位置检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种提高位置检测精度的位置检测装置。位置检测装置包括绝对轨道，在绝对轨道记录有记录二进制序列，记录二进制序列基于位置检测二进制序列生成，在N为大于或等于2的整数时，无论从位置检测二进制序列提取哪N个连续项都不存在相同的序列；以及从绝对轨道读取记录二进制序列的绝对传感器单元，其中，记录二进制序列中包含的多个项由两个二进制值组成，当假设两个二进制值为1和0时，记录二进制序列是通过将位置检测二进制序列中包含的两个值中的一个值替换为10并将位置检测二进制序列中的另一个值替换为01而得到的序列。进制序列中的另一个值替换为01而得到的序列。进制序列中的另一个值替换为01而得到的序列。

【技术实现步骤摘要】
位置检测装置
[0001]本申请基于2020年4月9日提交的日本专利申请JP2020
‑
070606并要求享受其优先权，该申请的公开内容通过引用而全部纳入本文。


[0002]本专利技术涉及位置检测装置。

技术介绍

[0003]在上述
中，专利文献1公开了一种位置检测装置，该装置利用磁传感器读取基于非重复码记录在磁介质上的磁信号来检测位置。
[0004][专利文献1]日本特开平01
‑
079619号公报

技术实现思路

[0005]然而，根据上述文献中所描述的技术，非重复码有可能包括与检测头的长度相对应的多个“1”反复出现的部分，或者“0”和“1”交替出现的部分。因此，在使非重复码的一个项与一个方向的磁记录对应的方法中，会出现磁化翻转间隔很长的部分和磁化翻转间隔很短的部分。
[0006]在这种情况下，对绝对轨道(absolute track)所产生的磁信号的波形干扰是很明显的。为此，担心波形干扰下的磁信号对位置检测精度产生影响。
[0007]本专利技术的一个示例性方案提供了一种位置检测装置，包括：
[0008]绝对轨道，在绝对轨道记录有记录二进制序列，记录二进制序列基于位置检测二进制序列生成，在N为大于或等于2的整数时，无论从位置检测二进制序列提取哪N个连续项都不存在相同的序列；以及
[0009]绝对传感器单元，从绝对轨道读取记录二进制序列，
[0010]其中，记录二进制序列中包含的多个项由两个二进制值组成，当假设两个二进制值为1和0时，记录二进制序列是通过将位置检测二进制序列中包含的两个值中的一个值替换为10这两个值并将位置检测二进制序列中的另一个值替换为01这两个值而得到的序列
[0011]根据本专利技术，能够提供一种可确保足够的磁位置检测精度的位置检测装置。
附图说明
[0012]图1A是示出第一实施例的位置检测装置的布置的框图。
[0013]图1B是用于说明第一实施例的位置检测装置的效果的视图。
[0014]图2是用于说明第二实施例的位置检测装置的布置的框图。
[0015]图3A是用于说明第二实施例的位置检测装置的详细布置的框图。
[0016]图3B是示出第二实施例的位置检测装置的详细布置的框图。
[0017]图3C是示出第二实施例的位置检测装置的处理过程的流程图。
[0018]图4是用于说明第二实施例的位置检测装置的传感器布置的视图。
[0019]图5A是示出第三实施例的位置检测装置的详细布置的框图。
[0020]图5B是示出第四实施例的位置检测装置的详细布置的框图。
[0021]图5C是示出第二实施例的位置检测装置的处理过程的流程图。
具体实施方式
[0022]下面，将参照附图详细描述本专利技术的实施例。应当注意的是，除非另有特别说明，否则这些实施例中记载的构成要素的相对布置、数值表达式和数值并不限制本专利技术的范围。
[0023]【第一实施例】
[0024]参照图1A和图1B描述第一实施例的位置检测装置100。如图1A所示，位置检测装置100包括绝对轨道101和传感器单元102。
[0025]在绝对轨道101中记录有基于位置检测二进制序列111生成的记录二进制序列112，其中无论在位置检测二进制序列111中提取哪N个连续项(N是大于或等于2的整数)，都不存在相同的序列。图1A示出了N＝4的例子。
[0026]传感器单元102在左右方向移动的同时，从绝对轨道101读取记录二进制序列112。
[0027]记录二进制序列112中包含的多个项中的每一个项都是由两个值中的一个值形成的，并且假设这两个值为1和0。此时，记录二进制序列112是将位置检测二进制序列111中包含的两个值中的一个值替换为10，将位置检测二进制序列中的另一个值替换为01而得到的序列。
