本实用新型专利技术涉及测试装置技术领域，涉及一种高光面复杂结构纳米晶的3D检测装置。本实用新型专利技术通过产品载具对线圈产品进行快速定位，检测部件快速对线圈产品进行厚度检测，有效提高了生产效率，减少了工人的劳动强度，同时也满足了生产中大量的检测需求；同时升降驱动部件带动产品载具上的线圈与检测基准组件抵接，通过基准面测量可有效提高检测精度，特别适合对整体平面度如线圈盘等产品进行厚度测试，为产品质量的提高提供有力保障。品质量的提高提供有力保障。品质量的提高提供有力保障。
【技术实现步骤摘要】
高光面复杂结构纳米晶的3D检测装置
[0001]本技术涉及测试装置
，涉及一种高光面复杂结构纳米晶的3D检测装置。
技术介绍
[0002]现有的手机等小型电子消费品，都逐渐开始使用无线充电，来彻底杜绝传统有线连接方式。在无线充电线圈(带磁铁纳米晶线圈)的生产过程中，就需要常对线圈盘的厚度尺寸进行测试，目前一般采用高度仪或过规仪来检查线圈厚度，测试方法不仅效率低，而且费时费力，通过多点测量后，再对多组数据进行分析比较，精确度常常难以保证，不适合工厂大量生产的模式。
技术实现思路
[0003]本技术要解决的技术问题是提供一种提高了生产效率，减少了工人的劳动强度，有效提高检测精度，为产品质量的提高提供有力保障的高光面复杂结构纳米晶的3D检测装置。
[0004]为了解决上述技术问题，本技术解决其技术问题所采用的技术方案是：
[0005]一种高光面复杂结构纳米晶的3D检测装置，包括基准架以及升降架，所述升降架与所述基准架连接，所述基准架上设置有检测基准组件，所述升降架上滑设有顶升架以及升降驱动部件，所述顶升架上设置有用于容置待检测产品的产品载具，所述升降驱动部件与所述顶升架驱动连接，所述升降驱动部件带动所述顶升架做往复直线运动，所述检测基准组件与所述产品载具相对设置；
[0006]所述顶升架上检测部件，所述检测部件设置在所述产品载具下方。
[0007]进一步地，所述检测基准组件包括基准板，所述基准板上设置有基准槽，所述基准槽上固定连接有光学玻璃。
[0008]进一步地，所述产品载具包括载具板，所述载具板上设置有用于定位待检测产品的定位部件，所述定位部件将所述产品吸附在所述载具板上。
[0009]进一步地，所述定位部件包括真空封板，所述真空封板设置在所述载具板底部，所述载具板上设置有多个与所述真空封板相连通的吸附孔。
[0010]进一步地，所述检测部件包括多个线性位移传感器，所述升降板上设置有检测架，所述线性位移传感器设置在所述检测架上，所述载具板上开设有检测通孔，所述线性位移传感器上的陶瓷检测头穿设在所述检测通孔上。
[0011]进一步地，所述产品载具上设置有感应板，所述基准架上设置有与所述感应板相匹配的接近传感器，所述感应板与所述接近传感器相对设置。
[0012]进一步地，所述基准架上设置有气缸架，所述气缸架上设置有载具下压气缸，所述载具下压气缸与所述检测基准组件驱动连接。
[0013]进一步地，所述升降驱动部件包括下顶升气缸，所述升降架上设置有升降滑轨，所
述顶升架滑设在所述升降滑轨上，所述下顶升气缸与所述升降架连接，所述下顶升气缸活塞杆杆端与所述顶升架驱动连接，所述下顶升气缸带动所述顶升架沿着升降滑轨做往复直线运动。
[0014]进一步地，所述升降架与所述基准架之间设置有调节部件，所述调节部件包括前后调节单元和左右调节单元，所述前后调节单元和左右调节单元结构相同，所述前后调节单元设置在所述左右调节单元上，所述左右调节单元与所述基准架连接，所述前后调节单元与所述升降架连接，通过调节部件对升降架与基准架的相对位置进行微调。
[0015]进一步地，所述左右调节单元包括第一板和第二板，所述第一板滑设在所述第二板上，所述第二板上设置有调节架，所述调节架上设置有千分尺，所述千分尺的测距端与所述第一板连接。
[0016]本技术的有益效果：
[0017]本技术通过产品载具对线圈产品进行快速定位，检测部件快速对线圈产品进行厚度检测，有效提高了生产效率，减少了工人的劳动强度，同时也满足了生产中大量的检测需求；同时升降驱动部件带动产品载具上的线圈与检测基准组件抵接，通过基准面测量可有效提高检测精度，特别适合对整体平面度如线圈盘等产品进行厚度测试，为产品质量的提高提供有力保障。
附图说明
[0018]图1是本技术的一种高光面复杂结构纳米晶的3D检测装置示意图。
[0019]图2是本技术的检测基准组件示意图。
[0020]图3是本技术的产品载具示意图。
[0021]图4是本技术的调节部件示意图。
