显示面板制造技术

本发明专利技术提供了显示面板，该显示面板包括显示区和位于显示区一侧的端子区，端子区包括与驱动芯片绑定的驱动芯片区，驱动芯片区内设有多条触控引线，多条触控引线的第一端电性连接于显示区内的多个触控电极，本发明专利技术将用于传输测试信号的、电性连接于多条触控引线的第二端的多个测试引脚也设于驱动芯片区内，以使测试信号传输至多个触控电极，即可以规避在端子区中的走线区内排列数目较多的多个测试引脚，降低了因测试引脚数量较多而无法排列于端子区中的走线区所导致的无法进行触控测试的风险，提高了产品的良率，降低了产品的成本。降低了产品的成本。降低了产品的成本。

【技术实现步骤摘要】
显示面板


[0001]本专利技术涉及显示
，尤其涉及显示器件的制造，具体涉及显示面板。

技术介绍

[0002]自电容式的触控显示面板具有整体厚度较小、较轻薄的特点，每个感应块通过走线接收或者发送触控信号，实现触控功能。
[0003]目前，SDOT(Self
‑
capacitance Direct On Cell Touch,自容oncell触摸显示屏)产品中，由于采用自容式触摸方式，面板内的连接多个触控电极的多条走线的数目较多，较多的走线无法直接排列于走线区以加载测试信号，故目前的SDOT产品没有触控测试的方案，导致产品的良率较低，增加了产品的成本。
[0004]因此，有必要提供可以实现对SDOT面板进行触控测试以提高产品良率、降低产品成本的显示面板。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的在于提供显示面板，解决了现有技术中因面板的走线区的尺寸有限，较多的走线无法直接排列于走线区以加载测试信号，而导致的无法进行触控测试的问题。
[0006]本专利技术实施例提供显示面板，所述显示面板包括显示区和至少位于所述显示区一侧的端子区，所述端子区包括与驱动芯片绑定的驱动芯片区，所述显示区内设有：
[0007]多条触控引线和多个触控电极，多条所述触控引线的第一端电性连接于多个所述触控电极；
[0008]所述驱动芯片区内设有：
[0009]多个测试引脚，多个所述测试引脚用于传输测试信号，多个所述测试引脚电性连接于多条所述触控引线的第二端，以使所述测试信号传输至多个所述触控电极。
[0010]在一实施例中，多条所述触控引线沿第一方向排列，多个所述测试引脚沿所述第一方向排列，所述第一方向平行于所述显示区靠近所述驱动芯片区的一侧。
[0011]在一实施例中，所述驱动芯片区内还设有：
[0012]复用电路，所述复用电路包括多个复用输入端和多个复用输出端；
[0013]其中，所述复用输入端的数目小于所述复用输出端的数目，多个所述复用输入端和多个所述测试引脚一一对应，多个所述复用输出端和多个所述触控引线一一对应，每一所述复用输入端电性连接于对应的所述测试引脚，每一所述复用输出端电性连接于对应的所述触控引线。
[0014]在一实施例中，所述复用电路位于多个所述测试引脚和多条所述触控引线之间，多个所述复用输入端沿所述第一方向排列，多个所述复用输出端沿所述第一方向排列。
[0015]在一实施例中，所述端子区包括围绕所述驱动芯片区设置的走线区，所述走线区内设有：
[0016]多个第一控制引脚，多个所述第一控制引脚用于传输第一控制信号；
[0017]其中，所述复用电路还包括多个控制端，多个所述控制端电性连接于多个所述第一控制引脚，以使所述第一控制信号传输至多个所述控制端，以控制多个所述复用输入端和多个所述复用输出端之间的导通状态。
[0018]在一实施例中，多个所述第一控制引脚沿所述第一方向排列，多个所述第一控制引脚在所述第一方向上的对称轴和多个所述测试引脚在所述第一方向上的对称轴重合。
[0019]在一实施例中，所述走线区内还设有：
[0020]多个第二控制引脚，多个所述第二控制引脚用于传输第二控制信号；
[0021]其中，多个所述第二控制引脚和多个所述第一控制引脚一一对应，每一所述第二控制引脚电性连接于对应的所述第一控制引脚，以使所述第二控制信号传输至多个所述控制端，以电性断开多个所述复用输入端和多个所述复用输出端。
[0022]在一实施例中，所述驱动芯片区内还设有：
[0023]多个触控引脚，多个所述触控引脚用于传输触控信号；
[0024]其中，多个所述触控引脚和多条所述触控引线一一对应，多个所述触控引脚电性连接于多条所述触控引线的第二端，以使所述触控信号传输至多个所述触控电极。
[0025]在一实施例中，所述驱动芯片区内还设有：
[0026]多个数据引脚组，每一所述数据引脚组包括多个数据引脚，所述数据引脚用于传输数据信号；
[0027]其中，多个所述数据引脚组和多个所述触控引脚组沿所述第一方向交替排列，多个所述数据引脚组和多个所述触控引脚组通过绑定至同一所述驱动芯片以进行所述触控信号和所述数据信号的传输。
[0028]在一实施例中，所述驱动芯片区内还设有：
