电容感测装置操作方法制造方法及图纸

技术编号:30345248 阅读:20 留言:0更新日期:2021-10-12 23:30
本发明专利技术是有关一种电容感测装置操作方法,其包含:计算该侦测数据相较于先前数据框中接收到的侦测数据的一变化量;依据该侦测数据及所保存的一基线值进行比较运算,以判断是否发生近接事件。在近接事件发生时,依据该变化量所在的范围,来从数种近接基线值更新程序中择一对该基线值进行更新,故能有效避免在物体长时间靠近电容感测装置的情形下,发生无法适时更新基线值而导致电容感测装置可能误判的问题。题。题。

【技术实现步骤摘要】
电容感测装置操作方法


[0001]本专利技术是有关一种感测装置的操作方法,尤其是一种实时更新电容感测装置的基线值的操作方法。

技术介绍

[0002]市售众多电子装置设置中均有近接传感器(Proximity Sensor),近接传感器用于侦测物体是否接近电子装置,据以让电子装置作出对应的判断或控制。常见以光感测装置来构成近接传感器,然而光传感器仰赖发光组件发射光线,并测量所接收到的反射光强度来判断物体是否接近,因此仅能感测发光组件的出光方向上的物体,在应用上仍然有其限制。
[0003]取而代的的,也可以透过电容感测装置来构成近接传感器,其原理依据物体靠近电容感测装置时一感测电极所感测到的电容量,来判断用户物体是否接近电子装置。如此不仅可感测由各个方向接近电子装置的物体,由于人体和其他材质的介电系数有所差异,因此以电容感测装置所构成的近接传感器还可辨别接近电子装置的是否为人体。因此若用户接近电子装置,则可降低电子装置射频电路的发射功率,以控制特定吸收比率(Specific Absorption Rate,SAR)于规范内,而避免引响人体健康。
[0004]一般而言,电容感测装置会将感测电极所感测到的电容量和一基线值(Baseline)进行比较运算,以判断是否发生近接事件。随着温度、湿度等环境条件不同,感测电极所感测到的电容量本来就会有所不同,因此基线值应当随着环境条件进行动态调整,以确保电容感测装置能够正确判断是否有物体接近。在现有技术中,调整基线值的方法一般会利用没有近接事件发生时感测电极所感测到的电容量来更新基线值;相对地,在有近接事件发生的情况下,现有技术会认定感测电极所感测到的电容量主要来自于物体接近所致,因此会在近接事件发生时完全或部分冻结基线值的更新。
[0005]然而,在物体长时间靠近电容感测装置的情形下,上述现有技术将发生无法适时更新基线值,进而导致电容感测装置可能误判而无法正确脱离近接事件或无法再次判断近接事件发生的问题。举例而言,当用户将电子装置靠近脸部进行持续通话,且周遭环境发生剧变(例如由炎热户外走入冷气房),由于现有技术会在此过程中完全或部分冻结基线值的更新,进而导致电容感测装置后续可能误判的情况。
[0006]基于上述的问题,本专利技术提供一种实时更新电容感测装置的基线值的操作方法,其可提升电容感测装置的基线值与环境条件的匹配程度,以进一步增加近接事件的判断准确性。

