本公开是关于一种存储器修补线路确定方法及装置、计算机可读存储介质及电子设备，该存储器修补线路确定方法包括：在正常区域的各线路中均写入第一预设数据组，在冗余区域的各线路中写入第二预设数据组，冗余区域的各线路中写入的第二预设数据组不同，第二预设数据组与第一预设数据组不同；使用冗余区域中的线路对正常区域中的线路进行修补；读取修补后的正常区域中各线路的数据；根据正常区域中各线路的数据、修补后的正常区域中各线路的数据或冗余区域中各线路的数据，确定正常区域中的被修补线路以及冗余区域中的去修补线路。本公开可以用于验证修补规则的准确性。以用于验证修补规则的准确性。以用于验证修补规则的准确性。
【技术实现步骤摘要】
存储器修补线路确定方法及装置、存储介质及电子设备
[0001]本公开涉及集成电路
，具体而言，涉及一种存储器修补线路确定方法及存储器修补线路确定装置、计算机可读存储介质及电子设备。
技术介绍
[0002]随着存储器制作体积的不断缩小、存储容量的不断增加，存储器芯片在研制、生产和使用过程中产生的失效问题不可避免，通常可以采用冗余区域对存储器芯片中的失效位置进行修补处理。
[0003]现有技术，通常是根据特定的修补规则，分派冗余区域中的修补线路，以对失效位置进行修补。
[0004]验证修补规则被执行的准确性是芯片中的失效位置被顺利修补的前提。
[0005]需要说明的是，在上述
技术介绍
部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。
技术实现思路
[0006]本公开的目的在于提供一种存储器修补线路确定方法及存储器修补线路确定装置、计算机可读存储介质及电子设备，用于验证修补规则的准确性。
[0007]本公开的其他特性和优点将通过下面的详细描述变得显然，或部分地通过本专利技术的实践而习得。
[0008]根据本公开的第一方面，提供一种存储器修补线路确定方法，所述方法包括：
[0009]在正常区域的各线路中均写入第一预设数据组，在冗余区域的各线路中写入第二预设数据组，所述冗余区域的各线路中写入的所述第二预设数据组不同，所述第二预设数据组与所述第一预设数据组不同；
[0010]使用所述冗余区域中的线路对所述正常区域中的线路进行修补；
[0011]读取修补后的所述正常区域中各线路的数据；
[0012]根据所述正常区域中各线路的数据、修补后的所述正常区域中各线路的数据或所述冗余区域中各线路的数据，确定所述正常区域中的被修补线路以及所述冗余区域中的去修补线路。
[0013]在一种可选的实施方式中，所述第一预设数据组为全0或全1的数据。
[0014]在一种可选的实施方式中，在所述正常区域的各线路中写入的所述第一预设数据组至少部分不同。
[0015]在一种可选的实施方式中，使用所述冗余区域中的线路对所述正常区域中的线路进行修补包括：
[0016]开启所述正常区域的修补功能。
[0017]在一种可选的实施方式中，所述方法还包括：
[0018]在正常区域的各线路中写入第一预设数据组之前，关闭所述正常区域的修补功
能。
[0019]在一种可选的实施方式中，所述线路为列线路或行线路。
[0020]在一种可选的实施方式中，在所述线路为列线路时，所述第一预设数据组为第一预设数据列，所述第二预设数据组为第二预设数据列。
[0021]在一种可选的实施方式中，在所述线路为行线路时，所述第一预设数据组为第一预设数据行，所述第二预设数据组为第二预设数据行。
[0022]在一种可选的实施方式中，根据所述正常区域中各线路的数据、修补后的所述正常区域中各线路的数据或所述冗余区域中各线路的数据，确定所述正常区域中的被修补线路以及所述冗余区域中的去修补线路包括：
[0023]根据所述正常区域中各线路的数据和修补后的所述正常区域中各线路的数据，确定所述正常区域中的被修补线路；
[0024]根据修补后的所述正常区域中各线路的数据与所述冗余区域中各线路的数据，确定所述冗余区域中的去修补线路。
[0025]在一种可选的实施方式中，根据所述正常区域中各线路的数据和修补后的所述正常区域中各线路的数据，确定所述正常区域中的被修补线路包括：
[0026]将修补后的所述正常区域中与所述正常区域中数据不同的线路，确定为所述被修补线路。
[0027]在一种可选的实施方式中，根据修补后的所述正常区域中各线路的数据与所述冗余区域中各线路的数据，确定所述冗余区域中的去修补线路包括：
[0028]将所述冗余区域中与修补后的所述正常区域中数据相同的线路确定为所述去修补线路。
[0029]在一种可选的实施方式中，所述方法还包括：
[0030]根据所述去修补线路和所述被修补线路，验证预设修补规则的准确性。
[0031]根据本公开的第二方面，提供一种存储器修补线路确定装置，所述装置包括：
[0032]数据写入模块，用于在正常区域的各线路中均写入第一预设数据组，在冗余区域的各线路中写入第二预设数据组，所述冗余区域的各线路中写入的所述第二预设数据组不同，所述第二预设数据组与所述第一预设数据组不同；
