基于分布分位数的高/多光谱相机坏点检测方法及系统技术方案

本发明专利技术涉及一种基于分布分位数的高/多光谱相机坏点检测方法及系统，解决了现有技术中不能方便快捷且准确的获取相机当前状态的问题。该方法包括：获取高/多光谱相机拍摄均匀反射率板得到的高/多光谱图像，确定每一波段图像行/列号与相机像元的对应关系；依次计算高/多光谱图像每一波段的行/列灰度统计量，获取每一波段的行/列灰度统计量的分布函数，计算每一波段的行/列灰度统计量的分布函数的分位数和分位距，设定判定区间，根据判定区间判定每一波段的行/列灰度统计量中异常值的行/列号；根据每一波段异常值的行/列号通过对应关系，确定相机异常像元位置，直至获取所有波段对应的相机异常像元。方便快捷且准确的获取相机当前状态。机当前状态。机当前状态。

【技术实现步骤摘要】
基于分布分位数的高/多光谱相机坏点检测方法及系统


[0001]本专利技术涉及高/多光谱相机坏点检测
，尤其涉及一种基于分布分位数的高/多光谱相机坏点检测方法及系统。

技术介绍

[0002]高/多光谱成像技术是一种在一定波段范围内获取探测对象光谱辐射信息的技术手段。高/多光谱相机克服了可见光相机和红外相机光谱信息受限的问题，高/多光谱图像不仅可获取空间信息，同时还可获取丰富的光谱信息。那么在保证空间分辨率的情况下，高/多光谱相机采集的光谱信息越多，对像元响应精度的要求越高。
[0003]高/多光谱成像设备不同于传统的相机，由于其不仅能够实现可见光波段的多谱段成像，还能够实现近红外波段的多谱段成像；高/多光谱相机具有成像波段的谱域宽图像谱段众多、波段数目多、数据量大、不同谱段的成像差异显著等特点。尤其针对高分辨率的高/多光谱相机，其成像数据量大，但其是成像时间长。所以，在正式开展数据采集之前，提前准确得知相机坏点能对相机成像质量监督和后续输出图像的后处理提供重要的先验知识，因此，方便快捷的获取准确的相机当前状态、判定结果具有更强的准确性和鲁棒的检测工作显得尤为重要。
[0004]因此，现有技术中缺乏一种能够方便快捷的获取相机当前状态的基于分布分位数的高/多光谱相机坏点检测方法及系统。

