一种激光打印的高速扫描调校系统及方法技术方案

本发明专利技术公开了一种激光打印的高速扫描调校方法，涉及激光打印的高速扫描调校技术领域，包括如下步骤，利用光束质量分析仪、光电传感器接受LSU模块的光信号，货架板卡进行产生波形送入LSU模块，同时，货架板卡接受LSU模块内部的传感器信号，经货架板卡处理后的结果输出给PC，PC上运行软件APP对于光学质量分析仪和货架板卡处理后的数据，经过提取，输出提示结果。本发明专利技术还提出了一种激光打印的高速扫描调校系统，包括光束质量分析仪、光电传感器、LSU模块、货架板卡和PC。本发明专利技术可对激光打印的高速扫描系统进行有效的性能分析，有利产品批产的良率。产的良率。产的良率。

【技术实现步骤摘要】
一种激光打印的高速扫描调校系统及方法


[0001]本专利技术属于激光打印的高速扫描调校
，具体涉及一种激光打印的高速扫描调校系统及方法。

技术介绍

[0002]激光打印机是现代办公最为普遍的打印设备，由于激光打印机具有优秀的打印性能，得到了广泛应用，激光打印的高速扫描系统作为打印机的重要组成，在激光打印机生产过程中，需要对激光打印的高速扫描系统进行调校，避免后期激光打印在高速扫描上出现问题，而目前缺少对激光打印的高速扫描系统进行快速高效的调校并对其性能进行分析的装置或方法，为此，我们设计了一种激光打印的高速扫描调校系统及方法来解决这一问题。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种激光打印的高速扫描调校系统及方法。
[0004]为了实现上述目的，本专利技术采用了如下技术方案：
[0005]设计一种激光打印的高速扫描调校方法，包括如下步骤：
[0006]利用光束质量分析仪、光电传感器接受LSU模块的光信号，货架板卡进行产生波形送入所述LSU模块，同时，货架板卡接受所述LSU模块内部的传感器信号，经所述货架板卡处理后的结果输出给PC，所述PC上运行软件APP对于所述光学质量分析仪和货架板卡处理后的数据，经过提取，输出提示结果。
[0007]进一步的，所述LSU模块包括带有扫描马达的棱镜、与所述棱镜电性相连的扫描马达驱动、激光调制模块和霍尔传感模块，所述激光调制模块和霍尔传感模块与所述货架板卡进行电性连接，还包括F
‑
θ透镜和反射镜，所述棱镜的光束通过F
‑
θ透镜和反射镜进入至所述光电传感器。
[0008]进一步的，所述光电传感器的数量为三个，分别为光电1、光电2、光电3，光电1与光电2的距离和光电2与光电3的距离相等。
[0009]进一步的，所述光电传感器采用内部时钟100MHZ作为脉冲计数法进行测量，光电1至光电2的脉冲数与光电2至光电3的脉冲数相等。
[0010]进一步的，所述货架板卡内置ZYNQ芯片。
[0011]进一步的，所述货架板卡的FPGA工作过程包括如下步骤：
[0012]步骤一，初始化阶段：CPU进行对外设Clocking Wizard模块、Ld_power_pwm模块、hsync_management模块、LSU_reg模块、MC_controller模块、trace_analyzer跟踪分析器模块、data_fifo数据缓冲模块、DMA数据移动控制器模块；
[0013]步骤二，启动trace_analyzer跟踪分析器模块捕捉光电传感数据和输出波形数据，采用DMA搬移至内存进行存储；
[0014]步骤三，通过参数设定MC_controller模块，启动LSU模块的扫描马达；
[0015]步骤四，通过参数设定LSU_reg模块，启动激光的开启。
[0016]进一步的的，在步骤一中，trace_analyzer跟踪分析器模块、data_fifo数据缓冲模块、DMA数据移动控制器模块用于接收传感器数据，并送入内存。
[0017]进一步的，所述PC上运行软件APP处理数据的过程包括如下步骤：
[0018](1)、光束质量分析仪采集光参数；
[0019](2)、进行分析光斑尺寸，光强、波长等；
[0020](3)、读取激光信号处理结果；
[0021](4)、通过判断LSU模块是否合格；给出不合适的参数；
[0022](5)、输出结果。
[0023]本专利技术还提供了一种激光打印的高速扫描调校系统，包括光束质量分析仪、光电传感器、LSU模块、货架板卡和PC。
[0024]本专利技术提出的一种激光打印的高速扫描调校系统及方法，有益效果在于：本专利技术借助光传感、信号处理、信号采集、光束质量分析仪、通过软件分析给出对激光打印的高速扫描系统研判的结果，可对激光打印的高速扫描系统进行有效的性能分析，有利产品批产的良率。
附图说明