技术实现思路

[0007]本专利技术的一目的在于提供一种电容感测装置的操作方法,其可在近接事件发生时以数种近接基线值更新程序来持续更新基线值,来提升电容感测装置的基线值与环境条件的匹配程度,进而有效增加近接事件的判断准确性。
[0008]本专利技术包含一种电容感测装置操作方法,其通过一讯号处理电路、一基线处理电路及一近接感测电路实施,该电容感测装置操作方法包含:由该讯号处理电路接收一侦测数据;以该基线处理电路计算该侦测数据相较于先前数据框中接收到的侦测数据的一变化量;以该近接感测电路依据该侦测数据及所保存的一基线值进行比较运算,以判断是否发生近接事件;其中,在近接事件发生时,该基线处理电路依据该变化量所在的范围,来从数种近接基线值更新程序中择一对该基线值进行更新;在近接事件并未发生时,该基线处理电路依据一非近接基线值更新来对该基线值进行更新;以及该基线处理电路将更新后的基线值输出至该近接感测电路。
[0009]本专利技术包含另一种电容感测装置操作方法,与上述操作方法不同的处在于:在近接事件并未发生时,该基线处理电路依据该变化量所在的范围,来从数种非近接基线值更新程序中择一对该基线值进行更新。
附图说明
第1图:其为本专利技术的一实施例所搭配的电容感测装置的方块图;第2图:其为本专利技术的一实施例的运作流程图;以及第3图:其为本专利技术的另一实施例的运作流程图。【图号对照说明】10
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电容感测装置12
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感测电路14
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模拟数字转换电路16
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讯号处理电路18
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基线处理电路20
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近接感测电路V
SEN
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感测讯号S
D
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数字讯号Raw
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侦测数据B
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基线值ProX
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近接讯号S10
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接收侦测数据步骤S20
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计算变化量步骤S30
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近接事件判断步骤S40
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变化量所在范围判断步骤S51
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第一近接基线值更新步骤S52
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第二近接基线值更新步骤S60
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变化量所在范围判断步骤S70
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非近接基线值更新步骤S71
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第一非近接基线值更新步骤S72
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第二非近接基线值更新步骤
具体实施方式
[0010]为了使本专利技术的结构特征及所达成的功效有更进一步的了解与认识,特用较佳的实施例及配合详细的说明,说明如下:
[0011]在说明书及权利要求当中使用了某些词汇指称特定的组件,然,所属本专利技术
中具有通常知识者应可理解,制造商可能会用不同的名词称呼同一个组件,而且,本说明书及权利要求并不以名称的差异作为区分组件的方式,而是以组件在整体技术上的差异作为区分的准则。在通篇说明书及权利要求当中所提及的「包含」为一开放式用语,故应解释成「包含但不限定于」。再者,「耦接」一词在此包含任何直接及间接的连接手段。因此,若文中描述一第一装置耦接一第二装置,则代表第一装置可直接连接第二装置,或可透过其他装置或其他连接手段间接地连接至第二装置。
[0012]有鉴于现有电容感测装置会在近接事件发生时完全或部分冻结基线值的更新,而导致习知电容感测装置可能发生误判的情况,据此,本专利技术遂提出一种电容感测装置操作方法,以解决此的问题。以下,将进一步说明本专利技术揭示的电容感测装置操作方法所包含的特性、所搭配的电容感测装置架构:
[0013]首先,请参阅第1图,其为本专利技术实施例的电容感测装置操作方法所搭配的电容感测装置10的方块图。如图所示,电容感测装置10包含一感测电路12、一模拟数字转换电路14、一讯号处理电路16、一基线处理电路18及一近接感测电路20。该感测电路12内设有感测电极,其相当于一电容,其等效电容量会随本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电容感测装置操作方法,其特征在于,其通过一讯号处理电路、一基线处理电路及一近接感测电路实施,该电容感测装置操作方法包含:由该讯号处理电路接收一侦测数据;以该基线处理电路计算该侦测数据相较于先前数据框中接收到的侦测数据的一变化量;以该近接感测电路依据该侦测数据及所保存的一基线值进行比较运算,以判断是否发生近接事件;其中,在近接事件发生时,该基线处理电路依据该变化量所在的范围,来从数种近接基线值更新程序中择一对该基线值进行更新;在近接事件并未发生时,该基线处理电路依据一非近接基线值更新来对该基线值进行更新;以及该基线处理电路将更新后的基线值输出至该近接感测电路。2.如权利要求1所述电容感测装置操作方法,其特征在于,其中所述近接基线值更新程序包含一第一近接基线值更新及一第二近接基线值更新,该基线处理电路设有一预定范围,若该变化量落在该预定范围,则该基线处理电路以该第一近接基线值更新对该基线值进行更新;若该变化量超出该预定范围,则该基线处理电路以该第二近接基线值更新对基线值进行更新。3.如权利要求2所述电容感测装置操作方法,其特征在于,其中该第一近接基线值更新如下式所示:B[n]=B[n

1]+β
×
Diff[n]其中B[n]为更新后的基线值,B[n

1]为该近接感测电路所保存的基线值,Diff[n]为该变化量,β为一系数。4.如权利要求2所述电容感测装置操作方法,其特征在于,其中该第二近接基线值更新如下式所示:B[n]=Gp
×
Raw[n]+(1

Gp)
×
Diff[n]其中B[n]为更新后的基线值,Raw[n]为该侦测数据,Diff[n]为该变化量,Gp为一调整系数。5.如权利要求4所述电容感测装置操作方法,其特征在于,其中该非近接基线值更新如下式所示:B[n]=Gn
×
Raw[n]+(1

Gn)
×
Diff[n]其中,Gn为另一调整系数,且该另一调整系数Gn大于前述第二近接基线值更新的调整系数Gp。6.如权利要求5所述电容感测装置操作方法,其特征在于,其中,该另一调整系数Gn设计在1/2~1/256之间。7.一种电容感测装置操作方法,其特征在于,其通过一讯号处理电路、一基线处理电路及一近接感测电路实施,该电容感测装置操作方法包含:由该讯号处理电路接收一侦测数据;以该基线处理电路计算该侦测数据相较于先前数据框中接收到的侦测数据的一变化量;
以该近接感测电路依据该侦测数据及所保存的一基线值进行比较运算,以判断是否发生近接事件;其中,在近接...

【专利技术属性】
技术研发人员:林王安吴春蓉王濬纶
申请(专利权)人:昇佳电子股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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