[0028]根据上述布置，由于在所记录的二进制序列中不存在三个或更多个1或0连续的情况，因此能够提供一种使用受波形干扰影响小的磁信号来检测位置的位置检测装置。
[0029]图1B是用于说明该实施例的效果的视图。图形120是表示传统技术中磁通量根据位置变化的图形的一个例子。图形130是表示本实施例中磁通量根据位置变化的图形的一个例子。
[0030]图形120中，磁化在同一方向上连续发生三次或三次以上(即0或1连续)的部分123中会发生大的波形干扰。由于这个原因，波形的最小部分的最大值121和最大部分的最小值122之间的差别很小，仅通过该位置处的磁通量难以判别是哪个部分的数值。
[0031]另一方面，在图形130所示的本实施例中，由于在任何部分磁化在同一方向上最多仅连续发生两次，因此，波形的最小部分的最大值131和最大部分的最小值132是分离的，容易进行判别。即，位置检测精度变得很高。
[0032]【第二实施例】
[0033]接下来将参照图2描述第二实施例的位置检测装置200。如图2所示，位置检测装置200包括磁介质201和作为传感器单元的检测头202，其中，磁介质201包括至少一个绝对轨道211和至少一个增量轨道(incremental track)212。在绝对轨道211中记录有非重复码，在增量轨道212中记录有重复码。
[0034]磁介质201中，磁性体在各区域被磁化，从而进行磁记录。磁介质201在作为线性编码器使用时，具有长板形状，在作为旋转编码器使用时，具有圆柱形状或圆盘形状。相对于某一轴线在+方向、或者与+方向相反的﹣方向上进行磁化。该轴线可以是磁介质201的纵向方向或垂直方向。
[0035]检测头202能够相对于磁介质201移动。检测头202为磁编码器，包括作为将磁信号转换为电信号的磁检测器的增量传感器单元221和绝对传感器单元222、以及将电信号转换为位置信息的信号处理器223。增量传感器单元221和绝对传感器单元222在检测头202中的相对位置不改变。
[0036]增量传感器单元221读取从增量轨道212产生的漏磁场并输出信号。增量传感器单元221和增量轨道212作为前后检测器发挥作用，检测检测头202的在一个周期λ中的前后位置。
[0037]绝对传感器单元222读取从绝对轨道211产生的漏磁场并输出信号。信号处理器223将表示漏磁场的信号转换为表示检测头202在磁介质201上的位置的位置数据224，并将位置数据输出到外部系统250。
[0038]图3A和3B是用于说明传感器和轨道之间的磁记录的位置关系的例子的视图。图3A和图3B在绝对传感器单元222的位置上有所不同。
[0039]在绝对轨道211中，记录有基于位置检测二进制序列311生成的记录二进制序列312，在位置检测二进制序列311中，在任意提取的N个连续项(N是大于或等于2的整数)中都不存在相同的序列。绝对传感器单元222以每隔一项的方式从记录二进制序列312读取至少N项序列，并确定所检测本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种位置检测装置，其特征在于，包括：绝对轨道，在所述绝对轨道记录有记录二进制序列，所述记录二进制序列基于位置检测二进制序列生成，在N为大于或等于2的整数时，无论从所述位置检测二进制序列提取哪N个连续项都不存在相同的序列；以及绝对传感器单元，所述绝对传感器单元从所述绝对轨道读取所述记录二进制序列，其中，所述记录二进制序列中包含的多个项由两个二进制值组成，当假设所述两个二进制值为1和0时，所述记录二进制序列是通过将所述位置检测二进制序列中包含的两个值中的一个值替换为10这两个值并将所述位置检测二进制序列中的另一个值替换为01这两个值而得到的序列。2.根据权利要求1所述的位置检测装置，其特征在于，所述绝对传感器单元包括传感器，所述传感器以每隔一项的方式从所述记录二进制序列检测至少N+1项的序列。3.根据权利要求2所述的位置检测装置，其特征在于，还包括：反转器，所述反转器通过对所述绝对传感器单元检测到的检测序列进行位反转来生成反转序列；搜索器，所述搜索器在所述位置检测二进制序列中搜索所述检测序列...

【专利技术属性】
技术研发人员：村山智大，
申请(专利权)人：德马吉森精机有限公司，
类型：发明
国别省市：