[0033]线路修补模块，用于使用所述冗余区域中的线路对所述正常区域中的线路进行修补；
[0034]数据读取模块，用于读取修补后的所述正常区域中各线路的数据；
[0035]线路确定模块，用于根据所述正常区域中各线路的数据、修补后的所述正常区域中各线路的数据或所述冗余区域中各线路的数据，确定所述正常区域中的被修补线路以及所述冗余区域中的去修补线路。
[0036]根据本公开的第三方面，提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述的存储器修补线路确定方法。
[0037]根据本公开的第四方面，提供一种电子设备，包括：
[0038]处理器；
[0039]存储器，用于存储一个或多个程序，当所述一个或多个程序被所述处理器执行时，使得所述处理器实现上述的存储器修补线路确定方法。
[0040]本公开提供的技术方案可以包括以下有益效果：
[0041]本公开的示例性实施例中的存储器修补线路确定方法及装置，一方面，通过在正常区域的各线路中写入第一预设数据组，再在冗余区域的各线路中写入不同的第二预设数据组，以对冗余区域的各线路分别进行标记，以便于在使用冗余区域中的线路对正常区域中的线路进行修补时，可以根据读取的修补后的正常区域中各线路的数据，判断是正常区域中的被修补线路。另一方面，通过对比读取的修补后的正常区域中各线路的数据与冗余区域中各线路的数据，可以确定是用于进行修补的冗余区域中的去修补线路。又一方面，根据上述的被修补线路和去修补线路可以判断实际的修补方式是否与预设修补规则中指定的修补方式相同，以达到验证预设修补规则准确性的目的。
[0042]应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。
附图说明
[0043]此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于解释本公开的原理。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本公开的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。在附图中：
[0044]图1示意性示出了根据本公开的示例性实施方式的一种芯片的结构示意图；
[0045]图2示意性示出了根据本公开的示例性实施方式的存储器修补线路确定方法的流程示意图；
[0046]图3示意性示本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种存储器修补线路确定方法，其特征在于，所述方法包括：在正常区域的各线路中均写入第一预设数据组，在冗余区域的各线路中写入第二预设数据组，所述冗余区域的各线路中写入的所述第二预设数据组不同，所述第二预设数据组与所述第一预设数据组不同；使用所述冗余区域中的线路对所述正常区域中的线路进行修补；读取修补后的所述正常区域中各线路的数据；根据所述正常区域中各线路的数据、修补后的所述正常区域中各线路的数据或所述冗余区域中各线路的数据，确定所述正常区域中的被修补线路以及所述冗余区域中的去修补线路。2.根据权利要求1所述的存储器修补线路确定方法，其特征在于，所述第一预设数据组为全0或全1的数据。3.根据权利要求1所述的存储器修补线路确定方法，其特征在于，在所述正常区域的各线路中写入的所述第一预设数据组至少部分不同。4.根据权利要求1所述的存储器修补线路确定方法，其特征在于，使用所述冗余区域中的线路对所述正常区域中的线路进行修补包括：开启所述正常区域的修补功能。5.根据权利要求4所述的存储器修补线路确定方法，其特征在于，所述方法还包括：在正常区域的各线路中写入第一预设数据组之前，关闭所述正常区域的修补功能。6.根据权利要求1所述的存储器修补线路确定方法，其特征在于，所述线路为列线路或行线路。7.根据权利要求6所述的存储器修补线路确定方法，其特征在于，在所述线路为列线路时，所述第一预设数据组为第一预设数据列，所述第二预设数据组为第二预设数据列。8.根据权利要求6所述的存储器修补线路确定方法，其特征在于，在所述线路为行线路时，所述第一预设数据组为第一预设数据行，所述第二预设数据组为第二预设数据行。9.根据权利要求1所述的存储器修补线路确定方法，其特征在于，根据所述正常区域中各线路的数据、修补后的所述正常区域中各线路的数据或所述冗余区域中各线路的数据，确定所述正常区域中的被修补线路以及所述冗余区域中的去修补线路包括：根据所述正常区域中各线路的数据和修补后的所述正常区域中各线路的数据，确定所述正常区域中的被修补线路；根据修补后的所述正...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨波，骆晓东，
申请(专利权)人：长鑫存储技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。