技术实现思路

[0005]鉴于上述的分析，本专利技术实施例旨在提供一种基于分布分位数的高/ 多光谱相机坏点检测方法及系统，用以解决现有不能方便快捷且准确的获取相机当前状态的问题。
[0006]一方面，本专利技术实施例提供了一种基于分布分位数的高/多光谱相机坏点检测方法，包括：
[0007]获取高/多光谱相机拍摄均匀反射率板得到的高/多光谱图像，确定每一波段图像行/列号与相机像元的对应关系；
[0008]依次计算所述高/多光谱图像每一波段的行/列灰度统计量，获取所述每一波段的行/列灰度统计量的分布函数，计算所述每一波段的行/列灰度统计量的分布函数的分位数和分位距；
[0009]根据每一波段所述分布函数的分位数和分位距，设定判定区间，根据所述判定区间判定所述每一波段的行/列灰度统计量中异常值的行/列号；
[0010]根据每一波段所述异常值的行/列号，通过所述对应关系，确定相机异常像元位置，直至获取所有波段对应的相机异常像元。
[0011]进一步地，包括：
[0012]高/多光谱相机按列扫描得到所述高/多光谱图像时，确定每一波段图像行号与相机像元的对应关系；
[0013]依次计算所述高/多光谱图像每一波段的行灰度统计量，获取所述每一波段的行灰度统计量的分布函数，计算所述每一波段的行灰度统计量的分布函数的分位数和分位距；
[0014]根据每一波段所述行灰度统计量分布函数的分位数和分位距，设定判定区间，根据所述判定区间判定所述每一波段的行灰度统计量中异常值的行号；
[0015]根据每一波段所述异常值的行号，通过所述对应关系，确定相机异常像元位置，直至获取所有波段对应的相机异常像元。
[0016]进一步地，包括：
[0017]所述每一波段的行灰度统计量，表达为：
[0018][0019]其中，为所述高/多光谱图像第p光谱波段中第i行像素灰度均值，n为所述高/多光谱图像列数，为所述高/多光谱图像中第i行第j 列像素灰度值。
[0020]进一步地，根据所述每一波段的行灰度统计量的分布函数，计算得到第p光谱波段行灰度统计量的第一四分位数第p光谱波段行灰度统计量的第三四分位数所述判定区间中，正常区间表达为：
[0021][0022]其中，为第p光谱波段行灰度统计量的四分位距；
[0023]当第p光谱波段的行灰度统计量或时，与第p光谱波段图像行号对应的相机像元异常。
[0024]进一步地，包括：
[0025]高/多光谱相机按行扫描得到所述高/多光谱图像时，确定每一波段图像列号与相机像元的对应关系；
[0026]依次计算所述高/多光谱图像每一波段的列灰度统计量，获取所述每一波段的列灰度统计量的分布函数，计算所述每一波段的列灰度统计量的分布函数的分位数和分位距；
[0027]根据每一波段所述列灰度统计量分布函数的分位数和分位距，设定判定区间，根据所述判定区间判定所述每一波段的列灰度统计量中异常值的列号；
[0028]根据每一波段所述异常值的列号，通过所述对应关系，确定相机异常像元位置，直至获取所有波段对应的相机异常像元。
[0029]进一步地，包括：
[0030]所述每一波段的列灰度统计量，表达为：
[0031][0032]其中，为所述高/多光谱图像第p光谱波段中第j行像素灰度均值，m为所述高/多光谱图像列数，为所述高/多光谱图像中第i行第j 列像素灰度值。
[0033]进一步地，包括：
[0034]根据所述每一波段的列灰度统计量的分布函数，计算得到第p光谱波段列灰度统计量的第一四分位数第p光谱波段列灰度统计量的第三四分位数所述判定区间中，正常区间表达为：
[0035][0036]其中，为第p光谱波段列灰度统计量的四分位距；
[0037]当第p光谱波段的列灰度统计量或时，与第p光谱波段图像列号对应的相机像元异常。
[0038]另一方面，本专利技术实施例提供了一种基于分布分位数的高/多光谱相机坏点检测系统，包括：
[0039]图像获取模块，用于获取高/多光谱相机拍摄均匀反射率板得到的高/ 多光谱图像，确定每一波段图像行/列号与相机像元的对应关系；
[0040]统计量计算模块，用于依次计算所述高/多光谱图像每一波段的行/ 列灰度统计量，获取所述每一波段的行/列灰度统计量的分布函数，计算所述每一波段的行/列灰度统计量的分布函数的分位数和分位距；
[0041]判断模块，用于根据每一波段所述分布函数的分位数和分位距，设定判定区间，根据所述判定区间判定所述每一波段的行/列灰度统计量中异常值的行/列号；
[0042]检测模块，用于根据每一波段所述异常值的行/列号，通过所述对应关系，确定相机异常像元位置，直至获取所有波段对应的相机异常像元。
[0043]另一方面，本专利技术实施例提供了一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器运行时，所述处理器执行基于分布分位数的高/多光谱相机坏点检测方法中任一项所述的方法。
[0044]另一方面，本专利技术实施例提供了一种计算机设备，包括处理器和存储计算机程序的存储器，其特征在于，所述计算机程序被处理器运行时，所述处理器执行基于分布分位数的高/多光谱相机坏点检测方法中任一项所述的方法。
[0045]与现有技术相比，本专利技术至少可实现如下有益效果之一：
[0046]1、本专利技术有效利用了相机像元与图像像元对应的关键信息，无需添加额外的探测设备和探测器材，对应用场景具有很强的适应性和实用性，可以方便的实现相机坏点的检测；
[0047]2、通本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于分布分位数的高/多光谱相机坏点检测方法，其特征在于，包括：获取高/多光谱相机拍摄均匀反射率板得到的高/多光谱图像，确定每一波段图像行/列号与相机像元的对应关系；依次计算所述高/多光谱图像每一波段的行/列灰度统计量，获取所述每一波段的行/列灰度统计量的分布函数，计算所述每一波段的行/列灰度统计量的分布函数的分位数和分位距；根据每一波段所述分布函数的分位数和分位距，设定判定区间，根据所述判定区间判定所述每一波段的行/列灰度统计量中异常值的行/列号；根据每一波段所述异常值的行/列号，通过所述对应关系，确定相机异常像元位置，直至获取所有波段对应的相机异常像元。2.根据权利要求1所述的基于分布分位数的高/多光谱相机坏点检测方法，其特征在于，包括：高/多光谱相机按列扫描得到所述高/多光谱图像时，确定每一波段图像行号与相机像元的对应关系；依次计算所述高/多光谱图像每一波段的行灰度统计量，获取所述每一波段的行灰度统计量的分布函数，计算所述每一波段的行灰度统计量的分布函数的分位数和分位距；根据每一波段所述行灰度统计量分布函数的分位数和分位距，设定判定区间，根据所述判定区间判定所述每一波段的行灰度统计量中异常值的行号；根据每一波段所述异常值的行号，通过所述对应关系，确定相机异常像元位置，直至获取所有波段对应的相机异常像元。3.根据权利要求2所述的基于分布分位数的高/多光谱相机坏点检测方法，其特征在于，包括：所述每一波段的行灰度统计量，表达为：其中，为所述高/多光谱图像第p光谱波段中第i行像素灰度均值，n为所述高/多光谱图像列数，为所述高/多光谱图像中第i行第j列像素灰度值。4.根据权利要求3所述的基于分布分位数的高/多光谱相机坏点检测方法，其特征在于，根据所述每一波段的行灰度统计量的分布函数，计算得到第p光谱波段行灰度统计量的第一四分位数第p光谱波段行灰度统计量的第三四分位数所述判定区间中，正常区间表达为：其中，为第p光谱波段行灰度统计量的四分位距；当第p光谱波段的行灰度统计量或时，与第p光谱波段图像行号对应的相机像元异常。5.根据权利要求1所述的基于分布分位数的高/多光谱相机坏点检测方法，其特征在
于，包括：高/多光谱相机按行扫描得到所述高/多光谱图像时，确定每一波段图像列号与相机像元的对应关系；依次计算所述高/多光谱图像每一波段的...

【专利技术属性】
技术研发人员：邓尧，闫超，袁良垲，付强，王正伟，刘志刚，
申请(专利权)人：四川九洲电器集团有限责任公司，
类型：发明
国别省市：