基于ATE设备自检的方法和系统技术方案

本发明专利技术涉及ATE设备领域，公开了基于ATE设备自检的方法和系统，其包括PC端和待测设备端，其方法包括，测试文件的生成，PC端生成测试文件；测试执行，PC端对待测设备端依据测试用例表进行测试的执行；测试校验，PC端对待测设备端测试的相关信息进行校验；测试结果判断，PC端对校验后的测试结果进行判断，测试结果通过则进行测试用例判断，否则测试失败；测试用例判断，PC端对待测设备端的测试用例完成则测试成功，否则重新进行待测设备端的测试校验。通过对ATE设备进行自检，其能够保证输出波形的正确性，性能符合测试的需求；这样有利于ATE设备稳定性、性能测试自动化率以及测试效率。性能测试自动化率以及测试效率。性能测试自动化率以及测试效率。

【技术实现步骤摘要】
基于ATE设备自检的方法和系统


[0001]本专利技术涉及ATE设备领域，尤其涉及了基于ATE设备自检的方法和系统。

技术介绍

[0002]对于ATE(Automatic Test Equipment，自动测试设备)：集成了大量的硬件组件，TMU组件可以代替示波器，PMU组件可以代替万用表等；兼容一种高等语言，可以通过编程实现自动化控制；可以轻易的发送任何想要的激励。
[0003]在ATE数字设备中，多通道任意数字波形发生器(DIO)是一个核心的功能模块。此模块可通过软件进行任意通道选择，数字通道个数、组合形式多种多样。各通道根据测试向量集，可独立发送符合芯片测试需求的任意数字波形。并接收存储设备外部芯片的任意响应波形，作为鉴别被测芯片达标与否的依据。
[0004]例如专利名称，一种ATE数字测试系统及其自检方法，专利申请号：201610867908.1，申请日期：2016
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29，一种ATE数字测试系统及其自检方法，该ATE数字测试系统，包括地址发生器、图形存储器、指令存储器、自检存储器以及驱动器，地址发生器与图形存储器、指令存储器和自检存储器均连接，自检存储器与总线相连，图形存储器与驱动器相连。
[0005]现有技术不能很好地验证ATE设备自身产生的任意形状的数字波形功能正确与否，不能对ATE设备外部延时特性存在的差异进行自适应校准，不能动态调整验证的通道组合；对产生波形的Vector正确与否；从而影响了设备功能、性能，测试自动化率。
专利
技术实现思路

