一种受限空间爬波检测表面盲区试块制造技术

本发明专利技术公开了一种受限空间爬波检测表面盲区试块，包括呈长方体的本体，在本体上表面左侧开设有第一矩形槽，在本体下表面左侧开设有第二矩形槽，在本体上表面左侧开设有第一尖槽，在本体下表面左侧开设有第二尖槽，在本体下表面右侧开设有若干个横通孔。本发明专利技术可以用来测量PAUT检测的上表面盲区。来测量PAUT检测的上表面盲区。来测量PAUT检测的上表面盲区。

【技术实现步骤摘要】
一种受限空间爬波检测表面盲区试块


[0001]本专利技术属于超声检测
，具体涉及一种受限空间爬波检测表面盲区试块。

技术介绍

[0002]对受限空间(焊缝检测区域不足)进行PAUT检测时，因脉冲反射法或PAUT纵波扩散原因导致上表面检测存在盲区。管件因其应力大，必须对其进行全覆盖的无损检测，在制作过程中，往往采用射线检测或水浸超声法进行全覆盖检测。但是在运行过程中，无法对其进行射线检测时，只能采用PAUT检测。而PAUT检测和脉冲反射法超声检测存在的共性问题就是表面盲区。

技术实现思路

[0003]为解决上述问题，本专利技术提供了一种受限空间爬波检测表面盲区试块。试块采用和管件相同或声速相近的材质，通过机加工方式，切削、钻孔、切槽制作而成。
[0004]本专利技术采用如下技术方案来实现的：
[0005]一种受限空间爬波检测表面盲区试块，包括呈长方体的本体，在本体上表面左侧开设有第一矩形槽，在本体下表面左侧开设有第二矩形槽，在本体上表面左侧开设有第一尖槽，在本体下表面左侧开设有第二尖槽，在本体下表面右侧开设有若干个横通孔。
[0006]本专利技术进一步的改进在于，本体的形状为长100mm，宽30mm，高25mm的长方体。
[0007]本专利技术进一步的改进在于，在本体上表面左侧10mm处，刻深度为1mm、长度为10mm、宽度为30mm的第一矩形槽。
[0008]本专利技术进一步的改进在于，在本体下表面左侧10mm处，刻深度为2mm、长度为10mm、宽度为30mm的第二矩形槽。
[0009]本专利技术进一步的改进在于，在本体上表面左侧50mm处，刻深度为1mm、开口角度为60
°
、长度为30mm的第一尖槽。
[0010]本专利技术进一步的改进在于，在本体下表面左侧50mm处，刻深度为2mm、开口角度为60
°
、长度为30mm的第二尖槽。
[0011]本专利技术进一步的改进在于，在本体下表面右侧20mm处，机加工深度分别为1～8mm的Φ1
×
30横通孔，共8个。
[0012]本专利技术进一步的改进在于，横通孔用来测量爬波的上表面盲区，以能发现最小横孔的上沿作为上表面盲区。
[0013]本专利技术进一步的改进在于，矩形槽和尖槽分别测量爬波区分不同缺陷的能力。
[0014]本专利技术进一步的改进在于，本体的材质和管件相同或声速相近。
[0015]本专利技术至少具有如下有益的技术效果：
[0016]1、深度为1～8mm的横孔可以对爬波探头的上表面盲区进行测量；
[0017]2、通过观察仪器显示的横孔数量和深度，可大概确定探头的覆盖深度范围；
[0018]3、尖槽可测量爬波探头对裂纹等缺陷的分辨能力；
[0019]4、矩形槽可综合检测探头的缺陷成像能力、缺陷分辨能力、和缺陷长度、宽度、深度的测量误差。
附图说明
[0020]图1为表面盲区试块示意图。
[0021]图2为图1的俯视图。
具体实施方式
[0022]在本专利技术的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“一侧”、“一端”、“一边”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。此外，在本专利技术的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。
[0023]如图1和图2所示，本专利技术提供的一种受限空间爬波检测表面盲区试块，包括：
[0024]1、试块材质和管件相同或声速相近；
[0025]2、试块形状为长100mm，宽30mm，高25mm的长方体；
[0026]3、在长方体上表面左侧10mm处，刻深度为1mm、长度为10mm、宽度为30mm的第一矩形槽；
[0027]4、在长方体下表面左侧10mm处，刻深度为2mm、长度为10mm、宽度为30mm的第二矩形槽；
[0028]5、在长方体上表面左侧50mm处，刻深度为1mm、开口角度为60
°
、长度为30mm的第一尖槽；
[0029]6、在长方体下表面左侧50mm处，刻深度为2mm、开口角度为60
°
、长度为30mm的第二尖槽；
[0030]7、在长方体下表面右侧20mm处，机加工深度分别为1～8mm的Φ1
×
30横通孔，共8个；
[0031]8、横通孔用来测量爬波的上表面盲区，以能发现最小横孔的上沿作为上表面盲区；
[0032]9、矩形槽和尖槽分别测量爬波区分不同缺陷的能力。
[0033]对于本领域技术人员而言，显然本专利技术不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本专利技术的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本专利技术。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本专利技术的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本专利技术内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种受限空间爬波检测表面盲区试块，其特征在于，包括呈长方体的本体，在本体上表面左侧开设有第一矩形槽，在本体下表面左侧开设有第二矩形槽，在本体上表面左侧开设有第一尖槽，在本体下表面左侧开设有第二尖槽，在本体下表面右侧开设有若干个横通孔。2.根据权利要求1所述的一种受限空间爬波检测表面盲区试块，其特征在于，本体的形状为长100mm，宽30mm，高25mm的长方体。3.根据权利要求1所述的一种受限空间爬波检测表面盲区试块，其特征在于，在本体上表面左侧10mm处，刻深度为1mm、长度为10mm、宽度为30mm的第一矩形槽。4.根据权利要求1所述的一种受限空间爬波检测表面盲区试块，其特征在于，在本体下表面左侧10mm处，刻深度为2mm、长度为10mm、宽度为30mm的第二矩形槽。5.根据权利要求1所述的一种受限空间爬波检测表面盲区试块，其特征在于，在本体上表面左侧50mm处，刻深度为1mm、开口角...

【专利技术属性】
技术研发人员：王飞，李旭，苏润，康松，王鹏飞，马博伦，张喜，
申请(专利权)人：西安热工研究院有限公司，
类型：发明
国别省市：