[0022]图中标号说明：1、基准架；2、基准板；21、光学玻璃；22、载具下压气缸；23、气缸架；3、产品载具；31、感应板；32、接近传感器；33、吸附孔；34、真空吸板；35、检测通孔；4、升降架；41、顶升架；42、下顶升气缸；43、升降滑轨；44、检测架；45、线性位移传感器；46、陶瓷检测头；5、调节部件；51、前后调节单元；52、左右调节单元；53、第一板；54、第二板；55、千分尺；
具体实施方式
[0023]下面结合附图和具体实施例对本技术作进一步说明，以使本领域的技术人员可以更好地理解本技术并能予以实施，但所举实施例不作为对本技术的限定。
[0024]参照图1
‑
4所示，一种高光面复杂结构纳米晶的3D检测装置，包括基准架1以及升降架4，所述升降架4与所述基准架1连接，所述基准架1上设置有检测基准组件，所述升降架4上滑设有顶升架41以及升降驱动部件，所述顶升架41上设置有用于容置待检测产品的产品载具3，所述升降驱动部件与所述顶升架41驱动连接，所述升降驱动部件带动所述顶升架41做往复直线运动，所述检测基准组件与所述产品载具3相对设置；
[0025]所述顶升架41上检测部件，所述检测部件设置在所述产品载具3下方。
[0026]本技术通过产品载具3对线圈产品进行快速定位，检测部件快速对线圈产品进行厚度检测，有效提高了生产效率，减少了工人的劳动强度，同时也满足了生产中大量的
检测需求；同时升降驱动部件带动产品载具3上的线圈与检测基准组件抵接，通过基准面测量可有效提高检测精度，特别适合对整体平面度如线圈盘等产品进行厚度测试，为产品质量的提高提供有力保障。
[0027]所述检测基准组件包括基准板2，所述基准板2上设置有基准槽，所述基准槽上固定连接有光学玻璃21。
[0028]采用光学玻璃21的平面度可达0.003mm，有利于提高检测准确性；光学玻璃21与基准板2固定安装，可保证了每次检测基准位置不变，具有很好的重复性。
[0029]所述产品载具3包括载具板，所述载具板上设置有用于定位待检测产品的定位部件，所述定位部件将所述产品吸附在所述载具板上。
[0030]所述定位部件包括真空封板，所述真空封板设置在所述载具板底部，所述载具板上设置有多个与所述真空封板相连通的吸附孔33。
[0031]所述检测部件包括多个线性位移传感器45，所述升降板上设置有检测架44，所述线性位移传感器45设置在所述检测架44上，所述载具板上开设有检测通孔35，所述线性位移传感器45上的陶瓷检测头46穿设在所述检测通孔35上。
[0032]所述线性位移传感器45采用LVDT线性位移传感器45，其检测精度可达0.1μm，同时与产品接触的陶瓷检测头46可用于本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种高光面复杂结构纳米晶的3D检测装置，其特征在于，包括基准架以及升降架，所述升降架与所述基准架连接，所述基准架上设置有检测基准组件，所述升降架上滑设有顶升架以及升降驱动部件，所述顶升架上设置有用于容置待检测产品的产品载具，所述升降驱动部件与所述顶升架驱动连接，所述升降驱动部件带动所述顶升架做往复直线运动，所述检测基准组件与所述产品载具相对设置；所述顶升架上检测部件，所述检测部件设置在所述产品载具下方。2.如权利要求1所述的高光面复杂结构纳米晶的3D检测装置，其特征在于，所述检测基准组件包括基准板，所述基准板上设置有基准槽，所述基准槽上固定连接有光学玻璃。3.如权利要求1所述的高光面复杂结构纳米晶的3D检测装置，其特征在于，所述产品载具包括载具板，所述载具板上设置有用于定位待检测产品的定位部件，所述定位部件将所述产品吸附在所述载具板上。4.如权利要求3所述的高光面复杂结构纳米晶的3D检测装置，其特征在于，所述定位部件包括真空封板，所述真空封板设置在所述载具板底部，所述载具板上设置有多个与所述真空封板相连通的吸附孔。5.如权利要求3所述的高光面复杂结构纳米晶的3D检测装置，其特征在于，所述检测部件包括多个线性位移传感器，所述顶升架上设置有检测架，所述线性位移传感器设置在所述检测架上，所述载具板上开设有检测通孔，所述线性位移传感器上的陶瓷检测头穿设在所述检测通孔上。6.如权利要求1所述的高光面复...
【专利技术属性】
技术研发人员：罗时帅，
申请(专利权)人：荣旗工业科技苏州股份有限公司，
类型：新型
国别省市：
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