[0006]本专利技术针对现有技术不能很好地验证ATE设备自身产生的任意形状的数字波形功能正确与否，性能是否达标；从而影响了设备功能、性能测试自动化率，以及测试效率缺点，提供了基于ATE设备自检的方法和系统。
[0007]为了解决上述技术问题，本专利技术通过下述技术方案得以解决：
[0008]基于ATE设备自检的方法，包括PC端和待测设备端，其方法包括，
[0009]测试文件的生成，PC端生成测试文件；
[0010]测试执行，PC端对待测设备端依据测试用例表进行测试的执行；
[0011]测试校验，PC端对待测设备端测试的相关信息进行校验；
[0012]测试结果判断，PC端对校验后的测试结果进行判断，测试结果通过则进行测试用例判断，否则测试失败；
[0013]测试用例判断，PC端对待测设备端的测试用例完成则测试成功，否则重新进行待测设备端的测试校验。
[0014]通过对ATE设备进行自检，其能够保证输出波形的正确性，性能符合测试的需求；这样有利于提高ATE设备功能、性能测试自动化率以及测试效率。
[0015]作为优选，测试执行前需进行通道延时；PC端对待测设备端的通道延时进行测量，
从而保证待测设备端通道的同步性。通过在待测设备端的通道进行延时，从而保证数据传输过程的同步性。
[0016]作为优选，待测设备端的通道包括接收通道和发送通道。
[0017]作为优选，通道延时，PC端测量设备测试端的发送通道和接收通道进行延时，接收通道预留测量阈值不做电平比较，设备测试端测试结束时，发送通道预留同样的测量阈值不做电平比较，测量阈值为DelayValue/T，其中，DelayValue延时值，T波形周期。
[0018]作为优选，测试的相关信息包括测试的数据、测试的波形数量和预期错误波形。
[0019]作为优选，测试结果判断包括执行结果判断、运行判断和失败判断，
[0020]执行结果判断，设备的采样数据通道采集到实际波形数据，与期望的波形数据进行逐条对比判断；
[0021]运行判断，设备实际运行的Vector条数与期望的Vector条数对比判断；
[0022]失败判断，设备实际运行的失败的Vector条数和期望的vctor失败条数对比判断。
[0023]作为优选，测试文件包括管脚资源映射文件、待测信号组文件、波形定义文件。
[0024]基于ATE设备自检的系统，包括PC端和待测设备端，还包括测试文件生成模块、测试执行模块、测试校验模块、测试结果判断模块和测试用例判断模块；
[0025]测试文件生成模块，用于生成测试文件通过PC端；
[0026]测试执行模块，用于对待测设备端依据测试用例表进行测试的执行通过PC端；
[0027]测试校验模块，用于对待测设备端测试的相关信息进行校验通过PC端；
[0028]测试结果判断模块，用于对校验后的测试结果进行判断通过PC端，测试结果通过则进行测试用例判断，否则测试失败；
[0029]测试用例判断，对待测设备端的测试用例完成则测试成功，否则重新进行待测设备端的测试校验。
[0030]作为优选，还包括通道延时模块；用于对待测设备端的通道延时进行测量PC端，从而保证待测设备端通道的同步性。
[0031]本专利技术由于采用了以上技术方案，具有显著的技术效果：
[0032]通过对ATE设备进行自检，其能够保证输出波形的正确性，性能符合测试的需求；这样有利于提高ATE设备功能、性能、设备稳定性以及测试效率。
[0033]本专利技术通过对待测设备端的接收通道延时进行调整，从而保证数据收发过程的同步性。
附图说明
[0034]图1是本专利技术的系统图。
[0035]图2是本专利技术的通道延时图。
[0036]图3是本专利技术的流程图。
[0037]图4是本专利技术的波形发生器各要素图。
具体实施方式
[0038]下面结合附图1至附图3与实施例对本专利技术作进一步详细描述。
[0039]实施例1
[0040]基于ATE设备自检的方法，包括PC端和待测设备端，其方法包括，测试文件的生成，PC端生成测试文件；测试执行，PC端对待测设备端依据测试用例表进行测试的执行；测试校验，PC端对待测设备端测试的相关信息进行校验；测试结果判断，PC端对校验后的测试结果进行判断，测试结果通过则进行测试用例判断，否则测试失败；测试用例判断，PC端对待测设备端的测试用例完成则测试成功，否则重新进行待测设备端的测试校验。
[0041]通过对ATE设备进行自检，其能够保证输出波形的正确性，性能符合测试的需求；这样有利于提高ATE设备功能、性能测试自动化率以及测试效率。
[0042]测试的相关信息包括测试的数据、测试的波形数量和预期错误波形。
[0043]测试结果判断包括执行结果判断、运行判断和失败判断，执行结果判断，设备的采样数据通道采集到实际波形数据，与期望的波形数据进行逐条对比判断；运行判断，设备实际运行的Vector条数与期望的Vector条数对比判断；失败判断，设备实际运行的失败的Vector条数和期望的vctor失败条数对比判断。
[0044]测试文件包括管脚资源映射文件、待测信号组文件、波形定义文件。
[0045]实施例2
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.基于ATE设备自检的方法，包括PC端和待测设备端，其方法包括，测试文件的生成，PC端生成测试文件；测试执行，PC端对待测设备端依据测试用例表进行测试的执行；测试校验，PC端对待测设备端测试的相关信息进行校验；测试结果判断，PC端对校验后的测试结果进行判断，测试结果通过则进行测试用例判断，否则测试失败；测试用例判断，PC端对待测设备端的测试用例完成则测试成功，否则重新进行待测设备端的测试校验。2.根据权利要求1所述的基于ATE设备自检的方法，其特征在于，测试执行前需进行通道延时；PC端对待测设备端的通道延时进行测量，从而保证待测设备端通道的同步性。3.根据权利要求2所述的基于ATE设备自检的方法，其特征在于，待测设备端的通道包括接收通道和发送通道。4.根据权利要求3所述的基于ATE设备自检的方法，其特征在于，通道延时，PC端测量设备测试端的发送通道和接收通道进行延时，接收通道预留测量阈值不做电平比较，设备测试端测试结束时，发送通道预留同样的测量阈值不做电平比较，测量阈值为DelayValue/T，其中，DelayValue延时值，T波形周期。5.根据权利要求1所述的基于ATE设备自检的方法，其特征在于，测试的相关信息包括测试的数据、测试的波形数量和预期错误波形。6.根据权利要求1所述的基于ATE设备自检的方...

【专利技术属性】
技术研发人员：邬刚，黄海平，
申请(专利权)人：杭州加速科技有限公司，
类型：发明
国别省市：