,或者在散热铜管8的一端开设进气通道,散热铜管8另一端连接有散热风扇9,通过风扇和铜管,将上横梁23内部设备产生的热量带出从而进行风冷,为了不使散热气流和带起的灰尘对下部的聚酰亚胺膜形成影响,散热风扇9出口端连接有风管91,风管91的出风口可以通过风管91延长至室外或者专门排气的场所。
[0022]以上仅是本技术的优选实施方式,应当指出,对于本
的普通技术人员来说,在不脱离本技术原理的前提下,还可以作出若干改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本技术的保护范围。
本文档来自技高网
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种聚酰亚胺膜单拉线在线测厚装置,其特征在于,包括主控制柜(1)、O型扫描架(2)和操作终端(3),所述主控制柜(1)与O型扫描架(2)一端连接,所述操作终端(3)与主控制柜(1)连接,所述O型扫描架(2)内圈活动连接有X射线发射头(21)和X射线接收头(22),所述X射线发射头(21)与所述O型扫描架(2)的下横梁(24)滑动连接,所述X射线接收头(22)与所述O型扫描架(2)的上横梁(23)滑动连接,所述X射线发射头(21)和X射线接收头(22)位置相对应,所述O型扫描架(2)下端设有若干个可升降的支撑腿(4),所述O型扫描架(2)一侧设有若干个托辊架(6),所述O型扫描架(2)另一侧设有若干个除静电棒架(7)。2.根据权利要求1所述的聚酰亚胺膜单拉线在线测厚装置,其特征在于,所述支撑腿(4)是液压升降支撑腿。3.根据权利要求1所述的聚酰亚胺膜单拉线在线测厚装置,其特征在于,所...

【专利技术属性】
技术研发人员:贝润鑫刘宸宇尹晶王科杨明唐泽
申请(专利权)人:无锡顺铉新材料有限公司
类型:新型
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1