运用于芯片开短路测试及漏电流测试的测试电路制造技术

本申请提供了一种运用于芯片开短路测试及漏电流测试的测试电路，运用于芯片测试技术领域，通过单片机主控电路与PC端连接；电源模块分别与单片机主控电路、ADC模块、恒流恒压源模块、第一开关切换电路和第二开关切换电路电连接；恒流恒压源模块与单片机主控电路连接；ADC模块分别与恒流恒压源模块和单片机主控电路连接；第一开关切换电路分别与ADC模块连接和单片机主控电路连接；第二开关切换电路分别与第一开关切换电路、单片机主控电路与待测芯片插座连接，实现在同一电路设备中进行自动化的开短路测试与漏电流测试，通过无需移动芯片对芯片上的各引脚进行测试，提升了测试效率以及准确性。及准确性。及准确性。

【技术实现步骤摘要】
运用于芯片开短路测试及漏电流测试的测试电路


[0001]本申请涉及芯片测试
，特别涉及为一种运用于芯片开短路测试及漏电流测试的测试电路。

技术介绍

[0002]在芯片验证测试中，开短路测试是用来检测芯片的各个引脚与其它引脚、电源或地之间是否发生短路或者开路。现有做法是将所有任意讯号引脚连接芯片的VDD或VSS，通过逆向偏压的方式来测量，此方法可以确认芯片内部任意讯号MOS特性对VDD与VSS两端逆向二极管是否正常，可以确定它是否存在开路或短路。而漏电流测试是用来检测芯片基板与内核DIE是否存在漏电流异常，如果芯片的静态电流过大或大于正常范围，轻则是应用到手机、笔记本电脑等会增加芯片功耗降低续航力，重则可能会发生故障或烧毁等问题。
[0003]目前的现有技术中，检测设备单一，需结合多个测量仪器，从而导致测量准确率低，且稳定性不好，易受外部信号干扰的问题。而且近年来，随着集成电路的不断发展，集成芯片的管脚也越来越多。若采用以往技术，对测试芯片在检测完一个引脚后，人工移动芯片以测试其它引脚，测试效率难以把控。因此，如何自动化地实现芯片所有引脚的开短路测试与漏电流测试，以及同一设备实现多功能的测试是目前研究人员关心的问题。