[0029]多个虚拟引脚，多个所述虚拟引脚位于多个所述测试引脚和所述复用电路靠近多个所述第一控制引脚的一侧，多个所述虚拟引脚沿第二方向排布，所述第二方向垂直于所述第一方向；
[0030]其中，相邻两所述虚拟引脚之间设有连接于一所述控制端和对应的所述第一控制引脚的连接线。
[0031]本专利技术提供了显示面板，所述显示面板包括显示区和位于所述显示区一侧的端子区，所述端子区包括与驱动芯片绑定的驱动芯片区，所述驱动芯片区内设有：多条触控引线，多条所述触控引线的第一端电性连接于所述显示区内的多个触控电极；多个测试引脚，多个所述测试引脚用于传输测试信号；其中，多个所述测试引脚电性连接于多条所述触控引线的第二端，以使所述测试信号传输至多个所述触控电极。本专利技术通过将用于传输测试信号的多个所述测试引脚也设于所述驱动芯片区内，避免将数量较多的多个所述测试引脚引出至排列于所述走线区内，降低了因测试引脚数量较多而无法排列于端子区中的走线区所导致的无法进行触控测试的风险，提高了产品的良率，降低了产品的成本。
附图说明
[0032]下面通过附图来对本专利技术进行进一步说明。需要说明的是，下面描述中的附图仅仅是用于解释说明本专利技术的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动
的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0033]图1为本专利技术实施例提供的显示面板的第一种实施例的俯视示意图。
[0034]图2为本专利技术实施例提供的显示面板的第二种实施例的俯视示意图。
[0035]图3为本专利技术实施例提供的显示面板的第三种实施例的俯视示意图。
[0036]图4为本专利技术实施例提供的复用电路的等效电路图。
[0037]图5为本专利技术实施例提供的显示面板的第四种实施例的俯视示意图。
[0038]图6为本专利技术实施例提供的显示面板的第五种实施例的俯视示意图。
[0039]图7为本专利技术实施例提供的显示面板的第六种实施例的俯视示意图。
[0040]图8为本专利技术实施例提供的显示面板的第七种实施例的俯视示意图。
具体实施方式
[0041]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述。显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。在本专利技术的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“靠近”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，例如，“上”只是表面在本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种显示面板，其特征在于，所述显示面板包括显示区和至少位于所述显示区一侧的端子区，所述端子区包括与驱动芯片绑定的驱动芯片区，所述显示区内设有：多条触控引线和多个触控电极，多条所述触控引线的第一端电性连接于多个所述触控电极；所述驱动芯片区内设有：多个测试引脚，多个所述测试引脚用于传输测试信号，多个所述测试引脚电性连接于多条所述触控引线的第二端，以使所述测试信号传输至多个所述触控电极。2.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，多条所述触控引线沿第一方向排列，多个所述测试引脚沿所述第一方向排列，所述第一方向平行于所述显示区靠近所述驱动芯片区的一侧。3.如权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述驱动芯片区内还设有：复用电路，所述复用电路包括多个复用输入端和多个复用输出端；其中，所述复用输入端的数目小于所述复用输出端的数目，多个所述复用输入端和多个所述测试引脚一一对应，多个所述复用输出端和多个所述触控引线一一对应，每一所述复用输入端电性连接于对应的所述测试引脚，每一所述复用输出端电性连接于对应的所述触控引线。4.如权利要求3所述的显示面板，其特征在于，所述复用电路位于多个所述测试引脚和多条所述触控引线之间，多个所述复用输入端沿所述第一方向排列，多个所述复用输出端沿所述第一方向排列。5.如权利要求3所述的显示面板，其特征在于，所述端子区包括围绕所述驱动芯片区设置的走线区，所述走线区内设有：多个第一控制引脚，多个所述第一控制引脚用于传输第一控制信号；其中，所述复用电路还包括多个控制端，多个所述控制端电性连接于多个所述第一控制引脚，以使所述第一控制信号传输至多个所述控制端，以控制多个所述复用输入端和多个所述复用输出端之间...

【专利技术属性】
技术研发人员：许祖钊，
申请(专利权)人：武汉华星光电半导体显示技术有限公司，
类型：发明
国别省市：