[0025]附图用来提供对本专利技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本专利技术的实施例一起用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的限制。在附图中：
[0026]图1是本专利技术关于激光打印的高速扫描调校的系统框图；
[0027]图2是本专利技术关于货架板卡的内部模块结构示意图；
[0028]图3是本专利技术关于系统对激光打印高速扫描的数据采集结构示意图；
具体实施方式
[0029]下面结合具体实施例，进一步阐述本专利技术。这些实施例仅用于说明本专利技术而不用于限制本专利技术的范围。
[0030]现结合说明书附图，详细说明本专利技术的结构特点。
[0031]参见图1所示，本专利技术提出一种激光打印的高速扫描调校方法，适用于激光打印的高速扫描调校系统，该系统包括光束质量分析仪、光电传感器、LSU模块、货架板卡和P C，货架板卡内置ZYNQ芯片。具体步骤如下步骤：
[0032]利用光束质量分析仪、光电传感器接受LSU模块的光信号，自研的货架板卡进行产生波形送入LSU模块，同时，货架板卡接受LSU模块内部的传感器信号，经货架板卡处理后的结果输出给PC，PC上运行软件APP对光学质量分析仪和货架板卡处理后的数据，经过提取，输出提示结果。
[0033]参见图1和3，LSU模块包括带有扫描马达的棱镜、与棱镜电性相连的扫描马达驱动、激光调制模块和霍尔传感模块，激光调制模块和霍尔传感模块与货架板卡进行电性连接，还包括F
‑
θ透镜和反射镜，棱镜的光束通过F
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θ透镜和反射镜进入至光电传感器。光电传感器的数量为三个，分别为光电1、光电2、光电3，CPU对于采集的数据进行分析，棱镜采用四面棱镜，四面棱镜工作扫描模式，在此过程中霍尔传感器、3个光电探测器会产生周期信号，
不考虑误差的情况下，光电1与光电2的距离和光电2与光电3的距离相等。光电传感器采用内部时钟100MHZ作为脉冲计数法进行测量，光电1至光电2的脉冲数与光电2至光电3的脉冲数相等，CPU对于分析后的数据通过USB传至PC。
[0034]参见图2所示，货架板卡的FPGA工作过程包括如下步骤：
[0035]步骤一，初始化阶段：CPU进行对外设Clocking Wizard模块、Ld_power_pwm模块、hsync_management模块、LSU_reg模块、MC_controller模块、trace_analyzer跟踪分析器模块、data_fifo数据缓冲模块、DMA数据移动控制器模块；
[0036]步骤二，启动trace_analyzer跟踪分析器模块捕捉光电传感数据和输出波形数据，采用DMA搬移至内存进行存储，其中，trace_analyzer跟踪分析器模块、data_fifo数据缓冲模块、DMA数据移动控制器模块用于接收传感器数据，并送入内存。
[0037]步骤三，通过参数设定MC_controller模块，启本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种激光打印的高速扫描调校方法，其特征在在于，包括如下步骤：利用光束质量分析仪、光电传感器接受LSU模块的光信号，货架板卡进行产生波形送入所述LSU模块，同时，货架板卡接受所述LSU模块内部的传感器信号，经所述货架板卡处理后的结果输出给PC，所述PC上运行软件APP对于所述光学质量分析仪和货架板卡处理后的数据，经过提取，输出提示结果。2.根据权利要求1所述的一种激光打印的高速扫描调校方法，其特征在于，所述LSU模块包括带有扫描马达的棱镜、与所述棱镜电性相连的扫描马达驱动、激光调制模块和霍尔传感模块，所述激光调制模块和霍尔传感模块与所述货架板卡进行电性连接，还包括F
‑
θ透镜和反射镜，所述棱镜的光束通过F
‑
θ透镜和反射镜进入至所述光电传感器。3.根据权利要求1所述的一种激光打印的高速扫描调校方法，其特征在于，所述光电传感器的数量为三个，分别为光电1、光电2、光电3，光电1与光电2的距离和光电2与光电3的距离相等。4.根据权利要求3所述的一种激光打印的高速扫描调校方法，其特征在于，所述光电传感器采用内部时钟100MHZ作为脉冲计数法进行测量，光电1至光电2的脉冲数与光电2至光电3的脉冲数相等。5.根据权利要求1所述的一种激光打印的高速扫描调校方法，其特征在于，所述货架板卡内置ZYNQ芯片。6.根据权利要求5所述的一种激光打印的高速扫描调校方法，其特征在于，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：李公顶，张志龙，
申请(专利权)人：南京立思辰智能设备有限公司，
类型：发明
国别省市：