技术实现思路

[0004]本申请提供一种运用于芯片开短路测试及漏电流测试的测试电路，实现在同一电路设备中进行自动化的开短路测试与漏电流测试，通过无需移动芯片对芯片上的各引脚进行测试，提升了测试效率以及准确性。
[0005]本申请为解决技术问题采用如下技术手段：
[0006]本申请提出一种运用于芯片开短路测试及漏电流测试的测试电路，包括：单片机主控电路、电源模块、硬件设置电路、恒流恒压源模块、ADC模块、第一开关切换电路、第二开关切换电路和待测芯片插座，其中：
[0007]所述单片机主控电路与PC端连接；
[0008]所述电源模块分别与单片机主控电路、ADC模块、恒流恒压源模块、第一开关切换电路和第二开关切换电路连接，以进行供电；
[0009]所述恒流恒压源模块与单片机主控电路连接，以控制并调节输入的电压与电流；
[0010]所述ADC模块分别与恒流恒压源模块和单片机主控电路连接，以读取电流与电压回传至所述单片机主控电路；
[0011]所述第一开关切换电路分别与ADC模块连接和单片机主控电路连接，以通过第一开关切换电路对待测芯片进行正偏压测试与逆偏压测试；
[0012]所述第二开关切换电路分别与第一开关切换电路、单片机主控电路以及待测芯片插座连接，以切换所述待测芯片插座中芯片的引脚位置。
[0013]进一步地，运用于芯片开短路测试及漏电流测试的测试电路还包括LED电路，所述
LED电路分别与单片机主控电路以及电源模块连接。
[0014]进一步地，运用于芯片开短路测试及漏电流测试的测试电路还包括 JTAG/SWD调试烧录电路，所述JTAG/SWD调试烧录电路分别与PC端以及单片机主控电路连接。
[0015]进一步地，运用于芯片开短路测试及漏电流测试的测试电路还包括电平转换电路分别与PC端以及单片机主控电路连接，SPI存储设备与单片机主控电路连接。
[0016]进一步地，运用于芯片开短路测试及漏电流测试的测试电路还包括复位电路，所述复位电路分别与电源模块以及单片机主控电路连接。
[0017]进一步地，运用于芯片开短路测试及漏电流测试的测试电路还包括适配器，所述适配器与电源模块连接。
[0018]进一步地，所述第一开关切换电路由正偏压芯片和逆偏压芯片构成，所述正偏压芯片和逆偏压芯片分别连接第二开关切换电路中的若干引脚切换芯片。
[0019]本申请提供了运用于芯片开短路测试及漏电流测试的测试电路，具有以下有益效果：
[0020](1)本申请的开关切换电路可实现自动切换待测芯片的脚位，测试流程不需人为操作，提高了测试效率；
[0021](2)本申请的恒流恒压模块根据测试所需调控适当的电压电流，无需人为调节电流与电压，保证了数据的稳定性；
[0022](3)本申请所测的全部实际电压电流可回传到PC端，与预设值进行对比，判断是否存在开短路或者漏电流情况，避免人为的检测计算失误；
[0023](4)本申请的测试设备可同时进行开短路测试与漏电流测试，既方便又降低了产品的检测成本。
[0024](5)无需人工移动芯片引脚，采用引脚切换电路对芯片引脚进行测试后的切换，提升测试效率以及引脚测试准确性。
附图说明
[0025]图1为本申请运用于芯片开短路测试及漏电流测试的测试电路一个实施例的结构示意框图；
[0026]图2为本申请运用于芯片开短路测试及漏电流测试的测试电路一个实施例中第一开关切换电路的电路示意图；
[0027]图3为本申请运用于芯片开短路测试及漏电流测试的测试电路一个实施例中第二开关切换电路的电路示意图；
[0028]图4为本申请运用于芯片开短路测试及漏电流测试的测试电路一个实施例中单片机主控电路的电路示意图；
[0029]图5为本申请运用于芯片开短路测试及漏电流测试的测试电路一个实施例中硬件设置电路的电路示意图；
[0030]图6为本申请运用于芯片开短路测试及漏电流测试的测试电路一个实施例中恒压恒流源模块的电路示意图
[0031]本申请为目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
[0032]应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
[0033]下面将结合本申请的实施例中的附图，对本申请的实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0034]需要说明的是，本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“包括”、“包含”和“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可选地还包括没有列出的步骤或单元，或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其他步骤或单元。在本申请的权利要求书、说明书以及说明书附图中的术语，诸如“第一”和“第二”等之类的关系术语仅仅用来将一个实体/操作/对象与另一个实体/操作/对象区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体/操作/对象之间存在任何这种实际的关系或者顺序。
[0035]在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其他实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其他实施例相结合。
[0036]参考附本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种运用于芯片开短路测试及漏电流测试的测试电路，其特征在于，包括：单片机主控电路、电源模块、硬件设置电路、恒流恒压源模块、ADC模块、第一开关切换电路、第二开关切换电路和待测芯片插座，其中：所述单片机主控电路与PC端连接；所述电源模块分别与单片机主控电路、ADC模块、恒流恒压源模块、第一开关切换电路和第二开关切换电路电连接，以进行供电；所述恒流恒压源模块与单片机主控电路连接，以控制并调节输入的电压与电流；所述ADC模块分别与恒流恒压源模块和单片机主控电路连接，以读取电流与电压回传至所述单片机主控电路；所述第一开关切换电路分别与ADC模块连接和单片机主控电路连接，以通过第一开关切换电路对待测芯片进行正偏压测试与逆偏压测试；所述第二开关切换电路分别与第一开关切换电路、单片机主控电路以及待测芯片插座连接，以切换所述待测芯片插座中芯片的引脚位置。2.根据权利要求1所述的运用于芯片开短路测试及漏电流测试的测试电路，其特征在于，还包括LED电路，所述LED电路分别...

【专利技术属性】
技术研发人员：梁淑怡，陈建光，陈宗廷，李斌，
申请(专利权)人：深圳市宏旺微电子有限公司，
类型：新型
国别省市：